显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质与流程

本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质。

背景技术：

显示屏的亮度均匀性反映了显示屏的质量好坏，若显示屏均匀，则图像显示效果较好；若不均匀，则显示效果较差，显示的图像就会出现各种痕迹。

传统的显示屏均匀性的测试方法是利用人的视觉和亮度计相结合检测去判断其均匀性的好坏。这种方法由于利用了人的主观感觉，容易因为主观感觉的差异影响到评定的结果。还有一种常见的测试方法是九点测试法，即根据周围8个像素点与中心像素点的亮度，利用相关公式计算均匀性的结果，根据此结果作为最终亮度均匀性的评估。但是在采用九点测试法时，像素点位置选择不同将影响到后续的计算结果，在选点位置不恰当时将导致测试结果的不准确。而且目前电视机都是曲面电视机，目前测试方法针对的是形状规则的长方形电视机，对曲面电视机的测量方法也利用形状规则的长方形电视机的测量方法，也将影响到均匀性结果的评估。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于提供一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质，旨在提高曲面显示屏均匀性测试结果的准确性。

为实现上述目的，本发明提供一种显示屏均匀性的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

可选的，所述在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板的步骤包括：

在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

可选的，所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域，所述测试模板包括白色区域和黑色区域，所述将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据的步骤包括：

将所述测试低通图像和测试模板进行叠加处理得到测试低通叠加图像，其中所述测试低通叠加图像包括测试低通区域，所述测试低通区域为所述测试低通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

将所述测试高通图像和测试模板进行叠加处理得到测试高通叠加图像，其中所述测试高通叠加图像包括测试高通区域，所述测试高通区域为所述测试高通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

获取所述测试低通区域的各像素点，并根据第一计算规则计算测试低通像素数据；

获取所述测试高通区域的各像素点，并根据第二计算规则计算测试高通像素数据。

可选的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的步骤包括：

将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

可选的，所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的步骤之前，还包括：

在参考屏播放所述预设测试图片时，对所述参考屏进行拍摄，获取参考图像，并获取与所述参考图像尺寸对应的参考模板；

分别对所述参考图像进行低通滤波和高通滤波，获取参考低通图像和参考高通图像；

将所述参考低通图像和参考模板叠加处理得到参考低通叠加图像，将所述参考高通图像和参考模板叠加处理得到参考高通叠加图像，并分别根据所述参考低通叠加图像和参考高通叠加图像获取参考低通像素数据和参考高通像素数据。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种显示屏均匀性的测试终端，所述测试终端包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的测试程序，所述测试程序被所述处理器执行时，实现以下步骤：

在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

可选的，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

可选的，所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域，所述测试模板包括白色区域和黑色区域，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

将所述测试低通图像和测试模板进行叠加处理得到测试低通叠加图像，其中所述测试低通叠加图像包括测试低通区域，所述测试低通区域为所述测试低通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

将所述测试高通图像和测试模板进行叠加处理得到测试高通叠加图像，其中所述测试高通叠加图像包括测试高通区域，所述测试高通区域为所述测试高通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

获取所述测试低通区域的各像素点，并根据第一计算规则计算测试低通像素数据；

获取所述测试高通区域的各像素点，并根据第二计算规则计算测试高通像素数据。

可选的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有测试程序，其中测试程序被处理器执行时，实现如上述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

本发明通过在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。通过以上方式，本发明分别对测试屏的测试图像进行低通滤波处理和高通滤波处理，获取测试屏的低通图像和高通图像，以对测试屏的低通显示属性和高通显示属性分别进行针对性地分析；整个测试过程是对显示屏整体进行的，测试结果可准确地反映测试屏整体的均匀性；同时，本发明的测试无需技术人员进行相关技术操作即可完成，避免了人为因素导致的测试偏差，提高了测试结果的准确性，也有利于减少测试所消耗的时间，提高均匀性测试的效率。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的显示屏均匀性的测试终端硬件结构示意图；

图2为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的测试图像示意图；

图4为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的测试模板示意图；

图5为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的测试低通图像和测试高通图像示意图。

图6为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的参考屏和测试屏的图像对比示意图。

图7为图2中所述在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板的细化流程示意图。

图8为图2中所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的细化流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例方案的主要思路是：在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

本发明实施例涉及的显示屏均匀性的测试方法主要应用于显示屏均匀性测试终端，该终端可以通过多种方式实现。例如，终端可以包括诸如手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑等移动终端，以及诸如智能电视、pc终端等固定终端。

后续描述中将以pc终端作为显示屏均匀性的测试终端进行说明，本领域技术人员将理解的是，除了特别用于移动目的的元件之外，根据本发明的实施方式的构造也能够应用于其它类型的终端。

参照图1，图1为本发明实施例方案中涉及的显示屏均匀性的测试终端硬件结构示意图。本发明实施例中，显示屏均匀性的测试终端可以包括处理器1001(例如cpu)，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信；用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)；网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)；存储器1005可以是高速ram存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器，存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

可选地，该终端还可以包括摄像头、rf(radiofrequency，射频)电路，传感器、音频电路、wifi模块等等。其中，传感器比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示屏的亮度，接近传感器可根据感光设备与参照物的距离，关闭显示屏和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于终端姿态的应用(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；当然，该终端还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端硬件结构并不构成对显示屏均匀性的测试终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

继续参照图1，图1中作为一种计算机可读存储介质的存储器1005可以包括操作系统、网络通信模块以及测试程序。

在图1中，网络通信模块主要用于连接服务器，与服务器进行数据通信；而处理器1001可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

进一步的，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

进一步的，所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域，所述测试模板包括白色区域和黑色区域，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

将所述测试低通图像和测试模板进行叠加处理得到测试低通叠加图像，其中所述测试低通叠加图像包括测试低通区域，所述测试低通区域为所述测试低通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

将所述测试高通图像和测试模板进行叠加处理得到测试高通叠加图像，其中所述测试高通叠加图像包括测试高通区域，所述测试高通区域为所述测试高通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

获取所述测试低通区域的各像素点，并根据第一计算规则计算测试低通像素数据；

获取所述测试高通区域的各像素点，并根据第二计算规则计算测试高通像素数据。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

基于上述显示屏均匀性的测试终端硬件结构，提出本发明显示屏均匀性的测试方法各个实施例。

本发明提供一种显示屏均匀性的测试方法。

参照图2，图2为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，所述测试方法包括以下步骤：

步骤s10，在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

显示屏的亮度均匀性反映了显示屏的质量好坏，若显示屏均匀，则图像显示效果较好；若不均匀，则显示效果较差，显示的图像就会出现各种痕迹。传统的显示屏均匀性的测试方法是利用人的视觉和亮度计相结合检测去判断其均匀性的好坏。这种方法由于利用了人的主观感觉，容易因为主观感觉的差异影响到评定的结果。还有一种常见的测试方法是九点测试法，即根据周围8个像素点与中心像素点的亮度，利用相关公式计算均匀性的结果，根据此结果作为最终亮度均匀性的评估。但是在采用九点测试法时，像素点位置选择不同将影响到后续的计算结果，在选点位置不恰当时将导致测试结果的不准确。而且目前电视机都是曲面电视机，目前测试方法针对的是形状规则的长方形电视机，对曲面电视机的测量方法也利用形状规则的长方形电视机的测量方法，也将影响到均匀性结果的评估。

基于上述问题，本实施例提出一种显示屏均匀性的测试方法，该方法测试过程不受人为因素的干扰，同时该方法是对显示屏整体进行分析测试，从而使获得的测试结果更为准确。值得说明的是，本实施例不仅可用于曲面显示屏的均匀性测试，同时还可用于形状规则显示屏的均匀性测试。

具体的，本实施例中，对均匀性进行测试的显示屏可称为测试屏。在需要进行均匀性测试时，可使该测试屏显示测试图片。其中由于显示屏的均匀性主要是亮度方面的属性，因此该测试图片是白色图片(即在该测试屏中播放全场白图片)。在测试屏播放白色测试图片时，通过图像采集设备拍摄测试屏当前显示的图像，拍摄到的图像可称为测试图像。其中图像采集设备可以是摄像机、照相机等设备。对于图像采集设备，可以是测试终端自身配备的功能装置，也可以是测试终端外接的功能设备；而对于图像采集设备的功能参数，其分辨率越高越好，例如本实施例中可采用分辨率为2120*3800的摄像机进行拍摄，以获得更清晰的测试图像，提高测试结果的准确性。为了全面分析测试屏的均线性，测试图像应当包括完整的显示屏。如图3所示，图3为测试屏的测试图像。其中测试图像中间部分为显示屏区域；四周部分为非屏区域，非屏区域主要是显示屏的边框，当然非屏区域随着拍摄角度和距离的变化，还可以包括周围的环境部分。

在得到测试图像时，即可根据该测试图像的图像尺寸获取对应的测试模板(或称模板图像)。如图4所示，图4为测试图像对应的测试模板。测试模板主要包括白色区域和黑色区域，其中白色区域与测试图像中的显示屏区域对应，两者区域的尺寸相同(或基本相同)；黑色区域对应测试图像中的非屏区域，两者区域的尺寸相同(或基本相同)。当然，在具体实施中，测试模板的整体尺寸可大于测试图像，但要保证白色区域与显示屏区域的尺寸相同(或基本相同)。

步骤s20，分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

本实施例中，在得到测试屏的测试图像时，即可对分别测试图像进行低通滤波和高通滤波处理，获取测试图像的测试低通图像和测试高通图像。具体的，通过高斯低通滤波器(或滤波软件)对测试图像进行滤波处理，滤除测试图像的高频成分，从而得到不包括高频成分的测试图像，该不包括高频成分的测试图像可称为测试低通图像；通过高斯高通滤波器(或滤波软件)对测试图像进行滤波处理，滤除测试图像的低频成分，从而得到不包括低频成分的测试图像，该不包括高频成分的测试图像可称为测试低通图像。值得说明的是，滤波处理后的测试低通图像和测试高通图像中仍分别包括显示屏区域和非屏区域。如图5所示，图5为测试低通图像和测试高通图像的示意图。

步骤s30，将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

本实施例中，在得到测试屏的测试低通图像和测试高通图像时，配合使用步骤s10中所得的测试模板可得到测试低通叠加图像和测试高通叠加图像。具体的，将测试低通图像和测试模板进行叠加处理，在叠加处理的过程中，需确保测试低通图像的显示屏区域和测试模板的白色区域进行叠加；在叠加处理完成时，即得到测试低通叠加图像。类似的，将测试高通图像和测试模板进行叠加处理，在叠加处理的过程中，需确保测试高通图像的显示屏区域和测试模板的白色区域进行叠加；在叠加处理完成时，即得到测试高通叠加图像。

在得到测试低通图像和测试高通图像时，即可分别对测试低通图像和测试高通图像进行分析，从而获取测试屏在低通显示属性值和高通显示属性值。本实施例中测试屏的低通显示属性值用测试低通像素数据tt1表示，高通显示属性值用测试高通像素数据tt2表示。

进一步的，本实施例中，对测试低通图像和测试高通图像的分析可以是这样的。在进行图像叠加处理时，测试低通图像的显示屏区域和测试模板的白色区域进行叠加所得的区域可称为测试高通区域，测试高通图像的显示屏区域和测试模板的白色进行叠加所得的区域可称为测试高通区域。在进行分析时，主要是针对测试低通区域和测试高通区域进行分析。获取测试低通区域的各像素点的像素值，并根据这些像素值和第一计算规则计算测试低通像素数据。第一计算规则可以为：

其中，tt1为测试低通像素数据，n为像素总数，xi为像素点的像素值，为各像素点的平均值。

获取测试高通区域的各像素点的像素值，并根据这些像素值和第二计算规则计算测试高通像素数据。第二计算规则可以为：

其中，tt2为测试高通像素数据，n为像素总数，xi为像素点的像素值。

当然，在具体实施中还可以采用别的分析方法和计算规则对测试低通区域和测试高通区域进行分析(例如计算规则采用其它的统计学公式，包括k阶矩等)。

步骤s40，将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

本实施例中，在得到测试低通像素数据tt1和测试高通像素数据tt2时，即可根据将tt1、tt2和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

进一步的，对于预设参考数据，可以包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，该参考低通像素数据和参考高通像素数据是与测试屏同等尺寸、且均匀性好(或满足均匀性要求)的参考屏(或称样本屏)在同等测试条件下用同等方法测得的像素数据，即在参考屏播放预设测试图片时，对参考屏进行拍摄，获取参考图像，并获取与参考图像尺寸对应的参考模板；分别对参考图像进行低通滤波和高通滤波，获取参考低通图像和参考高通图像；将参考低通图像和参考模板叠加处理得到参考低通叠加图像，将参考高通图像和参考模板叠加处理得到参考高通叠加图像，并分别根据低通叠加图像和高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据。通过将测试屏的像素数据和参考屏的像素数据进行对比，即可对测试屏的均匀性进行评估。

再进一步的，对于预设参考数据的获得，可以是预先对不同尺寸的参考屏进行分析，然后将获得的参考数据存储在内存和/或服务器中，在需要进行比对时再查找使用。当然预设参考数据的获得，还可以是与测试屏的测试像素数据一起获得的，即对参考屏和测试屏同时进行分析，以在整个测试过程对参考屏和测试屏的图像进行对比。具体的，如6所示，图6为测试过程参考屏和测试屏在测试过程的对比示意图。其中s1为参考屏播放测试图片时拍摄的参考图像，t1为测试屏播放测试图片时拍摄的测试图像；s2为参考图像对应的参考模板，t2为测试图像对应的测试模板；s3为对参考图像进行低通滤波后所得的参考低通图像，t3为对测试图像进行低通滤波后所得的测试低通图像；s4为对参考图像进行高通滤波后所得的参考高通图像，t4为对测试图像进行高通滤波后所得的测试高通图像。通过对参考屏和测试屏同时进行分析，可更直观显示测试屏与参考屏的区别，从而对比分析出测试屏均匀性的好坏。

本实施例通过在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。通过以上方式，本实施例分别对测试屏的测试图像进行低通滤波处理和高通滤波处理，获取测试屏的低通图像和高通图像，以对测试屏的低通显示属性和高通显示属性分别进行针对性地分析；整个测试过程是对显示屏整体进行的，测试结果可准确地反映测试屏整体的均匀性；同时，本测试无需技术人员进行相关技术操作即可完成，避免了人为因素导致的测试偏差，提高了测试结果的准确性，也有利于减少测试所消耗的时间，提高均匀性测试的效率。

参照图7，图7为图2中所述在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板的细化流程示意图。

基于上述图2所示实施例，步骤s10包括：

步骤s11，在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

步骤s12，对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

本实施例中，在需要进行均匀性测试时，可使该测试屏显示测试图片。其中由于显示屏的均匀性主要是亮度方面的属性，因此该测试图片是白色图片(即在该测试屏中播放全场白图片)。在测试屏播放白色测试图片时，通过图像采集设备拍摄测试屏当前显示的图像，拍摄到的图像可称为测试图像。测试图像应当包括完整的显示屏，如图3所示，图3为测试屏的测试图像。其中测试图像中间部分为显示屏区域；四周部分为非屏区域，非屏区域主要是显示屏的边框，当然非屏区域随着拍摄角度和距离的变化，还可以包括周围的环境部分。

在得到测试图像时，即可根据该测试图像的图像尺寸获取对应的测试模板(或称模板图像)。由于测试模板的图像尺寸要与测试图像的图像尺寸对应，因此在具体实施中，可直接通过相关的图像处理软件对测试图像进行处理，从而得到对应的测试模板。具体的，本实施例中，可通过图像处理软件imageanalyzer对测试图像进行处理，当然还可以采用其它的图像处理软件进行处理。在处理时，将测试图像中的显示屏区域进行渲染，将显示屏区域全部变为白色，获得与显示屏区域尺寸相同的白色区域；同时还将测试图像中的非屏区域进行渲染，将非屏区域全部变为黑色，获得与显示屏区域尺寸相同的黑色区域，从而获得与测试图像尺寸对应的测试模板。

进一步的，本实施例中是采用渲染的方式对测试图像进行处理，当然在具体实施中还可以采用其它的方式进行处理(例如删除显示屏区域的图像内容，重新对该区域进行填充，使其变成白色区域)，以获得与测试图像尺寸对应的测试模板。

本实施例中直接通过图像处理软件对测试图像进行处理，获取与测试图像尺寸对应的测试模板，提高了均匀性测试的效率。

参照图8，图8为图2中所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的细化流程示意图。

基于上述图2所示实施例，步骤s40包括：

步骤s41，将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

步骤s42，若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

本实施例中，对于预设参考数据，包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，该参考低通像素数据和参考高通像素数据是与测试屏同等尺寸、且均匀性好(或满足均匀性要求)的参考屏(或称样本屏)在同等测试条件下用同等方法测得的像素数据。通过将测试屏的像素数据和参考屏的像素数据进行对比，即可对测试屏的均匀性进行评估。具体的，测试低通像素数据用tt1表示，测试高通像素数据用tt2表示，参考低通像素数据用ss1表示，参考高通像素数据用ss2表示。在进行对比时，将测试低通像素数据tt1和参考低通像素数据ss1进行对比，将测试高通像素数据tt2和参考高通像素数据ss2进行对比；如果tt1<ss1，且tt2<ss2，则认为测试屏的均匀性满足测试要求，即测试屏的均匀性等级为好；否则，则认为测试屏的均匀性不满足测试要求，即测试屏的均匀性等级为差。当然在具体实施中，还可以设置多个参考数据，将均匀性等级分为三个以上(以上包括本数)等级，从而对测试屏的均匀性进行更准确地描述。

进一步的，在存在多个测试屏时，可根据各测试屏的测试像素数据对测试屏的均匀性好坏程度进行排序。例如，tt3表示测试低通像素数据tt1和测试高通像素数据tt2的和，即tt3＝tt1+tt2；在存在多个测试屏需要按均匀性好坏程度进行排序时，分别计算各个测试屏的tt3；在得到各个测试屏的tt3，根据tt3的大小对各个测试屏进行排序，tt3的值越小，则测试屏的均匀性越好。当然在具体实施中还可以采用其它的排序方法。

本实施例中，在将测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比时，可通过直接比较大小关系的方法确定测试屏均匀性好坏等级，方法简单方便，有利于提高均匀性测试的效率。

进一步的，本发明还提供一种显示屏均匀性的测试终端。

本发明显示屏均匀性的测试终端包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的测试程序，所述测试程序被所述处理器执行时，实现以下步骤：

在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

进一步的，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

进一步的，所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域，所述测试模板包括白色区域和黑色区域，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

将所述测试低通图像和测试模板进行叠加处理得到测试低通叠加图像，其中所述测试低通叠加图像包括测试低通区域，所述测试低通区域为所述测试低通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

将所述测试高通图像和测试模板进行叠加处理得到测试高通叠加图像，其中所述测试高通叠加图像包括测试高通区域，所述测试高通区域为所述测试高通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

获取所述测试低通区域的各像素点，并根据第一计算规则计算测试低通像素数据；

获取所述测试高通区域的各像素点，并根据第二计算规则计算测试高通像素数据。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，所述测试程序被所述处理器执行时，还实现以下步骤：

将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

其中，测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明显示屏均匀性的测试方法的各个实施例，此处不再赘述。

进一步的，本发明还提供一种计算机可读存储介质。

本发明计算机可读存储介质上存储有测试程序，其中所述测试程序被处理器执行时，实现如上述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

其中，测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明显示屏均匀性的测试方法的各个实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。