1.一种测量装置，其特征在于，包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部；
所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上，且两者之间的距离为预设值；
所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上，所述基准测量部安装于所述第二本体上，所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间，所述第二本体上具有测量刻度；
在所述第二本体的伸缩行程上，所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离，或者所述距离与所述预设值之和。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者为测量臂。
3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述基准测量部与所述第二本体活动连接，和/或，所述第一测量部与所述第一本体活动连接，和/或，所述第二测量部与所述第一本体活动连接。
4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于：
所述基准测量部相对于所述第二本体具有第一平移行程和第一转动行程，所述第一平移行程形成于所述基准测量部远离所述第二本体的过程中，所述第一转动行程形成于所述基准测量部相对于所述第二本体转动的过程中；
所述第一测量部相对于所述第一本体具有第二平移行程和第二转动行程，所述第二平移行程形成于所述第一测量部远离所述第一本体的过程中，所述第二转动行程形成于所述第一测量部相对于所述第一本体转动的过程中；
所述第二测量部相对于所述第一本体具有第三平移行程和第三转动行程，所述第三平移行程形成于所述第二测量部远离所述第一本体的过程中，所述第三转动行程形成于所述第二测量部相对于所述第一本体转动的过程中。
5.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，沿着所述第二本体的伸缩方向得到的投影内，所述基准测量部与所述第二本体的连接处的投影、所述第一测量部与所述第一本体的连接处的投影、所述第二测量部与所述第一本体的连接处的投影互不重叠。
6.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，还包括限位部，所述限位部用于限定所述基准测量部、所述第一测量部和所述第二测量部中的至少一者的转动位置。
7.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：
所述第一本体上设置第一卡槽，所述第一测量部卡接于所述第一卡槽内；
和/或，所述第一本体上设置第二卡槽，所述第二测量部卡接于所述第二卡槽内；
和/或，所述第二本体上设置第三卡槽，所述基准测量部卡接于所述第三卡槽内。
8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述基准测量部与所述第一测量部之间的最大测量距离等于所述预设值。
9.根据权利要求1-8任一项所述的测量装置，其特征在于，还包括固定在所述第一本体上的电子测量尺，所述电子测量尺用于获取所述测量装置的测量结果。
10.根据权利要求1-8任一项所述的测量装置，其特征在于，所述第二本体包括内套伸缩部和外露限位部，所述内套伸缩部内套于所述第一本体，所述外露限位部上具有限位凸部，所述限位凸部能够沿着所述第二本体的伸缩方向与所述第一本体挡接。