技术特征：
技术总结
本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法，包括：a.采集获得膜片荧光值的原始数据；b.对上述原始数据进行平滑滤波；c.根据上述平滑滤波后的数据，计算得到检测峰值；d.对上述检测峰值进行修正，以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统。本发明能够根据膜片使用状态进行动态的数据补偿，稳定仪器的灵敏度和误报率，增加膜片的使用寿命。
技术研发人员：刘秦豫;吴哲;张天琪;王先松
受保护的技术使用者：深圳中物安防科技有限公司
技术研发日：2017.02.27
技术公布日：2017.08.29