一种多方向投影的三维测量装置的制作方法

本实用新型涉及电路板的检测领域，特别涉及一种多方向投影的三维测量装置。

背景技术：

针对电路板电子制程中表面贴装的印刷锡膏、元器件的检测，目前已有无损光学测量技术，即采用可编程结构光栅(PSLM)技术形成全光谱结构光栅结合相位轮廓调制测量技术(PMP)，结合XYZ运行平台，通过电脑、PLC控制，用自行编写控制软件，进行运动控制、检测头光源(2D、3D)控制、图像采集、数据输入输出，经分解合成，计算出被测物的高度、面积，再通过面积和高度计算出被测物的三维参数，从而实现对印刷锡膏、元器件的检测。

目前市面上以单方向投影的测量装置为主，单方向投影光线在被测物相对光线的背面会产生阴影，被测物的高度越高则阴影面积越大，测量误差也就越大，因此，针对被测物高度相对较高的情况，单方向投影的测量装置存在误差过大甚至无法完成测量的缺陷。

针对上述技术问题，本发明人通过深入研究，研发出一种克服上述技术问题的一种多方向投影的三维测量装置，本案由此产生。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种多方向投影的三维测量装置，以实现对多种不同高度被测物的精准检测，同时减小测量误差，提高测量精度。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种多方向投影的三维测量装置，包括安装块，所述安装块上下开口，由七个侧面组成，且其横截面面积自上而下逐渐缩小；所述安装块的七个侧面上分别安装有六组光栅投影装置和一组取像装置，所述取像装置包括T形安装座、设置在所述T形安装座上的放置块、安装在所述放置块上且镜头朝下的相机，所述安装块的每个侧面与所述相机的中轴线的夹角相等。

优选地，每组光栅投影装置的投影光线与安装块对应的侧面平行。

优选地，六组所述光栅投影装置的安装高度一致。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过设计六组光栅投影装置，这样被测物的六个方向都会被光栅覆盖，光栅图像分别被相机采集，采集后的图片由计算机进行分解、合成处理，结合相位轮廓调制测量技术(PMP)，计算出被测物的高度、面积以及三维参数，从而实现对被测物的精确测量。本实用新型有效减小了光线投射被测物产生的阴影对检测精度的影响，适用于多种不同高度被测物的三维测量，具有通用性强、测量精度高的优点。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型主视图。

图3为本实用新型俯视图。

具体实施方式

如图1-图3所示，本实用新型揭示了一种多方向投影的三维测量装置，包括安装块1，所述安装块1上下开口，由七个侧面组成，且其横截面面积自上而下逐渐缩小；所述安装块1的七个侧面上分别安装有六组光栅投影装置2和一组取像装置3，所述取像装置3包括T形安装座31、设置在所述T形安装座31上的放置块32、安装在所述放置块32上且镜头朝下的相机33，所述安装块1的每个侧面与所述相机33的中轴线331的夹角相等。

作为实施例的优选方式，每组光栅投影装置2的投影光线21与安装块对应的侧面平行。

作为实施例的优选方式，六组所述光栅投影装置2的安装高度一致。

本实施例中，光栅投影装置2包含有电子线路、光学引擎、LED灯，其中，电子线路产生可编程结构光栅(PSLM)，LED灯做为光源，将光栅通过光学引擎投射出来，这样，每个光栅投影装置2都可以对被测物投影出不同相位、不同颜色的光栅图像。六组光栅投影装置2分别向被测印刷锡膏投射可编程结构光栅，这样被测物的六个方向都会被光栅覆盖，光栅图像分别被相机33采集，采集后的图片由计算机进行分解、合成处理，结合相 位轮廓调制测量技术(PMP)，计算出被测物的高度、面积以及三维参数，从而实现对被测物的检测，本装置可以实现被测物高度最高到5000um的无损光学测量，有效减小了光线投射被测物产生的阴影对检测精度的影响，具有通用性强、测量精度高的优点。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。