技术总结
本发明公开了一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法，使用稳定了10 min以上的热像仪，调整热像仪的焦距，使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像，将热像仪中心像素点P对准面源黑体，调整面源黑体表面温度，使P 点灰度为H2，重复测量，使H1＝H2，记录面源黑体温度与标准漫反射板温度，利用热像仪像素点P 测量被测物体表面，使P点灰度为H3，将热像仪中心像素点P再次对准面源黑体，调整面源黑体温度使P点灰度为H2，重复测量，使H2= H3，记录面源黑体温度与被测物体表面温度，分析测量数据获得物体表面发射率，该方法提高了发射率测量精度，误差小，对发射率偏低的设备，测量精度提升较为明显。
技术研发人员：沈庆刚;夏玉保;夏飞云
受保护的技术使用者：桂林市新业机械制造有限责任公司
文档号码：201510301822
技术研发日：2015.06.05
技术公布日：2016.12.21