测量探头及测量设备的制作方法

本实用新型涉及探头领域，尤其涉及一种测量探头及测量设备。

背景技术：

传统的，对于使用测量探头进行测量的测量设备，一般是将测量探头点在相关触点的接触表面进行测量。在测量过程中,由于手的抖动可能导致接触面积发生变化,导致量测的数值误差较大,当接触表面存在氧化时误差尤其明显。

技术实现要素：

基于此，本实用新型在于克服现有技术的缺陷，提供一种检测误差小的测量探头及测量设备。

其技术方案如下：

一种测量探头，用于与信号分析本体电性连接，所述测量探头包括探头本体，所述探头本体包括用于与受测设备的接触表面接触的测量探针，所述探头本体上设有电加热体以及用于控制所述电加热体的控制开关，所述电加热体与所述测量探针连接用于加热所述测量探针。

在其中一个实施例中，所述探头本体还包括连接导线，所述连接导线的一端与所述测量探针电性连接，所述连接导线的另一端用于与所述信号分析本体电性连接。

在其中一个实施例中，所述探头本体还包括绝缘外壳，所述绝缘外壳设置在所述测量探针与所述连接导线的交接处外侧。

在其中一个实施例中，所述电加热体设置在所述绝缘外壳内部。

在其中一个实施例中，所述绝缘外壳的外侧设有用于控制所述控制开关的开关按键。

在其中一个实施例中，所述电加热体包括加热本体、导热丝以及电源输入导线，所述导热丝连接所述加热本体与所述测量探针，所述电源输入导线的一端与所述加热本体连接，所述电源输入导线的另一端用于与信号分析本体的电源连接。

在其中一个实施例中，所述加热本体为高频加热体、电阻式加热体、发热丝或电热片。

在其中一个实施例中，所述测量探针为金属探针。

一种测量设备，包括信号分析本体以及所述的测量探头。

在其中一个实施例中，该测量设备为万用表或示波器。

本实用新型的有益效果在于：

所述测量探头，探头本体的测量探针用于点在受测设备的接触表面上的测试点处,进行测量时，可先判断接触表面的测试点处是否为可熔表面，若不是，可直接采用测量探针进行测量读数，若是，可打开所述控制开关,使得电加热体对测量探针进行加热，测量探针点到测试点上时，测试点处的可熔表面会有少量熔掉，此时，将测量探头少许插入测试点处的可熔表面内，停止加热使得可熔表面固化后读取测量数值，读取完成后再对测量探针进行加热,使得测量探针从可熔表面取出，完成测试动作。所述测量探头进行测量时，能够对受测设备的接触表面进行加热，进而使得测量探针能够与接触表面充分接触，测量时测量探针为固定状态，接触面积不易发生变化，检测误差小。

所述测量设备，包括上述所述的测量探头，具备所述测量探头的技术效果，检测误差小。

附图说明

图1为本实用新型实施例所述的测量探头的结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的测量设备的测量结构示意图。

附图标记说明：

100、测量设备，110、探头本体，111、测量探针，112、电加热体，1121、加热本体，1122、导热丝，1123、电源输入导线，113、控制开关，114、连接导线，115、绝缘外壳，116、开关按键，120、信号分析本体，200、受测设备，210、接触表面。

具体实施方式

下面对本实用新型的实施例进行详细说明：

如图1、图2所示，一种测量探头，用于与信号分析本体120电性连接。所述测量探头包括探头本体110，所述探头本体110包括用于与受测设备200的接触表面210接触的测量探针111，所述探头本体110上设有电加热体112以及用于控制所述电加热体112的控制开关113，所述电加热体112与所述测量探针111连接用于加热所述测量探针111。本实施例中，所述测量探针111为金属探针，电加热体112能够对测量探针111进行有效的、快速的加热。

所述测量探头，探头本体110的测量探针111用于点在受测设备200的接触表面210上的测试点处,进行测量时，可先判断接触表面210的测试点处是否为可熔表面，若不是，可直接采用测量探针111进行测量读数，若是，可打开所述控制开关113，使得电加热体112对测量探针111进行加热，测量探针111点到测试点上时，测试点处的可熔表面会有少量熔掉，此时，将测量探头少许插入测试点处的可熔表面内，停止加热使得可熔表面固化后读取测量数值,读取完成后再对测量探针111进行加热,使得测量探针111从可熔表面取出，完成测试动作。所述测量探头进行测量时，能够对受测设备200的接触表面210进行加热，进而使得测量探针111能够与接触表面210充分接触，测量时测量探针111为固定状态，接触面积不易发生变化，检测误差小。本实施例中，所述可熔表面可以为锡盘表面或其他导电表面。

本实施例中，所述电加热体112包括加热本体1121、导热丝1122以及电源输入导线1123，所述导热丝1122连接所述加热本体1121与所述测量探针111，所述电源输入导线1123的一端与所述加热本体1121连接，所述电源输入导线1123的另一端用于与信号分析本体120的电源连接。采用上述结构，导热丝1122能够将加热本体1121上产生的热量传导至测量探针111上，进而对测量探针111进行加热；而加热本体1121的电源则由信号分析本体120直接提供，无需额外提供电源，结构简单。进一步的，所述加热本体1121可以为高频加热体、电阻式加热体、发热丝或电热片等电加热装置。本实施例中，所述加热本体1121优选为高频加热体，加热速度快、效率高，能够对测量探针111进行快速加热，使得测量探头快速达到预设的温度，进而快速进行测量，提高测量效率。

进一步的，所述探头本体110还包括连接导线114，所述连接导线114的一端与所述测量探针111电性连接，所述连接导线114的另一端用于与所述信号分析本体120电性连接。采用上述结构，连接导线114能够将测量探针111测量得到的信号传输至信号分析本体120上。所述探头本体110还包括绝缘外壳115，所述绝缘外壳115设置在所述测量探针111与所述连接导线114的交接处外侧。通过设置绝缘外壳115，便于操作人员手持进行测量操作。本实施例中，所述电加热体112设置在所述绝缘外壳115内部，使用安全，且所述测量探头的整体性好。所述绝缘外壳115的外侧设有用于控制所述控制开关113的开关按键116，操作人员可以通过按动开关按键116来控制所述控制开关113的开闭，操作方便。

本实施例所述的测量探头进行测量时，首先判断测量探针111需要接触的测试点处是否为可熔表面，如果不是，测量探针111直接接触测试点进行量测读数即可；如果是，打开测量探针111的控制开关113，电加热体112快速对测量探针111进行加热，测量探针111到达设定的温度时让测量探针111接触测试点,测试点处的可熔表面会有少量熔掉，这时将测量探针111少许插入可熔表面内，停止加热，可熔表面会很快固化，此时可马上读取测量数值，读取完成后再快速对测量探针111进行加热，将测量探针111从可熔表面中取出，完成测试动作。所述测量探头，通过采用电加热原理，使得测量探针111能够快速的介入可熔表面的内部与测试点充分接触,可大幅度降低由于接触问题导致的测量误差，尤其适用于对锡盘、焊盘或其他导电表面的测量，可降低测量误差，提高测量精度。

所述测量设备100，包括信号分析本体120以及所述的测量探头，具备所述测量探头的技术效果，检测误差小。本实施例的测量设备100可以为万用表、示波器等需要对受测设备的接触表面210进行测量的设备，不仅能起到测量的功能，还具备加热功能，功能多样，检测误差小。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。