测量装置的制作方法

文档序号:11070188阅读:492来源:国知局
测量装置的制造方法

本申请涉及测量器具技术领域,尤其涉及一种测量装置。



背景技术:

卡尺类测量装置是一种常用的量具,其具有结构简单、使用方便等优点。卡尺不但能测量普通的长度,而且还能测量内外径、深度等被测量,因此,卡尺还具有适用范围较广的优点。

目前,普通的卡尺上设置有游标,通过操作游标在尺身上移动达到测量的目的,这种卡尺的特点在于,游标的移动范围只能在尺身上移动,尺身的长度通常为整个卡尺的长度,因此卡尺的量程为单倍卡尺长度。很显然,这种卡尺的量程有限,无法对长于其尺身的物件或部位实施测量。很显然,这影响卡尺的推广和更加广泛地使用。

另外,目前的卡尺在检测完毕后,通常需要测量人员手工记录测量数据,人工记录数据较容易记错,进而导致测量失败。具体测量时,通常一人进行测量,另一个人进行记录,很显然这不但导致测量工作耗费较多的人力,同时也导致测量工作效率较低。



技术实现要素:

本申请提供了一种测量装置,以解决目前的测量装置的量程为单倍尺长时导致的卡尺适用范围较窄的问题。

本申请提供的测量装置包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;

所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;

所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;

在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。

优选地,所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者为测量臂。

优选地,所述基准测量部与所述第二本体活动连接,和/或,所述第一测量部与所述第一本体活动连接,和/或,所述第二测量部与所述第一本体活动连接。

优选地:

所述基准测量部相对于所述第二本体具有第一平移行程和第一转动行程,所述第一平移行程形成于所述基准测量部远离所述第二本体的过程中,所述第一转动行程形成于所述基准测量部相对于所述第二本体转动的过程中;

所述第一测量部相对于所述第一本体具有第二平移行程和第二转动行程,所述第二平移行程形成于所述第一测量部远离所述第一本体的过程中,所述第二转动行程形成于所述第一测量部相对于所述第一本体转动的过程中;

所述第二测量部相对于所述第一本体具有第三平移行程和第三转动行程,所述第三平移行程形成于所述第二测量部远离所述第一本体的过程中,所述第三转动行程形成于所述第二测量部相对于所述第一本体转动的过程中。

优选地,沿着所述第二本体的伸缩方向得到的投影内,所述基准测量部与所述第二本体的连接处的投影、所述第一测量部与所述第一本体的连接处的投影、所述第二测量部与所述第一本体的连接处的投影互不重叠。

优选地,还包括限位部,所述限位部用于限定所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者的转动位置。

优选地,

所述第一本体上设置第一卡槽,所述第一测量部卡接于所述第一卡槽内;

和/或,所述第一本体上设置第二卡槽,所述第二测量部卡接于所述第二卡槽内;

和/或,所述第二本体上设置第三卡槽,所述基准测量部卡接于所述第三卡槽内。

优选地,所述基准测量部与所述第一测量部之间的最大测量距离等于所述预设值。

优选地,还包括固定在所述第一本体上的电子测量尺,所述电子测量尺用于获取所述测量装置的测量结果。

优选地,所述第二本体包括内套伸缩部和外露限位部,所述内套伸缩部内套于所述第一本体,所述外露限位部上具有限位凸部,所述限位凸部能够沿着所述第二本体的伸缩方向与所述第一本体挡接。

本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果:

本申请提供的测量装置中,第二本体可以相对于第一本体伸缩,当被测量的大小处于基准测量部与第一测量部之间的量程范围内时,可以通过基准测量部与第一测量部得到被测量的大小,当被测量的大小处于基准测量部与第一测量部之间的量程范围之外时,则可以通过基准测量部和第二测量部得到被测量的大小,此时被测量的大小为:基准测量部和第一测量部之间的距离,与第一测量部和第二测量部之间的距离之和。因此,该测量装置可以适用于被测量的大小大于测量装置的长度的情况,因此其所适用的范围更广。

应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的,并不能限制本申请。

附图说明

图1为本申请实施例所提供的测量装置在基准测量部、第一测量部和第二测量部均处于折叠状态时的结构示意图;

图2为本申请实施例所提供的测量装置在部分部件处于折叠状态时的结构示意图;

图3为图2所示结构的正视图;

图4为本申请实施例所提供的测量装置设置电子测量尺后的结构示意图;

图5为图4所示结构的正视图;

图6为本申请实施例所提供的测量装置在第二本体伸出第一本体时的结构示意图;

图7为图6所示结构的正视图;

图8为本申请实施例所提供的另一种测量装置的第一本体和第二本体的结构示意图。

附图标记:

10-第一本体;

100-第一卡槽,101-第二卡槽;

11-第二本体;

110-内套伸缩部,111-外露限位部,112-第三卡槽;

12-基准测量部;

13-第一测量部;

14-第二测量部;

15a-第一定位柱,15b-第二定位柱;15c-第三定位柱;

16-电子测量尺;

17-卡块。

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。

具体实施方式

下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。

如图1-8所示,本申请实施例提供了一种测量装置,该测量装置可以是卡尺类测量装置,也就是说,该测量装置的测量原理是采用至少两个卡爪结构卡住待测物体,进而得到待测物体的被测量的数值。该测量装置可以包括第一本体10、第二本体11、基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14,其中,基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14均为该测量装置的卡爪结构,此三者可以采用测量凸起,也可以采用测量臂,本申请实施例优选三者中的至少一者为测量臂,以此提高测量装置的测量精度。

上述第一本体10和第二本体11伸缩连接,具体地,两者均可采用条形结构,两者的相对伸缩方向即为两者的延伸方向。第一测量部13和第二测量部14均安装于第一本体10上,基准测量部12安装于第二本体11上,第一测量部13的测量位置位于基准测量部12的测量位置与第二测量部14的测量位置之间。此处,第一测量部13的测量位置、基准测量部12的测量位置和第二测量部14的测量位置分别为三者处于测量状态时所处的位置,该测量状态通常指的是,三者垂直于第一本体10或第二本体11的状态。

第一测量部13和第二测量部14之间的距离为预设值,该预设值可以根据具体情况灵活设置。第二本体11上具有测量刻度,该测量刻度可以反映基准测量部12与第一测量部13之间的距离。

在第二本体11的伸缩行程上,测量装置所测得的值为基准测量部12与第一测量部13之间的距离,或者该距离与前述预设值之和。也就是说,当被测量的数值处于基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围内时,可以通过基准测量部12与第一测量部13得到被测量的大小,当被测量的数值处于基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围之外时,则可以通过基准测量部12和第二测量部14得到被测量的大小,此时被测量的大小为:基准测量部12和第一测量部13之间的距离,与第一测量部13和第二测量部14之间的距离之和。

显然,采用上述测量装置之后,不仅可以测量基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围内的被测量,还可以测量基准测量部12与第一测量部13之间的量程范围之外的被测量,因此该测量装置所适用的范围更广。

进一步地,基准测量部12与第一测量部13之间的最大距离等于前述预设值。基准测量部12与第一测量部13之间的最大距离,指的是第二本体11伸长到极限位置后,基准测量部12与第一测量部13之间的距离,也就是第二本体11的量程。而第二本体11的量程与第一测量部13和第二测量部14之间的距离相等,也就意味着本申请实施例提供的测量装置能够测量第二本体11的量程(可以称为单倍量程)内的被测量,也可以测量第二本体11的两倍量程(可以称为双倍量程)内的被测量,使得测量装置在实现第一本体10与第二本体11的伸缩连接的同时,所能够测量的范围最大化。

前述基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14均可以固定设置,例如直接插装在第一本体10或者第二本体11上。具体地,如图8所示,第一本体10上可以设置第一卡槽100,第一测量部13卡接于该第一卡槽100内;和/或,第一本体10上设置第二卡槽101,第二测量部14卡接于该第二卡槽101内;和/或,第二本体11上设置第三卡槽112,基准测量部12卡接于该第三卡槽112内。采用此种方式后,仅在需要使用基准测量部12或第一测量部13或第二测量部14时将其插入对应的卡槽中,不仅便于操作,而且可以保护此测量装置。

另一实施例中,可以将基准测量部12与第二本体11活动连接,或者将第一测量部13与第一本体10活动连接,或者将第二测量部14与第一本体10活动连接,或者将基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14的设置方式都改进为活动连接,以使得三者相对于第一本体10或者第二本体11的状态可以灵活改变,以适应不同的测量需求。另外,采用此种设置方式后,还可以通过改变第一测量部13和第二测量部14的状态,使得两者中的一者与基准测量部12共同实现测量,进而防止第一测量部13与第二测量部14对测量结果产生的不良影响。

上述活动连接可以使基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14中的至少一者产生平移、转动或者其他活动形式。通常,为了便于收纳测量装置,可以将基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14中的至少一者转动连接于第一本体10或者第二本体11上,但是仅采用转动连接的方式容易造成基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14中的至少一者与第一本体10或者第二本体11之间产生较大的摩擦力。有鉴于此,可以采用以下结构:

基准测量部12相对于第二本体11具有第一平移行程和第一转动行程,该第一平移行程形成于基准测量部12远离第二本体11的平移过程中,第一转动行程形成于基准测量部12相对于第二本体11转动的过程中;

第一测量部13相对于第一本体10具有第二平移行程和第二转动行程,该第二平移行程形成于第一测量部13远离第一本体10的平移过程中,第二转动行程形成于第一测量部13相对于第一本体10转动的过程中;

第二测量部14相对于第一本体10具有第三平移行程和第三转动行程,该第三平移行程形成于第二测量部14远离第一本体10的平移过程中,第三转动行程形成于第二测量部14相对于第一本体10转动的过程中。

采用上述结构后,基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14可以先平移,使得三者远离第一本体10或者第二本体11,以此增加三者与第一本体10或者第二本体11之间的间隙,然后再转动,使得三者收纳至合适的位置,减小整个测量装置占用的空间,同时防止基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14与其他物体发生碰撞而出现损坏。

为了使基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14收纳后的结构更加紧凑,可以采用如下设置方式:沿着第二本体11的伸缩方向得到的投影内,基准测量部12与第二本体11的连接处的投影、第一测量部13与第一本体10的连接处的投影、第二测量部14与第一本体10的连接处的投影互不重叠。也就是说,当三者收纳后,不容易出现其中一者搭在另一者上而无法运动至三者相互平行的状态这一情况。因此,如此设置可以使得基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14收纳后所占用的空间尽量小。

本申请实施例提供一种测量装置,该测量装置的测量精度将是人们着重关注的性能参数。而基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14在测量状态下是否能够可靠地垂直于第一本体10或者第二本体11,将直接决定测量装置的测量精度。据此,上述测量装置还可以包括限位部,该限位部用于限定基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14中的至少一者的转动位置。也就是说,通过该限位部,可以精确地控制基准测量部12、第一测量部13和第二测量部14中的至少一者在测量状态下的位置,进而提高测量装置的精度。

具体地,上述限位部可以是限位柱,此限位柱可以设置为多个,例如设置三个定位柱,此三个定位柱可以是图1中所示的第一定位柱15a、第二定位柱15b和第三定位柱15c。第一定位柱15a固定于第二本体11上,其用于限制基准测量部12的转动位置;第二定位柱15b固定于第一本体10上,其用于限制第一测量部13的转动位置;第三定位柱15c固定于第一本体10上,其用于限制第二测量部14的转动位置。

通常,测量装置得到测量数据后,需要进行相应的数据记录,如果采用人工记录的方式,不仅会增加劳动强度,还会降低数据记录的准确性和测量工作的效率。为了缓解这一问题,本申请实施例提供的测量装置还可包括固定在第一本体10上的电子测量尺16,该电子测量尺16用于获取测量装置的测量结果。该电子测量尺16的具体结构可以参照专利号为ZL201620180343.5的中国专利,该电子测量尺主要可包括测量部和卷带部,测量部内设置有发射器、接收器、处理模块、发送模块等,卷带部包括卷带和容纳卷带的壳体,卷带能够从壳体内被拉出和被收回至壳体内。卷带上开设有多个小孔或设置有多个色块,多个小孔或多个色块沿卷带的延伸方向排布,发射器与对应的接收器与小孔或色块相对移动,以得到不同的电平信号,由处理模块根据不同的电平信号得到测量结果。

上述电子测量尺16可以通过卡块17固定于第一本体10上,当需要自动读取数据时,只需要用卡块17将电子测量尺16固定于第一本体10的尾部,使电子测量尺16的头部相对于第一本体10固定,便可以自动测量了。当第二本体11移动到所需位置时,即可按下电子测量尺16上用于发送数据的按钮,数据即可发送到相关的电子设备上。

一种实施例中,第二本体11可包括内套伸缩部110和外露限位部111,内套伸缩部110内套于第一本体10,外露限位部111上具有限位凸部,该限位凸部能够沿着第二本体11的伸缩方向与第一本体10挡接。外露限位部111始终位于第一本体10的外部,在第二本体11缩回第一本体10内时,一旦外露限位部111与第一本体10阻挡接触,第二本体11就无法继续缩回。可见,外露限位部111可以限制第二本体11相对于第一本体10的缩回幅度,防止第二本体11整体缩回第一本体10内以后不便于后续操作的问题出现。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

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