1.一种正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，包括：
第一半导体探测器，正对设于样品的第一侧面，所述第一半导体探测器用于探测伽马光子的能量信号；
第二半导体探测器，正对设于所述样品的与所述第一侧面相对的第二侧面，所述第二半导体探测器用于探测伽马光子的能量信号；
距离调节机构，用于调节所述第一半导体探测器与样品之间的间距以及所述第二半导体探测器与样品之间的间距；
第一晶体探测器，正对设于所述样品的与所述第一侧面垂直的第三侧面，所述第一晶体探测器用于探测伽马光子的时间信号；
第二晶体探测器，正对设于所述样品的与所述第三侧面相对的第四侧面，所述第二晶体探测器用于探测伽马光子的时间信号；
夹角及距离调节机构，用于调节所述第一晶体探测器与样品之间的间距以及所述第二晶体探测器与样品之间的间距，以及用于调节所述第一晶体探测器与第二晶体探测器之间的夹角。
2.根据权利要求1所述的正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，所述第一半导体探测器的下端以及第二半导体探测器的下端均设置有导槽，所述距离调节机构包括：
导轨，与所述导槽配合，所述样品设于所述导轨上，以使所述第一半导体探测器以及第二半导体探测器能够在导轨上滑动。
3.根据权利要求1所述的正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，所述样品下设有样品支撑杆，所述夹角及距离调节机构包括：
两个转动组件，可转动的安装于所述样品支撑杆上，以调节所述第一晶体探测器与第二晶体探测器之间的夹角；
两个滑动组件，其中一个所述滑动组件连接于其中一个所述转动组件与第一晶体探测器之间，另一个所述滑动组件连接于另一个所述转动组件与第二晶体探测器之间，所述滑动组件能够在所述转动组件上滑动，以调节所述第一晶体探测器与样品之间的间距以及所述第二晶体探测器与样品之间的间距。
4.根据权利要求3所述的正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，所述转动组件包括：
转筒，套设于所述样品支撑杆上；
转杆，与所述转筒连接，所述转杆的中心轴线与所述转筒的中心轴线垂直。
5.根据权利要求4所述的正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，所述第一晶体探测器以及第二晶体探测器上均设置有第一通孔以及与第一通孔连通的第一螺纹孔，所述滑动组件包括：
滑块，其上水平设有的第二通孔以及与第二通孔连通的第二螺纹孔，所述滑块上竖直设有的第三通孔以及与第三通孔连通的第三螺纹孔，所述第二通孔内贯穿所述转杆；
滑杆，具有第一端以及第二端，所述第一端贯穿所述第三通孔，所述第二端贯穿所述第一通孔；
至少三个固定螺钉，对应螺纹配合于所述第一螺纹孔、第二螺纹孔以及第三螺纹孔。
6.根据权利要求1所述的正电子湮没多功能探测装置，其特征在于，所述第一半导体探测器以及第二半导体探测器均为高纯锗探测器；
所述第一晶体探测器以及第二晶体探测器均为闪烁探测器。
7.一种正电子湮没多功能探测系统，其特征在于，包括：
权利要求1～6所述的正电子湮没多功能探测装置；
信号处理装置，用于对所述时间信号以及能量信号进行处理，以得到正电子湮没寿命谱、正电子湮没一维多普勒展宽谱、正电子湮没二维符合多普勒展宽谱、正电子寿命-能量关联谱。
8.根据权利要求7所述的正电子湮没多功能探测系统，其特征在于，所述信号处理装置包括：
第一放大器，电连接于所述第一半导体探测器的输出端；
第二放大器，电连接于所述第二半导体探测器的输出端；
第一恒比定时微分甄别器，电连接于第一晶体探测器的输出端；
第二恒比定时微分甄别器，电连接于第二晶体探测器的输出端；
延时模块，电连接于所述第一恒比定时微分甄别器的输出端；
时幅转换器，电连接于所述延时模块的输出端以及所述第二恒比定时微分甄别器的输出端；
多参数数据获取系统，电连接于所述第一放大器的输出端，电连接于所述第二放大器的输出端，以及所述时幅转换器的输出端；
处理器，电连接于所述多参数数据获取系统的输出端。
9.根据权利要求8所述的正电子湮没多功能探测系统，其特征在于，所述信号处理装置还包括：
信号切换器，电连接于所述多参数数据获取系统与所述第一放大器、第二放大器以及时幅转换器之间，用于所述切换第一放大器、第二放大器以及时幅转换器与所述多参数数据获取系统之间的通断。
10.根据权利要求9所述的正电子湮没多功能探测系统，其特征在于，
所述信号切换器包括两组信号切换组件；所述信号切换组件包括：
输入接口，设置为两个；
单刀双掷开关，其双掷端连接于所述输入接口；
信号输出接口，设置为一个；
延时电路开关，设置为多个，连接于所述单刀双掷开关的单刀端与信号输出接口之间。