一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置的制作方法

文档序号:11046305阅读:442来源:国知局
一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置的制造方法

本实用新型涉及无损检测设备相关技术领域,尤其涉及一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置。



背景技术:

工业CT/DT检测是一种精准检测技术,主要应用于缺陷检测、装配结构分析、密度测量及表征、几何尺寸测量与分析、逆向工程等领域。

工业CT/DT检测是利用X射线(或Y射线)穿过被测物体,通过获取射线穿过被测物体前后射线强度的变化数据,获取物体的二维图像或者(三维断层图像),图像的像素位置与物体被扫描端面或区域位置对应,各像素点灰度值与工件上该点物质对应X射线的衰减值(或者密度)成一定对应关系,从而通过数字图像反映被测物体内部的几何细节、材质差别及缺陷状况,实现对被测物体内部结构的定性和定量检测与分析。

由于CT检测是一种断层扫描技术,用时较长,检测效率低,往往需要先进行DR扫描,确定缺陷位置,再在缺陷位置进行CT扫描,以获取缺陷细节。

DR扫描受射线衰减大小及比例的影响,对于一些扁平工件(如盆式绝缘子等),需要在最小穿过厚度上进行检测,才能获得最佳的检测效果。另外,试件内部的缺陷方向对检测结果也存在较大影响,需要在一定的范围内可以使试件倾斜检测。

因此,有必要设计一种装置,对扁平工件进行固定及调节,以提高检测的可靠性。



技术实现要素:

本实用新型的目的是为克服现有DR/CT检测装置的不足,提供一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置。本实用新型通过设计全新的结构,能够适用于不同规格的扁平工件的检测要求。

为了实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置,包括底座架、支撑架和夹持装置,所述的底座架为框架结构,所述的底座架的中间纵向设有竖杆,所述的底座架的对角位置设有吊装环;所述的支撑架设于底座架的上部,所述的支撑架为U型结构,所述的支撑架包括两个支撑臂和连接两个支撑臂的横杆;所述的支撑架通过固定块和同步齿轮与底座架连接,所述的支撑架的中部通过同步齿轮与竖杆连接,所述的横杆的两侧通过固定块与底座架的边框连接;所述的横杆上设有齿槽,所述的齿槽内设有同步齿条,同步齿条可以通过同步齿轮达到支撑架的两个支撑臂同步运动。

所述的支撑架的上部设有夹持装置,所述的夹持装置通过轴承与两个支撑臂连接,所述的支撑架与夹持装置的连接处设有角度盘和指针,用于指示夹持装置的倾斜角度,所述的夹持装置两侧设有夹持挡板。

所述的固定块由螺栓和固定钢片组成。

所述夹持挡板位置可调,通过夹持挡板可以调节夹持装置开口的大小,用于夹持不同厚度的扁平工件。

所述的夹持装置为U型结构。

所述的支撑架的宽度可调节。

本实用新型的有益效果:

(1)通过本辅助装置的夹持固定,使扁平工件可以稳定的竖直放置于DR/CT射线装置的旋转平台上,使之垂直于射线的穿透方向,达到最小的穿透厚度。

(2)通过夹持装置挡板的调节,可以夹持不同厚度的扁平工件。

(3)通过底座架与支撑架的定位齿轮,可使支撑架的两臂同步运动,在实现对不同规格的扁平试件的固定同时,保证了本辅助装置的稳定性。

(4)通过角度盘及角度指针可实现观察角度位置变动对检测试件内部面积型缺陷检测结果的影响。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

其中,1-底座架,2-支撑架,3-夹持装置,4-齿槽,5-固定块,6-同步齿轮,7-角度盘,8-吊装环,9-轴承,10-夹持挡板。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型进行详细说明:

如图1所示,一种用于扁平工件DR/CT检测的辅助装置,包括底座架1、支撑架2和夹持装置3,所述的底座架1为框架结构,所述的底座架1的中间纵向设有竖杆,所述的底座架1的对角位置设有吊装环8;所述的支撑架2设于底座架1的上部,所述的支撑架2为U型结构,所述的支撑架2包括两个支撑臂和连接两个支撑臂的横杆;所述的支撑架2通过固定块5和同步齿轮6与底座架1连接,所述的支撑架2的中部通过同步齿轮6与竖杆连接,所述的横杆的两侧通过固定块5与底座架1的边框连接;所述的横杆上设有齿槽4,所述的齿槽4内设有同步齿条,同步齿条可以通过同步齿轮6达到支撑架2的两个支撑臂同步伸缩,达到适应不同规格工件的检测要求,同时做到支撑架2两端重心平衡。

所述的支撑架2的上部设有夹持装置3,所述的夹持装置3通过轴承9与两个支撑臂连接,支撑架2通过轴承9与夹持装置3连接,轴承9连接指针,可以通过角度盘7读取夹持装置3的倾斜角度,用来评判倾斜角度对工件内部面状缺陷检测效果的影响,所述的夹持装置3两侧设有夹持挡板10。

所述的固定块5由螺栓和固定钢片组成。

所述夹持挡板10位置可调,通过夹持挡板10可以调节夹持装置3开口的大小,用于夹持不同厚度的扁平工件。

所述的夹持装置3为U型结构。

所述的支撑架2的宽度可调节。

本实用新型的操作过程:

检测时,将扁平工件运抵实验室,首先测量扁平工件的厚度及规格尺寸,根据扁平工件规格,调整支撑架2的宽度,使之与被检扁平工件尺寸相适应;调整夹持挡板10,使夹持装置3的开口大小适应被检扁平工件的厚度要求。调整轴承9的高度,使扁平工件的垂直重心与轴承9在同一水平面。

将被检扁平工件装入辅助装置,通过吊装环8吊装到DR/CT检测装置的旋转平台上。通过辅助装置,可以使扁平工件稳定地立于旋转平台。开启DT/CT检测系统,调整旋转平台,使射线束与被检工件垂直入射,可以使射线有最小的穿透厚度,以达到最佳的检测效果。如果由于工件的结构原因,工件内常见缺陷有一定的方向性,可以通过轴承9转动和旋转平台转动来调整射线入射角度,已达到满意的检测结果。

上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述,但并非对本实用新型保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本实用新型的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。

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