近场天线测试系统的制作方法

文档序号:14212753阅读:556来源:国知局
近场天线测试系统的制作方法

本实用新型涉及一种天线测试技术领域,更具体地说,本实用新型涉及一种近场天线测试系统。



背景技术:

天线近场测量系统是一套在中心计算机控制下进行天线近场扫描、数据采集、测试数据处理及测试结果显示与输出的自动化测量系统。

移动通信的迅猛发展推动了天线的研发工作,国内出现了一些年产天线达到几百万台、品种达到数百种之多的企业。天线测试的速度已经成为企业研发工作进程的瓶颈。

现检索到一篇公告号为CN205643543U的中国专利文件,其名称为一种24探头近场天线测试系统,其方案中记载通过在一个圆弧轨中布满探头,然后通过360度水平旋转置于圆弧轨中心的天线,即可对天线完成球面扫描。

然而,天线扫描时,圆弧轨上密布探头的天线测试系统有着一个缺陷,由于探头在圆弧轨上定点安装,故只能定点检测探头所指向位置的天线性能,对天线的特定面难以做到精准探测。



技术实现要素:

本实用新型的目的是提供一种近场天线测试系统,通过探头在圆弧轨的自由滑移,调整探头对天线的测试角度,可以实现对天线的特定面进行测试。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:

近场天线测试系统,包括圆弧轨,圆弧轨滑移有至少一个绕圆弧轨圆心转动的探射组件,探射组件与圆弧轨之间设有定位组件;

探射组件朝向圆弧轨的圆心,圆弧轨内设置将被测物置于圆心处的承载装置,承载装置可度旋转以实现被测物绕圆心转动。

通过采用上述技术方案,探射组件沿着圆弧轨自由移动,然后通过定位组件将探射组件固定在圆弧轨上,增强了探头与被测目标之间方向控制的可调控性,可精确控制他们之间的角度,快速测量出被测目标某一方向的辐射性能。

更加优异的在于:可方便的控制探头与被测目标之间的角度,通过探头在圆弧轨上的移动与被测目标承载装置的一维旋转实现被测目标360°球面辐射性能的检测。

本方案中的系统,同时具备定角度检测与360度球面辐射性能检测两个功能。

较佳的,探射组件为单一的扫描探头,探射组件的数量可以是2或3。

通过采用上述技术方案,扫描探头探射天线的辐射性能;而探射组件的数量的增加,是为了增加球面辐射性能的检测效率。

较佳的,探射组件包括用于收发雷达波的接收探头与发射探头,探射组件的数量。

发射探头发射雷达波,然后通过接收探头进行接收,测出被测物(天线)的RCS性能;而探射组件的数量的增加,是提高球面RCS性能的检测效率

较佳的,定位组件包括固定探射组件上的电机,圆弧轨安装有与电机中转轴相互齿合的齿条。

通过采用上述技术方案,显然,圆弧轨作为探射组件的移动轨迹;电机转轴与电机壳内的磁片具有一定的自锁力,结合电机的转轴与齿条的齿合关系具有固定探头的作用,控制电机的正反转,可以控制探射组件沿着齿条移动,从而达到控制探射组件移动的目的。

较佳的,圆弧轨开设有缺口,承载装置位于缺口处,承载装置与圆弧轨处于同一个平面;承载装置旋转所形成的平面与圆弧轨所在平面相互垂直。

通过采用上述技术方案,缺口为承载装置在放在圆弧轨内腾出了空间,承载装置置于圆弧轨所在平面,有利缩小承载装置与圆弧轨两者共同占用的空间。

较佳的,承载装置上设有旋转盘,承载装置设有驱动旋转盘转动的动力源。

通过采用上述技术方案,动力源可以是电机,电机控制旋转盘转动,从而便捷的达到控制被测装置转动。

较佳的,所述圆弧轨为滑槽,探射组件一端置于滑槽内,另一端置于滑槽外,滑槽内设有挡件,挡件隔挡探射组件。

通过采用上述技术方案,探射组件在花槽内移动,隔挡组件限制探射组件掉出滑槽。

较佳的,探射组件安装朝向圆心的激光定位装置。

通过采用上述技术方案,激光定位装置通过激光位移传感器对探射组件在圆弧轨上的角度进行精准测量,使得探射组件头可以精准的移动到预定位置。

较佳的,圆弧轨的圆心角为90度。

通过采用上述技术方案,天线被圆弧轨道覆盖90度的圆心角,通过天线在旋转台上转换位置,可以完成对天线1/4~1/2球面检测。

较佳的,圆弧轨的圆心角为180度。

通过采用上述技术方案,天线被圆弧轨道覆盖180度的圆心角,通过天线在旋转台上转换位置,可以完成对天线1/2以上球面检测。

附图说明

图1是实施例1的结构示意图;

图2是实施例1中的滑槽与探头的连接关系示意图;

图3是实施例1中承载装置的剖视示意图;

图4是实施例2的正视图;

图5是实施例3的正视图;

图6是实施例中圆弧轨为四分之一圆时的正视图。

图中:1、圆弧轨;21、滑槽;22、挡件;

3、承载装置;31、旋转盘;32、电动机;

4、扫描探头;

51、接收探头;52、发射探头;

61、电机;62、齿条;63、齿轮;64、缺口;7、激光定位装置。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例1:如图1与图2与图3所示,近场天线测试系统,包括圆弧轨1,圆弧轨1上设有弧形的导轨,导轨滑移有2个绕圆弧轨1圆心转动的探射组件。

探射组件为扫描探头4,圆弧轨1上安装有定位组件;扫描探头4朝向圆弧轨1的圆心。

定位组件包括固定扫描探头4的电机61,圆弧轨1安装齿条62,电机61转轴安装齿轮63,齿条62与齿轮63相互啮合。

圆弧轨1内设置将被测物置于圆心处的承载装置3,承载装置3可360度旋转以实现被测物绕圆心转动。

扫描探头4安装有激光定位装置7,激光定位装置7包括激光定位传感器,挡扫描探头4安装圆弧轨1时,通过激光定位传感器确定扫描探头4在圆弧轨1的初步位置,然后有计算机计入位置,计算机通过激光定位时采取的数据与电动机32转速的控制调节扫描探头4在圆弧轨1上的位置。

圆弧轨1开设有缺口64,承载装置3位于缺口64处,承载装置3与圆弧轨1处于同一个平面;承载装置3旋转所形成的平面与圆弧轨1所在平面相互垂直。

承载装置3上设有旋转盘31,承载装置3设有驱动旋转盘31转动的电动机32,电动机32与旋转盘31通过平键连接。

圆弧轨1开设有轨迹为圆弧状的滑槽21,扫描探头4一端置于滑槽21内,另一端置于滑槽21外;滑槽21内设有挡件22,挡件22隔挡扫描探头4;滑槽21的截面为T形,由于滑槽21的小口端对扫描探头4进行滑槽宽度方向两侧的限制,减少了扫描探头4在花槽21上发生偏动的可能性,扫描探头4移动到的位置更加精准。激光定位装置7置于圆弧轨1外侧,激光定位装置7安装在扫描探头4,当定位结束后,激光定位装置7可以直接从扫描探头4上取下,也可以一直安装在扫描探头4上。

实施例2:近场天线测试系统,如图4所示,其与实施例1的不同之处在于,圆弧轨1为半圆状,圆弧轨1的开口朝向水平方向,其特点在于,由于横向开口位置没有圆弧轨1的隔挡,待测天线便于从横向的开口位置进行取与放。

实施例3:近场天线测试系统,如图5所示,其与实施例2的不同之处在于,圆弧轨1的开口竖向朝下开设;旋转盘31与支撑台的表面相同,该设计主要便于一些大型设备直接移动到旋转盘31上进行测试。

实施例4:近场天线测试系统,如图6所示,其与实施例1或2或3的不同之处在于,圆弧轨1为四分之一圆。

实施例5,近场天线测试系统,如图6所示,其与上述实施例不同之处在于,圆弧轨1上安装的探头为两个分别是发射探头52与接收探头51,发射探头52与接收探头51分别用于发射雷达波信号与接收雷达波信号,该两个探头为一组进行接收与发射波段,充当一个雷达的作用,可用于检测被测天线的RCS性能。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

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