一种调试微波器件的方法和设备与流程

本发明涉及调试领域，特别涉及一种调试微波器件的方法和设备。

背景技术：

现在随着微波通信技术的发展，双工器、滤波器、合路器等微波器件的需求量以及使用量也越来越大。

而现阶段许多微波器件都是无法直接使用，二是需要实现进行调试的，但目前的调试过程都是人工完成，这样导致费时费力，效率低下，且很大程度提高了人力成本。

有鉴于此，现在拯待一种高效率的方式来对微波器件进行调试，以降低人力成本。

技术实现要素：

以此，本发明提出了一种调试微波器件的方法和设备，用以提高调试的效率。

具体的，本发明提出了以下具体的实施例：

本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法，包括：

确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，所述“确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域”包括：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。

在一个具体的实施例中，所述“选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内”包括：

选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；

根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；

选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。

在一个具体的实施例中，所述“选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试”包括：

针对通带区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；

通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该方法还包括：

记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；

基于所记录的调节量确定各调谐杆的调节均值；

基于所述调节均值对下一个待调试微波器件进行调节，以使得该待调试微波器的性能曲线中谐振点全部处于通带区域内。

本发明实施例还提出了一种调试微波器件的设备，包括：

确定模块，用于确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

第一调试模块，用于选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

第二调试模块，用于选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，所述确定模块用于：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。

在一个具体的实施例中，所述第一调试模块用于：

选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；

根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；

选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。

在一个具体的实施例中，所述第二调试模块用于：

针对通带区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；

通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该设备还包括：

记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；

基于所记录的调节量确定各调谐杆的调节均值；

基于所述调节均值对下一个待调试微波器件进行调节，以使得该待调试微波器的性能曲线中谐振点全部处于通带区域内。

以此，本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法和设备，其中该方法包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。以此实现了一种自动化调试的方法，提高了调试的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提出的一种调试微波器件的方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提出的一种调试微波器件的系统的结构示意图；

图3为本发明实施例提出的一种待微波器件的性能曲线的示意图；

图4为本发明实施例提出的一种待微波器件的性能曲线的示意图；

图5为本发明实施例提出的一种待微波器件的标准性能曲线的示意图；

图6为本发明实施例提出的一种调试微波器件时性能曲线的变化趋势示意图；

图7为本发明实施例提出的一种调试微波器件的设备的结构示意图。

具体实施方式

在下文中，将更全面地描述本公开的各种实施例。本公开可具有各种实施例，并且可在其中做出调整和改变。然而，应理解：不存在将本公开的各种实施例限于在此公开的特定实施例的意图，而是应将本公开理解为涵盖落入本公开的各种实施例的精神和范围内的所有调整、等同物和/或可选方案。

在下文中，可在本公开的各种实施例中使用的术语“包括”或“可包括”指示所公开的功能、操作或元件的存在，并且不限制一个或更多个功能、操作或元件的增加。此外，如在本公开的各种实施例中所使用，术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合，并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。

在本公开的各种实施例中，表述“或”或“a或/和b中的至少一个”包括同时列出的文字的任何组合或所有组合。例如，表述“a或b”或“a或/和b中的至少一个”可包括a、可包括b或可包括a和b二者。

在本公开的各种实施例中使用的表述(诸如“第一”、“第二”等)可修饰在各种实施例中的各种组成元件，不过可不限制相应组成元件。例如，以上表述并不限制所述元件的顺序和/或重要性。以上表述仅用于将一个元件与其它元件区别开的目的。例如，第一用户装置和第二用户装置指示不同用户装置，尽管二者都是用户装置。例如，在不脱离本公开的各种实施例的范围的情况下，第一元件可被称为第二元件，同样地，第二元件也可被称为第一元件。

应注意到：如果描述将一个组成元件“连接”到另一组成元件，则可将第一组成元件直接连接到第二组成元件，并且可在第一组成元件和第二组成元件之间“连接”第三组成元件。相反地，当将一个组成元件“直接连接”到另一组成元件时，可理解为在第一组成元件和第二组成元件之间不存在第三组成元件。

在本公开的各种实施例中使用的术语“用户”可指示使用电子装置的人或使用电子装置的装置(例如，人工智能电子装置)。

在本公开的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本公开的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本公开的各种实施例中被清楚地限定。

实施例1

本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法，如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤101、确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

步骤102、选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

步骤103、选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

具体的，本方案中的方法涉及到一套具体的调试系统，该调试系统的结构如图2所示，包括：调试设备、网络分析仪、pc(personalcomputer，个人计算机)端；其中，待调试微波器件分别与调试设备以及网络分析仪相连接；调试设备与pc端连接；网络分析仪与pc端连接；

其中，具体的，网络分析仪用于对待调试微波器件进行测试，获取到待调试微波器件的性能微波曲线；调试设备用于对待调试微波器件进行调试，具体是通过对待调试微波器件上的螺杆进行调试来实现的；而pc端用于对所连接的网络分析仪所获取到的性能微波曲线进行分析以及数据处理和存储，并基于分析结果对调试设备进行控制，实现对待调试微波器件的自动化调试。

在一个具体的实施例中，步骤101中，所述“确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域”，包括：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。

在此，以一个具体的实施例来进行说明，例如针对待调试微波器件a，其针对不同的需要(例如在不同的应用场景中使用)，会对应有不同的标准性能曲线，而不同的标准性能曲线中的通带区域是不同的，以一个具体的例子来进行说明，例如一个器件对应于850mhz到950mhz之间，在应用场景1下其通带区域为880mhz到910mhz；而在应用场景2下，其通带区域则可能为890mhz到900mhz，至于其他的场景，则各自对应有各自的通带区域，在此不再进行赘叙。

在一个具体的实施例中，步骤102，也即所述“选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内”包括：

选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；

根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；

选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。

通常一个新装配完成的待调试微波器件(例如为腔体微波器件)的电气性能是不符合标准要求的，需要机器或者人为地去调试，调试到要求的标准时才能成为合格的成品，通常一个新装配的待调试微波器件的电气性能的图像显示是杂乱的，如图3所示的性能曲线，需要将其的电气性能调试至所需标准，如图5所示(也即对应标准性能曲线)。

具体的调节方式大体是先调节好大致的通带，然后微调各种指标来完成整体调试过程。

该过程具体为：在电脑pc端预存一个标准性能曲线(如图5所示)，测试待调试滤波器的性能曲线，由于不同的待调试微波器件对应的频段也不相同。

以腔体滤波器为例，当对一个腔体滤波器进行调试时，在其对应调试的频段区域进行取点，例如腔体滤波器对应于850mhz到950mhz之间，它的通带区域为880mhz到910mhz，在具体的操作过程中，对850mhz到950mhz之间进行取点，每隔1mhz取点(不同滤波器可以有不同取点频率，0.5mhz或1.5mhz等，可按具体器件划分)，于是就有100个点，腔体滤波器的调试过程中，不同的谐振点可以通过几根调谐螺杆来调节，在调试螺杆的过程中，相应的性能曲线上的谐振点会发生左右移动，此时pc端要执行的操作为，纪录调试螺杆前后的性能曲线，相比较取样点后系统即可分析得知谐振点是相应的往左还是往右移动，此时还可得知发生移动的谐振点对应的是哪些调谐螺杆，此时即可通过控制这些调谐螺杆使谐振点移动到通带内，也即调整后的性能曲线如图4所示。

进一步详细的说明如何通过比较判断调试过程中电气性能变好即往符合标准的方向变化或者符合标准，如图6中(a)与(b)所示，示例为取12个点，先记录图6中(a)的各点数据，调节螺杆后，电气性能发生变化，变化为图6中(b),此时再记录图6中(b)的各点数据，通过比较数值大小，如示例所示，图6(a)的3、4、5点数值比图6(b)的大，8、9、10点比图6(b)的小，其它点相差大小不大，各点比较时可以设置公式为时得数值1，反之即为0，即变化后的数值减去变化前的数值再减去一定的xdb数值，这里x可以为任意数值，根据具体腔体而定，由于螺杆变化后，谐振点的位置发生了一定的变化，除了3、4、5和8、9、10点发生的变化较大外，其它点的变化较小，有一定的上下波动，此时x的作用即为排除这些小的波动，由公式即可得数据000000011100，而由公式，即可得数据001110000000，由两组数据即可直观比较的得出谐振点的移动方向了，即依此方式即可将所有谐振点调至通带内，最终可调节个大概的通带位置，即如图4所示。

在一个具体的实施例中，步骤103，也即所述“选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试”包括：

针对通带区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；

通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。

通过上述方式即可调节滤波器的大体通带，在此进一步的说明自动调试具体插损值，抑制点，回波等等详细指标值，如之前的示例30m的滤波器其通带位置只需监控其区间及附近一共30至40个点，当全部谐振点被调至通带内，此时的调试即为微调范围，通过比较此时的通带数据大于对应的一个标准的合格数据，即可得一个数据1，示例如图4与图5比较，当所在区域所有的点得到的值都为1时，即得到数值“111···1111”时，即符合标准，此时也要通过来确定调节的方向，即是通过比较螺杆调节后电气性能变化的好坏，即是可以通过1与0的数字多少来判断是否往好的方向发展，通过此种方式即可完成滤波器的自动微调功能。最终调试好的性能曲线的形状与图5中的形状类似，具体的为在通带区域内的各取样点的值越多大于标准值越好，最好是全部大于，而通带区域与其他区域的连接处的曲线越陡越好。

进一步的在微调过程中，还可以设置通带内比较的点的优先级，不仅是比较点内符合标准的多少，还有某些点的优先级大小。例如即比较时，1点符合标准后，而2、3点不符合标准，此时也属变好的范畴，即1点优先级比2、3都高；在此情况下，认为1点对应的数量会大于2点与3点的数据的和，也即1点的权重比较高。

在一个具体的实施例中，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该方法还包括：

记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；

基于所记录的调节量确定各调谐杆的调节均值；

基于所述调节均值对下一个待调试微波器件进行调节，以使得该待调试微波器的性能曲线中谐振点全部处于通带区域内。

进一步说明自动调试系统的自动记忆及学习功能，当调试一个谐振点至通带内时，pc端可以记录下每个调谐杆的调节量，还能记录在微调阶段对应于不同的状况，之后每个调节螺杆的调谐量，记录每个调谐杆的调谐量及其调谐量对应的电气性能变化，由于同款滤波器腔体不可能每个都相同，因此可以通过记录多组数据，最终通过pc端的记录取优化后的均值，即每个螺杆的调节量的均值，通过这个步骤可以大幅的减少调节时间，增加效率。对于优化过的滤波器，初始每台腔体的各个相对的螺杆进深保持相同，即可通过之前调试过多台腔体并记录优化的数据，可以直接算出每根螺杆的大概进深，即可快速的进螺杆使腔体的电气性能达到通带大致升好的阶段，快速的通过粗调试阶段，直接进入微调试阶段，节约大量时间。

实施例2

本发明实施例还公开了一种调试微波器件的设备，如图7所示，包括：

确定模块201，用于确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

第一调试模块202，用于选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

第二调试模块203，用于选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，所述确定模块201用于：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。

在一个具体的实施例中，所述第一调试模块202用于：

选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；

根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；

选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。

在一个具体的实施例中，所述第二调试模块203用于：

针对通带区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；

通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。

在一个具体的实施例中，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该设备还包括：

记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；

基于所记录的调节量确定各调谐杆的调节均值；

基于所述调节均值对下一个待调试微波器件进行调节，以使得该待调试微波器的性能曲线中谐振点全部处于通带区域内。

本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法和设备，其中该方法包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。以此实现了一种自动化调试的方法，提高了调试的效率。

本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。

本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。