技术总结
基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法，涉及天线测试。包括以下步骤：1)搭建天线测试系统，待测阵列天线需与发射天线处于同一水平面；2)测试各天线单元，得到各单元原始的相位方向图测试数据；3)利用光程差校正公式对各单元原始的相位方向图测试数据进行光程差校正，得到初次校正的相位方向图；4)利用光程差校正算法得到阵列天线相位总体一致性的均方根误差最小时参数d0、Δ及θ0的值；5)计算各单元修正参数后的相位方向图及各单元的相位均方根误差。不需要为每个单元天线挪动阵列位置的情况下直接测量多个单元天线的相位方向图。对测量误差具有较好的抑制作用。具有很好的校正性能。
技术研发人员：刘颜回;廖海艳;徐开达;张淼;张谅;叶龙芳;刘海;柳清伙
受保护的技术使用者：厦门大学
文档号码：201610553141
技术研发日：2016.07.14
技术公布日：2016.12.07