技术特征：
技术总结
本发明涉及微纳系统和磁探测领域，一种使用磁强计测量磁性分子团簇磁矩的方法，通过亥姆霍兹线圈来产生Z轴方向的均匀外磁场Bz0；激光器发出一束激光照射在所述微型反射器上，反射光再依次通过平面镜、透镜进入四象限光电探测器，信号输入测量系统处理后，得到力感应器在Z轴方向的位置信息；调节微位移平台使力感应器移动，将微型开口环置于待测的磁性分子团簇上方一定距离z0处且磁性分子团簇位于微型开口环之中，通过控制系统对力感应器加电流I，微型开口环与磁性分子团簇之间的磁力使力感应器形变而产生与其原位置的偏差zc；力感应器在Z轴方向移动并在不同z0条件下测量，控制系统通过以下公式计算出磁矩
技术研发人员：赵永建;索亦双;张向平
受保护的技术使用者：金华职业技术学院
技术研发日：2017.03.29
技术公布日：2017.09.01