一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法与流程

技术特征：

1.一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法，其特征在于,包含如下步骤：

1）使用稳定了 10 min以上的热像仪，调整热像仪的焦距，使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像；

2）用热像仪的中心像素点 P 测量标准漫反射板灰度 H₁；

3）将热像仪中心像素点 P 对准面源黑体，调整面源黑体表面温度，使 P 点灰度为 H₂；

4）重复步骤2）和步骤3），使H₁＝H₂，记录面源黑体温度与标准漫反射板温度；

5）利用热像仪像素点 P 测量被测物体表面，使 P 点灰度为H₃；

6）将热像仪中心像素点 P 再次对准面源黑体，调整面源黑体温度使 P 点灰度为H₂；

7）重复步骤5）和步骤6）使H₂= H₃，记录面源黑体温度与被测物体表面温度；

8）分析测量数据获得物体表面发射率。