技术总结
本发明涉及一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，包含：S1、芯片上电；存储单元内存储芯片配置信息、第一上电检测信息及第二上电检测信息；S2、由控制单元控制，依次对存储单元中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行检查验证；S3、至少对S2中的操作步骤重复执行一次；S4、由控制单元控制，将存储单元中的芯片配置信息载入配置寄存器单元。本发明还涉及一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置。本发明能够在RF场强不稳定的情况下保证上电检测的正确性，同时避免一旦发生上电检测出错就需要先使芯片下电，再重新上电的操作过程，有效的节省了时间，尤其适用于发卡量较大的情况。
技术研发人员：武鹏;张建伟;徐艺均
受保护的技术使用者：聚辰半导体（上海）有限公司
文档号码：201610661871
技术研发日：2016.08.12
技术公布日：2017.01.04