线缆测试仪及其测试方法与流程

本发明涉及线缆测试技术领域，更具体地涉及一种线缆测试仪及其测试方法。

背景技术：

线缆测试仪，是一种检测线缆通断状态的仪器，通过该线缆测试仪可以帮助工作人员及时查找故障。目前，现有的线缆测试仪的工作电流一般在5mA以上，而其本身所配备的电池规格为9V 300mAH。鉴于此，现有的电池只能保证线缆测试仪的工作时间为60小时左右。因此，线缆测试仪中增设了一开关，用于在待机状态下切断电源，从而延长工作时间。

但由于开关的增设，必然加大了线缆测试仪的制造成本，同时需要为开关预留一安装空间，这样也会增大整个线缆测试仪的体积。另外，目前的线缆测试仪一般都具有RJ45和RJ11两个线缆接口，使得测试仪不具备通用性，且两个线缆接口的设置也加大了制作成本。

此外，现有的线缆测试仪在进行线缆测试时，不管芯线是否通断，都会进行延时等待。具体地，如线缆测试仪中有8个LED显示灯，测试时，线缆测试仪会按照1、2、3、4、5、6、7、8的顺序依次点亮LED灯，若某个LED灯对应的芯线处于断开状态，那么该LED灯不会被点亮，但仍然需要延时等待后才继续检测下一条芯线的通断状态，若某个LED灯对应的芯线处于接通状态，那么该LED灯会被点亮并进行延时等待后才继续检测下一条芯线的通断状态。该测试方法，极大地降低了测试效率及工作人员的工作效率。

因此，有必要提供一种新型的线缆测试仪及其测试方法来克服上述缺陷。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种线缆测试仪，以降低制作成本及延长工作时间。

本发明的另一目的是提供一种线缆测试方法，以提高测试效率及工作人员的工作效率。

为实现上述目的，本发明提供了一种线缆测试仪，包括与被测线缆连接的主机和子机。其中，主机包括主电路板、降压芯片、微控制芯片、主LED阵列、电池及一线缆接口，降压芯片、微控制芯片、主LED阵列及线缆接口均设置于主电路板，降压芯片及主LED阵列均与微控制芯片连接，电池与主电路板连接，子机包括子电路板、子LED阵列及一线缆接口，子LED阵列及线缆接口均设置于子电路板，子LED阵列与微控制芯片连接，线缆测试仪的静态工作电流小于10微安。

与现有技术相比，使用本发明的线缆测试仪时，先将被测线缆插入主机和子机的线缆接口中，微控制芯片会判断被测线缆的芯线的通断状态，并根据通断状态是否点亮芯线对应的主LED阵列及子LED阵列中的LED灯。由于该线缆测试仪的静态工作电流小于10微安，因此线缆测试仪通用的9V 300mAH可持续使用12500天，约34年，极大地延长了工作时间。且取消了开关，节约了制造成本。此外，由于线缆测试仪的主机及子机上均只有一个线缆接口，使得该线缆测试仪具有很强的通用性，也极大地降低了制作成本。

具体地，主机还包括第一半壳及第二半壳，第一半壳及第二半壳相扣合以形成主机的第一外壳，主电路板、降压芯片、微控制芯片、主LED阵列及电池均位于第一外壳内，线缆接口位于第一外壳的一侧壁。

具体地，第一半壳的一侧壁上开设有第一半槽，第二半壳的一侧壁上开设有第二半槽，第一半壳及第二半壳扣合后，第一半槽及第二半槽形成一滑槽，且滑槽与线缆接口位于第一外壳不同的侧壁上。

具体地，子机还包括第三半壳及第四半壳，第三半壳及第四半壳相扣合以形成子机的第二外壳，子电路板及子LED阵列位于第二外壳内，线缆接口位于第二外壳的一侧壁。

较佳地，第三半壳的一侧壁上形成有第一突出部，第四半壳的一侧壁上形成有第二突出部，第三半壳及第四半壳扣合后，第一突出部及第二突出部形成一插入部，且插入部与线缆接口位于第二外壳不同的侧壁上，插入部插入主机的滑槽内。

较佳地，第一半壳及第三半壳上均设有通孔，主LED阵列及子LED阵列分别与通孔对正。

较佳地，主LED阵列贴装于主电路板，子LED阵列贴装于子电路板。在现有的线缆测试仪机型中，均是使用插件的LED。而本发明中是在线缆测试仪中首次使用贴片式元件，降低了制作成本，同时提高了工作效率。

较佳地，线缆接口为RJ45接口。

相应地，本发明还提供了一种线缆测试方法，包括：

(1)进入待机省电模式以等待外部触发唤醒线缆测试仪，其中，线缆测试仪包括主机与子机，主机包括主电路板、降压芯片、微控制芯片、主LED阵列、电池及一线缆接口，降压芯片、微控制芯片、主LED阵列及线缆接口均设置于主电路板，降压芯片及主LED阵列均与微控制芯片连接，电池与主电路板连接，子机包括子电路板、子LED阵列及一线缆接口，子LED阵列及线缆接口均设置于子电路板，子LED阵列与微控制芯片连接；

(2)微控制芯片检测主机与子机的线缆接口是否均有被测线缆插入；

(3)当有被测线缆插入时，微控制芯片判断被测线缆的第一芯线的通断状态，反之则进入待机省电模式；

(4)当第一芯线处于接通状态时，点亮主LED阵列及子LED阵列中的第一颗LED灯并进行延时后执行步骤(5)，反之，执行步骤(5)；

(5)微控制芯片判断被测线缆的第二芯线的通断状态，根据第二芯线的通断状态，点亮主LED阵列及子LED阵列中的LED灯、进行延时后判断下一条芯线的通断状态，或直接判断下一条芯线的通断状态；

(6)重复步骤(5)直至被测线缆的最后一条芯线的通断状态被检测。

与现有技术相比，本发明的测试方法先进入待机省电模式，微控制芯片检测主机与子机的线缆接口是否均有被测线缆插入，当有时，微控制芯片判断第一芯线的通断状态，当处于接通状态时，则点亮主LED阵列及子LED阵列中的第一颗LED灯并进行一定延时后开始继续检测下一条芯线的通断状态，当第一芯线处于断开状态时，则不需延时等待，直接开始检测下一条芯线的通断状态，重复上述步骤，直至被测线缆中的最后一条芯线被检测。即，本发明的测试方法只有在检测出芯线处于接通状态时才点亮LED灯并进行延时等待，而在检测出芯线处于断开状态时不需要延时等待，而是直接继续检测下一条芯线。因此，通过该测试方法极大地提高了测试效率以及工作人员的工作效率。

可选地，被测线缆为两芯线、四芯线、六芯线或八芯线。

通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明的实施例。

附图说明

图1为本发明线缆测试仪的立体图。

图2为图1中主机和子机分开后的立体图。

图3为图2另一角度的结构图。

图4为图2中主机的分解图。

图5为图2中子机的分解图。

图6为本发明线缆测试仪的使用状态图。

图7为线缆测试仪的电路图。

图8为本发明线缆测试方法的流程图。

图9为本发明测试八芯线时的流程图。

图10为现有测试方法流程图。

具体实施方式

现在参考附图描述本发明的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。

请参考图1，本发明的线缆测试仪包括与被测线缆连接的主机100和子机200。其中，该线缆测试仪的静态工作电流小于10微安。

具体地，请参考图4，主机100包括第一外壳10、主电路板11、电池12及一线缆接口13，主电路板11及电池12均位于第一外壳10内，线缆接口13位于第一外壳10的一侧壁并与主电路板12连接。进一步地，主电路板11上安装有如图7所示的降压芯片U1、微控制芯片U2及主LED阵列。

如图7所示，降压芯片U1的1端为输入端，其外接+9V电压，3端为接地端，其接地，2端为输出端，其输出+5V电压并接入微控制芯片U2的引脚4。即降压芯片U1将9V的电压进行降压处理后作为微控制芯片U1的工作电压。具体地，微控制芯片U1的引脚5和6分别通过电阻R18和R19接地，引脚7和11作为接地端，且引脚1、5、6、14、13、12、10、9和8分别对应输出端X0、X8、X7、X1、X2、X3、X4、X5和X6。进一步地，X0～X8分别对应地与LED D30～D23连接，且连接后的一端均经过电阻R15后接入微控制芯片U2的PUBLIC公共端(即微控制芯片14的引脚2)。需要说明的是，图7中的D23～D30构成了本发明的主LED阵列。

再请参考图4，第一外壳10包括第一半壳101及第二半壳102，两者相扣合以形成第一外壳10。具体地，第一半壳101的一侧壁上开设有第一半槽1011，第二半壳102的一侧壁上开设有第二半槽1021，第一半壳101与第二半壳102扣合后，第一半槽1011与第二半槽1021形成一滑槽103(如图2及图3所示)，且该滑槽103与线缆接口13位于第一外壳10不同的侧壁上。

再请参考图5，子机200包括第二外壳20、子电路板21及线缆接口13，子电路板21位于第二外壳20内，线缆接口13与子电路板21连接并位于第二外壳20的一侧壁。进一步地，子电路板21上安装有如图7所示的子LED阵列。

如图7所示，子LED阵列22与主机100的微控制芯片15连接。需要说明的是，在图7中，D1～D18构成了本发明的主LED阵列。具体地，X0还经过电阻R1连接并联后的D1、D2，X1还经过电阻R7连接并联后的D3、D4，X2还经过电阻R8连接并联后的D5、D6，X3还经过电阻R9连接并联后的D7、D8，X4还经过电阻R10连接并联后的D9、D10，X5还经过电阻R11连接并联后的D11、D12，X6还经过电阻R12连接并联后的D13、D14，X7还经过电阻R13连接并联后的D15、D6，X8还经过电阻R14连接并联后的D17、D18。

再请参考图5，第二外壳20包括第三半壳201及第四半壳202，两者相扣合以形成第二外壳20。具体地，第三半壳201的一侧壁上形成有第一突出部2011，第四半壳202的一侧壁上形成有第二突出部2021，第三半壳201与第四半壳202扣合后，第一突出部2011与第二突出部2021形成一插入部203(如图3所示)，且该插入部203与线缆接口13位于第二外壳20不同的侧壁上。且，该插入部203插入滑槽103以实现子机200与主机100之间的组装。

进一步地，请参考图4及图5，主机100的第一半壳101及子机200的第二半壳201上均设有多个通孔30。每一通孔30分别与主LED阵列及子LED阵列22中的LED相对应，以方便用户通过该通孔30观察LED灯的亮灭状态。

进一步地，本发明中主LED阵列及子LED阵列中的LED灯都是采用贴片元件，即采用贴片工艺将LED灯安装于电路板上。与现有技术中采用插件式LED灯相比，该种贴片式组装降低了制作成本，同时提高了工作效率。

较佳地，在本实施例中，线缆接口13为RJ45接口。

再请参考图6，使用本发明的线缆测试仪时，先将被测线缆40的两端分别连接主机100及子机200的线缆接口13中，微控制芯片U2会判断被测线缆40的芯线的通断状态，并根据通断状态是否点亮芯线对应的主LED阵列及子LED阵列中的LED灯。也就是说，用户通过通孔30便可观察主机100及子机200的LED阵列中的LED灯的亮灭，从而知晓对应的芯线处于接通还是断开状态。由于该线缆测试仪的静态工作电流小于10微安，因此线缆测试仪通用的9V300mAH可持续使用12500天，约34年，极大地延长了工作时间。且取消了开关，节约了制造成本。此外，由于线缆测试仪的主机100及子机200上均只有一个线缆接口13，使得该线缆测试仪具有很强的通用性，也极大地降低了制作成本。

相应地，本发明还提供了一种线缆测试方法。如图8所示，该测试方法的主流程包括：

S101，进入待机省电模式以等待外部触发唤醒线缆测试仪，其中，线缆测试仪的结构及其工作原理如上所述，故在此不再赘述。

S102，微控制芯片检测主机与子机的线缆接口是否均有被测线缆插入，若有，则执行步骤S103，反之，执行步骤S101。

S103，微控制芯片判断被测线缆的第一芯线的通断状态，即判断第一芯线是否被接通，当被接通时，执行步骤S104，反之，直接执行步骤S105。

S104，当第一芯线处于接通状态时，点亮主LED阵列及子LED阵列中的第一颗LED灯并进行延时后执行步骤S105，反之，直接执行步骤S105。

S105，微控制芯片判断被测线缆的第二芯线的通断状态，根据第二芯线的通断状态，点亮主LED阵列及子LED阵列中的LED灯、进行延时后判断下一条芯线的通断状态，或直接判断下一条芯线的通断状态。

S106，重复步骤S105直至被测线缆的最后一条芯线的通断状态被检测。

需要说明的是，本发明的被测线缆为两芯线、四芯线、六芯线或八芯线。

下面以八芯线为例，详述该测试方法。请参考图9，该测试方法具体包括：

S201，初始化系统寄存器。

S202，进入待机省电模式，等待外部触发唤醒。

S203，判断是否有线缆插入，若有，则进入步骤S204，反之，进入步骤S202。

S204，检查线缆芯线状态。

S205，查对被测线缆中芯线1的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S206，反之，则进入步骤S207。

S206，点亮芯线1对应的LED灯并延时0.3秒。

S207，查对被测线缆中芯线2的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S208，反之，则进入步骤S209。

S208，点亮芯线2对应的LED灯并延时0.3秒。

S209，查对被测线缆中芯线3的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S210，反之，则进入步骤S211。

S210，点亮芯线3对应的LED灯并延时0.3秒。

S211，查对被测线缆中芯线4的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S212，反之，则进入步骤S213。

S212，点亮芯线4对应的LED灯并延时0.3秒。

S213，查对被测线缆中芯线5的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S214，反之，则进入步骤S215。

S214，点亮芯线5对应的LED灯并延时0.3秒。

S215，查对被测线缆中芯线6的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S216，反之，则进入步骤S217。

S216，点亮芯线6对应的LED灯并延时0.3秒。

S217，查对被测线缆中芯线,7的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S218，反之，则进入步骤S219。

S218，点亮芯线7对应的LED灯并延时0.3秒。

S219，查对被测线缆中芯线8的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S220，反之，则进入步骤S221。

S220，点亮芯线8对应的LED灯并延时0.3秒。

S221，查对被测线缆中芯线9的通断状态，当处于接通状态时，进入步骤S222，反之，则进入步骤S202。

S222，点亮芯线9对应的LED灯并延时0.3秒。

从该流程图可以看出，只有的芯线处于接通状态时，才需要延时等待。而当芯线处于断开状态时，则是直接进行下一条芯线状态的检测。

进一步地，为了使得本发明无需延时等待的测试方法更加清楚，请参考图10，其描述了现有的测试方法流程。在图10中，查对芯线1的通断状态，当处于接通状态时，点亮芯线1对应的LED灯并延时0.3秒，当处于断开状态时，则不点亮芯线1对应的LED灯并延时0.3秒。在延时之后，再检测芯线2的通断状态，以此重复，直至所有的芯线都被检查完。也就是说，现有测试方法中，不论通断状态如何，都必须进行延时等待，这样将会极大地降低工作效率。

因此，与现有技术相比，本发明的测试方法只有在检测出芯线处于接通状态时才点亮LED灯并进行延时等待，而在检测出芯线处于断开状态时不需要延时等待，而是直接继续检测下一条芯线。因此，通过该测试方法极大地提高了测试效率以及工作人员的工作效率。

以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。