本发明涉及光学技术领域，更具体地讲，涉及一种光学测试的装置。
背景技术：
在材料分析测试和半成品分析领域，光学性能为必不可少的一项，紫外可见分光光度计常用来表征紫外区和可见区的光学参数。图1示出了根据现有技术的紫外可见分光光度计的简要光路。如图1所示，由光源1发射紫外光或可见光并分为样品光路2和参比光路3。其中，参比光路3进入检测器4，样品光路2穿过样品5到达检测器4，可以通过与参比光路3光强的对比得到样品5的透过率等光学信息。由材料的光学性能结果进行性能改善或者问题解决。
图2示出了根据现有技术的图1中的样品放置部分的左视图，图3示出了根据现有技术的在图2的样品放置部分上放置正常样品后的示意图，图4示出了根据现有技术的在图2的样品放置部分上放置小样品后的示意图。
如图2所示，样品5放置在透光孔(或称为光圈)6上，在紫外可见分光光度计中，透光孔6为直径约2cm的圆形孔，采用夹片7固定。
参照图3，当样品5比透光孔6大时，可以直接将样品5放置在透光孔6上。然而，如图4所示，在实际测试过程中，样品的大小往往难以达到2cm。当样品5的大小不能完全覆盖透光孔6时，样品5与透光孔6之间形成空白区61，因此，如图1所示的样品光路2上的光在穿过样品5的同时也穿过空白区，从而会影响测试结果的准确性。目前解决的方式有以下两种。
图5示出了根据现有技术的一种改进的紫外可见分光光度计的示意图。参照图5，一种解决方式是在光源1处放置遮光板(或称为光源罩、光罩)8，用于缩小光源光圈至样品大小，使样品光路2上的光仅仅可以穿过样品5，而不会穿过样品5和透光孔6之间的空白区61(参见图4)。此种方式可以解决样品过小的问题，但是涉及打开设备主机内部光路，多次取放光罩8会对设备的光路产生不良影响。而且，部分仪器设备厂家的内部光路不能由设备操作员打开，只能由设备维修工程师开启，因此部分设备不适用在内部光源处安放光罩8的方法。
图6示出了根据现有技术的另一种改进的紫外可见分光光度计的示意图。参照图6，另外一种解决方式是在样品光路2和参比光路3的出光口处分别放置光罩8，用于遮挡出光口处的光源直径，使出光口处的光圈直径减小至样品大小，从而使样品光路2上的光不透过样品5和透光孔6之间的空白区61(又称为透光区)。对于这种方式，由于光学数据的计算时依照样品光路2的测试值与参比光路3比较得出，为了保证遮光程度一致，需要保证样品光路2和参比光路3的光罩8的透光区的尺寸和放置位置完全相同，以避免出现光罩尺寸透光区尺寸大小偏差或者位置偏差，造成数据错误。因此，这种解决方式对光罩的制作精度和人员操作均有极高的要求。
上述两种方式虽然可以解决样品5过小的问题，但是均存在一些弊端，并且，无论是在光源处还是出光口处加遮光罩8，都会降低光源的强度，对于某些样品(比如透光率低的样品)，光源强度低，数据准确性会降低。
因此，亟需开发一种新的解决方案，在解决样品过小的问题的同时，不降低光源强度，提升数据准确性。
技术实现要素：
本发明的示例性实施例在于提供一种新的光学测试装置，以克服现有技术中的问题。
本发明提供了一种光学测试装置，包括样品光路和位于样品光路上并用于放置样品的透光孔，所述样品比所述透光孔小，所述光学测试装置还包括设置在所述样品光路上的聚光机构，以使所述样品光路上的光经所述聚光机构汇聚在所述样品上。
可选地，所述聚光机构可以包括一个或多个凸透镜。
可选地，所述多个凸透镜可间隔地设置在所述样品光路上。
可选地，所述聚光机构还可包括与所述凸透镜连接以调节所述凸透镜与所述样品之间的距离和/或调节所述凸透镜沿垂直于所述样品光路的方向的位置的调节组件。
可选地，所述调节组件可以包括导轨和滑块，所述导轨沿所述样品光路设置，所述滑块设置在所述导轨上并能够在导轨上滑动。
可选地，所述调节组件还可以包括能够在垂直于所述样品光路的方向上伸缩的伸缩构件，所述凸透镜通过所述伸缩构件与所述滑块连接。
可选地，所述调节组件可以包括与所述凸透镜连接且能够在垂直于所述样品光路的方向上伸缩的伸缩构件。
可选地，所述光学测试装置还可以包括参比光路。
可选地，所述透光孔可以为圆形、正方形或长方形。
可选地，所述光学测试装置可以为分光光度计。例如，紫外可见分光光度计。
本发明的光学测试装置通过汇聚样品光路上的光，缩小光斑的尺寸，从而能够准确聚焦在样品上，在解决样品过小的问题的同时，不降低光源强度。
将在接下来的描述中部分阐述本发明总体构思另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明总体构思的实施而得知。
附图说明
图1示出了现有技术中的紫外可见分光光度计的示意图；
图2是根据现有技术的图1中样品放置部分的左视图；
图3是根据现有技术的在图2的样品放置部分上放置正常样品后的示意图；
图4是根据现有技术的在图2的样品放置部分上放置小样品后的示意图；
图5示出了根据现有技术的一种改进的紫外可见分光光度计的示意图；
图6示出了根据现有技术的另一种改进的紫外可见分光光度计的示意图；
图7示出了根据本发明示例性实施例的光学测试装置的示意图；
图8示出了根据本发明示例性实施例的光学测试装置的聚光机构的示意图。
附图标记说明：
1-光源，2-样品光路，3-参比光路，4-检测器，5-样品，6-透光孔，61-空白区，7-夹片，8-光罩，9-聚光机构，91-导轨，92-滑块，93-伸缩构件，94-凸透镜。
具体实施方式
现在将详细参照本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中，相同的标号始终指的是相同的部件。以下将通过参照附图来说明实施例，以便解释本发明。
参照图1和图4，在现有技术中，在用紫外分光光度计测试表征样品的光学参数时，如果样品5比透光孔6小而无法完全遮挡透光孔6，则在样品5与透光孔6之间会形成能够透光的空白区61(如图4所示)。现有的解决方案都是基于遮光的思路，例如参照图5和图6，在光源1处或者在样品光路2和参比光路3的出光口处设置光罩8，但是这样的方式会降低光源强度，影响测试准确性，并且存在设备依赖性和对设备人员要求高，操作不便等弊端。为此，本发明提出了一种在解决样品5过小的问题的同时，不降低光源强度的光学测试装置。根据本发明，对样品光路2上的光进行汇聚，形成与样品5大小一样的光斑，样品光路2上的光汇聚在样品5上而不透过样品5和透光孔6之间的空白区61。与遮光思路不同，本申请采用聚光的方式，光源的能量不会有任何衰减。
下面，参照附图详细描述根据本发明示例性实施例的光学测试装置。图7示出了根据本发明示例性实施例的光学测试装置的示意图；图8示出了根据本发明示例性实施例的光学测试装置的聚光机构的示意图。
为叙述方便，下文中所称的“左”、“右”、“上”、“下”与附图本身的左、右、上、下方向一致，但只是示意性的，并不对本发明的结构起限定作用。
如图7所示，根据本发明示例性实施例的光学测试装置包括光源1、样品光路2、参比光路3、检测器4和聚光机构9。
光源1发出的光分为样品光路2和参比光路3。参比光路3上的光直接进入检测器4。样品光路2上的光经过聚光机构9和样品5后进入检测器4。
样品5放置于形成在检测器4上的透光孔6(参见图2)上。在本实施例中，透光孔6为圆孔，但本发明不限于此，透光孔6还可以为正方形或长方形等形状。
根据本发明的示例性实施例，参照图7聚光机构9设置在样品光路2上，并且沿着样品光路2上光的传播方向(参见图8所示的x方向)位于样品5的前方。样品光路2上的光先经过聚光机构9汇聚，然后到达样品5并透过样品5进入检测器4。
如图8所示，根据本发明示例性实施例的聚光机构9包括多个间隔地设置在样品光路2上的凸透镜94和调节组件。
具体地讲，凸透镜94用于汇聚样品光路2上的光。在本实施例中，凸透镜94可以为放大镜，凸透镜94的数量为3个。但本发明不限于此，凸透镜94的数量和倍率可以根据聚光的需要选择。
调节组件用于调节凸透镜94与样品5之间的距离和/或调节凸透镜94沿垂直于样品光路2的方向(z方向)的位置。在本实施例中，调节组件包括导轨91、滑块92和伸缩构件93。导轨91沿样品光路2设置；滑块92设置在导轨91上并能够在导轨91上沿样品光路2的方向滑动，并且可以固定在导轨91的任意位置。优选地，滑块92可拆卸地安装在导轨上，以根据需求自由地安装和拆卸。伸缩构件93的一端与凸透镜94连接，伸缩构件93的另一端与滑块92连接，伸缩构件93用于实现凸透镜94在垂直于光路2的方向上下移动。根据本发明示例性实施例的伸缩构件93可以采用能够实现在垂直于样品光路2的方向上伸缩的任意结构。通过滑块92在导轨91上的左右滑动，凸透镜94在样品光路2上可以沿靠近或远离样品5的方向移动，从而可以调节凸透镜94与样品5之间的距离。通过伸缩构件93在垂直于样品光路2的方向上的伸缩，凸透镜94在z方向上下移动，可以调节凸透镜94沿垂直于样品光路2的方向的位置。在本实施例中，通过滑块92、导轨91和伸缩构件93来调节凸透镜94在x和z方向上的位置，但本发明不限于此，只要能够实现调节凸透镜94与样品5之间的距离和/或调节凸透镜94沿垂直于样品光路2的方向的位置的功能的结构均可以用作调节组件。
样品光路2上的光通过凸透镜94的汇聚，有效地缩小了光斑尺寸，从而能准确聚焦到样品5上。在诸如紫外分光光度计的光学测试装置进行测试时，根据样品5的大小和位置，调整凸透镜94的个数、凸透镜94的倍率、凸透镜94在样品光路2上的相对位置、多个凸透镜94之间的间距等聚光机构9的参数，以使样品光路2上的光刚好汇聚在样品5上，而不会进入样品5和透光孔6之间的空白区61。同时可以调整聚光机构9的上述参数，改变光斑照在样品5上的位置，可以进行多次重复测试。也就是说，本发明可以通过聚光机构9的参数组合设计，可以实现任意样品大小，任意样品固定位置的测定。
根据本发明，通过聚光机构9的设计，可以有效地进行光线的汇聚。对于依照样品光路2的测试值与参比光路3比较得出光学数据的双光路结构(即包括样品光路2和参比光路3)的光学测试装置，由于采用的是聚光思路，与遮光思路不同，光源的能量不会有任何衰减，对数据的准确性有足够的保证。同时，本发明的聚光机构9汇聚样品光路2上的光线，对参比光路3没有影响，因此仅用于安装在样品光路即可，操作简单。另外，聚光机构9的安装和组合操作仅仅在样品室进行，不需拆装光学测试装置光源1所在的内部光路，从而不会产生对内部光路结果的影响，并且不论设备厂商的内部光路是否为可拆卸，均可以使用，对设备设计无依赖性。
根据本发明的示例性实施例，双光路结构的光学测试装置可以为分光光度计，例如紫外可见分光光度计。但本发明不限于此，还可以应用于仅有样品光路2的光学测试装置中。
综上所述，本发明的光学测试装置在解决样品过小的问题的同时，不降低光源强度，并且可以提高数据的准确性，具有方便易用和实用性强等优点。
虽然已表示和描述了本发明的一些示例性实施例，但本领域技术人员应该理解，在不脱离由权利要求及其等同物限定其范围的本发明的原理和精神的情况下，可以对这些实施例进行修改。