一种用于加热组件绝缘性能的测试方法与流程

文档序号:14130829阅读:435来源:国知局

技术领域:本发明属于航空电气控制技术,具体涉及一种用于加热组件绝缘性能的测试方法。



背景技术:
:加热组件表面(发热面)一般为密封剂(或橡胶)等非金属材料,与金属蒙皮或包铁粘接后使用;一般用绝缘电阻测试仪的探头夹持规定部位进行测量,当加热组件表面某一点绝缘偏低时,用探头测试手段很难检查出来,更难查出绝缘偏低点的具体位置,粘接金属蒙皮或包铁后因绝缘性能不合格极易造成组合件返工或报废。如果有一种能直接检测加热组件表面(非金属)面绝缘电阻的方法,不仅可以避免因故障件转入下一道工序后造成更大的损失,还可以在加热组件制造成形后定位故障位置,进行返修。



技术实现要素:

发明目的:提出一种安全可靠高效的加热组件绝缘性能测试方法。

技术方案:一种用于加热组件绝缘性能的测试方法,包括以下步骤:

步骤一:将加热组件放置于导电橡胶上,加热组件的测试面与导电橡胶贴合之后移入真空袋中;

步骤二:导电橡胶和加热组件中的加热元件接线柱分别用导线引出真空袋;

步骤三:使用抽真空装置对真空袋进行抽真空,直至抽真空装置上的真空表指针在0.01mpa-0.06mpa之间,加热组件的测试面和导电橡胶实现紧密贴合;

步骤四:将引出的导线接入到绝缘电阻测试仪,判断绝缘性能;

步骤五:若绝缘电阻≥规定值,则说明该加热组件的该测试面性能满足要求,测试结束;反之则不符合要求,进入步骤六;

步骤六:打开真空袋,对加热组件的横向位置和纵向位置进行标识,形成若干测试区域,移动加热组件使其与导电橡胶产生相对移动,改变测试区域,对加热组件按照步骤一至步骤五进行测试,采用逐步逼近的方式,直至找到故障区域。

优选地,步骤五中的规定值为20mω。

优选地,步骤一中加热组件的测试面与导电橡胶贴合之后,在导电橡胶下方放入衬板后,再移入真空袋中。

有益效果:本发明一种用于加热组件绝缘性能的测试方法,如果加热组件表面(发热面)某点绝缘电阻较低,用绝缘电阻测试仪的探针(夹头)很难找出,用导电橡胶将加热组件该点转换为绝缘电阻较低面,再用导线引出后就便于用绝缘电阻测试仪的探头进行测量。本发明结构简单,操作简易,安全可靠,维护方便,所使用的设备均为工业上通用设备,用于加热组件的绝缘测试,具有较大的实际应用价值。

附图说明:

图1加热组件放置于导电橡胶上

图2加热组件结构

图3加热组件典型缺陷放大图

图4导电橡胶随形示意图

具体实施方式:下面结合附图及实施例对本发明做进一步详细描述。如图1至图4所示,一种用于加热组件绝缘性能的测试方法,包括以下内容:

1.将加热组件放置于导电橡胶(导电橡胶邵氏硬度≤40,厚度≤1.5mm)上,使加热组件的测试面与导电橡胶贴合;在真空袋上放置衬板,将加热组件及导电橡胶放置在衬板上;

2.导电橡胶和加热组件中的加热元件接线柱分别用导线引出真空袋;,

3.用密封条密封真空袋并使用抽真空装置对真空袋抽真空,直至抽真空装置上的真空表指针在0.01mpa-0.06mpa之间,此时导电橡胶与加热组件测试面平整部分应紧密贴合,加热组件测试面上凹凸不平处也按其形状覆盖有导电橡胶;

4.将加热元件接线柱引出导线与导电橡胶引出导线接入到绝缘电阻测试仪中,判断绝缘性能:如果绝缘电阻测试仪测出绝缘电阻大于等于20mω(或其他规定数值),则说明加热组件的该测试面绝缘性能满足要求,测试结束;如果绝缘电阻测试仪测出绝缘电阻小于20mω(或其他规定数值),则说明加热组件的该测试面绝缘性能不满足要求;抽真空装置停止工作,打开真空袋;

5.对加热组件测试面的横向位置和纵向位置进行标识,将加热组件测试面分为若干区域;按照区域进行排查;

6.按所做标识移动加热组件,使其与导电橡胶位置产生变化,将加热组件的新测试区域置于导电橡胶上,对加热组件按照步骤一至步骤五进行测试;采用排除法,使用逐步逼近的方式直至找到绝缘电阻偏低区域,精准定位探针所在的位置。

本发明一种用于加热组件绝缘性能的测试方法,如果加热组件表面(发热面)某点绝缘电阻较低,用绝缘电阻测试仪的探针(夹头)很难找出,用导电橡胶将加热组件该点转换为绝缘电阻较低面,再用导线引出后就便于用绝缘电阻测试仪的探头进行测量。本发明结构简单,操作简易,安全可靠,维护方便,所使用的设备均为工业上通用设备,用于加热组件的绝缘测试,具有较大的实际应用价值。



技术特征:

技术总结
本发明属于航空电气测试技术,具体涉及一种用于加热组件绝缘性能的测试方法。本发明测试技术包括导电橡胶、抽真空装置、真空袋、绝缘电阻测试仪和若干导线。将导电橡胶覆盖在加热组件需要测量的部位,导电橡胶和加热元件接线柱用导线引出,抽真空使导电橡胶与加热组件测试面贴合后用设备测量。本发明使用方便,安全可靠,可用于加热组件不规则型面的检测,具有较大的经济价值。

技术研发人员:刘翔;鲍畅;金龙
受保护的技术使用者:武汉航空仪表有限责任公司
技术研发日:2017.11.08
技术公布日:2018.04.10
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