一种厚度测量方法及厚度测量系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种厚度测量方法及厚度测量系统，厚度测量方法采用至少2组测量装置对被测产品进行厚度测量，各组测量装置的量程范围互不相同，至少采用1组X射线测量装置进行小量程测量。一种厚度测量系统，包括至少两组具有不同量程范围的测量装置，其中至少有1组测量装置为X射线测量装置，X射线测量装置为小量程测量装置。本发明采用至少2组测量装置，其中至少1组是X射线测量装置，既保证了最终产品的测量精度，也降低了X射线测量装置的输出功率，减少了辐射，也没有测量量程的限制，对产品加工提供了更佳的控制。
【专利说明】一种厚度测量方法及厚度测量系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及计量技术，特别是涉及一种厚度测量方法及厚度测量系统。
【背景技术】
[0002]现有的厚度测量方式之一是采用X射线测厚仪，由于X射线的输出功率和穿透力是成正比的，所以要想穿透比重密度越大的被测物质其输出功率也就越大，这就导致在一些被测物比重很大的情况下，需要使用输出功率大的X射线才能够穿透被测物从而有效的进行数据采集和测量。
[0003]X射线的输出功率过大时会对操作者产生危害，因为长时间大剂量的X照射生物死亡率可以达到100%，但是如果为了安全降低其输出功率(国家环保局有相关规定)则无法达到正常检测量程的目地。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是提供一种新的厚度测量方法和测量设备，既能达到测量要求，又减少了 X射线的辐射。
[0005]本发明的技术方案为:一种厚度测量方法，采用至少2组测量装置对被测产品进行厚度测量，各组测量装置的量程范围互不相同，至少采用1组X射线测量装置进行小量程测量。
[0006]采用1组X射线测量装置进行小量程测量。
[0007]所述小量程测量的厚度范围为0.8?0.01毫米。
[0008]所述非X射线测量装置采用电磁测量装置或激光测量装置。
[0009]所述被测产品是在加工过程中厚度逐渐降低的产品。成品的厚度低于原料厚度。
[0010]所述X射线测量装置的输出功率与被测产品的最终厚度相匹配。
[0011]至少两组测量装置根据被测产品厚度范围的变换进行切换，当被测产品的厚度进入一组测量装置的测量范围时，获取该组测量装置的测量值为确定测定值，其余测量装置的测量值放弃。
[0012]本发明还提供一种厚度测量系统，包括至少两组具有不同量程范围的测量装置，其中至少有1组测量装置为X射线测量装置，X射线测量装置为小量程测量传感器。
[0013]所述厚度测量系统具有1组X射线测量装置。
[0014]所述非X射线测量传感器采用电磁测量装置或激光测量装置。
[0015]所述X射线测量装置的输出功率与最终产品的厚度相匹配。
[0016]所述厚度测量系统还包括控制器和显示装置，控制器根据不同测量装置的测量范围选取相应落入测量范围的测量值显示在显示装置。由于X射线测量装置的量程范围较小，因此在加工过程中，控制器根据加工产品的厚度范围确定该范围落入哪一组测量装置的测量范围，从而选取该组测量装置测量的数值进行显示。保证了显示的测量数值的精度。
[0017]本发明采用至少2组测量装置，其中至少I组是X射线测量装置(X射线测量装置是现有技术中用于厚度测量的装置，包括X光管，高压电源以及X射线强度感应器等(X射线强度感应器是指电离室、固态电离室或者能够感应X射线强度的相关传感器)，X射线测量装置的精度较高，但被测材料厚度越大，需要功率越大)。由于采用了至少I组X射线测量装置，就保证了最终产品测量的精度，因为该组X射线测量装置的作用是专门针对测量的厚度值以及测量的范围比较小时，这个时候可以满足很高的测量精度；其X射线测量装置的工作原理就是利用X光管工作在一个固定的输出功率下其最佳测量范围也是相对固定的这一个特性，而本发明利用了该特性，只使用X射线测量装置测量其最佳测量范围的厚度，其输出功率也就较小，减少了辐射，同时保证了成品的精度。而较大厚度范围则采用其它厚度测量装置进行测量。本发明在整个产品加工过程，比如轧钢过程中，既保证了最终产品的测量精度，也降低了 X射线测量装置的输出功率，减少了辐射，也没有测量量程的限制，对产品加工提供了更佳的控制。
[0018]本发明测量厚度的方法，当被测物的厚度在较大量程装置的测量范围时，切换到较大量程测量装置测量获得一组数据，当被测物的厚度变化到较大量程装置的测量下限但又进入较小量程测量装置的量程上限时，切换到较小量程装置测量获得一组数据。如果实际需要测量范围更大可以采用更多组的测量装置进行多段测量以完成实际测量需求。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1是本发明实施例中的厚度测量系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图并以实施例的方式对本发明作进一步详细描述。
[0021]如图1所示，本发明的厚度测量系统包括两组厚度测量装置，一组由高压电源1、X射线传感器光管2、电力室3等构成的X射线测量装置，一组为电磁传感器4和电磁传感器5组成的电磁测量装置，电磁测量装置的原理是采用相对安装的电磁传感器测量被测金属表面到上下两个电磁传感器的距离，再用一个已知厚度的金属样片做标定，从而获得测量数据。X射线测量装置的测量量程小于电磁测量装置的测量量程。X射线测量装置的输出功率与被测产品的最终厚度相匹配，也就是以产品最终厚度的范围来确定X射线测量装置的最佳测量量程范围。电磁测量装置也可以更换为激光测量装置。
[0022]被测产品6在实际生产环节中是由厚变薄的，比如轧钢，因此本发明为了降低X射线测量装置的辐射，采用了两组或两组以上的测量装置，其实际测量过程是由厚(既大量程大变化量)到薄(小量程微变化量)转变的，首先用电磁测量装置或激光测量装置作为大量程测量使用，两组测量装置采用控制器来连接并控制切换，当加工过程中被测产品的厚度还在一个大量程范围时，获取电磁测量装置的测量数据并用显示装置显示厚度读数；当加工到被测产品的厚度进入X射线测量装置的量程范围时，控制器获取X射线测量装置的测量数值并显示该厚度读数。本发明能够保证其最终被测产品的测量精度更高的同时而且不会受到厚度上限的影响，还大大降低了辐射强度即做到了超低的辐射标准又做到了不管被测物被测厚度多厚其上限是多少都不影响最终成品的测量精度(图中控制器和显示装置未显示)。
【权利要求】
1.一种厚度测量方法，其特征在于，采用至少2组测量装置对被测产品进行厚度测量，各组测量装置的量程范围互不相同，至少采用I组X射线测量装置进行小量程测量。
2.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，采用I组X射线测量装置进行小量程测量。
3.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述非X射线测量装置采用电磁测量装置或激光测量装置。
4.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述被测产品是在加工过程中厚度逐渐降低的产品。
5.根据权利要求4所述的厚度测量方法，其特征在于，所述X射线测量装置的输出功率与被测产品的最终厚度相匹配。
6.根据权利要求4所述的厚度测量方法，其特征在于，至少两组测量装置根据被测产品厚度范围的变换进行切换，当被测产品的厚度进入一组测量装置的测量范围时，获取该组测量装置的测量值为确定测定值，其余测量装置的测量值放弃。
7.一种厚度测量系统，其特征在于，包括至少两组具有不同量程范围的测量装置，其中至少有I组测量装置为X射线测量装置，X射线测量装置为小量程测量装置。
8.根据权利要求7所述的厚度测量系统，其特征在于，所述厚度测量系统具有I组X射线测量装置。
9.根据权利要求7所述的厚度测量系统，其特征在于，所述非X射线测量装置采用电磁测量装置或激光测量装置。
10.根据权利要求7所述的厚度测量系统，其特征在于，所述X射线测量装置的输出功率与最终产品的厚度相匹配。
【文档编号】G01B7/06GK104330063SQ201410566354
【公开日】2015年2月4日 申请日期:2014年10月22日 优先权日:2014年10月22日
【发明者】赵刚 申请人:北京市东方瀚钇科技有限公司