本发明涉及一种光电耦合器性能测试技术，尤其涉及一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统。
背景技术：
光电耦合器是一种应用十分广泛的器件，光电耦合器制作完成后，需要对光电耦合器的性能参数进行量化评价，以筛选出不合格产品，保证产品质量；筛选过程一般通过电老炼试验和参数测试两个项目来完成。
现有技术中，通常采用两套独立的装置来分别进行电老炼试验和参数测试，具体操作时，一般先将光电耦合器安装在电老炼平台上进行电老炼试验，电老炼试验完成后，再将光电耦合器取下并安装在参数检测装置上进行参数测试；由于同一批次需要对数量众多的光电耦合器进行测试，光电耦合器的拆装操作十分麻烦，最为重要的是，由于这两个过程的独立性，电老炼试验过程中，缺乏实时参数监测手段，无法实时获取到电老炼试验过程中器件的运行参数。
技术实现要素：
针对背景技术中的问题，本发明提出了一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，其创新在于：所述测试系统由PC机、测试通道选通模块、多个老炼电路、多个参数检测电路和光电耦合器插接板组成；所述光电耦合器插接板上设置有多个插口，所述插口用于插接待测光电耦合器；老炼电路的数量与插口数量匹配，参数检测电路的数量与老炼电路的数量相同；
PC机与测试通道选通模块连接，测试通道选通模块分别与多个插口、多个老炼电路和多个参数检测电路连接；
测试通道选通模块能将插口选通至老炼电路或参数检测电路，各个插口的选通操作相互独立，互不干涉；PC机能通过软件界面控制测试通道选通模块的动作；
当某一插口与某一老炼电路选通时，老炼电路能对插接在插口上的待测光电耦合器进行电老炼试验，试验过程中，PC机能通过测试通道选通模块实时提取到待测光电耦合器的运行数据；
当某一插口与某一参数检测电路选通时，参数检测电路能对插接在插口上的待测光电耦合器进行参数测试，测试过程中，PC机能通过测试通道选通模块实时提取到待测光电耦合器的检测数据。
本发明的原理是：首先，本发明通过测试通道选通模块将老炼电路和参数检测电路结合起来，测试过程中，可根据需要，控制光电耦合器在电老炼试验状态和参数测试状态之间切换，一套测试系统就能实现电老炼试验和参数测试两种项目的检测，大大的简化了光电耦合器成品检验过程中器件的安装操作和测试装置的搭建，检测效率较高；其次，电老炼试验过程中，PC机能通过测试通道选通模块对待测光电耦合器的运行数据进行实时监测，有利于技术人员及时发现问题以及进行相关分析。
在前述方案的基础上，发明人还提出了如下的优选实施方案：
所述测试通道选通模块由主控模块、译码控制电路、主继电器阵列、多个子控模块、多个子继电器阵列和多个数据采集卡组成；所述老炼电路或参数检测电路记为测试电路；
所述PC机分别与主控模块和多个数据采集卡连接，主控模块分别与译码控制电路、主继电器阵列和多个子控模块连接，多个数据采集卡与多个测试电路一一对应地连接，译码控制电路分别与多个测试电路和多个子继电器阵列连接；主继电器阵列中的继电器数量与测试电路数量匹配；主继电器阵列中的单个继电器记为继电器一，继电器一与测试电路的电源一一对应，PC机能通过主控模块控制主继电器阵列的动作，主继电器阵列能通过继电器一控制相应测试电路与电源之间的通断；PC机能通过主控模块控制译码控制电路的动作，译码控制电路能控制测试电路和子继电器阵列的选通和断开；
多个子控模块与多个子继电器阵列一一对应地连接，多个子继电器阵列与多个插口一一对应；单个子继电器阵列中的继电器数量与单个插口上的引脚插孔数量匹配；子继电器阵列中的单个继电器记为继电器二，继电器二与引脚插孔一一对应，PC机能通过主控模块对子控模块的动作进行控制，当译码控制电路控制某一测试电路和某一子继电器阵列选通后，子控模块能通过继电器二控制对应的引脚插孔与测试电路选通。
采用前述的优选方案后，不仅可以实现本发明的技术目的，而且还能在测试状态切换时，分布实施切换动作，比如，插接在某一插口A上的光电耦合器先通过老炼电路A完成了电老炼试验，需要继续对其进行参数测试，此时，先通过主继电器阵列将老炼电路A与其电源断开，然后再通过译码控制电路将对应插口A的子继电器阵列选通至参数检测电路A，子继电器阵列将引脚插孔的选通状态调整至与参数检测电路A匹配的状态（译码控制电路和子继电器阵列的动作同步进行），然后再通过主继电器阵列将参数检测电路A与对应的电源接通，这种分步切换的方式，可以避免电源突变对器件造成冲击，保证测试的准确性。
优选地，所述老炼电路和光电耦合器插接板置于温控箱内。进行电老炼试验时，可通过温控箱调节老炼电路和光电耦合器的环境温度，从而实现高温老炼试验或低温老炼试验。
优选地，所述主控模块、译码控制电路和主继电器阵列形成于同一电路板上；所述子控模块和对应的子继电器阵列形成于同一电路板上；多块电路板通过一支架层叠放置。
本发明的有益技术效果是：提供了一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，该测试系统能够简化测试操作，提高测试效率。
附图说明
图1、本发明的电气原理示意图；
图中各个标记所对应的名称分别为：测试通道选通模块1、老炼电路2、参数检测电路3、光电耦合器插接板4、PC机PC。
具体实施方式
一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，其特征在于：所述测试系统由PC机PC、测试通道选通模块1、多个老炼电路2、多个参数检测电路3和光电耦合器插接板4组成；所述光电耦合器插接板4上设置有多个插口，所述插口用于插接待测光电耦合器；老炼电路2的数量与插口数量匹配，参数检测电路3的数量与老炼电路2的数量相同；
PC机PC与测试通道选通模块1连接，测试通道选通模块1分别与多个插口、多个老炼电路2和多个参数检测电路3连接；
测试通道选通模块1能将插口选通至老炼电路2或参数检测电路3，各个插口的选通操作相互独立，互不干涉；PC机PC能通过软件界面控制测试通道选通模块1的动作；
当某一插口与某一老炼电路2选通时，老炼电路2能对插接在插口上的待测光电耦合器进行电老炼试验，试验过程中，PC机能通过测试通道选通模块1实时提取到待测光电耦合器的运行数据；
当某一插口与某一参数检测电路3选通时，参数检测电路3能对插接在插口上的待测光电耦合器进行参数测试，测试过程中，PC机PC能通过测试通道选通模块1实时提取到待测光电耦合器的检测数据。
进一步地，所述测试通道选通模块1由主控模块、译码控制电路、主继电器阵列、多个子控模块、多个子继电器阵列和多个数据采集卡组成；所述老炼电路2或参数检测电路3记为测试电路；
所述PC机PC分别与主控模块和多个数据采集卡连接，主控模块分别与译码控制电路、主继电器阵列和多个子控模块连接，多个数据采集卡与多个测试电路一一对应地连接，译码控制电路分别与多个测试电路和多个子继电器阵列连接；主继电器阵列中的继电器数量与测试电路数量匹配；主继电器阵列中的单个继电器记为继电器一，继电器一与测试电路的电源一一对应，PC机能通过主控模块控制主继电器阵列的动作，主继电器阵列能通过继电器一控制相应测试电路与电源之间的通断；PC机能通过主控模块控制译码控制电路的动作，译码控制电路能控制测试电路和子继电器阵列的选通和断开；
多个子控模块与多个子继电器阵列一一对应地连接，多个子继电器阵列与多个插口一一对应；单个子继电器阵列中的继电器数量与单个插口上的引脚插孔数量匹配；子继电器阵列中的单个继电器记为继电器二，继电器二与引脚插孔一一对应，PC机能通过主控模块对子控模块的动作进行控制，当译码控制电路控制某一测试电路和某一子继电器阵列选通后，子控模块能通过继电器二控制对应的引脚插孔与测试电路选通。
进一步地，所述老炼电路2和光电耦合器插接板4置于温控箱内。
进一步地，所述主控模块、译码控制电路和主继电器阵列形成于同一电路板上；所述子控模块和对应的子继电器阵列形成于同一电路板上；多块电路板通过一支架层叠放置。