一种用于固定导磁性工件的工作台及其光学计的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于固定导磁性工件的工作台及其光学计，目的在于解决工件在测量过程中，手动控制方式对零件进行控制，被测工件运动过程的稳定控制难度较大，采用光学计测量时，测量准确度达不到仪器设计的测量精度，测量人员无法准确的读出测量点数据等问题。该装置包括固定基座、可控磁性装置、定位装置。其中的固定导磁性工件的工作台能够起到对导磁性工件的固定作用，使被测工件在移动、测量的过程中，始终与工作面保持相对静止，通过配合运动机构，能够实现被测零件的缓慢、平稳运行。还提供基于固定导磁性工件的工作台的光学计，其测量精度高、操作方便。通过本实用新型改进可使光学计到达设计测量精度，测定结果准确、稳定、可靠。
【专利说明】—种用于固定导磁性工件的工作台及其光学计
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及机械领域，尤其测量仪器领域，具体为一种用于固定导磁性工件的工作台及其光学计。
【背景技术】
[0002]近年来，伴随着现代制造业的快速发展，对于计量仪器的测量精度和测量效率提出了更高的要求。光学计是一种准确度较高的光学机械式仪器，是一种高精度的接触式测量仪器，目前已广泛应用于企业质量检测部门与高校实验室。
[0003]目前，光学计大多采用接触式测量。在光学计的测量过程中，对被测零件的测量过程主要依靠手动控制方式完成。常见的光学计的分度值:1 μ m，示值变动量:0.1 μ m,读数范围:± 100 μ m，采用手动控制方式对被测零件运动过程的稳定控制难度较大。在测量过程中，采用手动方式控制零件会出现以下问题:
[0004]I)手动控制难以保证在整个测量过程中被测零件始终与工作台保持紧密接触，获得的测量结果与零件的真值相差较远，测量准确度达不到仪器设计的测量精度；
[0005]2)在测量过程中，需要通过手控制零件，使零件在工作台上与测帽接触，从而对零件进行测量，而手对被测零件的运动无法做到稳定控制，导致在光学计显示窗口中的数据波动较大，测量人员无法准确的读出测量点数据，甚至由于手对零件控制不平稳，出现多个最大值点的情况；
[0006]3)由于采用手动控制方式，测量过程难以控制，所导致的数据不稳定等现象给测量过程带来重复和不必要的操作，降低了测量效率，同时也极大影响了测量中仪器操作的方便性。
[0007]鉴于此， 申请人:希望提供一种新的用于固定导磁性工件的工作台及采用其的光学计，以解决前述问题。
实用新型内容
[0008]本实用新型的发明目的在于:针对工件在测量过程中，手动控制方式对零件进行控制，被测工件运动过程的稳定控制难度较大，采用光学计测量时，测量准确度达不到仪器设计的测量精度，测量人员无法准确的读出测量点数据，存在重复操作次数多、测量效率低、方便性差的问题，提供一种用于固定导磁性工件的工作台及其光学计。本实用新型的工作台通过组成部件之间的相互配合，能够起到对导磁性工件的固定作用，使被测工件在移动、测量的过程中，始终与工作面间保持相对静止，通过配合运动机构，能够实现被测零件的平稳、缓慢运行，从而满足光学计等仪器的需求。同时，本实用新型还提供基于固定导磁性工件的工作台的光学计，该光学计不仅能够稳定测量数据点的视窗数据显示，提高测量数据的准确度，而且能够方便对实验数据的观测与记录，改善仪器可操作性能。本实用新型测量精度高，能够满足光学计的设计要求，可重复性好，测定结果稳定、准确、可靠，具有较好的应用前景。
[0009]为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0010]一种用于固定导磁性工件的工作台，包括固定基座、能产生磁性与消除磁性的可控磁性装置、设置在可控磁性装置上用于固定导磁性工件的定位装置，所述定位装置包括水平挡片、与水平挡片相连的竖直挡片，所述固定基座由非导磁材料制备而成，所述定位装置由导磁材料制备而成，所述可控磁性装置设置在固定基座上，所述可控磁性装置的上端面为工作面，所述水平挡片设置在工作面上。
[0011]所述可控磁性装置打开产生的磁力线穿过定位装置，使磁性工件与定位装置紧靠在一起。
[0012]所述水平挡片与竖直挡片之间采用一体成型，且水平挡片与竖直挡片之间相互垂直。
[0013]所述定位装置为L型。
[0014]所述水平挡片与可控磁性装置之间采用活动或固定连接。
[0015]所述可控磁性装置为永磁式可控磁性装置或电控式可控磁性装置。
[0016]所述可控磁性装置为磁性表座、永磁吸盘、电磁铁中的一种。
[0017]所述固定基座由铝合金或不锈钢非导磁性材料制备而成，所述定位装置由硅钢片制成。
[0018]还包括能使可控磁性装置相对固定基座移动的滑动机构。
[0019]所述滑动机构包括设置在固定基座上的滑动导轨、设置在可控磁性装置下端面的凹槽，所述滑动导轨与凹槽相配合；
[0020]或所述滑动机构包括设置在固定基座上的凹槽、设置在可控磁性装置下端面且与凹槽相配合的滑动导轨。
[0021]所述滑动导轨为直线滑轨、燕尾槽导轨、T形槽导轨的一种。
[0022]所述滑动导轨为燕尾槽导轨，所述燕尾槽导轨与凹槽之间设置有簧片。
[0023]还包括运动控制机构，所述运动控制机构为丝杠传动机构或齿轮齿条传动机构。
[0024]所述运动控制机构为直线运动控制机构。
[0025]所述丝杠传动机构为螺纹丝杠传动机构、T型丝杠传动机构、滚珠丝杠传动机构中的一种。
[0026]所述丝杠传动机构为螺纹丝杠传动机构，所述螺纹丝杠传动机构包括螺纹丝杠、与螺纹丝杠相配合的螺母，还包括支撑架、驱动件，所述支撑架设置在固定基座上，所述螺纹丝杠设置在支撑架上，所述驱动件与螺纹丝杠相连且能带动螺纹丝杠相对支撑架转动，所述螺母与可控磁性装置相连构成螺纹副，且通过螺纹副能带动可控磁性装置相对固定基座移动。
[0027]所述驱动件为圆柱型驱动手轮或L型驱动手轮。
[0028]采用前述工作台的光学计，包括工作台、设置在固定基座下端面的调平锥台，所述工作台通过调平锥台设置在光学计基座上；
[0029]或包括工作台、水平移动机构、调平锥台，所述工作台中的固定基座设置在水平移动机构上且固定基座能相对水平移动机构移动，所述水平移动机构通过调平锥台设置在光学计基座上。
[0030]还包括调平机构，通过调平机构能使工作面保持水平。调平机构可以为螺钉。
[0031] 申请人:在长期实践的基础上，进行深入研究后发现，现有手工方式对工件进行测量时，首先将标准量块放置在光学计的工作台上，对光学计进行校准后，再用手将工件放置在标准量块的位置上，对被测零件进行测量。由于大多被测零件为圆柱形、多边形等，其在测量过程中被测零件轴线与工作面的平行状态容易被破坏，而光学计的视窗范围仅为±0.1mm，因而轻微的移动，即可使工件偏离测量范围，从而出现无法读取数据的问题；而且测量过程中，通常需要用手对工件进行控制，而手轻微的偏离也会出现前述问题，同时手无法保持绝对的平衡，因而在重复测量过程中，可能出现多个最大值的情况；因此，对于工件的固定是解决前述问题的关键。对此， 申请人:提供一种用于固定导磁性工件的工作台(以下简称工作台)。
[0032]本实用新型的工作台包括固定基座、可控磁性装置、定位装置；其中，定位装置设置在可控磁性装置上，其包括水平挡片、与水平挡片相连的竖直挡片，用于固定导磁性工件；固定基座由非导磁材料制备而成，定位装置由导磁材料制备而成，可控磁性装置设置在固定基座上，可控磁性装置的上端面为工作面，水平挡片设置在工作面上。可控磁性装置能够产生磁性与消除磁性，进而表现出逆磁性与顺磁性。本实用新型中，可控磁性装置位于固定基座与定位装置之间，固定基座由非导磁材料制备而成，定位装置由导磁材料制备而成，从而自下而上形成非导磁层、可控导磁层、导磁层类似“三明治”的结构，而定位装置包括水平挡片、竖直挡片；通常情况下，可控磁性装置处于关闭状态，在工作面上没有磁力，导磁性工件能够轻易的从工作面装卸，当可控磁性装置处于打开状态，可控磁性装置对外表现出磁力，此时，非导磁层不能传递磁场，磁力线穿过定位装置，定位装置起到收集磁力线的作用，在定位装置上产生最强的磁力，从而将被测零件紧紧吸附在定位装置上。本实用新型中，定位装置包括水平挡片、竖直挡片，其对被测零件起到定位、防止被测工件偏转的作用，最重要的是起到吸附作用，使被测零件紧紧地吸附在定位装置上。由于定位装置对被测零件的吸附力较大，因而即使在装置移动的过程中，被测零件依然能很好的固定在可控磁性装置的工作面上，轻微的移动也难以发生。
[0033]在实验过程中， 申请人:将固定基座去掉后，将可控磁性装置直接固定在光学计基座上，而光学计基座为导磁性材料，经过实验测定，在该状态下，定位装置的磁力最弱，被测零件无法有效的固定在工作面上，在被测零件与测帽接触的过程中，被测零件频繁发生移动，与手动方式的测定结果相似。同时， 申请人:采用固定基座、可控磁性装置，不采用定位装置，进行测试，实验发现:当可控磁性装置处于打开状态时，被测零件会在工作面上发生自动转动，并在某个位置静止，这就使得被测零件处于非测量位置。同时，没有定位装置，对圆柱形工件进行测量时，甚至出现圆柱形被测零件在工作面上不停旋转的情况，仅有当圆柱形刚好处于可控磁性装置的N极或S极时，其才能保持静止状态。当定位装置采用非导磁材料制成时，其无法起到聚集磁力线的目的，用于测定零件时，被测零件位置依然不确定，测定结果没有意义。可见，固定基座、可控磁性装置、定位装置组成的“三明治结构”，以及本实用新型中固定基座、定位装置的材料是实现本实用新型的必须部分，正是通过各部分之间的相互配合，最终实现了本申请的实用新型目的。如果本实用新型中的配合被破坏，就会出现多个最大值，那样的测量结果就没有意义了。
[0034]本实用新型中的可控磁性装置是一种能产生和失去磁性的装置，可以为磁性表座、永磁吸盘、电磁铁中的一种。以磁力表座为例，其外壳为两块导磁体，中间用不导磁的铜板隔开，其内部有一个可以旋转的磁体，此磁体沿直径方向为N、S极。当磁体旋转到中间位置，磁力线分别在两块导磁体中形成开路，此时工件可以轻易取走；旋转90度后，NS极分别对着两块导磁体，此时从N极到导磁体到导轨到另一块导磁体到S极，形成磁力线闭合，可以牢牢的将工件吸附在工作面上。
[0035]水平挡片与竖直挡片之间采用一体成型，且水平挡片与竖直挡片之间相互垂直。固定基座由铝合金或不锈钢非导磁性材料制备而成，定位装置由硅钢片制备而成。定位装置可以采用L型硅钢片制成。水平挡片与可控磁性装置之间采用活动或固定连接，本实施例中，即使固定装置放置在工作面上，也能起到对被测零件的定位作用，采用螺钉将定位装置固定在可控磁性装置上，能够使定位装置始终保持在同一位置，从而使测定结果具有可重复性好、测量结果准确的特点。作为优选，水平挡片位于工作面上可控磁性装置的N级至S极的中心线上。
[0036]可控磁性装置为永磁式可控磁性装置或电控式可控磁性装置。可控磁性装置为磁性表座、永磁吸盘、电磁铁中的一种。还包括能使可控磁性装置相对固定基座移动的滑动机构。滑动机构包括设置在固定基座上的滑动导轨、设置在可控磁性装置下端面的凹槽，滑动导轨与凹槽相配合；或滑动机构包括设置在固定基座上的凹槽、设置在可控磁性装置下端面且与凹槽相配合的滑动导轨。通过两者的配合，能够使可控磁性装置相对固定基座移动。滑动导轨为直线滑轨、燕尾槽导轨、T形槽导轨的一种。其中一种，滑动导轨为燕尾槽导轨，燕尾槽导轨与凹槽之间设置有簧片。燕尾槽导轨结构简单，且其能够保证本实用新型的稳定性，两者之间的簧片能够调整配合间隙使本实用新型运行更加平稳。
[0037]还包括运动控制机构，运动控制机构为丝杠传动机构或齿轮齿条传动机构。运动控制机构为直线运动控制机构。丝杠传动机构为螺纹丝杠传动机构、T型丝杠传动机构、滚珠丝杠传动机构中的一种。运动控制机构能够使可控磁性装置相对固定基座移动。其中一种实例如下:丝杠传动机构为螺纹丝杠传动机构，螺纹丝杠传动机构包括螺纹丝杠、与螺纹丝杠相配合的螺母，还包括支撑架、驱动件。支撑架设置在固定基座上，螺纹丝杠设置在支撑架上，驱动件与螺纹丝杠相连且驱动件能带动螺纹丝杠相对支撑架转动，螺母与可控磁性装置相连，且通过螺纹丝杠与螺母的配合带动可控磁性装置相对固定基座移动。驱动件为圆柱型驱动手轮或L型驱动手轮。
[0038]同时，本实用新型还将前述工作台用于光学计上，其包括工作台、设置在固定基座下端面的调平锥台，工作台通过调平锥台设置在光学计基座上；或包括工作台、水平移动机构、调平锥台，工作台中的固定基座设置在水平移动机构上且固定基座能相对水平移动机构移动，水平移动机构通过调平锥台设置在光学计基座上。本实用新型中的调平机构则能调整工作面与光学计测头的垂直状态。
[0039]以采用本实用新型用于固定导磁性工件的工作台的光学计为例，其工作过程如下。测量前，先采用标准量块“调零”。测量时，打开可控磁性装置，使其产生磁性，被测零件吸附到可控磁性装置的工作面上，并且与定位装置紧靠在一起，调节运动控制机构，使被测零件和可控磁性装置缓慢通过测帽，从视窗中读出被测零件的微动差值，计算出被测零件的实际尺寸。可控磁性装置与固定基座组成的工作台的运动代替被测零件的运动，运动控制机构代替手动控制，通过各部分的配合，将导磁性的被测零件紧紧的吸附到工作台表面，避免人直接对测量零件的控制，将较大的人为误差转换为机械结构带来的微小系统误差，提高测量的精度、测量结果的准确性和可重复性。通过运动控制机构，实现缓慢和稳定的控制，以满足对数据稳定性的要求。本方案的设计，改善了仪器的可操作性能，即非专业测量人员也能完成测量，达到测量精度。
[0040]本实用新型中的光学计在确保光学计原有结构设计不变的条件下，确保测量过程中被测零件轴线与工作面紧密接触并保持平行，使测量结果接近真值，具有操作简单方便、数据稳定的特点。除此之外，还可将工作台结合光学计用于对直线度、平面度、圆度和圆柱度等零件几何形状公差的检测。
[0041] 申请人:分别采用原有设备(即采用手动方式对零件进行控制，然后采用光学计进行测量)、改进设备(即本实用新型的装置，通过该装置与光学计进行配合，然后进行测量)、三坐标测量机对两种导磁性零件(分别记为导磁性零件一、导磁性零件二)进行测量。导磁性零件一的测试效果对照图如图6所示，导磁性零件二的测试效果对照图如图7所示。通过对比，能够发现，采用本实用新型能显著提高光学计的测量精度，提高测定结果的准确性。同时，实验结果也进一步证明，采用本实用新型的光学计，其测量结果稳定性优于三坐标测量机的测量结果，说明本实用新型具有显著的进步。
【专利附图】
【附图说明】
[0042]本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中:
[0043]图1是本实用新型光学计中工作台与光学计底座结合的结构示意主视图。
[0044]图2是本实用新型光学计中工作台与光学计底座结合的机构示意侧视图。
[0045]图3是工作台基座与可控磁性装置配合的滑动导轨示意图。
[0046]图4是光学计原始测量方案图。
[0047]图5是图4中I的局部放大示意图。
[0048]图6是导磁性零件一的测试效果对照图。
[0049]图7是导磁性零件二的测试效果对照图。
[0050]图中标记:1为固定基座,2为可控磁性装置,3为定位装置,4为水平挡片，5为竖直挡片，6为工作面，7为滑动导轨，8为凹槽，9为螺纹丝杠，10为支撑架，11为驱动件，12为调平锥台，13为光学计基座，14为调平机构，15为磁性开关，16为被测零件，17为测帽。
【具体实施方式】
[0051 ] 下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。
[0052]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0053]实施例1
[0054]本实用新型的光学计是光学计测量光滑极限量规以及圆柱体直径等轴类零件的重要环节。下面结合附图，对本实用新型进行说明。
[0055]一种光学计，包括用于固定被测零件的工作台、调平锥台、调平机构，工作台通过调平锥台设置在光学计基座上。调平机构采用螺钉，通过螺钉与光学计基座的配合，调节工作台。其中，工作台包括固定基座、可控磁性装置、定位装置、滑动机构、运动控制机构、设置在固定基座的上支撑架、驱动件，定位装置包括水平挡片、与水平挡片相连的竖直挡片，固定基座由非导磁材料制备而成，定位装置由导磁材料制备而成，可控磁性装置设置在固定基座上，可控磁性装置的上端面为工作面，水平挡片设置在工作面上。
[0056]本实施例中，可控磁性装置采用磁性表座，通过旋转磁性表座的磁性开关，使磁性表座产生磁性与消除磁性。本实施例中，固定基座采用铝合金制成，定位装置采用L型硅钢片，水平挡片与竖直挡片相互垂直，其设置在可控磁性装置上能用于固定磁性工件(即被测零件)。可控磁性装置打开时，由于固定基座由非导磁材料制备而成，因而固定基座为非导磁层，可控磁性装置产生的磁力线穿过定位装置，定位装置产生强大的磁力，使磁性工件与定位装置紧靠在一起。水平挡片位于工作面上可控磁性装置的N级至S极的线上，且水平挡片通过螺钉固定在可控磁性装置上。
[0057]滑动机构包括设置在固定基座上的滑动导轨、设置在可控磁性装置下端面的凹槽，滑动导轨与凹槽相配合，从而使得可控磁性装置能相对固定基座滑动。运动控制机构采用螺纹丝杠传动机构，其包括螺纹丝杠、螺母，螺纹丝杠与螺母相配合，通过旋转螺纹丝杠，能够使螺母相对螺纹丝杠移动。螺纹丝杠设置在支撑架上，驱动件与螺纹丝杠相连且驱动件能带动螺纹丝杠相对支撑架转动，螺母与可控磁性装置相连，且通过螺纹丝杠与螺母的配合能带动可控磁性装置相对固定基座移动。使用时，通过旋转驱动件带动螺纹丝杠转动，在螺纹丝杠与螺母的配合下，螺母带动固定基座移动，从而实现被测零件在水平方向的运动。本实施例中，驱动件为L型驱动手轮，滑动导轨为燕尾槽导轨，燕尾槽导轨与凹槽之间设置有簧片，簧片能够调节滑动导轨与凹槽之间的配合间隙，使两者能够更好配合，从而保证被测零件运行的平稳性。
[0058]本实施例中，定位装置采用的L型硅钢片磁导率高，可约束可控磁性装置上表面的磁力线，通过收集的磁力线将被测零件紧紧的吸附于工作面上。当可控磁性装置在螺纹丝杠的控制下沿滑动导轨运动时，被测零件与可控磁性装置一起运动。可控磁性装置与固定基座之间连接所采用的燕尾槽结构如图3所示，滑动导轨还可采用直线滑轨、T形槽等滑动导轨。
[0059]结合图1-3，对本实用新型的工作过程说明如下。
[0060]测量前，使用标准量块对测帽与工作面之间的高度完成“调零”。然后将被测零件安装到可控磁性装置的工作面上，打开磁性开关，被测零件吸附到工作面上并紧紧的与定位装置的竖直挡片靠在一起。转动驱动件，控制可控磁性装置和被测零件一起稳定的通过测帽，完成对被测零件微动差值的测量。
[0061]经多次实验测定，结果表明:采用本实用新型的光学计进行测量时，测量结果重复性好，测试结果准确可靠，测定精度高。
[0062]本实用新型通过提供一种新的装置，其能完全避免常规光学计测量轴类零件过程中的方法误差和随机误差、避免粗大误差、提高测量精度，同时可改善操作性能，确保测定结果的可重复性和准确性。
[0063]对比实验一
[0064]图4是光学计原始测量方案图，图5是图4中I的局部放大示意图。通过图4、图5的比较，能够清楚的看出，采用手动方式控制被测零件，通过光学计进行测量时，零件往往难以保持固定，从而出现图5的情况。在测量过程中，常出现多个最大值。
[0065]对比实验二
[0066]对比实验二采用的工作台中不包含固定基座，其他与实施例1相同。
[0067]经测定，将被测零件置于对比实验二中的工作面上时，被测零件与工作面之间的磁力较弱，在移动的过程中会发生偏转。被测零件接触测帽，发生较大的移动，无法满足测定要求。
[0068]对比实验三
[0069]对比实验三采用的工作台中不包含定位装置，其他与实施例1相同。
[0070]经测定，将被测零件置于对比实验三中的工作面上时，被测零件发生偏转，根据被测零件大小、尺寸的不同，静止的位置不同。在被测零件接触测帽及固定基座移动的过程中，被测零件发生较大的移动，无法满足测定要求。
[0071]对比实验四
[0072]对比实验四采用的工作台中定位装置采用铝合金材料制成，其他与实施例1相同。
[0073]对比实验四的测定结果与对比实验三相似，也无法满足准确测定的要求。
[0074]通过对比实用新型，本实用新型的各部分之间具有相互配合作用，一旦配合被破坏，就会出现磁力较弱、工件偏转、出现多个最大值的情况，进而使得测定结果失去意义。本实用新型的“三明治结构”、各部分的材料，以及挡片结构，是实现本实用新型的关键。其中挡片的作用，首先是位置的固定，其次是防止被测工件移动，最重要的是根据磁场走最近线的特性来收集磁力线，同时零件会向定位装置自动靠近。在实际测试中，当测定圆柱形工件时，当圆柱形工件置于工作面后，圆柱形工件会自动向定位装置移动，并紧紧地与定位装置靠在一起，用手使劲也很难将两者分离，在被测零件与测帽接触的过程中，其也不会发生偏转。多次测定表明，其测定结果准确可靠。
[0075]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，包括固定基座、能产生磁性与消除磁性的可控磁性装置、设置在可控磁性装置上用于固定导磁性工件的定位装置，所述定位装置包括水平挡片、与水平挡片相连的竖直挡片，所述固定基座由非导磁材料制备而成，所述定位装置由导磁材料制备而成，所述可控磁性装置设置在固定基座上，所述可控磁性装置的上端面为工作面，所述水平挡片设置在工作面上。
2.根据权利要求1所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述水平挡片与竖直挡片之间采用一体成型，且水平挡片与竖直挡片之间相互垂直。
3.根据权利要求1-2任一项所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述可控磁性装置为永磁式可控磁性装置或电控式可控磁性装置。
4.根据权利要求3所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述可控磁性装置为磁性表座、永磁吸盘、电磁铁中的一种。
5.根据权利要求1、2任一项所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述固定基座由铝合金或不锈钢非导磁性材料制备而成，所述定位装置由硅钢片制成。
6.根据权利要求3所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述固定基座由铝合金或不锈钢非导磁性材料制备而成，所述定位装置由硅钢片制成。
7.根据权利要求1、2任一项所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，还包括能使可控磁性装置相对固定基座移动的滑动机构。
8.根据权利要求5所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，还包括能使可控磁性装置相对固定基座移动的滑动机构。
9.根据权利要求7所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述滑动机构包括设置在固定基座上的滑动导轨、设置在可控磁性装置下端面的凹槽，所述滑动导轨与凹槽相配合； 或所述滑动机构包括设置在固定基座上的凹槽、设置在可控磁性装置下端面且与凹槽相配合的滑动导轨。
10.根据权利要求8所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述滑动机构包括设置在固定基座上的滑动导轨、设置在可控磁性装置下端面的凹槽，所述滑动导轨与凹槽相配合； 或所述滑动机构包括设置在固定基座上的凹槽、设置在可控磁性装置下端面且与凹槽相配合的滑动导轨。
11.根据权利要求1、2任一项所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，还包括运动控制机构，所述运动控制机构为丝杠传动机构或齿轮齿条传动机构。
12.根据权利要求5所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，还包括运动控制机构，所述运动控制机构为丝杠传动机构或齿轮齿条传动机构。
13.根据权利要求11所述的用于固定导磁性工件的工作台，其特征在于，所述丝杠传动机构为螺纹丝杠传动机构，所述螺纹丝杠传动机构包括螺纹丝杠、与螺纹丝杠相配合的螺母，还包括支撑架、驱动件，所述支撑架设置在固定基座上，所述螺纹丝杠设置在支撑架上，所述驱动件与螺纹丝杠相连且能带动螺纹丝杠相对支撑架转动，所述螺母与可控磁性装置相连构成螺纹副，且通过螺纹副能带动可控磁性装置相对固定基座移动。
14.采用前述权利要求1-13任一项所述工作台的光学计，其特征在于，包括工作台、设置在固定基座下端面的调平锥台，所述工作台通过调平锥台设置在光学计基座上； 或包括工作台、水平移动机构、调平锥台，所述工作台中的固定基座设置在水平移动机构上且固定基座能相对水平移动机构移动，所述水平移动机构通过调平锥台设置在光学计基座上。
【文档编号】G01B11/00GK204064239SQ201420401806
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年7月21日 优先权日:2014年7月21日
【发明者】金玉萍, 古忠涛, 邓涵 申请人:西南科技大学