技术特征：
技术总结
提供的是一种用于从使用包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置的多个分析装置获取的目标样品的测定数据识别目标样品的样品分析系统。该系统包括：用于保存使用分析装置对于每个参照物获取的测定数据的存储部；用于对于每个分析装置，比较目标样品的测定数据与参照物的测定数据并且用于确定目标样品与每个参照物的匹配度的测定数据比对部；用于从对于分析装置确定的匹配度计算综合匹配度的综合匹配度计算部；以及用于输出关于以综合匹配度的递减次序的预定数目的参照物的信息的比对结果输出部。
技术研发人员：村上幸雄
受保护的技术使用者：株式会社岛津制作所
技术研发日：2017.04.19
技术公布日：2017.11.21