技术特征：
技术总结
公开了一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统、一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法、以及一种用于样品的分析检验的方法。测试元件分析系统包括：测量装置，其包括用于接收测试元件的测试元件容座，测试元件容座包括第一部分和第二部分，第一部分包括用于放置测试元件的支撑表面，第二部分包括用于与测试元件的对准孔接合的对准销，第二部分能够沿基本上垂直于支撑表面的方向相对于第一部分而移动，测试元件容座配置成相对于第一部分将第二部分定位在至少三个不同位置中，包括用于将测试元件插入到测试元件容座中的中间位置、用于执行测量的闭合位置、以及用于从测试元件容座移除测试元件的开启位置。
技术研发人员：R.施泰因;L.菲施海特;M.默滕斯
受保护的技术使用者：豪夫迈·罗氏有限公司
技术研发日：2017.10.16
技术公布日：2018.04.24