一种用于对电子设备进行地磁校准的转台、方法和装置与流程

本发明涉及数据处理技术领域，特别是涉及一种用于对电子设备进行地磁校准的转台、方法和装置。

背景技术：

目前，许多电子设备可以通过内置的地磁芯片来获得地磁数据，从而实现导航等功能。为了使得电子设备能够获得较为准确的地磁数据，通常需要对电子设备进行地磁校准，以避免电子设备中的地磁芯片本身带来的误差。在现有技术中，电子设备的地磁校准通常采用空中绕8字的方式实现。具体地，校准人员手持电子设备，在空中移动、旋转电子设备，以使得电子设备呈现8字形的轨迹。在该过程中电子设备通过地磁芯片获得了地磁数据。通过对该地磁数据进行校准计算，就可以得到校准数据。但是，在现有的校准方式中，一方面，校准人员每次校准时只能操作一台电子设备在空中绕8字，可见，校准的效率非常低；另一方面，由于电子设备的空中轨迹受到校准人员的手持操作的影响，每个电子设备的空中轨迹难以保持一致，这就使得不同的电子设备的校准结果难以一致。

技术实现要素：

本申请所要解决的技术问题是，提供一种用于对电子设备进行地磁校准的转台、方法和装置，一方面使得多台电子设备能够同时进行校准，从而提高校准的效率，另一方面使得不同的电子设备的空中轨迹保持一致，从而使得不同电子设备的校准结果保持一致。

第一方面，提供了一种用于对电子设备进行地磁校准的转台，包括台体、水平台面及多个固定部件；

所述台体通过旋转轴支撑所述水平台面，以使得所述水平台面可在水平面内进行旋转；

所述多个固定部件均设置在所述水平台面上，每一个所述固定部件可用于将一个电子设备固定在所述水平台面，以使得所述电子设备可随所述水平台面进行旋转；

其中，在所述电子设备随所述水平台面旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据，可用于对所述电子设备进行地磁校准。

可选的，所述固定部件可调整所述电子设备与所述水平台面之间的固定角度，以使得所述电子设备可沿水平方向固定在所述水平台面或沿垂直方向固定在所述水平台面上。

第二方面，提供了一种用于对电子设备进行地磁校准的方法，应用第一方面提供的转台对所述电子设备进行旋转；

所述方法包括：

获取在所述电子设备固定于所述水平台面进行旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据；

基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，所述校准系数用于对所述地磁芯片进行校准。

可选的，所述地磁数据包括水平地磁数据和垂直地磁数据，所述水平地磁数据为在所述电子设备沿水平方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据，所述垂直地磁数据为在所述电子设备沿垂直方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据；

所述基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，包括：

基于所述水平地磁数据计算水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数，基于所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；

基于所述水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数和所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数，确定三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数。

可选的，所述水平面坐标系下两个坐标轴方向具体为X轴方向和Y轴方向，所述垂直坐标系下两个坐标轴方向具体为所述X轴方向和Z轴方向，所述三维坐标轴下三个坐标轴方向具体为所述X轴方向、所述Y轴方向和所述Z轴方向；

所述三维坐标轴下所述X轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述X轴方向的校准系数和/或所述垂直面坐标系下所述X轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Y轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Z轴方向的校准系数由所述垂直面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定。

可选的，所述校准系数包括度量系数和偏移系数。

可选的，还包括：

将所述校准系数保存到所述电子设备中。

第三方面，提供了一种用于对电子设备进行地磁校准的装置，应用第一方面提供的转台对所述电子设备进行旋转；

所述装置包括：

获取单元，用于获取在所述电子设备固定于所述水平台面进行旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据；

计算单元，用于基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，所述校准系数用于对所述地磁芯片进行校准。

可选的，所述地磁数据包括水平地磁数据和垂直地磁数据，所述水平地磁数据为在所述电子设备沿水平方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据，所述垂直地磁数据为在所述电子设备沿垂直方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据；

所述计算单元包括：

第一计算子单元，用于基于所述水平地磁数据计算水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；

第二计算子单元，用于基于所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；

确定子单元，用于基于所述水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数和所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数，确定三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数。

可选的，所述水平面坐标系下两个坐标轴方向具体为X轴方向和Y轴方向，所述垂直坐标系下两个坐标轴方向具体为所述X轴方向和Z轴方向，所述三维坐标轴下三个坐标轴方向具体为所述X轴方向、所述Y轴方向和所述Z轴方向；

所述三维坐标轴下所述X轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述X轴方向的校准系数和/或所述垂直面坐标系下所述X轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Y轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Z轴方向的校准系数由所述垂直面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定。

可选的，所述校准系数包括度量系数和偏移系数。

可选的，还包括：

保存单元，用于将所述校准系数保存到所述电子设备中。

在本申请实施例中，在用于对电子设备进行地磁校准的转台中，台体通过旋转轴支撑水平台面，多台需要地磁校准的电子设备可以通过水平台面上提供的多个固定部件同时固定在水平台面上进行旋转，可见，一方面，由于校准人员一次校准操作可以同时使得多台电子设备旋转并获得用于校准的地磁数据，校准效率得以提高，另一方面，由于不同的电子设备均是固定在水平台面上进行旋转，故不同的电子设备的空中轨迹是相同的，这样就能够使得不同电子设备的校准结果保持一致。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种用于对电子设备进行地磁校准的转台的结构的正视图；

图2为本发明实施例提供的一种用于对电子设备进行地磁校准的转台的结构的侧视图；

图3为本发明实施例提供的一种用于对电子设备进行地磁校准的方法的流程示意图；

图4为地球磁场的空间矢量示意图；

图5为一种电子设备的示例性硬件结构；

图6-a为对地磁芯片进行校准前获取到的地磁数据；

图6-b为对地磁芯片进行校准后产生的地磁数据；

图7为本发明实施例提供的一种用于对电子设备进行地磁校准的装置的结构示意图。

具体实施方式

发明人经过研究发现，现有技术中对内置有地磁芯片的电子设备进行地磁校准时，通常采用的是空中绕8字的方法，具体地，校准人员手持电子设备在空中移动、旋转电子设备，以使得电子设备呈现8字形的轨迹。在该过程中可以采集到电子设备中地磁芯片产生的地磁数据。通过对该地磁数据进行校准计算，能够得到校准数据。但是在该方法中，一方面每次校准时校准人员只能操作一台电子设备在空中绕8字，校准的效率非常低；另一方面，操作人员手持电子设备在空中绕8字，因而电子设备在空中的轨迹难以保持一致，这就使得不同的电子设备的校准结果难以一致。

基于此，在本发明实施例中，将内置有地磁芯片的电子设备固定在用于对电子设备进行地磁校准的转台上，所述转台的台体通过旋转轴支撑水平台面，多台需要地磁校准的电子设备可以通过水平台面上提供的多个固定部件同时固定在水平台面上进行旋转。可见，一方面，由于校准人员一次校准操作可以同时使得多台电子设备旋转并获得用于校准的地磁数据，校准效率提高；另一方面，由于不同的电子设备均是固定在水平台面上进行旋转，故不同的电子设备的控制轨迹是相同的，这样就能够使得不同电子设备的校准结果保持一致。

举例来说，安装有地磁芯片的电子设备可以是：手机、平板电脑、导航仪、车位检测器、VR(英文全称：Virtual Reality，中文全称：虚拟现实)设备、AR(英文全称：Augmented Reality，中文全称：增强现实)设备等。

下面结合附图，通过实施例来详细说明本发明实施例中一种用于对电子设备进行地磁校准的转台、方法和装置的具体实现方式。

参考图1～图2，分别示出了本发明实施例提供的一种用于对电子设备进行地磁校准的转台的正视图和侧视图，所述转台例如可以包括：

台体101、水平台面102及多个固定部件；

所述台体101通过旋转轴支撑所述水平台面102，以使得所述水平台面102可以在水平面内进行旋转；

所述多个固定部件均设置在所述水平台面102上，每一个所述固定部件可用于将一个电子设备固定在所述水平台面102，以使得所述电子设备可随所述水平台面进行旋转；

其中，在所述电子设备随所述水平台面102旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据，可用于对所述电子设备进行地磁校准。

本实施例中，所述转台的台体101可以是如图1所示的圆柱形，也可以是其它有利于旋转的形状；所述转台的水平台面102可以是如图1所示的圆形，也可以是方形等便于放置电子设备的形状。

本实施例中，所述多个固定部件，可以是同一个固定装置上的多个固定接口，其中，每个固定接口可用于将一个电子设备固定在所述水平台面102上；或者也可以是多个不同的固定装置，每个固定装置是独立的，每个独立的固定装置可用于将一个电子设备固定在所述水平台面102上。此外，所述固定部件可以是固定在水平台面102上且与所述水平台面102是不可分离的，也可以是与所述水平台面102是可分离的，具体的可以是水平台面102上设置有可用于固定所述固定部件的固定接口，可以通过该固定接口可以将所述固定部件固定在水平台面102上。

本实施例中，为了获取电子设备在三维空间中产生的地磁数据，需要使得电子设备可以进行多角度的旋转，因此，为了使得固定在转台上的电子设备可以多角度的进行旋转，所述固定部件可调整所述电子设备与所述水平台面102之间的固定角度，以使得所述电子设备可沿水平方向固定在所述水平台面102或沿垂直方向固定在所述水平台面102上。

除此之外，所述固定部件上用于固定电子设备的固定接口还可以进行大小调节，以使得所述固定部件可以将不同尺寸的电子设备固定在转台的水平台面上。

本实施例中，技术人员可以将电子设备通过固定部件固定在所述水平台面102上，然后可以旋转水平台面102，使得所述电子设备随着水平台面102的转动而转动，并且，固定部件可调整电子设备在水平台面102的固定角度，例如可以沿水平方向固定电子设备，也可以沿垂直方向固定电子设备；从而使得电子设备可以在水平方向和垂直方向上进行旋转，进而可以获得在旋转电子设备的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据。

本实施例中，将内置有地磁芯片的电子设备固定在用于对电子设备进行地磁校准的转台中，所述转台的台体101通过旋转轴支撑水平台面102，多台需要地磁校准的电子设备可以通过水平台面102上提供的多个固定部件同时固定在水平台面102上进行旋转。可见，一方面，由于校准人员一次校准操作可以同时固定使得多台电子设备旋转并获得用于校准的地磁数据，校准效率提高；另一方面，由于不同的电子设备均是固定在水平台面102上进行旋转，故不同的电子设备的控制轨迹是相同的，这样就能够使得不同电子设备的校准结果保持一致。

参考图3，示出了本发明实施例一种用于对电子设备进行地磁校准的方法。在本实施例中，可以应用图1所示的实施例中的转台对所述电子设备进行旋转。具体地，所述方法例如可以包括：

S301：获取在所述电子设备固定于所述水平台面进行旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据。

S302：基于所述地磁数据计算三维坐标下三个坐标轴方向的校准系数，所述校准系数用于对所述地磁芯片进行校准。

需要说明的是，S301和S302的执行主体可以是所述电子设备本身也可以是所述电子设备外接的其它设备。若是所述电子设备本身，所述电子设备根据其自身的地磁芯片产生的地磁数据确定校准系数并保存，以便后续依据所述校准系数对所述地磁芯片进行校准；若是所述电子设备外接的其它设备，该其它设备从电子设备接收电子设备中地磁芯片产生的地磁数据、根据地磁数据确定校准系数并保存到电子设备，以便后续所述电子设备依据所述校准数据对地磁芯片进行校准；其中，所述其它设备可以是计算机、平板电脑、手机等。

本实施例中，可以将所述电子设备固定在所述转台上进行旋转，具体地，可以分别沿水平方向和垂直方向对电子设备进行固定并旋转，因此，获取到的地磁数据可以包括水平地磁数据和垂直地磁数据，其中，所述水平地磁数据为在所述电子设备沿水平方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据，所述垂直地磁数据为在所述电子设备沿垂直方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据。

进一步而言，校准系数可以是基于水平地磁数据和垂直地磁数据计算出来的。具体地，S302具体可以包括：基于所述水平地磁数据计算水平坐标系下两个坐标轴方向的校准系数，基于所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；基于所述水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数和所述垂直地磁数据计算垂直面坐标下两个坐标轴方向的校准系数，确定三维坐标系下坐标轴方向的校准系数。

更具体地，参考图4，示出的是地球磁场的空间矢量示意图，其中以X轴和Y轴表示水平面的两个坐标分量，以Z轴表示垂直方向上的一个坐标分量。本实施例中，所述水平面坐标系下两个坐标轴方向具体为X轴方向和Y轴方向，所述垂直坐标系下两个坐标轴方向具体为所述X轴方向和Z轴方向，所述三维坐标轴下三个坐标轴方向具体为所述X轴方向、所述Y轴方向和所述Z轴方向。

基于图4的坐标系，所述三维坐标轴下所述X轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述X轴方向的校准系数和/或所述垂直面坐标下所述X轴方向的校准系数确定；所述三维坐标轴下所述Y轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定；所述三维坐标轴下所述Z轴方向的校准系数由所述垂直面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定。

本实施例中，以上提到的校准系数可以包括度量系数和偏移系数，通过度量系数和偏移系数对地磁芯片进行校准。

举例说明：获取水平方向上的地磁数据时，假设采集的X轴的地磁数据记为{X₁,X₂,X₃,X₄......X_n}，其中X_max＝Max{X₁,X₂,X₃,X₄......X_n}，X_min＝Min{X₁,X₂,X₃,X₄......X_n}；假设采集的Y轴的地磁数据为{Y₁,Y₂,Y₃,Y₄......Y_n}，其中Y_max＝Max{Y₁,Y₂,Y₃,Y₄......Y_n}，Y_min＝Min{Y₁,Y₂,Y₃,Y₄......Y_n}。

依据采集到X-Y轴的地磁数据，确定水平面坐标系下X、Y轴的校准系数，分别为：

X_sf-XY＝Max{1,(Y_max-Y_min)/(X_max-X_min)}；

Y_sf-XY＝Max{1,(X_max-X_min)/(Y_max-Y_min)}；

X_off-XY＝[(X_max-X_min)/2-X_max]*X_sf-XY；

Y_off-XY＝[(Y_max-Y_min)/2-Y_max]*Y_sf-XY。

获取垂直方向上的电磁数据时，设采集的X轴的地磁数据记为{X’₁,X’₂,X’₃,X’₄......X’_n}，其中，X’_max＝Max{X’₁,X’₂,X’₃,X’₄......X’_n}，X’_min＝Min{X’₁,X’₂,X’₃,X’₄......X’_n}；设采集的Z轴的地磁数据为{Z₁,Z,Z₃,Z₄......Z_n}；其中，Z_max＝Max{Z₁,Z₂,Z₃,Z₄......Z_n}；Z_min＝Min{Z₁,Z₂,Z₃,Z₄......Z_n}。

依据采集到X-Z轴的地磁数据，确定垂直面坐标系下X、Z轴的校准系数：

X’_sf-XZ＝Max{1,(Z_max-Z_min)/(X’_max-X’_min)}；

Z_sf-XZ＝Max{1,(X’_max-X’_min)/(Z_max-Z_min)}；

X’_off-XZ＝[(X’_max-X’_min)/2-X’_max]*X’_sf-XZ；

Z_off-XZ＝[(Z_max-Z_min)/2-Z_max]*Z_sf-XZ。

其中，以上获得的校准系数中，X_sf-XY、和X’_sf-XZ分别表示水平面坐标系下和垂直面坐标系下X轴的度量系数；Y_sf-XY表示水平面坐标系下Y轴的度量系数；Z_sf-XZ表示垂直面坐标系下Z轴的度量系数；X_off-XY和X’_off-XZ分别表示水平面坐标系下和垂直面坐标系下X轴的偏移系数；Y_off-XY表示水平面坐标系下Y轴的偏移系数；Z_off-XZ表示垂直面坐标系下Z轴的偏移系数。并且，可以依据以上获取到的度量系数，确定三维坐标轴下X轴、Y轴和Z轴的度量系数，分别记为X_sf-XYZ、Y_sf-XYZ、Z_sf-XYZ。在X轴、Y轴和Z轴的偏移系数保持不变的情况下，三维坐标系下X轴、Y轴、Z轴的偏移系数可以按照以下方式确定：X_off-XYZ＝X_off-XY或者X_off-XYZ＝X’_off-XZ，Y_off-XYZ＝Y_off-XY，Z_off-XYZ＝Z_off-XZ。

本实施例中，参考图5，示出的是电子设备的硬件结构。从图中可以看出电子设备的结构可以包括：电子罗盘501、加速计502、陀螺仪503、处理器504；本实施例中在内置有地磁芯片的电子设备旋转的过程中，通过电子罗盘501、加速计502及陀螺仪504检测地磁芯片运行的状态和运行的方位，进而得到地磁芯片在旋转的过程中产生的地磁数据。外界的其它设备或者电子设备本身通过获取的地磁数据产生校准系数，并依据所述校准系数对电磁芯片进行校正。电磁芯片在使用时，处理器504接收电子罗盘501、加速计502和陀螺仪503获取产生的地磁数据，并将获取的地磁数据发送给处理器504，处理器504通过对地磁数据进行分析产生较为准确的3D姿态信息。

参考图6，为采用本实施例中提供的方法对电磁芯片进行校准的前后产生的地磁数据的对比。从图6中可以看出，在图6-a示出的未校准的地磁数据中，代表地磁数据的圆的圆心偏离坐标轴的圆心，而在图6-b示出的校准过的地磁数据中，代表地磁数据的圆的圆心非常接近坐标轴的圆心。可见，通过本实施例提供的转台和方法对地磁芯片进行校正，可以保证校正的准确性。

本实施例中，可以将内置有地磁芯片的电子设备固定在用于对电子设备进行地磁校准的转台中，地磁在旋转的过程中，获取电子设备中地磁芯片产生的地磁数据，并基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，并利用所述校准系数对所述地磁芯片进行校准。因此，通过使用转台带动内置有地磁芯片的电子设备进行校准。因此，一方面，由于校准人员一次校准操作可以同时使得多台电子设备旋转并获得用于校准的地磁数据，校准效率提高；另一方面，由于不同的电子设备均是固定在水平台面上进行旋转，故不同的电子设备的控制轨迹是相同的，这样就能够使得不同电子设备的校准结果保持一致。

参考图7，示出了本发明实施例提供的一种用于电子设备进行地磁校准的装置。再本实施例中，所述装置可以包括：

获取单元701，用于获取在所述电子设备固定于所述水平台面进行旋转的情况下所述电子设备中的地磁芯片产生的地磁数据；

计算单元702，用于基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，所述校准系数用于对所述地磁芯片进行校准。

可选的，所述地磁数据包括水平地磁数据和垂直地磁数据，所述水平地磁数据为在所述电子设备沿水平方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据，所述垂直地磁数据为在所述电子设备沿垂直方向固定在所述水平台面上旋转的情况下所述地磁芯片产生的地磁数据；

所述计算单元包括：

第一计算子单元，用于基于所述水平地磁数据计算水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；

第二计算子单元，用于基于所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数；

确定子单元，用于基于所述水平面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数和所述垂直地磁数据计算垂直面坐标系下两个坐标轴方向的校准系数，确定三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数。

可选的，所述水平面坐标系下两个坐标轴方向具体为X轴方向和Y轴方向，所述垂直坐标系下两个坐标轴方向具体为所述X轴方向和Z轴方向，所述三维坐标轴下三个坐标轴方向具体为所述X轴方向、所述Y轴方向和所述Z轴方向；

所述三维坐标轴下所述X轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述X轴方向的校准系数和/或所述垂直面坐标系下所述X轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Y轴方向的校准系数由所述水平面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定；

所述三维坐标轴下所述Z轴方向的校准系数由所述垂直面坐标系下所述Y轴方向的校准系数确定。

可选的，所述校准系数包括度量系数和偏移系数。

可选的，还包括：保存单元，用于将所述校准系数保存到所述电子设备中。

通过本实施例提供的装置，可以将内置有地磁芯片的电子设备固定在用于对电子设备进行地磁校准的转台中，地磁在旋转的过程中，获取电子设备中地磁芯片产生的地磁数据，并基于所述地磁数据计算三维坐标系下三个坐标轴方向的校准系数，并利用所述校准系数对所述地磁芯片进行校准。因此，通过使用转台带动内置有地磁芯片的电子设备进行校准。因此，一方面，由于校准人员一次校准操作可以同时使得多台电子设备旋转并获得用于校准的地磁数据，校准效率提高；另一方面，由于不同的电子设备均是固定在水平台面上进行旋转，故不同的电子设备的控制轨迹是相同的，这样就能够使得不同电子设备的校准结果保持一致。

本发明实施例中提到的“第一计算子单元”等名称中的“第一”只是用来做名字标识，并不代表顺序上的第一。该规则同样适用于“第二”等。

通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法中的全部或部分步骤可借助软件加通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如只读存储器(英文：read-only memory，ROM)/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者诸如路由器等网络通信设备)执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于方法实施例和设备实施例而言，由于其基本相似于系统实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见系统实施例的部分说明即可。以上所描述的设备及系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，并非用于限定本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。