技术总结
本发明公开了一种基于全聚焦成像算法改进边缘缺陷检测的方法，现在的全聚焦成像算法仅仅考虑当阵列换能器的波之间发射到缺陷位置上，忽略了当阵列换能器的波传播到试块底部，反射到缺陷上产生的回波信号，本发明在考虑到多模型的全聚焦算法的基础上，提出了改进型的全聚焦成像算法，在考虑到波衰减的情况下，加进了底面反射回波对缺陷成像的影响，本发明方法能更加精确的仿真真实超声相控阵检测，提高边缘缺陷检测的精确度。
技术研发人员：王强;吴鹏英;范昕炜;谷小红
受保护的技术使用者：中国计量大学
文档号码：201611046308
技术研发日：2016.11.22
技术公布日：2017.05.31