被动组件检测包装的制造方法
【专利摘要】一种被动组件检测包装机，包括机台，于该机台上设有可将数个被动组件依序向前传送的进料模块、可接收该进料模块的被动组件并将其顺时针寸转运送的分割盘及可接收该分割盘上经检测完成的被动组件并将其封装于包装条的包装模块，该分割盘运送该被动组件的路径上设有层间测试器、直流电阻测试器、串联电感/电阻测试器、第一极性测试器、极性转换器、第二极性测试器、CCD外观检测器及吸尘单元，可供对经过的被动组件进行层间测试、直流电阻测试、串联电感/电阻测试、极性测试、极性转换、外观检测及吸除粉尘等程序；藉由上述结构可对被动组件进行层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查以及可快速转换被动组件的极性方向，以大幅提升被动组件的检测及包装效率。
【专利说明】被动组件检测包装机
【技术领域】
[0001]本实用新型关于一种被动组件检测包装机结构，尤指一种可对被动组件进行层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查以及可快速转换被动组件的极性方向，而可大幅提升被动组件的检测、包装效率及可降低成本的被动组件检测包装机。
【背景技术】
[0002]一般的被动组件在制作完成后，通常需进行层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查等多项检测以取得相对应数据，并进行筛检后才会将良品以同一极性方向地封装于一包装条中以完成检测包装作业。而目前的被动组件为维持其检测速度，在进行上述各项数据的检测时，通常是分别依序运送到各种专门检测单项数据的检测机(如层间测试机、直流电阻测试机、串联电感测式机、串联电阻测式机及外观检查机等)进行检测及筛检，然后才会送到一包装机进行极性方向的测试、转换及包装。因此整个检测包装的流程的时间及人力会被大量浪费在被动组件于各检测机台之间的运送中，而使检测效率不佳与外观碰伤，尤其是如此多的被动组件检测机及包装机不但会占用大量的空间及人力，而且更是会使设备成本大幅增加。
实用新型内容
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是:针对现有被动组件的检测包装流程中需经过多台的被动组件检测机及包装机方可达成，而存在的检测包装效率不佳、占空间及成本高等诸多问题，而提供一种被动组件检测包装机。
[0004]为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是:一种被动组件检测包装机，包括机台、进料模块及包装模块，该进料模块设于该机台上可供将数个被动组件依序向前传送；该包装模块设于机台上；其特点是，该检测包装机还包括:分割盘，该分割盘可顺时针寸转地设在该机台上，该分割盘的周面等间隔设有数个缺槽，该分割盘的寸转角度为一格，使每一缺槽依序接收一个来自该进料模块的被动组件，并将其顺时针运送；层间测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行层间测试，以取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据；直流电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据；串联电感/电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值；第一极性测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向；极性转换器，设于该机台上且位于该第一极性测试器之后，可供将经该第一极性测试器检测出的反向的被动组件转换至正向；该包装模块设于该分割盘运送被动组件的路径上，可将检测完成及极性转换成正向的被动组件良品依序封装于包装条之中。
[0005]所述检测包装机更包括第二极性测试器，该第二极性测试器设在该机台上且位于该极性转换器之后，可对经过的被动组件进行极性测试，以确定被动组件的极性方向。
[0006]所述检测包装机更包括吸尘单元和CXD外观检测器，该吸尘单元设于该机台上且位于上述所有测试器、检测器及极性转换器之后，可供将缺槽中除被动组件以外的杂质吸出；该0?外观检测器设于该机台上可撷取经过的被动组件的影像并进行外观检查；所述机台上具有层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔、外观检测不良品排出孔及重测排除孔；该层间测试不良品排出孔位于该层间测试器之后，可将层间测式值超出标准范围的不良品排出；该直流电阻测试不良品排出孔位于该直流电阻测试器之后，可将直流电阻测试超值出标准范围的不良品排出；该串联电感测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出；该串联电阻测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出；该极性测试不良品排出孔位于该第二极性测试器之后但位于该吸尘单元之前，可将经该第二极性测试器确定为极性方向错误的被动组件排出；该外观检测不良品排出孔位于该CCD外观检测器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该CCD外观检测器检测出外观有瑕疵的被动组件排出；重测排除孔可于测试时万一测试仪器死机或停机，此时将分割盘上所有的被动组件全部排出到重测排除孔。
[0007]所述机台上设有数个吹气单元，该吹气单元对应设于层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔及外观检测不良品排出孔处，可将分割盘的缺槽中相对应的不良品吹入相应的不良品排出孔中。
[0008]所述层间测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
[0009]所述串联电感/电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。
[0010]所述直流电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
[0011]所述第一极性测试器及第二极性测试器分别具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。
[0012]所述极性转换器具有可转动的旋转件，该旋转件位于该分割盘的外侧，于该旋转件的顶面具有贯通到两相对侧呈开口状的一容槽以供容纳该被动组件，该机台上设有两吹气单元分别位于该旋转件的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可将极性反向的被动组件由该分割盘的缺槽吹到该旋转件的容槽中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件的容槽吹回该分割盘的缺槽中。
[0013]如此，本被动组件检测包装机，可藉由该些依序设于该分割盘运送被动组件的路径上的层间测试器、直流电阻测试器、串联电感/电阻测试器、第一极性测试器及CCD外观检测器对经过的被动组件进行检测使其在同一机台中即可取得该被动组件的层间测试、直流电阻测试、串联电感/电阻测试、极性测试、外观检测等相关数据，以供进行良品及不良品的快速筛检。而且，可利用该吸尘单元将除被动组件以外的粉尘等杂质吸出，以及可藉由极性转换器将反向的被动组件转换成正向，以便之后的封装作业，而可大幅提升被动组件的检测和包装效率，并可降低设备的购置成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1是本实用新型的系统方块图。
[0015]图2是本实用新型的另一系统方块图。
[0016]图3是本实用新型各构件的位置配置示意图。
[0017]图4是本实用新型各构件的另一位置配置示意图。
[0018]图5是本实用新型的层间检测器及串联电感、电阻测试器的立体外观示意图。
[0019]图6是本实用新型的直流电阻测试器及极性测试器的侧面示意图。
[0020]图7是本实用新型的极性转换器的立体外观示意图。
[0021]标号说明:
[0022]10机台11层间测试不良品排出孔
[0023]12直流电阻测试不良品排出孔 13串联电感测试不良品排出孔
[0024]14串联电阻测试不良品排出孔 15极性测试不良品排出孔
[0025]16外观检测不良品排出孔20进料模块
[0026]30分割盘31缺槽
[0027]32重测排除孔40层间测试器
[0028]400探针41直流电阻测试器
[0029]410探针42串联电感/电阻测试器
[0030]43第一极性测试器44极性转换器
[0031]440旋转件441容槽
[0032]45第二极性测试器50CXD外观检测器
[0033]60吸尘单元70包装模块
[0034]80包装条
【具体实施方式】
[0035]请参阅图1-图7所示,显示本实用新型所述的被动组件检测包装机包括机台10及设于该机台10上的进料模块20、分割盘30、层间测试器40、直流电阻测试器41、串联电感/电阻测试器42、第一极性测试器43、极性转换器44、第二极性测试器45、CCD外观检测器50、吸尘单元60及包装模块70。其中:
[0036]该机台10上具有层间测试不良品排出孔11、直流电阻测试不良品排出孔12、串联电感测试不良品排出孔13、串联电阻测试不良品排出孔14、极性测试不良品排出孔15及外观检测不良品排出孔16。该层间测试不良品排出孔11可供将层间测试值超出标准范围的不良品排出，该直流电阻测试不良品排出孔12可供将直流电阻测试值超出标准范围的不良品排出，该串联电感测试不良品排出孔13可供将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出，该串联电阻测试不良品排出孔14可供将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出，该极性测试不良品排出孔15可供将极性方向错误的被动组件排出，该外观检测不良品排出孔16可供将外观有瑕疵的被动组件排出。上述各不良品排出孔分别配合有一吹气单元(图中未示)可供将分割盘30上相对应的不良品吹入相应的不良品排出孔中，另外还具有重测排除孔32，以便在测试时，万一测试仪器死机，此时可将分割盘30上所有的被动组件全部排出到重测排除孔32，以免未经测试的被动组件被包装。
[0037]该进料模块20可供将数个被动组件依序向前传送到该分割盘30。
[0038]该分割盘30可在该机台10上顺时针寸转，该分割盘30的周面等间隔设有数个缺槽31，该分割盘30的寸转角度为一格，每一缺槽31可依序接收一个来自该进料模块20的被动组件，并将其顺时针运送。
[0039]该层间测试器40设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该进料模块20之后与该层间测试不良品排出孔11之前。该层间测试器40可供对经过的被动组件进行层间测试，以取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据。
[0040]该直流电阻(DCR)测试器41设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该层间测试不良品排出孔11之后与该直流电阻测试不良品排出孔12之前。该直流电阻测试器41可供对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据。
[0041]该串联电感/电阻(LS/RS)测试器42设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该直流电阻测试不良品排出孔12之后及位于该串联电感测试不良品排出孔13、串联电阻测试不良品排出孔14之前。该串联电感/电阻测试器42可供对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值。
[0042]该第一极性测试器43设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该串联电感测试不良品排出孔13、串联电阻测试不良品排出孔14之后。该第一极性测试器43可供对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向。
[0043]该极性转换器44设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该第一极性测试器43之后。该极性转换器44可供将经该第一极性测试器43检测出的反向的被动组件转换至正向。
[0044]该第二极性测试器45设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该极性转换器44之后、该极性测试不良品排出孔15之前，可供对经过的被动组件进行极性测试，以再次确定被动组件的极性方向。
[0045]该CXD外观检测器50设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该极性测试不良品排出孔15之后与该外观检测不良品排出孔16之前。该CCD外观检测器50可供撷取经过的被动组件的影像并进行外观检查。
[0046]该吸尘单元60设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该外观检测不良品排出孔16之后。该吸尘单元60可将该分割盘30上经过其下方缺槽31中除被动组件以外的粉尘、灰尘等杂质吸出。
[0047]该包装模块70设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该吸尘单元60之后。该包装模块70可供将检测完成及极性转换成正向的被动组件依序封装于包装条80之中。
[0048]请参阅图5所示，指出该层间测试器40具有同步升降的数根探针400，该探针400位在该分割盘30的相对应缺槽31的下侧。该探针400上升时可接触该相对应缺槽31中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。而该串联电感/电阻测试器42的结构与该层间测试器40相同，仅是测试的数据不同。
[0049]请参阅图6所示，指出该直流电阻测试器41具有同步升降的数根探针410，该探针410位在该分割盘30的相对应缺槽31的下侧，该探针410上升时可接触该相对应缺槽31中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。而该第一极性测试器43及第二极性测试器45的结构与该直流电阻测试器41相同，仅是测试的数据不同。
[0050]请参阅图7所示，指出该极性转换器44具有可转动的旋转件440，该旋转件440位于该分割盘30的外侧，于该旋转件440的顶面具有贯穿到两相对侧呈开口状的容槽441可供容纳该被动组件。该机台10上配合设有两吹气单元(图中未示)分别位于该旋转件440的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可供将极性反向的被动组件由该分割盘30的缺槽31吹到该旋转件440的容槽441中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件440旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件440的容槽441吹回该分割盘30的缺槽31中。
[0051]本实用新型所提供的被动组件检测包装机可藉由该些依序设于该分割盘30运送被动组件的路径上的层间测试器40、直流电阻测试器41、串联电感/电阻测试器42、第一极性测试器43、极性转换器44、第二极性测试器45及CXD外观检测器50对经过的被动组件进行各种数据及外观的检测使其在同一机台中即可取得该被动组件的层间测试、直流电阻测试、串联电感/电阻测试、极性测试、外观检测等相关数据，以供利于进行良品及不良品的快速筛检。而且，可利用该吸尘单元60将除被动组件以外的粉尘等杂质吸出，以及可藉由极性转换器44将反向的被动组件转换成正向，以便之后的封装作业，从而可大幅提升被动组件的检测和包装效率，并可降低设备的购置成本。
【权利要求】
1.一种被动组件检测包装机，包括机台、进料模块及包装模块，该进料模块设于该机台上可供将数个被动组件依序向前传送；该包装模块设于机台上；其特征在于，该检测包装机还包括: 分割盘，该分割盘可顺时针寸转地设在该机台上，该分割盘的周面等间隔设有数个缺槽，该分割盘的寸转角度为一格，使每一缺槽依序接收一个来自该进料模块的被动组件，并将其顺时针运送； 层间测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行层间测试，以取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据； 直流电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据； 串联电感/电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值； 第一极性测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向； 极性转换器，设于该机台上且位于该第一极性测试器之后，可供将经该第一极性测试器检测出的反向的被动组件转换至正向； 该包装模块设于该分割盘运送被动组件的路径上，可将检测完成及极性转换成正向的被动组件良品依序封装于包装条之中。
2.如权利要求1所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述检测包装机更包括第二极性测试器，该第二极性测试器设在该机台上且位于该极性转换器之后，可对经过的被动组件进行极性测试，以确定被动组件的极性方向。
3.如权利要求2所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述检测包装机更包括吸尘单元和CCD外观检测器，该吸尘单元设于该机台上且位于上述所有测试器、检测器及极性转换器之后，可供将缺槽中除被动组件以外的杂质吸出；该CCD外观检测器设于该机台上可撷取经过的被动组件的影像并进行外观检查；所述机台上具有层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔、外观检测不良品排出孔及重测排除孔；该层间测试不良品排出孔位于该层间测试器之后，可将层间测式值超出标准范围的不良品排出；该直流电阻测试不良品排出孔位于该直流电阻测试器之后，可将直流电阻测试超值出标准范围的不良品排出；该串联电感测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出；该串联电阻测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出；该极性测试不良品排出孔位于该第二极性测试器之后但位于该吸尘单元之前，可将经该第二极性测试器确定为极性方向错误的被动组件排出；该外观检测不良品排出孔位于该CCD外观检测器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该CCD外观检测器检测出外观有瑕疵的被动组件排出；重测排除孔可于测试时万一测试仪器死机或停机，此时将分割盘上所有的被动组件全部排出到重测排除孔。
4.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述机台上设有数个吹气单元，该吹气单元对应设于层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔及外观检测不良品排出孔处，可将分割盘的缺槽中相对应的不良品吹入相应的不良品排出孔中。
5.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述层间测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
6.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述串联电感/电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。
7.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述直流电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
8.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述第一极性测试器及第二极性测试器分别具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。
9.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述极性转换器具有可转动的旋转件，该旋转件位于该分割盘的外侧，于该旋转件的顶面具有贯通到两相对侧呈开口状的一容槽以供容纳该被动组件，该机台上设有两吹气单元分别位于该旋转件的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可将极性反向的被动组件由该分割盘的缺槽吹到该旋转件的容槽中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件的容槽吹回该分割盘的缺槽中。
【文档编号】G01R31/00GK204161686SQ201420310362
【公开日】2015年2月18日 申请日期:2014年6月11日 优先权日:2014年6月11日
【发明者】庄长光 申请人:锌咏丰精密科技股份有限公司