技术特征：
技术总结
本发明公开了一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，充分利用射线的穿透能力，针对外壳已封装的继电器，利用穿过继电器的射线由于强度不同在传感器上的感光程度也不同，由此产生内部不连续的图像的原理。方法首先建立的未封装前各类继电器型号对应的匹配图数据库，然后将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集并确定相似性测度和确定窗口大小以及窗口移动策略，进而计算继电器触点部分图像与数据库理想触点图像的互信息，最终准确测量出继电器触点间距。该检测方法具有实时性高，无需X光片等耗材，操作简便等特点。
技术研发人员：蔡启博;阮秀凯;刘文斌;闫正兵;黄世沛;朱翔鸥;吴平;崔桂华;杨卫波;李志红;李晗
受保护的技术使用者：温州大学
技术研发日：2017.05.19
技术公布日：2017.10.27