技术特征：
技术总结
本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。
技术研发人员：孙燕华;刘世伟;邓志扬;姜霄园;冯晓宇;谢菲;何岭松;康宜华
受保护的技术使用者：华中科技大学
技术研发日：2017.05.18
技术公布日：2017.09.08