自动测试设备及方法与流程

本发明涉及一种自动测试设备及方法，特别是一种使用测量单元的自动测试设备及方法。
背景技术：
：自动测试设备是利用自动化的机制对半导体产品、电子电路装置及印刷电路板等进行测试。其中，测量单元为自动测试设备常见的一个重要元件。测量单元的功用主要为提供测试信号给待测物，以便进行相关参数的量测。常见的模式如ForceVoltageandMeasurecurrent(VFIM)，可用于开路/短路测试。又如ForceCurrentandMeasureVoltage(IFVM)，可用于漏电测试。待测物则是透过多个接脚可插拔地与测量单元耦接，以进行测试。然而，由于待测物越来越多样化，其运作也越来越精密，相对的就需要功能更强大的自动测试设备与方法来因应日益复杂的测试需求。因此，如何有效运用自动测试设备中的测量单元，以提供更有弹性且更有效率的自动测试环境，则为研发人员应解决的问题之一。技术实现要素：本发明在于提供一种自动测试设备，以提升自动测试的弹性及效率。本发明所揭露的自动测试设备，用于测试至少第一待测物以及第二待测物，自动测试设备包括第一测试模组、第二测试模组及控制模组。其中第一测试模组包括第一开关组及第一测量单元，第一测量单元耦接第一开关组。第一开关组包括至少第一接脚，第一接脚可插拔地耦接第一待测物。第二测试模组则包括第二开关组及第二测量单元，第二测量单元耦接第二开关组。第二开关组包括至少第二接脚及第三接脚，第二接脚可插拔地耦接第一待测物，第三接脚可插拔地耦接第二待测物。至于控制模组则耦接第一测试模组及第二测试模组，并依据测试排程表控制第一测试模组及第二测试模组，使得第一测试模组及第二测试模组在排程模式下对第一待测物及第二待测物进行测试。其中排程模式为循序模式、并行模式或并联模式。根据上述本发明所揭露的自动测试设备，可依据测试排程表，有效地利用多个测试模组对多个待测物进行测试。其不仅优化了测试模组使用，亦提供了测试环境的扩充性。以上关于本
发明内容的说明及以下实施方式的说明是用以示范与解释本发明的原理，并且提供对本发明的权利要求书更进一步的解释。附图说明图1为本发明一实施例的自动测试设备的框架图。图2为本发明一实施例的测试模组的框架图。图3为本发明一实施例的控制模组的框架图。图4为本发明一实施例的待测物测试示意图。图5为本发明一实施例的控制模组的框架图。图6为本发明一实施例的待测物测试示意图。图7为本发明一实施例的自动测试方法流程图。符号说明：1自动测试设备10a～10n、20、40a、40b、40c、60a、60b、60c、60d测试模组100a～100n、200、400a、400b、400c开关组102a～102n、202、402a、402b、402c测量单元1000a～1000n、2000a、P1～P96、P’1～P’128接脚12、32、42、52、62控制模组2002a开关320、620状态机322、622排程单元44、46、64、66待测物524、624指令执行单元具体实施方式请参照图1，为本发明一实施例的自动测试设备的框架图。自动测试设备1是用于对多个待测物进行测试，包括多个测试模组(10a、10b、...及10n)及控制模组12。其中，控制模组12耦接多个测试模组(10a、10b、...及10n)。上述多个测试模组(10a、 10b、...及10n)中的测试模组10a包括开关组100a及测量单元102a，开关组100a包括多个接脚1000a，多个接脚1000a是用以可插拔地耦接于待测物。测试模组10b包括开关组100b及测量单元102b，开关组100b包括多个接脚1000b，多个接脚1000b亦用以可插拔地耦接于待测物。同理，测试模组10n包括开关组100n及测量单元102n，开关组100n包括多个接脚1000n，多个接脚1000n亦用以可插拔地耦接于待测物。控制模组12根据测试排程表在测试过程，藉由控制各开关组(100a、100b、...及100n)的导通状态，将各接脚(1000a、1000b、...及1000n)与各测量单元(102a、102b、...及102n)适时地导通，以对待测物进行测试。于一个例子中，所述测量单元可以是精确测量单元(PrecisionMeasurementUnit，PMU)，本实施例并不以此为限。举例来说，为了对第一待测物以及第二待测物进行测试，可利用多个测试模组10a(第一测试模组)，将其第一接脚可插拔地耦接第一待测物。并利用测试模组10b(第二测试模组)，将其第二接脚可插拔地耦接第一待测物，并将第二测试模组的第三接脚可插拔地耦接第二待测物。控制模组依据测试排程表控制第一测试模组及第二测试模组，使得第一测试模组及第二测试模组在排程模式下对第一待测物及第二待测物进行测试，其中排程模式为循序模式、并行模式或并联模式。上述的循序模式指在每个测试期间，各待测物透过不同的单一测试模组中的测量单元进行测试，且测量单元仅与单一接脚导通。而上述的并行模式则是指在每个测试期间，各待测物可透过不同的多个测试模组中的测量单元进行测试，但测量单元仅与单一接脚导通。再者，上述的并联模式指在每个测试期间，仅对单一待测物进行测试，但待测物可透过多个测试模组中的测量单元进行测试，且测量单元可与多个接脚导通。更进一步来说，控制模组12依据测试排程表控制测试模组，于第一测试期间透过第一接脚将第一测试模组的测量单元导通于第一待测物，于第二测试期间透过第二接脚将第二测试模组的测量单元导通于第一待测物，于第三测试期间透过第三接脚将第二测试模组的测量单元导通于第二待测物，以对第一待测物与第二待测物进行测试。于实务上，测量单元与接脚之间的导通时间为一预设值，此预设值实质上足以完成对待测物的测试。此外，上述第一测试期间、第二测试期间及第三测试期间可为不同期间或是重合期间。举例而言，当第一测试期间与第二测试期间重合且不与第三测试期间重合，则控制模组12以并行模式或并联模式对第一待测物与第二待测物进行测试。又当第一测试期间与第三测试期间重合且不与第二测试期间重合，则控制模组12以循序模式对第一待测物与第二待测物进行测试。请参照图2，为本发明一实施例的测试模组的框架图。前述测试模组(10a、10b、...及10n)中的每一个测试模组均如测试模组20所示包括开关组200及测量单元202。 开关组200包括多个开关2002a，开关2002a中每个开关的一端耦接测量单元202，开关2002a中每个开关的另一端则耦接接脚2000a中的一接脚。请参照图3，为本发明一实施例的控制模组的框架图。控制模组32包括状态机320及排程单元322。其中，排程单元322依据排程模式，以及各接脚与待测物的连接关系，决定多个测试期间中的每个测试期间内每一个测试模组的开关组的导通时序，以产生测试排程表。状态机320则依据测试排程表于多个测试状态间进行切换，以控制开关组的导通及对待测物的测试。于实务上，测试状态包括了开关断路、开关导通、数位类比转换器开启、类比数位转换器量测及数位类比转换器关闭。此外，上述测试排程表亦可由外部产生，并藉由输入介面提供给控制模组32。请参照图4，为本发明一实施例的待测物测试示意图。本测试利用控制模组42耦接并控制测试模组40a、测试模组40b及测试模组40c，测试模组40a包括开关组400a及测量单元402a，开关组400a则提供了32根接脚(P1～P32)。测试模组40b包括开关组400b及测量单元402b，开关组400b亦提供了32根接脚(P33～P64)。测试模组40c则包括开关组400c及测量单元402c，开关组400c也提供了32根接脚(P65～P96)。待测物44可插拔地耦接接脚P1、接脚P2及接脚P33，待测物46则可插拔地耦接接脚P63、接脚P64及接脚P65。以循序模式为例，所产生的测试排程表可如下表所示。待测物测试期间1测试期间2测试期间3待测物44P1P2P33待测物46P63P64P65依据上表，控制模组42于测试期间1将待测物44透过接脚P1与测量单元402a导通，并将待测物46透过接脚P63与测量单元402b导通，以对待测物44及待测物46进行测试。接着，控制模组42于测试期间2，将待测物44透过接脚P2与测量单元402a导通，并将待测物46透过接脚P64与测量单元402b导通，以对待测物44及待测物46进行测试。最后，控制模组42于测试期间3，将待测物44透过接脚P33与测量单元402b导通，并将待测物46透过接脚P65与测量单元402c导通，以对待测物44及待测物46进行测试。再以并行模式为例，所产生的测试排程表可如下表所示。待测物测试期间1测试期间2测试期间3待测物44P1、P33P2待测物46P65P63P64依据上表，控制模组42于测试期间1将待测物44透过接脚P1与测量单元402a导通，且透过接脚P33与测量单元402b导通，并将待测物46透过接脚P65与测量单元402c导通，以对待测物44及待测物46进行测试。接着，控制模组42于测试期间2，将待测物44透过接脚P2与测量单元402a导通，并将待测物46透过接脚P63与测量单元402b导通，以对待测物44及待测物46进行测试。最后，控制模组42于测试期间3，将待测物46透过接脚P64与测量单元402b导通，以对待测物46进行测试。又若以并联模式为例，所产生的测试排程表可如下表所示。依据上表，控制模组42于测试期间1，将待测物44透过接脚P1及P2与测量单元402a导通，且透过接脚P33与测量单元402b导通，以对待测物44进行测试。接着，控制模组42于测试期间2将待测物46透过接脚P63及P64与测量单元402b导通，且透过接脚P65与测量单元402c导通，以对待测物46进行测试。请参照图5，为本发明一实施例的控制模组的框架图。控制模组52包括指令执行单元524，用以执行测试指令。举例来说，欲对第一待测物进行测试，可利用多个测试模组中的第三测试模组。第三测试模组包括第三开关组及第三测量单元，其中第三测量单元耦接第三开关组，且第三开关组包括至少第四接脚，第四接脚则可插拔地耦接第一待测物。指令执行单元524系依据第一测试指令在非排程模式下控制第三开关组，使得第三测试模组于第四测试期间中的第一时间点透过第四接脚将第三测量单元导通于第一待测物，以对第一待测物进行测试。除了依据可利用测试指令控制导通与测试的起始时间点，指令执行单元524更可依据第二测试指令在非排程模式下控制第三开关组，使得第三测试模组于第四测试期间中的第二时间点停止将第三测量单元导通于第一待测物。于实务上，上述第四测试期间可与前述第一测试期间、第二测试期间或第三测试期间重合。因此，控制模组52可利用上述测试指令，控制测量单元与待测物之间导通的时间长短，并于导通期间供给待测物电源。换句话说，控制模组52可藉由适当的测试指令，使测试模组具有电源供应的功能，以对待测物进行持续的供电，而不受前述排程模式中固定导通时间的限制。此外，上述测试指令可预先储存于控制模组52，或是藉由输入介面接收外部的测试指令。本实施例所述的测试指令来源当然不以此为限，于所属
技术领域：
具有通常知识者，可依照实际测试架构，设计适当测试指令执行机制。请参照图6，为本发明一实施例的待测物测试示意图。本测试同时利用排程机制与测试指令执行机制，对待测物进行测试。具体来说，控制模组62耦接并控制测试模组60a、测试模组60b、测试模组60c及测试模组60d，测试模组60a～60d各提供了32根接脚(P’-1～P’32、P’33～P’64、P’65～P’96及P’97～P’128)。控制模组62包括状态机620、排程单元622及指令执行单元624。待测物64可插拔地耦接接脚P’2、接脚P’33及接脚P’63，待测物66则可插拔地耦接接脚P’64、接脚P’66及接脚P’97。于测试执行时，指令执行单元624执行多个测试指令，控制测试模组60a及测试模组60d，使得测试模组60a及测试模组60d分别透过接脚P’2及接脚P’97对待测物64及待测物66供电，详细机制如前实施例所述，在此不再赘述。再者，排程单元622根据设定的排程模式，产生对应的测试排程表。状态机620则依据测试排程表于多个测试状态间进行切换，以控制测试模组60b及测试模组60c与待测物64及待测物66之间的导通状态，并控制对待测物的测试。请参照图7，为本发明一实施例的自动测试方法流程图。本自动测试方法，是用于自动测试设备，以测试至少第一待测物以及第二待测物。自动测试设备包括第一测试模组、第二测试模组以及控制模组。其中第一测试模组包括第一开关组及第一测量单元，第一测量单元耦接第一开关组。第一开关组则包括至少第一接脚，且第一接脚可插拔地耦接第一待测物。又第二测试模组包括第二开关组及第二测量单元，第二测量单元耦接第二开关组。第二开关组则包括至少第二接脚及第三接脚，且第二接脚可插拔地耦接第一待测物，第三接脚可插拔地耦接第二待测物。而控制模组则耦接第一测试模组及第二测试模组。本自动测试方法包括下列步骤，首先，产生测试排程表(S70)。接着，控制模组依据测试排程表控制第一测试模组及第二测试模组，使得第一测试模组及第二测试模组在排程模式下对第一待测物及第二待测物进行测试，其中排程模式为循序模式、并行模式、或并联模式(S72)。在本发明的另一实施例的自动测试方法中，自动测试设备更包括第三测试模组。第三测试模组包括第三开关组及第三测量单元，其中第三测量单元耦接第三开关组， 且第三开关组包括至少第四接脚，第四接脚则可插拔地耦接第一待测物，控制模组包括指令执行单元。除了前述实施例的步骤之外，本实施例更包括以下步骤。首先，指令执行单元依据第一测试指令在非排程模式下控制第三开关组，使得第三测试模组于第四测试期间中的第一时间点透过第四接脚将第三测量单元导通于第一待测物，以对第一待测物进行测试。接着，指令执行单元依据第二测试指令在非排程模式下控制第三开关组，使得第三测试模组于第四测试期间中的第二时间点停止将第三测量单元导通于第一待测物。虽然本发明的实施例揭露如上所述，然并非用以限定本发明，任何熟习相关技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，举凡依本发明申请范围所述的形状、构造、特征及数量当可做些许的变更，因此本发明的专利保护范围须视本说明书所附的权利要求书所界定的为准。当前第1页1 2 3