1.智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于：其包括用于表面轮廓测定和透视成像的接口光学系统和机械系统，包括手机适配器和被测对象适配接口。
2.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的用于高反射率材料表面轮廓测定，用智能手机内置光源照亮被测物体表面，通过短相干干涉仪原理获得表面轮廓测量。
3.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的用白光干涉仪，得到高纵向分辨率和高灵敏度。
4.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的可穿透低反射率高散射率材料的断层截面图像信息。
5.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的利用智能手机的图像传感器获得图像，不需要额外的传感装置。
6.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的利用机械平移台定位被测纵向位置，机械微位移装置获得干涉信号的调制，利用相位平移干涉的算法对干涉信号进行解调。
7.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的利用智能手机自身的存储器和中央处理机算解调信息得到表面轮廓图或透视图。
8.根据权利要求1所述的智能手机轮廓测定及透视成像系统，其特征在于所述的两种成像方式，完全由被测物体的光学特性决定。
9.设备本身的操作程序完全相同。