位置信息收集装置的制作方法

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种位置信息收集装置。

背景技术：

在LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低温多晶硅)基板工艺生产中，凹点和划伤不良是影响外观良率的主要不良，在OEM端(原始设备制造商)尤为明显。在小尺寸液晶显示领域中，对外观不良的改善尤为重要，造成外观不良的原因有很多种，主要有工艺设备、包装运输和减薄工艺等的影响，其中由工艺设备造成的凹点、划伤不良占比较大，其不良规律性较强。工艺改善的常用方式是收集不良缺陷的位置，进行工艺设备接触点匹配，从而找出造成不良的根本原因，再推动改善。

现有技术中，没有专门的用于收集显示屏上不良缺陷信息的装置，不利于OEM端不良信息的收集及反馈。并且，为了保障统计数据的准确性，需要大量的(至少几百片)显示屏的数据叠加累积，才能有效的为凹点、划伤不良匹配提供有力的证据说明。手动地对大量显示屏上的不良缺陷进行坐标测量、收集，人员差异、工具因素、测试方法、测试环境等影响着测试的结果，容易误导分析工作的进行。又因显示屏需要在OEM进行检测出货，所以对不良缺陷的收集，大都需要进行返品至现工厂进行，显示屏的收集及返屏手续十分的繁琐，其不确定因素(如：人为磕碰、运输不当、信息混淆等)参数较多，由于人工手动进行缺陷坐标统计，统计时误差较大，工作效率也非常的低。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种位置信息收集装置，其能够自动抓取待处理物上预标记好的多个预定结构的位置信息，例如，可以对显示屏上的不良缺陷坐标进行保存，适用于大量样本的统计，方便快捷，便于不良信息的收集。

本实用新型所提供的技术方案如下：

一种位置信息收集装置，用于收集待处理物上预标记好的多个预定结构的位置信息；所述位置信息收集装置包括：

用于放置待处理物的承载台；

位置获取单元，所述位置获取单元能够在所述承载台的承载面上方沿相互垂直的第一坐标轴和第二坐标轴所在方向上移动，并当其移动至待处理物上的各预定结构所在位置的正上方时，发送其当前位置坐标信息，以获取当前待处理物上的各预定结构的位置坐标信息；

用于移动所述位置获取单元的移动机构，所述位置获取单元通过所述移动机构设置于所述承载台上；

以及，用于存储所述位置获取单元所获取的位置坐标信息的存储单元。

进一步的，所述位置信息收集装置还包括：

用于获取当前待处理物的产品序号的序号获取单元；

所述存储单元与所述序号获取单元连接，用以将当前待处理物的产品序号与当前待处理物上的各预定结构的位置信息相匹配。

进一步的，所述位置信息收集装置还包括：

用于接收所述位置获取单元所发送的位置坐标信息，并进行显示的显示单元，所述显示单元与所述位置获取单元连接。

进一步的，所述位置获取单元包括：能够在所述移动机构驱动下移动的定位器，所述定位器能够获取并发送其当前位置坐标信息。

进一步的，所述位置获取单元还包括：

设置在所述定位器上，用于将所述定位器与待处理物的预定结构进行精确对位的对位机构；

以及，用于控制所述定位器的位置坐标信息的发送状态的控制开关。

进一步的，所述对位机构包括：用于向待处理物的预定结构所在位置、沿与所述第一坐标轴和第二坐标轴垂直的第三坐标轴方向发射激光的激光发射器，所述激光发射器的激光轴与所述定位器的中心轴重合。

进一步的，所述位置获取单元还包括：设置在所述定位器上，用于对所述定位器当前所在位置处的待处理物上的预定结构的图像进行获取并放大的图像放大部。

进一步的，所述显示单元与所述图像放大部连接，用于显示所述定位器当前所在位置处的待处理物上的预定结构的放大图像。

进一步的，所述图像放大部包括一显微镜。

进一步的，所述移动机构包括：

沿所述第一坐标轴方向设置在所述承载台上的滑杆，所述位置获取单元设置在所述滑杆上，并能沿所述滑杆移动；

以及，设置在所述承载台上、沿所述第二坐标轴方向延伸的滑动轨道，所述滑杆的至少一侧设置在所述滑动轨道上，并能够沿所述滑动轨道移动。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型所提供的位置信息收集装置，其位置获取单元可以在移动至待处理物上预标记好的预定结构所在位置时，发送其当前位置坐标信息，该位置坐标信息即为待处理物上的预定结构坐标，然后利用所述移动机构移动所述位置获取单元至下一预标记好的预定结构所在位置，来获取下一预标记好的预定结构的坐标，直至将待处理物上的各预定结构的坐标收集完毕，所述存储单元再存储好各预定结构的坐标信息，可以适用于大量样本的统计，方便快捷，便于各种预定结构的位置信息的收集。当将该位置信息收集装置应用于显示屏上的不良信息收集时，操作方便，提高了收集不良缺陷信息工作的效率，降低人力、物力的成本，不良坐标自动保存，为后续改善设备工作提供了有力的数据支持，且与传统人工手动收集不良缺陷信息的工作方式相比，减少了人为因素产生的误差。

附图说明

图1表示本实用新型实施例中提供的位置信息收集装置的立体结构示意图；

图2表示本实用新型实施例中提供的位置信息收集装置中的位置获取单元的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

针对现有技术中显示屏的不良缺陷坐标收集时所存在的样本统计误差大、工作效率低的技术问题，本实用新型提供了一种位置信息收集装置，其能够自动抓取待处理物上预标记好的多个预定结构的位置信息，例如，可以对显示屏上的不良缺陷坐标进行保存，适用于大量样本的统计，方便快捷，便于待处理物上各预定结构坐标信息的收集，且与传统人工手动收集不良缺陷信息的工作方式相比，减少了人为因素产生的误差。

本实用新型所提供的位置信息收集装置，用于收集待处理物上预标记好的多个预定结构的位置信息。如图1所示，所述位置信息收集装置包括：

用于放置待处理物10的承载台100；

位置获取单元200，所述位置获取单元200能够在所述承载台100的承载面上方沿相互垂直的第一坐标轴(X轴)和第二坐标轴(Y轴)所在方向上移动，并当其移动至待处理物10上预标记好的各预定结构所在位置的正上方时，发送其当前位置坐标信息，以获取当前待处理物10上的各预定结构的位置坐标信息；

用于移动所述位置获取单元200的移动机构30，所述位置获取单元200通过所述移动机构设置于所述承载台100上；

以及，用于存储所述位置获取单元200所获取的位置坐标信息的存储单元(图中未示出)。

本实用新型所提供的位置信息收集装置，其位置获取单元200可以在移动至待处理物10上预标记好的预定结构所在位置时，发送其当前位置坐标信息，该位置坐标信息即为待处理物10上的预定结构的坐标，然后利用所述移动机构30移动所述位置获取单元200移动至下一预标记好的预定结构所在位置，来获取下一预标记好的预定结构的坐标，直至将待处理物10上的各预定结构的坐标收集完毕，所述存储单元再存储好各预定结构的坐标信息，可以适用于大量样本的统计，方便快捷，便于各种预定结构的位置信息的收集。

当将该位置信息收集装置应用于显示屏上的不良信息收集时，操作方便，提高了收集不良缺陷信息工作的效率，降低人力、物力的成本，不良坐标自动保存，为后续改善设备工作提供了有力的数据支持，且与传统人工手动收集不良缺陷信息工作方式相比，减少了人为因素产生的误差。

需要说明的是，本实用新型所提供的位置信息收集装置可以应用于显示屏上不良缺陷坐标信息的样本统计，还可以应用于其他场合，用于进行待处理物10上预标记好的预定结构的坐标信息收集。

为了更便于理解，以下仅以该位置信息收集装置应用于显示屏上不良缺陷信息的收集为例，来对本实用新型实施例中所提供的位置信息收集装置进行详细说明。

在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图1所示，所述位置信息收集装置还包括：

用于获取当前待处理物10的产品序号的序号获取单元300；

所述存储单元与所述序号获取单元300连接，用以将当前待处理物10的产品序号与当前待处理物10上的各预定结构的位置信息相匹配。

采用上述方案，对显示屏上不良缺陷坐标信息进行样本统计时，每一显示屏上会对应有一产品序号(ID)，可以通过所述序号获取单元300来获取当前处理的显示屏的ID，存储单元会将该产品ID与通过所述位置获取单元200所获取到的不良缺陷坐标信息相匹配，以获取更为准确的样本统计数据。

在本实用新型所提供的实施例中，优选的，所述序号获取单元300可以是采用摄像机(VCR)，利用该摄像机来扫描显示屏上的ID，并将显示屏的ID发送至存储单元进行存储。当然可以理解的是，所述序号获取单元300还可以是利用其它器件来实现，对此并不进行限定。

此外，在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图1所示，所述位置信息收集装置还包括：用于接收所述位置获取单元200所发送的位置坐标信息，并进行显示的显示单元400，所述显示单元400与所述位置获取单元200连接。

采用上述方案，所述显示单元400可以是一显示器，当所述位置获取单元200获取到显示屏上的当前所在位置处的不良缺陷的坐标信息时，直接将坐标信息发送至显示器上，操作人员可以直接在显示屏上及时、直观地查看到显示屏的不良缺陷的坐标信息，这样，对于有经验的操作人员来说，可以根据直观观看到的不良缺陷的坐标信息，来进行预判断，便于提高工作效率。

以下说明本实用新型所提供的位置信息收集装置中所述位置获取单元200的优选实施方式。

在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图2所示，所述位置获取单元200包括：能够在所述移动机构30驱动下移动的定位器201，所述定位器201能够获取并发送其当前位置坐标信息。

采用上述方案，所述定位器201能够发送其当前位置坐标信息，由此，当该定位器201在移动机构的移动下，移动至显示屏上的不良缺陷所在位置的正上方时，其发送的当前位置坐标信息，即为显示屏上的不良缺陷坐标信息。需要说明的是，所述定位器201的可选型号有很多种，对此并不进行限定。

此外，在本实用新型所提供的位置信息收集装置中，优选的，所述位置获取单元200还包括：设置在所述定位器201上，用于将所述定位器201与待处理物10的预定结构进行精确对位的对位机构20；以及，用于控制所述定位器201的位置坐标信息的发送状态的控制开关40。

在上述方案中，当该位置信息收集装置用于显示屏上不良缺陷坐标信息收集时，因通常显示屏需要在OEM(原始设备制造商)进行检测出货，所以对不良缺陷的收集不良缺陷信息工作，大都需要进行返品至现工厂进行，通常在显示屏上会预先标记好显示屏上的不良缺陷所在的范围，可根据操作人员的肉眼观察，移动所述定位器201，来将定位器201移动至不良缺陷的上方，并获取不良缺陷坐标信息，为了提高定位器201和显示屏上的不良缺陷的对位准确性，可以通过所述对位机构20来对定位器201和显示屏上的不良缺陷进行对位，以提高数据准确性；当定位器201与显示屏上的不良缺陷对位准确时，通过所述控制开关来控制所述定位器201发送其当前坐标信息，所述控制开关可以集成在所述定位器上。

在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图2所示，所述对位机构20包括：用于向待处理物10的预定结构所在位置、沿与所述第一坐标轴和第二坐标轴垂直的第三坐标轴(Z轴)方向发射激光的激光发射器202，所述激光发射器202的激光轴与所述定位器201的中心轴重合。

采用上述方案，可以通过所述激光发射器202来向显示屏上发射激光，在移动定位器201时，当所述激光发射器202所发射的激光打在不良缺陷上时，则判断定位器201与不良缺陷对位准确，此时，通过所述控制开关来控制所述定位器201发送其当前坐标信息。

在上述方案中，所述对位机构采用激光发射器202，利用光学定位原理，结构简单，易操作。应当理解的是，在实际应用中，所述对位机构也可以是采用其他方式来实现，对此并不进行限定。

此外，在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图2所示，所述位置获取单元200还包括：设置在所述定位器201上，用于对所述定位器201当前所在位置处的待处理物10上的预定结构的图像进行获取并放大的图像放大部203。优选的，所述图像放大部203可以采用一显微镜。

采用上述方案，通过所述图像放大部203可以对定位器201当前所在区域处的显示屏表面图像进行放大，便于操作人员观察定位器201上的激光发射器202所发射的激光是否投射在显示屏的不良缺陷上，尤其是，对于大的凹点(直径大于0.25mm)等不良缺陷，操作人员可以肉眼观察，来移动定位器201，而针对小的凹点等不良缺陷则不易被观察到，可以借助定位器201上的图像放大部203，控制定位器201左右移动。

在本实用新型所提供的实施例中，优选的，所述显示单元400与所述图像放大部203连接，用于显示所述定位器201当前所在位置处的待处理物10上的预定结构的放大图像。

采用上述方案，操作人员可以通过观察显示器上所显示的显示屏的放大图像，来移动定位器201。

此外，在本实用新型所提供的实施例中，优选的，如图1所示，所述移动机构30包括：沿所述第一坐标轴方向设置在所述承载台100上的滑杆301，所述位置获取单元200设置在所述滑杆301上，并能沿所述滑杆301移动；及，设置在所述承载台100上、沿所述第二坐标轴方向延伸的滑动轨道302，所述滑杆301的至少一侧设置在所述滑动轨道302上，并能够沿所述滑动轨道302移动。

在上述方案中，所述移动机构30可以采用设置在承载台100上的滑杆301、滑动轨道302等，结构简单，操作起来更加方便；且整个装置的结构优化，体积小，便于携带与储存。其中，可以通过手动或自动两种方式来移动所述定位器201。

以下说明本实用新型优选实施例中所提供的位置信息收集装置的具体工作过程：

首先，通过序号获取单元300扫描显示屏的ID后，控制定位器201移动至显示屏上预先标记好的不良缺陷所在位置，并通过图像放大部203观察显示器上的图像，使定位器201与显示屏的不良缺陷进行准确对位，当移动定位器201，并观察到显示器上激光发射器202所发射的激光正好打在不良缺陷上(针对面积大的凹点等不良缺陷，则是激光正好打在不良缺陷的中心位置上)时，按下定位器201上的控制开关，在显示器上会显示当前的定位器201的X轴、Y轴坐标(精确度为0.1mm)，并通过存储单元存储坐标信息数据。这样即实现对显示屏上预标记好的异物、亮点类等点类不良缺陷坐标进行抓取的目的。

其中，存储单元所存储的不良缺陷坐标信息数据可以通过两种方式进行数据保存和处理：第一种方式，将所述存储单元所存储的数据上传内部服务器，便于数据保存及复查；第二种方式，将所述存储单元所存储的数据保存在系统的存储器SD卡中，通过相关工具对数据进行拷贝处理，整合。

需要说明的是，SD卡中保存方式优选以TXT文本、Excel文本方式进行保存，方便数据的处理。

此外，还需要说明的是，本实用新型所提供的位置信息收集装置，尤其可适用于小尺寸液晶显示领域中，对外观不良的改善尤为重要，尤其是适用单个显示屏的大小范围为：2.1英寸～8.2英寸。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。