技术总结
一种测量密封面动环微位移的系统，属于位移精密测量技术领域，解决机械密封结构空间较小、温度高、环境复杂，难以精确的监测密封面动环微位移的问题。本发明包括静环和动环，现场测量装置和安全区装置；所述现场测量装置包括设置在静环上的下夹具、设置在下夹具上的上夹具、设置在上夹具和下夹具之内的铠装高温光纤探头、与铠装高温光纤探头相连接的铠装高温光纤和设置在动环上的法兰；所述安全区装置包括光源、光环行器、光谱仪和信号处理装置，所述光源的输出端与光环行器的1端口相连接，铠装高温光纤与光环行器的2端口相连接，光谱仪的输入端与光环行器的3端口相连接，光谱仪的输出端与信号处理装置的输入端相连接。用于测量密封面动环微位移。
技术研发人员：欧中华;汪豫;贾敏;龚小进;王刚;刘永
受保护的技术使用者：电子科技大学
文档号码：201610686511
技术研发日：2016.08.18
技术公布日：2017.01.11