用于宽带微波检测的工具的制作方法

文档序号:6067613阅读:224来源:国知局
用于宽带微波检测的工具的制作方法
【专利摘要】针对现有微波检测设备直接检测宽带微波电路时所存在的负载效应大、测量精度差的问题,本实用新型提供一种用于宽带微波检测的工具,由盒盖、盒体、微带板、电容、射频电缆、第一射频同轴连接器、第二射频同轴连接器、第一微带线和第二微带线构成。在盒体顶部开口处配有盒盖;在盒体的两端分别设有第一射频同轴连接器和第二射频同轴连接器;在盒体的腔体内设有微带板;微带板的顶面上设有一个电容,通过第一微带线将电容的一端经第一射频同轴连接器与射频电缆相连,通过第二微带线将电容的另一端与第二射频同轴连接器相连。有益的技术效果:本产品使测试准确度提高20%;测试装置在0.01~12GHz的宽频带与被测电路连接驻波小于1.1。
【专利说明】用于宽带微波检测的工具

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及微波检测【技术领域】装置,具体涉及一种用于宽带微波检测的工具。

【背景技术】
[0002]随着微波技术的飞速发展,微波电路集成度越来越高,功能越来越繁杂,电路尺寸越来越小,如MMIC有源功放模块、多功能收发模块、GPS模块等,而每种产品使用的微波电路都要经过测试、调试等过程才能满足产品技术条件的需求和完成产品设计的功能。由于微波电路集成度高,各个功能电路之间通常间隙非常小,这对功能电路的测试、调试、维修带来了极大的困难。为了不改变被测电路的完整性,微波电路常用的测试方法是将测试装置的探头直接搭接于被测电路中对其测试,因此探头本身的性能将影响最终测试结果。由于探头搭接到被测电路后,探头本身将成为被测电路的一部分,并形成负载效应,而传统的测试装置通常不考虑探头的负载效应,因此测试装置的测试结果误差较大。此外,传统的测试装置一般为窄带设计,不适合宽带,故应用范围受限。
[0003]综上所述,如果能有一种能够自补偿误差工具,使得传统结构的测试装置在对宽带微波电路进行检测时的精度能获得显著提高,将会有极大的市场价值。
实用新型内容
[0004]为了解决基于宽带的高集成度微波电路的测试、调试及维修时检测精度差的问题,本实用新型提供了一种宽带微波检测装置。
[0005]本实用新型的具体方案如下:
[0006]用于宽带微波检测的工具,由盒盖1、盒体2、微带板3、电容4、射频电缆9和两个射频同轴连接器;所述的两个射频同轴连接器依次为第一射频同轴连接器5和第二射频同轴连接器6 ;所述盒体2为顶部开口的中空的矩形盒体;在盒体2顶部开口处配有盒盖1 ;
[0007]在盒体2的一端的端面上开有连接孔并配有第一射频同轴连接器5 ;
[0008]在盒体2的另一端的端面上开有连接孔并配有第二射频同轴连接器6 ;
[0009]在盒体2的腔体内设有微带板3 ;所述微带板3为矩形板,且与盒体2的底面相平行;在微带板3的顶面上设有一个电容4,在微带板3上表面设有两根微带线,依次为第一微带线7和第二微带线8 ;通过第一微带线7将电容4的一端与第一射频同轴连接器5朝向内侧的接口相连接,通过第二微带线8将电容4的另一端与第二射频同轴连接器6朝向内侧的接口相连接;第一微带线7、第二微带线8和电容4构成补偿电路,电容4在所述补偿电路中用于隔离微波电路中的直流分量,并补偿测试装置给被测电路带来的负载效应,进而,能够在宽频带内减少测试装置代入被测电路的负载效应。
[0010]前述的盒盖1与盒体2共同用于屏蔽本补偿电路。
[0011]两个射频同轴连接器与补偿电路一起实现同轴微带变换。
[0012]第一射频同轴连接器5朝向外侧的接口与射频电缆9相连接,所述射频电缆9为开口式类契比雪夫同轴渐变线。射频电缆9 一端与第一射频同轴连接器5连接,另一端与被测电路连接,与被测电路连接端经过宽带匹配设计,使测试装置与被测电路在宽频带均能实现匹配,减少测试误差。即射频电缆9能够在宽频带内实现与被测电路的阻抗匹配。
[0013]本实用新型与现有技术相比,具有如下有益的技术效果:
[0014]将测试装置经本实用新型接入被测微波电路后,能够显著减小测试装置接入被测微波电路的负载效应,能实现对各类微波电路在线实时监测与测试,为微波电路故障判断与定位提供重要依据,同时还可用于关键微波电路的实时监测。本实用新型可广泛应用于各类微波电路,具有广泛的应用价值。具体表现如下:
[0015]1)通过本实用新型能够使测试准确度提高20% ;
[0016]2)本实用新型具有宽带匹配的结构特征,能够使测试装置在0.01?12GHz的宽频带与被测电路连接驻波小于1.1,提高测试装置的应用范围;
[0017]3)本实用新型适用于高集成度微波电路的测试、调试及维修。

【专利附图】

【附图说明】
[0018]图1为去掉盒盖1的本实用新型的立体示意图。
[0019]图2为图1的俯视图。
[0020]图3为图2的A-A剖视图。
[0021]图4为采用本实用新型进行微波电路测试的示意图。
[0022]图中的序号为:盒盖1、盒体2、微带板3、电容4、第一射频同轴连接器5、第二射频同轴连接器6、第一微带线7、第二微带线8、射频电缆9、内导体91、外导体92。

【具体实施方式】
[0023]下面结合附图详细说明本实用新型的结构特点。
[0024]参见图1,用于宽带微波检测的工具,由盒盖1、盒体2、微带板3、电容4、射频电缆9和两个射频同轴连接器;所述的两个射频同轴连接器依次为第一射频同轴连接器5和第二射频同轴连接器6。
[0025]参见图2,所述盒体2为顶部开口的中空的矩形盒体;在盒体2顶部开口处配有盒盖1 ;
[0026]参见图2,在盒体2的一端的端面上开有连接孔并配有第一射频同轴连接器5 ;
[0027]参见图2,在盒体2的另一端的端面上开有连接孔并配有第二射频同轴连接器6 ;
[0028]参见图3,在盒体2的腔体内设有微带板3 ;所述微带板3为矩形板,且与盒体2的底面相平行;在微带板3的顶面上设有一个电容4,在微带板3上表面设有两根微带线,依次为第一微带线7和第二微带线8 ;进一步说,第一微带线7和第二微带线8均采用刻蚀法制得;通过第一微带线7将电容4的一端与第一射频同轴连接器5朝向内侧的接口相连接,通过第二微带线8将电容4的另一端与第二射频同轴连接器6朝向内侧的接口相连接;
[0029]第一射频同轴连接器5朝向外侧的接口与射频电缆9相连接,所述射频电缆9为开口式类契比雪夫同轴渐变线。
[0030]进一步说,射频同轴连接器为50欧姆或75欧姆的SMA-K型连接器,用于连接各类测试仪表以及附加电路。
[0031]参见图3,进一步说,射频电缆9包括内导体91和外导体92 ;所述外导体92呈圆管状且开口呈椭圆形,所述内导体91呈直线状且延伸至外导体92的开口外部;内导体91经第一射频同轴连接器5与第一微带线7相连接。
[0032]进一步说,电容4的范围是1?100PF,能实现对0.01?12GHz的电路匹配;两段微带线(第一微带线7和第二微带线8)的电阻值为50或75欧姆,且长度在30?50mm之间。
[0033]使用时,将第二射频同轴连接器6与检测设备相连接,将与第一射频同轴连接器5相连接的射频电缆9与被检测的宽屏电路相连接;
[0034]传统的测试装置直接连接到被测电路时,将成为被测电路的一部分,从而产生负载效应。所述负载效应包括三部分:阻性负载效应、容性负载效应和感性负载效应。对于高频微波电路,容性负载效应对测试影响最大。
[0035]参见图4,为采用本工具时的微波电路测试示意图。当本用于宽带微波检测的工具串连在被测电路和测试装置之间时,本工具等效为起宽带匹配作用的匹配电路和起补偿负载效应作用的补偿电路。其各自结构与功能表述如下:
[0036]由盒盖1和盒体2构成的中空箱体用于屏蔽补偿电路,微波电路因其自身特性,对电磁兼容的要求较严格。盒盖1和盒体2主要用于屏蔽外界对补偿电路的电磁干扰,确保测试结果准确。
[0037]第一微带线7、第二微带线8、微带板3与电容4组成补偿电路,用于补偿测试装置的负载效应,提高测试精度。
[0038]射频电缆9用于测试装置与被测电路的宽带匹配,测试装置与被测电路需要驻波匹配才能使测试值准确可靠,否则由于驻波产生的影响,将导致测试结果失真。射频电缆9等效为一段匹配电路,用于测试装置与被测电路的匹配。
[0039]进一步说,射频电缆9的外导体92开口随着长度变化越来越大,内导体91保持不变,并伸出于外导体92的端头。当内导体91搭接于被测电路中时,外导体92与内导体91形成阻抗匹配电路,保证测试装置与被测电路阻抗匹配。
[0040]本装置作为附加设备连接于测试仪表与被测电路之间,根据需求可使用单个装置测试电路的驻波、功率等指标,也可使用两个装置测试电路的损耗指标。测试时将射频电缆9的内导体91搭接于被测电路的线路上,外导体92与电路的公共地连接,两者连接应保持良好,通过测试仪表可以测出需要的数据。
[0041]通过【具体实施方式】的说明,可对本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解,然而所附图示仅是提供参考与说明之用,并非用来对本实用新型加以限制。
【权利要求】
1.用于宽带微波检测的工具,其特征在于:由盒盖(I)、盒体(2)、微带板(3)、电容(4)、射频电缆(9)和两个射频同轴连接器;所述的两个射频同轴连接器依次为第一射频同轴连接器(5)和第二射频同轴连接器(6);所述盒体(2)为顶部开口的中空的矩形盒体;在盒体(2)顶部开口处配有盒盖(I);在盒体(2)的一端的端面上开有连接孔并配有第一射频同轴连接器(5);在盒体(2)的另一端的端面上开有连接孔并配有第二射频同轴连接器(6);在盒体(2)的腔体内设有微带板(3);所述微带板(3)为矩形板,且与盒体(2)的底面相平行;在微带板(3)的顶面上设有一个电容(4),微带板(3)上表面设有两根微带线,依次为第一微带线(7)和第二微带线(8);通过第一微带线(7)将电容(4)的一端与第一射频同轴连接器(5)朝向内侧的接口相连接,通过第二微带线(8)将电容(4)的另一端与第二射频同轴连接器(6)朝向内侧的接口相连接;第一射频同轴连接器(5)朝向外侧的接口与射频电缆(9)相连接,所述射频电缆(9)为开口式类契比雪夫同轴渐变线。
2.如权利要求1所述的用于宽带微波检测的工具,其特征在于:射频同轴连接器为50欧姆或75欧姆的SMA-K型连接器。
3.如权利要求1所述的用于宽带微波检测的工具,其特征在于:射频电缆(9)包括内导体(91)和外导体(92);所述外导体(92)呈圆管状且开口呈椭圆形,所述内导体(91)呈直线状且延伸至外导体(92)的开口外部;内导体(91)经第一射频同轴连接器(5)与第一微带线(7)相连接。
4.如权利要求1所述的用于宽带微波检测的工具,其特征在于:电容(4)的范围是为I?100PF ;第一微带线(7)和第二微带线(8)的电阻值为50或75欧姆,且长度在30?50mm之间。
【文档编号】G01R21/00GK204044312SQ201420484127
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年8月26日 优先权日:2014年8月26日
【发明者】童红兰, 叶宝江, 桑飞, 刘子龙, 张勇, 周自泉 申请人:中国电子科技集团公司第三十八研究所
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