间隙测量装置及方法与流程

本公开涉及工业生产加工领域，具体地涉及一种间隙测量装置和使用该装置测量间隙的方法。

背景技术：

在各个行业的生产加工流程中，测量操作都是必不可少的，并且测量精度的高低直接影响到整个流程的水平。在个别情况中，如果测量结果偏差过大，可能直接导致加工产品或生产设备的报废，带来巨大损失。

举例来讲，在TFT-LCD行业的液晶面板制作过程中，玻璃芯片研磨是重要的流程之一，其中，通过使用研磨头带动研磨带定向回转来达到去除面板上下表面异物的效果，而研磨效果好坏决直接决定整个生产过程的良品率。这种研磨效果很大程度上是由研磨间隙大小决定的。对于不同厚度的液晶面板，所使用的研磨间隙往往不同，因此，需要在研磨前根据液晶面板的厚度选择研磨间隙的尺寸，这就需要对研磨间隙进行准确地测量。传统的研磨间隙测量方法中，作业人员通过塞尺进行测量。由于可能存在塞尺本身的误差和作业人员的人工误差，所以这种测量方法误差较大，并且时间延时也较长，不利于整个生产线的产品质量和生产效率。

技术实现要素：

为了解决现有技术中存在的问题，本公开提出了一种间隙测量装置及方法。

根据本公开的一个方面，提出了一种间隙测量装置。所述间隙由第一对象的第一待测表面和第二对象的第二待测表面限定。所述间隙测量装置包括：第一测量组件，用于在其安装状态下安装到所述第一对象，以使第一测量组件的第一测量表面与第一对象的第一待测表面对齐；第二测量组件，用于在其安装状态下安装到所述第二对象，以使第二测量组件的第二测量表面与第二对象的第二待测表面对齐，其中，第一测量组件包括测量仪，该测量仪用于测量测量仪自身到第一测量组件的第一测量表面的第一距离以及到第二测量组件的第二测量表面的第二距离，其中，通过第一距离和第二距离计算所述间隙。

在一个实施例中，第一测量组件还包括：第一主体，限定所述第一测量表面；第一固定板，布置于第一主体的前表面上；第一限位挡板，与第一固定板连接并与第一测量表面对齐。第一限位挡板能够围绕与第一固定板的连接点在与第一测量表面平行的平面中旋转。

在一个实施例中，当第一测量组件处于安装状态时，第一限位挡板的一端沿第一测量表面从第一主体的后表面突出。

在一个实施例中，第一测量组件还具有测量状态，当第一测量组件处于测量状态时，第一限位挡板与从测量仪到第一测量表面的垂线相交。

在一个实施例中，测量仪通过测量自身到第一限位挡板的距离来确定第一距离,

在一个实施例中，第一主体上设置有滑轨，并且第一固定板和/或测量仪通过滑轨可移动地布置在第一主体上。

在一个实施例中，第二测量组件还包括：第二主体，限定所述第二测量表面；第二限位挡板，与第二主体连接并与第二测量表面对齐。第二限位挡板能够围绕与第二主体的连接点在与第二测量表面平行的平面中旋转。

在一个实施例中，当第二测量组件处于安装状态时，第二限位挡板的一端沿第二测量表面从第二主体的后表面突出。

在一个实施例中，测量仪通过测量自身到第二主体的距离来确定第二距离。

在一个实施例中，测量仪是触头测量仪，包括从测量仪中沿朝向第一测量表面的方向伸出的触头。

在一个实施例中，第一测量组件和第二测量组件分别通过磁力安装于第一对象和第二对象。

根据本发明的另一方面，提供了一种使用根据以上各个实施例所述的间隙测量装置测量间隙的方法。该方法包括以下步骤：在第一测量组件处于安装状态的情况下，将第一测量组件固定到第一对象的前表面上，使得第一限位挡板与第一对象的第一待测表面紧密接触；在第二测量组件处于安装状态的情况下，将第二测量组件固定到第二对象的前表面上，使得第二限位挡板与第二对象的第二待测表面紧密接触；在第一测量组件处于测量状态的情况下，测量测量仪到第一限位挡板的距离，以确定第一距离；在通过移开第一限位挡板使得第一测量组件不处于测量状态的情况下，测量测量仪到第二测量组件的第二主体的距离，以确定第二距离；通过第一距离和第二距离，计算由第一对象的第一待测表面和第二对象的第二待测表面限定的间隙。

附图说明

图1示出了根据一个实施例的已经安装的间隙测量装置的结构示意图。

图2示出了根据一个实施例的间隙测量装置的更为详细的结构图。

图3示出了第一测量组件处于安装状态的示例情形的示意图。

图4示出了根据一个实施例的测量间隙的方法的流程图。

具体实施方式

下面将详细描述本公开的具体实施例，应当注意，这里描述的实施例只用于举例说明，并不用于限制本公开。在以下描述中，为了提供对本公开的透彻理解，阐述了大量特定细节。然而，对于本领域普通技术人员显而易见的是：不必采用这些特定细节来实行本公开。在其他实例中，为了避免混淆本公开，未具体描述公知的电路、材料或方法。

在整个说明书中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”的提及意味着：结合该实施例或示例描述的特定特征、结构或特性被包含在本公开至少一个实施例中。因此，在整个说明书的各个地方出现的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”、“一个示例”或“示例”不一定都指同一实施例或示例。此外，可以以任何适当的组合和/或子组合将特定的特征、结构或特性组合在一个或多个实施例或示例中。此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的附图都是为了说明的目的，并且附图不一定是按比例绘制的。这里使用的术语“和/或”包括一个或多个相关列出的项目的任何和所有组合。

以下参考附图对本公开进行具体描述。

图1示出了根据一个实施例的已经安装的间隙测量装置100的结构示意图。

如图1所示，该间隙测量装置100包括第一测量组件110、第二测量组件120和测量仪130。

图1中还示出了第一对象140和第二对象150。第一对象140包括第一待测表面160，第二对象150包括第二待测表面170。第一待测表面160和第二待测表面170限定将要测量的间隙。

在一个实施例中，所述第一待测表面160和第二待测表面170是平坦表面。在其他实施例中，所述第一待测表面160和第二待测表面170也可以是其他类型的表面。

在图1中，第一测量组件110已经在其安装状态下安装到第一对象140上，且包括第一测量表面180。第二测量组件120已经在其安装状态下安装到第二对象150上，且包括第二测量表面190。在将第一测量组件110安装到第一对象140上的情况下，第一测量表面180与第一待测表面160对齐。在将第二测量组件120安装到第一对象150上的情况下，第二测量表面190与第二测量表面170对齐。在图1中，由于这一对齐位置关系，将第一测量表面180与第一待测表面160以及第二测量表面190与第二测量表面170分别示为重合的。

测量仪130位于第一测量组件110上。该测量仪130可以贴附于第一测量组件110的前表面上、内嵌到第一测量组件110中或通过其他连接方式与第一测量组件110关联在一起。测量仪130用于测量自身到第一测量组件110的第一测量表面180的第一距离d1以及到第二测量组件120的第二测量表面190的第二距离d2。所测得的第一距离d1和第二距离d2用于计算所述间隙。

测量仪130可以实现为多种不同的结构，并可通过多种不同的机制进行测量。在一个实施例中，测量仪130可以是触头测量仪(可参见下图2所示的测量仪130)。触头测量仪包括从触头测量仪中沿朝向第一测量表面180的方向伸出的触头。当触头接触到特定表面时，从触头测量仪可以读出测量仪到该特定表面之间的距离，从而实现距离测量。在另一实施例中，测量仪130还可实现为红外测距仪、超声测距仪、激光测距仪等。优选地，所述触头的延伸方向与所述第一测量表面180垂直。

在一个实施例中，第一测量组件110和第二测量组件120分别通过磁力安装于第一对象140和第二对象150。

需要指出的是，根据第一对象140和第二对象150所代表的实际对象的不同，图1所示的间隙测量装置100可以用于各种测量场景。比如，当第一对象140和第二对象150分别对应于玻璃研磨时使用的上研磨头和下研磨头时，所示间隙测量装置100可以用于玻璃研磨场景。

图2示出了根据一个实施例的间隙测量装置200的更为详细的结构图。

如图2所示，第一测量组件110包括：第一主体210、第一固定板220和第一限位挡板230。

第一主体210限定第一测量表面180。第一固定板220布置于第一主体210的前表面上。第一限位挡板230与第一固定板220连接并与第一测量表面180对齐。第一限位挡板230能够围绕与第一固定板220的连接点在与第一测量表面180平行的平面中旋转。

在一个实施例中，第一主体210设置有滑轨260。第一固定板220和/或测量仪130通过滑轨可移动地布置在第一主体210上，并能够根据需要沿滑轨260在与第一测量表面180平行的方向移动。

第二测量组件120包括：第二主体240和第二限位挡板250。第二主体240限定所述第二测量表面190。第二限位挡板250与第二主体240连接并与第二测量表面190对齐。第二限位挡板250能够围绕与第二主体240的连接点在与第二测量表面190平行的平面中旋转。

在一个实施例中，第二主体240的厚度大于第一主体210的厚度。

图3示出了处于安装状态的第一测量组件230的详细结构300的示意图。从图3中可见，当第一测量组件110处于安装状态时，第一限位挡板230的一端沿第一测量表面180从第一主体210的后表面突出。在这一安装状态下可以将第一测量组件110安装到第一对象140上。图3中即示出了在第一测量组件110处于安装状态时将第一测量组件110安装到第一对象140的情形。其中，第一限位挡板230从第一主体210的后表面伸出的部分与第一对象140的第一待测表面160紧密接触。

第二测量组件120的安装状态与第一测量组件110的安装状态类似。其中，当第二测量组件120处于安装状态时，第二限位挡板230的一端沿第二测量表面190从第二主体240的后表面突出。同理，当第二测量组件120处于这种安装状态时，可以将第二测量组件120安装到第二对象150上。当安装到第二对象150时，与图3中安装第一测量组件110的情形类似，第二限位挡板250从第二主体240的后表面伸出的部分与第二对象150的第二待测表面170紧密接触。

在一个实施例中，第一测量组件110还具有测量状态。再回到图2，图2中的第一测量组件110正处于测量状态。其中，第一限位挡板230与从测量仪130到第一测量表面180的垂线相交。与垂线相交这一条件保证了，在第一测量组件110处于测量状态时，可以通过测量仪130测量自身到第一限位挡板230之间的距离。由于第一限位挡板230的表面与第一测量表面180对齐，所以可以将该距离确定为测量仪130到第一测量表面180之间的第一距离d1。优选地，在该测量状态下，使第一限位挡板230与第一主体240的前表面和第一测量表面180的交线对齐。

在一个实施例中，可以通过测量仪130测量其自身到第二主体240的距离。此时需要将第一限位挡板230从测量状态移开，使得第二主体240的第二测量表面190能够与从测量仪130到第二测量表面180的垂线相交。从而，能够通过测量仪130测量测量仪自身到第二主体240的第二测量表面190之间的距离，即第二距离d2。

在获得第一距离d1和第而距离d2后，测量人员能够通过例如d2-d1来计算所述间隙的值。

在备选实施例中，可以预先设置偏移值c，从而通过d2-d1-c来计算所述间隙的值。比如，在玻璃研磨场景中，最终需要的研磨间隙实际上是绑缚于研磨头(对应于第一对象和第二对象)上的研磨带之间的距离。研磨带与研磨头之间具有预定距离c/2。从而，在确定玻璃研磨间隙值时需要减去两个预定距离，即减去c。

在一个实施例中，第一限位挡板230和/或第二限位挡板250是可拆卸的。

图4示出了根据一个实施例的使用上文中参照图1-3描述的间隙测量装置测量间隙的方法400的流程图。

该方法400包括以下步骤：

步骤S410，在第一测量组件110处于安装状态的情况下，将第一测量组件110固定到第一对象140的前表面上，使得第一限位挡板230与第一对象140的第一待测表面160紧密接触。

在该步骤中，需将第一测量组件110置于安装状态，以确保第一限位挡板230可以与第一待测表面160紧密接触。从而，在紧密接触时，第一测量表面180与第一待测表面160是对齐的。

步骤S420，在第二测量组件120处于安装状态的情况下，将第二测量组件120固定到第二对象150的前表面上，使得第二限位挡板250与第二对象150的第二待测表面170紧密接触。

在该步骤中，需将第二测量组件120置于安装状态，以确保第二限位挡板250可以与第二待测表面170紧密接触。从而，第二测量表面190与第二待测表面170是对齐的。

步骤S430，在第一测量组件110处于测量状态的情况下，测量测量仪130到第一限位挡板230的距离，以确定第一距离d1。

在该步骤中，将第一测量组件110置于安装状态，以使得测量仪130能够对其与第一限位挡板230的距离进行测量。例如，当测量仪130是触头测量仪时，需保证伸出的触头能够触及第一限位挡板230。

步骤S440，在通过移开第一限位挡板230以使得第一测量组件110不处于测量状态的情况下，测量测量仪130到第二测量组件120的第二主体240的距离，以确定第二距离d2。

在该步骤中，为了测量测量仪130与第二主体240之间的距离，需要将第一限位挡板230移开。例如，当测量仪130是触头测量仪时，需保证伸出的触头不被第一限位挡板230所阻挡，并能够触及第二主体240的表面。

步骤S450，通过第一距离d1和第二距离d2，计算由第一对象140的第一待测表面160和第二对象150的第二待测表面170限定的间隙。

以上的详细描述通过使用示意图、流程图和/或示例，已经阐述了众多实施例。在这种示意图、流程图和/或示例包含一个或多个功能和/或操作的情况下，本领域技术人员应理解，这种示意图、流程图或示例中的每一功能和/或操作可以通过各种结构、硬件、软件、固件或实质上它们的任意组合来单独和/或共同实现。在一个实施例中，本公开的实施例所述主题的若干部分可以通过专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、数字信号处理器(DSP)、或其他集成格式来实现。然而，本领域技术人员应认识到，这里所公开的实施例的一些方面在整体上或部分地可以等同地实现在集成电路中，实现为在一台或多台计算机上运行的一个或多个计算机程序(例如，实现为在一台或多台计算机系统上运行的一个或多个程序)，实现为在一个或多个处理器上运行的一个或多个程序(例如，实现为在一个或多个微处理器上运行的一个或多个程序)，实现为固件，或者实质上实现为上述方式的任意组合，并且本领域技术人员根据本公开，将具备设计电路和/或写入软件和/或固件代码的能力。此外，本领域技术人员将认识到，本公开所述主题的机制能够作为多种形式的程序产品进行分发，并且无论实际用来执行分发的信号承载介质的具体类型如何，本公开所述主题的示例性实施例均适用。信号承载介质的示例包括但不限于：可记录型介质，如软盘、硬盘驱动器、紧致盘(CD)、数字通用盘(DVD)、数字磁带、计算机存储器等；以及传输型介质，如数字和/或模拟通信介质(例如，光纤光缆、波导、有线通信链路、无线通信链路等)。

虽然已参照几个典型实施例描述了本公开，但应当理解，所用的术语是说明和示例性、而非限制性的术语。由于本公开能够以多种形式具体实施而不脱离公开的精神或实质，所以应当理解，上述实施例不限于任何前述的细节，而应在随附权利要求所限定的精神和范围内广泛地解释，因此落入权利要求或其等效范围内的全部变化和改型都应为随附权利要求所涵盖。