一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置与流程

文档序号:18059917发布日期:2019-07-03 03:00阅读:189来源:国知局
一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置。



背景技术:

触摸屏按照组成结构可以分为:外挂式触摸屏(Add on Mode Touch Panel)、覆盖表面式触摸屏(On Cell Touch Panel)以及内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)。触摸屏按照工作原理可以分为:电阻式触摸屏和电容式触摸屏等。

在现有的触摸屏中,触控电极与引线的连接方式主要有以下三种类型。第一种是从触控电极的两端分别引出引线,这两条引线分别与绑定区域内的两个接线端子电性连接;第二种是从触控电极的两端分别引出引线,这两条引线与绑定区域内的同一个接线端子电性连接,即触控电极与这两条引线形成闭合回路结构;第三种是从触控电极的一端引出引线,该引线与绑定区域内的接线端子电性连接。

在触摸屏的制作过程中,在形成触控电极和引线之后,需要测试触控电极和引线是否发生断路,以保证触摸屏的良率。在对第一种结构中的触控电极和引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域内的两个接线端子处,通过测试两个探针之间的电阻来判断触控电极和引线是否存在断路,无论触控电极的上方是否覆盖有绝缘层,都不会影响对第一种结构中的触控电极和引线进行断路测试。在对第二种和第三种结构中的触控电极和引线进行断路测试时,需要将两个探针分别置于触控电极和绑定区域内的接线端子处,通过测试两个探针之间的电阻来判断触控电极和引线是否存在断路,若触控电极的上方覆盖有绝缘层,则无法将探针与触控电极电性连接,即无法对第二种和第三种结构中的触控电极和引线进行断路测试。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明实施例提供了一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置,用以能够对任何一种触控结构进行断路测试。

因此,本发明实施例提供了一种触控结构,包括:交叉绝缘设置的多条触控驱动电极和多条触控感应电极、与各所述触控驱动电极一一对应且电性连接的多条相互绝缘的第一引线以及与各所述触控感应电极一一对应且电性连接的多条相互绝缘的第二引线;还包括:

与各所述触控驱动电极一一对应的多条相互绝缘的第三引线,每条所述第三引线的一端与对应的所述触控驱动电极电性连接,另一端用于作为测试对应的所述触控驱动电极和对应的所述第一引线是否存在断路的测试点;和/或,

与各所述触控感应电极一一对应的多条相互绝缘的第四引线,每条所述第四引线的一端与对应的所述触控感应电极电性连接,另一端用于作为测试对应的所述触控感应电极和对应的所述第二引线是否存在断路的测试点。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,各所述第三引线与各所述触控驱动电极同层设置;除最外侧的两条所述触控驱动电极以外,其他各所述触控驱动电极对应的所述第三引线位于该触控驱动电极与相邻的所述触控驱动电极之间的间隙处;最外侧的两条所述触控驱动电极对应的所述第三引线位于该触控驱动电极与相邻的所述触控驱动电极之间的间隙处或位于该触控驱动电极远离相邻的所述触控驱动电极的一侧;

各所述第四引线与各所述触控感应电极同层设置;除最外侧的两条所述触控感应电极以外,其他各所述触控感应电极对应的所述第四引线位于该触控感应电极与相邻的所述触控感应电极之间的间隙处;最外侧的两条所述触控感应电极对应的所述第四引线位于该触控感应电极与相邻的所述触控感应电极之间的间隙处或位于该触控感应电极远离相邻的所述触控感应电极的一侧。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,每条所述第一引线,包括:第一子引线和第二子引线;其中,每条所述触控驱动电极的一端与对应的所述第一引线中的所述第一子引线的一端电性连接,每条所述触控驱动电极的另一端与对应的所述第一引线中的所述第二子引线的一端电性连接,所述第一子引线的另一端与所述第二子引线的另一端电性连接且均与位于绑定区域内的第一接线端子电性连接;和/或,

每条所述第二引线,包括:第三子引线和第四子引线;其中,每条所述触控感应电极的一端与对应的所述第二引线中的所述第三子引线的一端电性连接,每条所述触控感应电极的另一端与对应的所述第二引线中的所述第四子引线的一端电性连接,所述第三子引线的另一端与所述第四子引线的另一端电性连接且均与位于绑定区域内的第二接线端子电性连接。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,每条所述触控驱动电极从与对应的所述第三引线电性连接的位置到与对应的所述第一子引线电性连接的位置之间的电阻为R1,每条所述触控驱动电极从与对应的所述第三引线电性连接的位置到与对应的所述第二子引线电性连接的位置之间的电阻为R2,每条所述第一子引线的电阻为R3,每条所述第二子引线的电阻为R4;其中,R1、R2、R3和R4满足:或

每条所述触控感应电极从与对应的所述第四引线电性连接的位置到与对应的所述第三子引线电性连接的位置之间的电阻为R5,每条所述触控感应电极从与对应的所述第四引线电性连接的位置到与对应的所述第四子引线电性连接的位置之间的电阻为R6,每条所述第三子引线的电阻为R7,每条所述第四子引线的电阻为R8;其中,R5、R6、R7和R8满足:或

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,R1、R2、R3和R4满足:或

R5、R6、R7和R8满足:或

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,每条所述第一引线的一端与对应的所述触控驱动电极电性连接,另一端与位于绑定区域内的第一接线端子电性连接;和/或,

每条所述第二引线的一端与对应的所述触控感应电极电性连接,另一端与位于绑定区域内的第二接线端子电性连接。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,每条所述第三引线与对应的所述触控驱动电极未连接所述第一引线的一端电性连接;

每条所述第四引线与对应的所述触控感应电极未连接所述第二引线的一端电性连接。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述触控结构中,还包括:位于各所述触控驱动电极和各所述触控感应电极上方的绝缘层;

所述绝缘层与各所述测试点对应的位置具有贯穿所述绝缘层的过孔。

本发明实施例还提供了一种触摸屏,包括:本发明实施例提供的上述触控结构。

本发明实施例还提供了一种显示装置,包括:本发明实施例提供的上述触摸屏。

本发明实施例还提供了一种触控结构的测试方法,包括:

检测每条触控驱动电极对应的第三引线中的测试点与对应的第一引线电性连接的第一接线端子之间的电阻,确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路;

检测每条触控感应电极对应的第四引线中的测试点与对应的第二引线电性连接的第二接线端子之间的电阻,确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述测试方法中,所述确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路,具体包括:

在检测出的电阻为R2+R4+R9时,确定该触控驱动电极从与对应的第三引线电性连接的位置到与对应的第一子引线电性连接的位置之间和/或第一子引线存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻;

在检测出的电阻为R1+R3+R9时,确定该触控驱动电极从与对应的第三引线电性连接的位置到与对应的第二子引线电性连接的位置之间和/或第二子引线存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻;

在检测出的电阻异常时,确定该触控驱动电极对应的第三引线存在断路;

在检测出的电阻为时,确定该触控驱动电极和对应的第一引线不存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述测试方法中,所述确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路,具体包括:

在检测出的电阻为R6+R8+R10时,确定该触控感应电极从与对应的第四引线电性连接的位置到与对应的第三子引线电性连接的位置之间和/或第三子引线存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻;

在检测出的电阻为R5+R7+R10时,确定该触控感应电极从与对应的第四引线电性连接的位置到与对应的第四子引线电性连接的位置之间和/或第四子引线存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻;

在检测出的电阻异常时,确定该触控感应电极对应的第四引线存在断路;

在检测出的电阻为时,确定该触控感应电极和对应的第二引线不存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述测试方法中,所述确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路,具体包括:

确定检测出的电阻是否异常;若是,则确定该触控驱动电极和/或对应的第一引线和/或对应的第三引线存在断路;若否,则确定该触控驱动电极和对应的第一引线不存在断路。

在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述测试方法中,所述确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路,具体包括:

确定检测出的电阻是否异常;若是,则确定该触控感应电极和/或对应的第二引线和/或对应的第四引线存在断路;若否,则确定该触控感应电极和对应的第二引线不存在断路。

本发明实施例提供的上述触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置,在该触控结构中,以触控驱动电极为例,增加设置与各触控驱动电极一一对应的多条相互绝缘的第三引线,每条第三引线的一端与对应的触控驱动电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路的测试点;这样,在对每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于第三引线中的测试点和绑定区域内的第一接线端子处;由于不需要将探针与触控电极电性连接,因此,尤其对于触控电极与引线形成闭合回路以及从触控电极的一端引出引线的结构而言,即使触控电极的上方覆盖有绝缘层,也可以进行断路测试。

附图说明

图1为本发明实施例提供的触控结构的结构示意图之一;

图2为本发明实施例提供的触控结构的结构示意图之二;

图3为本发明实施例提供的触控结构的结构示意图之三;

图4为图1所示的触控结构中的触控驱动电极与对应的第一引线和第三引线的等效电路图;

图5为图2所示的触控结构中的触控感应电极与对应的第二引线和第四引线的等效电路图;

图6为图3所示的触控结构中的触控驱动电极与对应的第一引线和第三引线的等效电路图;

图7为本发明实施例提供的触控结构的测试方法的流程图之一;

图8为本发明实施例提供的触控结构的测试方法的流程图之二;

图9为本发明实施例提供的触控结构的测试方法的流程图之三。

具体实施方式

下面结合附图,对本发明实施例提供的触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。

附图中各部件的形状和尺寸不反映其真实比例,目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例提供的一种触控结构,如图1-图3所示,包括:交叉绝缘设置的多条触控驱动电极1和多条触控感应电极2、与各触控驱动电极1一一对应且电性连接的多条相互绝缘的第一引线3以及与各触控感应电极2一一对应且电性连接的多条相互绝缘的第二引线4;还包括:

如图1和图3所示,与各触控驱动电极1一一对应的多条相互绝缘的第三引线5,每条第三引线5的一端与对应的触控驱动电极1电性连接,另一端用于作为测试对应的触控驱动电极1和对应的第一引线3是否存在断路的测试点;和/或,

如图2和图3所示,与各触控感应电极2一一对应的多条相互绝缘的第四引线6,每条第四引线6的一端与对应的触控感应电极2电性连接,另一端用于作为测试对应的触控感应电极2和对应的第二引线4是否存在断路的测试点。

本发明实施例提供的上述触控结构,在对如图1和图3所示的每条触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试时,可以将两个探针分别置于触控驱动电极1对应的第三引线5中的测试点和绑定区域内的与第一引线3电性连接的第一接线端子处;在对如图2和图3所示的每条触控感应电极2和对应的第二引线4进行断路测试时,可以将两个探针分别置于触控感应电极2对应的第四引线6中的测试点和绑定区域内的与第二引线4电性连接的第二接线端子处;由于不需要将探针与触控电极电性连接,因此,尤其对于触控电极与引线形成闭合回路(如图1所示的触控驱动电极1与对应的第一引线3形成闭合回路,如图2所示的触控感应电极2与对应的第二引线4形成闭合回路)以及从触控电极的一端引出引线(如图3所示的从触控驱动电极1的一端引出第一引线3,从触控感应电极2的一端引出第二引线4)的结构而言,即使触控电极的上方覆盖有绝缘层,也可以对触控电极及其引线进行断路测试。

需要说明的是,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图1所示,可以仅设置与各触控驱动电极1一一对应的多条相互绝缘的第三引线5;或者,如图2所示,也可以仅设置与各触控感应电极2一一对应的多条相互绝缘的第四引线6;或者,如图3所示,还可以设置与各触控驱动电极1一一对应的多条相互绝缘的第三引线5以及与各触控感应电极2一一对应的多条相互绝缘的第四引线6;在此不做限定。

较佳地,在本发明实施例提供的上述触控结构中,为了避免在触控结构的形成过程中增加掩模次数,避免增加触控结构的制作工艺,可以将各第三引线与各触控驱动电极同层设置,即各第三引线与各触控驱动电极是采用相同的材料通过同一次构图工艺形成的;此时,为了避免各第三引线与除对应的触控驱动电极以外的其他触控驱动电极之间电性连接而导致各触控驱动电极之间发生短路的问题,除最外侧的两条触控驱动电极以外,可以将其他各触控驱动电极对应的第三引线设置于该触控驱动电极与相邻的触控驱动电极之间的间隙处,例如,如图1所示,按照从左至右的顺序,第二条触控驱动电极1对应的第三引线5位于第二条触控驱动电极1与第一条触控驱动电极1之间的间隙处;可以将最外侧的两条触控驱动电极对应的第三引线设置于该触控驱动电极与相邻的触控驱动电极之间的间隙处,或者,也可以将最外侧的两条触控驱动电极对应的第三引线设置于该触控驱动电极远离相邻的触控驱动电极的一侧,在此不做限定,例如,如图1所示,按照从左至右的顺序,第一条触控驱动电极1对应的第三引线5位于第一条触控驱动电极1远离第二条触控驱动电极1的一侧,最后一条触控驱动电极1即第四条触控驱动电极1对应的第三引线5位于第四触控驱动电极1与第三触控驱动电极1之间的间隙处;

同理,为了避免在触控结构的形成过程中增加掩模次数,避免增加触控结构的制作工艺,可以将各第四引线与各触控感应电极同层设置,即各第四引线与各触控感应电极是采用相同的材料通过同一次构图工艺形成的;此时,为了避免各第四引线与除对应的触控感应电极以外的其他触控感应电极之间电性连接而导致各触控感应电极之间发生短路的问题,除最外侧的两条触控感应电极以外,可以将其他各触控感应电极对应的第四引线设置于该触控感应电极与相邻的触控感应电极之间的间隙处,例如,如图2所示,按照从左至右的顺序,第二条触控感应电极2对应的第四引线6位于第二条触控感应电极2与第一条触控感应电极2之间的间隙处;可以将最外侧的两条触控感应电极对应的第四引线设置于该触控感应电极与相邻的触控感应电极之间的间隙处,或者,也可以将最外侧的两条触控感应电极对应的第四引线设置于该触控感应电极远离相邻的触控感应电极的一侧,在此不做限定,例如,如图2所示,按照从左至右的顺序,第一条触控感应电极2对应的第四引线6位于第一条触控感应电极2远离第二条触控感应电极2的一侧,最后一条触控感应电极2即第四条触控感应电极2对应的第四引线6位于第四触控感应电极2与第三触控感应电极2之间的间隙处。

当然,在本发明实施例提供的上述触控结构中,也可以将各第三引线与各触控驱动电极异层设置,即在各第三引线所在膜层与各触控驱动电极所在膜层之间设置有绝缘层,各第三引线与对应的触控驱动电极通过贯穿绝缘层的过孔电性连接;也可以将各第四引线与各触控感应电极异层设置,即在各第四引线所在膜层与各触控感应电极所在膜层之间设置有绝缘层,各第四引线与对应的触控感应电极通过贯穿绝缘层的过孔电性连接;在此不做限定。

在具体实施时,本发明实施例提供的上述触控结构可以适用于触控电极与对应的引线采用任何一种连接方式的结构。优选地,本发明实施例提供的上述触控结构可以为如图1-图3所示的结构。如图1所示,每条触控驱动电极1与对应的第一引线3形成闭合回路,如图2所示,每条触控感应电极2与对应的第二引线形4成闭合回路,如图3所示,从每条触控驱动电极1的一端引出一条第一引线3,从每条触控感应电极2的一端引出一条第二引线4。当然,本发明实施例提供的上述触控结构并非局限于如图1-图3所示的结构,触控电极与引线的连接方式还可以为其他类型,例如,从触控电极的两端分别引出引线,这两条引线分别与绑定区域内的两个接线端子电性连接,在此不做限定。下面通过三个具体的实例对本发明实施例提供的上述触控结构分别应用于上述三种结构时的具体实施方式进行详细说明。

实例一:每条触控驱动电极与对应的第一引线形成闭合回路。

在具体实施时,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图1所示,每条第一引线3,可以包括:第一子引线31和第二子引线32;其中,每条触控驱动电极1的一端与对应的第一引线3中的第一子引线31的一端电性连接,每条触控驱动电极1的另一端与对应的第一引线3中的第二子引线32的一端电性连接,第一子引线31的另一端与第二子引线32的另一端电性连接且均与位于绑定区域7内的第一接线端子8电性连接,这样,每条触控驱动电极1与对应的第一引线3形成闭合回路。

需要说明的是,在如图1所示的触控结构中,由于第一引线3中的第一子引线31与第二子引线32均与位于绑定区域7内的第一接线端子8电性连接,而各第一引线3与各第二引线4一般同层设置,因此,为了避免各第一引线3与各第二引线4之间发生短路的问题,如图1所示,每条触控感应电极2与对应的第二引线4的连接可以为从每条触控感应电极2的两端分别引出引线,且引出的两条引线分别与绑定区域7内的两个第二接线端子9电性连接的结构。当然,每条触控感应电极与对应的第二引线的连接也可以为从每条触控感应电极的一端引出引线,且引出的引线与绑定区域内的第二接线端子电性连接的结构;或者,每条触控感应电极与对应的第二引线的连接还可以形成闭合回路的结构;在此不做限定,只需保证各第一引线与各第二引线之间相互绝缘即可。

较佳地,本发明实施例提供的上述触控结构尤其适用于在各触控驱动电极和各触控感应电极的上方设置有绝缘层,且绝缘层与各测试点对应的位置具有贯穿绝缘层的过孔,即绝缘层中具有露出各测试点的过孔。这是由于绝缘层覆盖各触控驱动电极,会导致在对每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,不能将两个探针分别置于绑定区域内的第一接线端子处和触控驱动电极处;基于此,本发明实施例提供的上述触控结构,增加设置与各触控驱动电极一一对应的多条相互绝缘的第三引线,每条第三引线的一端与对应的触控驱动电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路的测试点,这样,在对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域内的与该第一引线电性连接的第一接线端子处和与该触控驱动电极对应的第三引线中的测试点处,通过测试两个探针之间的电阻,可以确定每条触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路。

下面针对对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试的原理进行详细说明。如图1所示,将触控驱动电极1与对应的第一引线3中的第一子引线31电性连接的位置标记为A,将触控驱动电极1与对应的第一引线3中的第二子引线32电性连接的位置标记为B,将触控驱动电极1与对应的第三引线5电性连接的位置标记为C,将第三引线5中的测试点标记为D,将与第一引线3中的第一子引线31和第二子引线32电性连接的第一接线端子8的位置标记为E,假设每条触控驱动电极1从与对应的第三引线5电性连接的位置到与对应的第一子引线31电性连接的位置之间的电阻即触控驱动电极1从C到A之间的电阻为R1,每条触控驱动电极1从与对应的第三引线5电性连接的位置到与对应的第二子引线32电性连接的位置之间的电阻即触控驱动电极从C与B之间的电阻为R2,每条第一子引线31的电阻即第一引线3从A到E之间的电阻为R3,每条第二子引线32的电阻即第一引线3从B到E之间的电阻为R4,每条第三引线5的电阻即C与D之间的电阻为R9,这样,在将两个探针分别置于测试点D处和第一接线端子E处时,两个探针之间的等效电路图如图4所示。在对触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试时,可能会出现如下四种情况:当C与D之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R非常大,结果异常;当B与C之间出现断路或者B与E之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R=R1+R3+R9;当A与C之间出现断路或者A与E之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R=R2+R4+R9;当不存在断路时,检测出的两个探针之间的电阻因此,通过检测两个探针之间的电阻R即可确定触控驱动电极与对应的第一引线形成的闭合回路中是否存在断路以及断点的位置。

需要说明的是,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图1所示,对每条触控感应电极2和对应的第二引线4进行断路测试,只需将两个探针分别置于与第二引线4电性连接的两个第二接线端子9处即可,通过检测两个探针之间的电阻即可确定触控感应电极2与对应的第二引线4是否存在断路。在检测出两个探针之间的电阻非常大,结果异常时,则确定触控感应电极2与对应的第二引线4之间存在断点;在检测出两个探针之间的电阻为触控感应电极2的电阻和对应的第二引线4的电阻之和时,则确定触控感应电极2与对应的第二引线4之间不存在断点。

较佳地,在本发明实施例提供的上述触控结构中,为了便于通过检测出的两个探针之间的电阻的大小确定触控驱动电极与对应的第一引线形成的闭合回路中的断点的位置,可以设计触控驱动电极与对应的第三引线电性连接的位置C。具体地,通过调整C的位置,可以调整R1和R2的大小,并且,在第一接线端子的位置D确定后,R3和R4的大小确定,因此,通过调整C的位置,可以调整的大小。在R1、R2、R3和R4满足或时,很容易根据检测出的两个探针之间的电阻R的大小,确定触控驱动电极与对应的第一引线形成的闭合回路中的断点的位置。

最佳地,在本发明实施例提供的上述触控结构中,R1、R2、R3和R4可以满足:或

实例二:每条触控感应电极与对应的第二引线形成闭合回路。

在具体实施时,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图2所示,每条第二引线4,可以包括:第三子引线41和第四子引线42;其中,每条触控感应电极2的一端与对应的第二引线4中的第三子引线41的一端电性连接,每条触控感应电极2的另一端与对应的第二引线4中的第四子引线42的一端电性连接,第三子引线41的另一端与第四子引线42的另一端电性连接且均与位于绑定区域7内的第二接线端子9电性连接,这样,每条触控感应电极2与对应的第二引线4形成闭合回路。

需要说明的是,在如图2所示的触控结构中,由于第二引线4中的第三子引线41与第四子引线42均与位于绑定区域7内的第二接线端子9电性连接,而各第一引线3与各第二引线4一般同层设置,因此,为了避免各第一引线3与各第二引线4之间发生短路的问题,如图2所示,每条触控驱动电极1与对应的第一引线3的连接可以为从每条触控驱动电极1的两端分别引出引线,且引出的两条引线分别与绑定区域7内的两个第一接线端子8电性连接的结构。当然,每条触控驱动电极与对应的第一引线的连接也可以为从每条触控驱动电极的一端引出引线,且引出的引线与绑定区域内的第一接线端子电性连接的结构;或者,每条触控驱动电极与对应的第一引线的连接还可以形成闭合回路的结构;在此不做限定,只需保证各第一引线与各第二引线之间相互绝缘即可。

较佳地,本发明实施例提供的上述触控结构尤其适用于在各触控驱动电极和各触控感应电极的上方设置有绝缘层,且绝缘层与各测试点对应的位置具有贯穿绝缘层的过孔,即绝缘层中具有露出各测试点的过孔。这是由于绝缘层覆盖各触控感应电极,会导致在对每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试时,不能将两个探针分别置于绑定区域内的第二接线端子处和触控感应电极处;基于此,本发明实施例提供的上述触控结构,增加设置与各触控感应电极一一对应的多条相互绝缘的第四引线,每条第四引线的一端与对应的触控感应电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路的测试点,在对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域内的与该第二引线电性连接的第二接线端子处和与该触控感应电极对应的第四引线中的测试点处,通过测试两个探针之间的电阻,可以确定每条触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路。

下面针对对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试的原理进行详细说明。如图2所示,将触控感应电极2与对应的第二引线4中的第三子引线41电性连接的位置标记为F,将触控感应电极2与对应的第二引线4中的第四子引线42电性连接的位置标记为G,将触控感应电极2与对应的第四引线6电性连接的位置标记为H,将第四引线6中的测试点标记为I,将与第二引线4中的第三子引线41和第四子引线42电性连接的第二接线端子9的位置标记为J,假设每条触控感应电极2从与对应的第四引线6电性连接的位置到与对应的第三子引线41电性连接的位置之间的电阻即触控感应电极2从H到F之间的电阻为R5,每条触控感应电极2从与对应的第四引线6电性连接的位置到与对应的第四子引线42电性连接的位置之间的电阻即触控感应电极从H与G之间的电阻为R6,每条第三子引线41的电阻即第二引线4从F到J之间的电阻为R7,每条第四子引线42的电阻即第二引线4从G到J之间的电阻为R8,每条第四引线6的电阻即H与I之间的电阻为R10,这样,在将两个探针分别置于测试点I处和第二接线端子J处时,两个探针之间的等效电路图如图5所示。在对触控感应电极2和对应的第二引线4进行断路测试时,可能会出现如下四种情况:当H与I之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R非常大,结果异常;当G与H之间出现断路或者G与J之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R=R5+R7+R10;当F与H之间出现断路或者F与J之间出现断路时,检测出的两个探针之间的电阻R=R6+R8+R10;当不存在断路时,检测出的两个探针之间的电阻因此,通过检测两个探针之间的电阻R即可确定触控感应电极与对应的第二引线形成的闭合回路中是否存在断路以及断点的位置。

需要说明的是,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图2所示,对每条触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试,只需将两个探针分别置于与第一引线3电性连接的两个第一接线端子8处即可,通过检测两个探针之间的电阻即可确定触控驱动电极1与对应的第一引线3是否存在断路。在检测出两个探针之间的电阻非常大,结果异常时,则确定触控驱动电极1与对应的第一引线3之间存在断点;在检测出两个探针之间的电阻为触控驱动电极1的电阻和对应的第一引线3的电阻之和时,则确定触控驱动电极1与对应的第一引线3之间不存在断点。

较佳地,在本发明实施例提供的上述触控结构中,为了便于通过检测出的两个探针之间的电阻的大小确定触控感应电极与对应的第二引线形成的闭合回路中的断点的位置,可以设计触控感应电极与对应的第四引线电性连接的位置H。具体地,通过调整H的位置,可以调整R5和R6的大小,并且,在第一接线端子的位置I确定后,R7和R8的大小确定,因此,通过调整H的位置,可以调整的大小。在R5、R6、R7和R8满足:或时,很容易根据检测出的两个探针之间的电阻R的大小,确定触控感应电极与对应的第二引线形成的闭合回路中的断点的位置。

最佳地,在本发明实施例提供的上述触控结构中,R5、R6、R7和R8可以满足:或

实例三:从每条触控驱动电极的一端引出一条第一引线,从每条触控感应电极的一端引出一条第二引线。

在具体实施时,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图3所示,每条第一引线3的一端与对应的触控驱动电极1电性连接,另一端与位于绑定区域7内的第一接线端子8电性连接,即每条触控驱动电极1与对应的第一引线3的连接为从每条触控驱动电极1引出一条第一引线3的结构;每条第二引线4的一端与对应的触控感应电极2电性连接,另一端与位于绑定区域7内的第二接线端子9电性连接,即每条触控感应电极2与对应的第二引线4的连接为从每条触控感应电极2引出一条第二引线4的结构。

在具体实施时,在本发明实施例提供的上述触控结构中,如图3所示,每条第三引线5可以与对应的触控驱动电极1未连接第一引线3的一端电性连接,即每条触控驱动电极1的一端与对应的第一引线3电性连接,另一端与对应的第三引线5电性连接,这样,在对每条触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域7内的第一接线端子8处和第三引线5中的测试点处,通过检测两个探针之间的电阻,能够对整条触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试;每条第四引线6与对应的触控感应电极2未连接第二引线4的一端电性连接,即每条触控感应电极2的一端与对应的第二引线4电性连接,另一端与对应的第四引线6电性连接,这样,在对每条触控感应电极2和对应的第二引线4进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域7内的第二接线端子9处和第四引线6中的测试点处,通过检测两个探针之间的电阻,能够对整条触控感应电极2和对应的第二引线4进行断路测试。

下面针对对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试的原理进行详细说明。如图3所示,将触控驱动电极1与对应的第一引线3电性连接的位置标记为K,将触控驱动电极1与对应的第三引线5电性连接的位置标记为L,将第三引线5中的测试点标记为M,将与第一引线3电性连接的第一接线端子8的位置标记为N,假设每条触控驱动电极1的电阻即K与L之间的电阻为R11,每条第一引线3的电阻即K与N之间的电阻为R12,每条第三引线5的电阻即M与L之间的电阻为R9,这样,在将两个探针分别置于测试点M处和第一接线端子N处时,两个探针之间的等效电路图如图6所示。在对触控驱动电极1和对应的第一引线3进行断路测试时,可能会出现如下两种情况:当M与L之间出现断路或L与K之间出现断路(即触控驱动电极中存在断点)或K与N之间出现断路(即第一引线中存在断点)时,检测出的两个探针之间的电阻R非常大,结果异常;当不存在断路时,检测出的两个探针之间的电阻R=R9+R11+R12。因此,通过检测两个探针之间的电阻R即可确定触控驱动电极与对应的第一引线是否存在断路以及断点的位置。

需要说明的是,对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试的原理与上述对每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试的原理类似,重复之处不再赘述。

较佳地,本发明实施例提供的上述触控结构尤其适用于在各触控驱动电极和各触控感应电极的上方设置有绝缘层,且绝缘层与各测试点对应的位置具有贯穿绝缘层的过孔,即绝缘层中具有露出各测试点的过孔。这是由于绝缘层覆盖各触控驱动电极和各触控感应电极,会导致在对每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,不能将两个探针分别置于绑定区域内的第一接线端子处和触控驱动电极处,在对每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试时,不能将两个探针分别置于绑定区域内的第二接线端子处和触控感应电极处;基于此,本发明实施例提供的上述触控结构,增加设置与各触控驱动电极一一对应的多条相互绝缘的第三引线以及与各触控感应电极一一对应的多条相互绝缘的第四引线,每条第三引线的一端与对应的触控驱动电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路的测试点,每条第四引线的一端与对应的触控感应电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路的测试点,这样,在对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域内的与该第一引线电性连接的第一接线端子处和与该触控驱动电极对应的第三引线中的测试点处,通过测试两个探针之间的电阻,可以确定每条触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路,在对本发明实施例提供的上述触控结构中的每条触控感应电极和对应的第二引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于绑定区域内的与该第二引线电性连接的第二接线端子处和与该触控感应电极对应的第四引线中的测试点处,通过测试两个探针之间的电阻,可以确定每条触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路。

针对本发明实施例提供的上述触控结构,本发明实施例还提供了一种触控结构的测试方法,如图7所示,包括如下步骤:

S701、检测每条触控驱动电极对应的第三引线中的测试点与对应的第一引线电性连接的第一接线端子之间的电阻,确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路;

S702、检测每条触控感应电极对应的第四引线中的测试点与对应的第二引线电性连接的第二接线端子之间的电阻,确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路。

需要说明的是,本发明实施例提供的上述测试方法可以适用于对任何一种触控结构中的每条触控驱动电极及其引线、每条触控感应电极及其引线进行断路测试。较佳地,尤其适用于对每条触控驱动电极及其引线形成闭合回路,和/或,每条触控感应电极及其引线形成闭合回路,且各触控驱动电极和各触控感应电极的上方覆盖有绝缘层的结构进行断路测试;也特别适用于对从每条触控驱动电极的一端引出引线,和/或,从每条触控感应电极的一端引出引线,且各触控驱动电极和各触控感应电极的上方覆盖有绝缘层的结构进行断路测试。

在具体实施时,在本发明实施例提供的上述测试方法中,步骤S701的执行与步骤S702的执行没有先后顺序。可以先执行步骤S701,再执行步骤S702;或者,也可以先执行步骤S702,再执行步骤S701,在此不做限定。

在具体实施时,在执行本发明实施例提供的上述测试方法中的步骤S701,检测每条触控驱动电极对应的第三引线中的测试点与对应的第一引线电性连接的第一接线端子之间的电阻,确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路时,具体可以通过以下方式实现:

在检测出的电阻为R2+R4+R9时,确定该触控驱动电极从与对应的第三引线电性连接的位置到与对应的第一子引线电性连接的位置之间和/或第一子引线存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻;

在检测出的电阻为R1+R3+R9时,确定该触控驱动电极从与对应的第三引线电性连接的位置到与对应的第二子引线电性连接的位置之间和/或第二子引线存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻;

在检测出的电阻异常时,确定该触控驱动电极对应的第三引线存在断路;

在检测出的电阻为时,确定该触控驱动电极和对应的第一引线不存在断路;其中,R9为每条第三引线的电阻。

在具体实施时,在执行本发明实施例提供的上述测试方法中的步骤S702,检测每条触控感应电极对应的第四引线中的测试点与对应的第二引线电性连接的第二接线端子之间的电阻,确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路时,具体可以通过以下方式实现:

在检测出的电阻为R6+R8+R10时,确定该触控感应电极从与对应的第四引线电性连接的位置到与对应的第三子引线电性连接的位置之间和/或第三子引线存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻;

在检测出的电阻为R5+R7+R10时,确定该触控感应电极从与对应的第四引线电性连接的位置到与对应的第四子引线电性连接的位置之间和/或第四子引线存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻;

在检测出的电阻异常时,确定该触控感应电极对应的第四引线存在断路;

在检测出的电阻为时,确定该触控感应电极和对应的第二引线不存在断路;其中,R10为每条第四引线的电阻。

在具体实施时,在执行本发明实施例提供的上述测试方法中的步骤S701,检测每条触控驱动电极对应的第三引线中的测试点与对应的第一引线电性连接的第一接线端子之间的电阻,确定该触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路时,如图8所示,具体可以包括如下步骤:

S801、确定检测出的电阻是否异常;若是,则执行步骤S802;若否,则执行步骤S803;

S802、确定该触控驱动电极和/或对应的第一引线和/或对应的第三引线存在断路;

S803、确定该触控驱动电极和对应的第一引线不存在断路。

在具体实施时,在执行本发明实施例提供的上述测试方法中的步骤S702,检测每条触控感应电极对应的第四引线中的测试点与对应的第二引线电性连接的第二接线端子之间的电阻,确定该触控感应电极和对应的第二引线是否存在断路时,如图9所示,具体可以包括如下步骤:

S901、确定检测出的电阻是否异常;若是,则执行步骤S902;若否,则执行步骤S903;

S902、确定该触控感应电极和/或对应的第二引线和/或对应的第四引线存在断路;

S903、确定该触控感应电极和对应的第二引线不存在断路。

需要说明的是,本发明实施例提供的上述测试方法的具体实施可以参见本发明实施例提供的上述触控结构的实施例,重复之处不再赘述。

基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种触摸屏,包括本发明实施例提供的上述触控结构,该触摸屏的实施可以参见上述触控结构的实施例,重复之处不再赘述。

在具体实施时,本发明实施例提供的上述触摸屏,可以为外挂式触摸屏(Add on Mode Touch Panel);或者,也可以为覆盖表面式触摸屏(On Cell Touch Panel),或者,还可以为内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel);在此不做限定。

基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括本发明实施例提供的上述触摸屏,该显示装置可以为:手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。该显示装置的实施可以参见上述触摸屏的实施例,重复之处不再赘述。

本发明实施例提供的一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置,在该触控结构中,以触控驱动电极为例,增加设置与各触控驱动电极一一对应的多条相互绝缘的第三引线,每条第三引线的一端与对应的触控驱动电极电性连接,另一端用于作为测试对应的触控驱动电极和对应的第一引线是否存在断路的测试点;这样,在对每条触控驱动电极和对应的第一引线进行断路测试时,可以将两个探针分别置于第三引线中的测试点和绑定区域内的第一接线端子处;由于不需要将探针与触控电极电性连接,因此,尤其对于触控电极与引线形成闭合回路以及从触控电极的一端引出引线的结构而言,即使触控电极的上方覆盖有绝缘层,也可以进行断路测试。

显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

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