一种射频电子产品自动测试设备的制作方法

本发明涉及测试设备技术领域，具体涉及一种射频电子产品自动测试设备。

背景技术：

射频模块产品存在生命周期短、测试复杂程度高、测试项目繁多、不同产品的测试指标和测试方法存在差异等特点。

目前，射频电子产品在交付使用之前均需对其进行检测，传统的射频模块测试往往依赖手动设置仪器和手动连接切换射频通路，针对各个测试项目需要分别使用相应的仪器与被测设备连接，然后通过操作面板按键，进行测试，并人工读取测试结果，做出相应的结论。这种方式的缺点是：测试效率低；容易误操作，测试一致性不好；对测试人员的要求较高，不适合大规模生产应用。

技术实现要素：

本发明的目的在于：针对现有技术中存在的上述技术问题，提供一种射频电子产品自动测试设备。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种射频电子产品自动测试设备，包括中央处理器、上位机和待测电子产品，所述中央处理器连接有通讯接口管理、测试项目管理、仪器接口适配器、信息采集模块和电源模块，所述上位机与所述中央处理器的外部输入/输出接口通过串口连接。

作为优选，所述信息采集模块包括条码扫描仪、红外扫描仪和读卡器。

作为优选，所述仪器接口适配器包括单刀双掷射频开关、控制驱动模块、射频端口、音频端口和电源接口，所述单刀双掷射频开关的触头分别连接测试 仪器，所述单刀双掷射频开关的掷刀连接所述射频端口的一端；所述控制驱动模块的输入端连接测试仪器，所述控制驱动模块输出端连接所述单刀双掷射频开关的控制端和音频端口，所述音频端口的另一端连接被测设备；所述电源接口用于连接所述电源模块进行供电。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

本发明极大的提高了射频电子产品在生产过程需要复杂的测试效率，采用构建化和通用化思想，使用灵活简单方便，另外，本发明设置有外部输入/输出接口，且通过串口连接上位机，通过上位机编程将测试命令发给中央处理器，进而实现自动化测试，降低了人工成本和测试成本。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1是本发明结构示意图；

图2是本发明的被测射频电子产品与适配器连接结构图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

如图1和图2所示，一种射频电子产品自动测试设备，包括中央处理器、上位机和待测电子产品，所述中央处理器连接有通讯接口管理、测试项目管理、仪器接口适配器、信息采集模块和电源模块，所述上位机与所述中央处理器的外部输入/输出接口通过串口连接，所述信息采集模块包括条码扫描仪、红外 扫描仪和读卡器。

所述仪器接口适配器包括单刀双掷射频开关、控制驱动模块、射频端口、音频端口和电源接口，所述单刀双掷射频开关的触头分别连接测试仪器，所述单刀双掷射频开关的掷刀连接所述射频端口的一端；所述控制驱动模块的输入端连接测试仪器，所述控制驱动模块输出端连接所述单刀双掷射频开关的控制端和音频端口，所述音频端口的另一端连接被测设备；所述电源接口用于连接所述电源模块进行供电。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明。本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。