本实用新型涉及元器件测试设备领域，特别是一种DC-DC模块测试夹具。
背景技术：
目前，在使用现有的DC-DC模块测试设备对特殊封装DC-DC模块进行常温测试时，无法通过插座或连接线直接连接的方式实现测试，
需要制作专用夹具来实现测试设备与被测试DC-DC模块的连接。不同的测试夹具设计方式，对测试效率和测试结果的准确性均有较大影响，
不良的夹具设计甚至会造成整个测试过程效率低下以及测试结果的不准确。因此，目前急需一种测试精度高，使用广泛的DC-DC模块测试夹具。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种适用性广、结构简单、操作方便的DC-DC模块测试夹具。
实现本实用新型目的的技术解决方案为：一种DC-DC模块测试夹具，包括测试母夹具、连接器、测试子板和压紧机构，所述测试母夹具上表面设置有放置测试子板的凹槽，所述凹槽内部四周设置有若干个用于与测试子板连接的弹簧针，所述弹簧针通过导线连接至所述连接器，所述连接器用于与电源模块测试系统相连；所述凹槽内部四角设置有四个定位栓，与所述测试子板四角定位孔连接，进行测试子板定位；所述测试子板为通用PCB板和专用DC-DC锁紧座的组合，所述通用PCB板底部四周设置有若干个覆铜连接点，与所述弹簧针连接，所述专用DC-DC测试座是根据被测DC-DC模块封装形式选配的 IC锁紧座，并根据被测DC-DC模块引脚定义在IC锁紧座与通用PCB板上覆铜点之间进行布线；所述压紧机构设置在所述操作台凹槽的四角，通过弹簧提供压力并可旋转；使用时，将测试子板放置在所述凹槽内，旋转压紧机构，压住测试子板的四角，便可实现测试子板与测试母夹具的连接，将被测DC-DC模块安装在IC锁紧座上，即可方便的完成测试。
本实用新型与现有技术相比，其显著优点为：本实用新型提供的DC-DC模块测试夹具，克服了特殊封装DC-DC模块无法通过插座或连接线直接连接的方式实现测试的不足，采用专用测试座、通用PCB板和弹簧针连接的方式，即实现了测试装置稳定、可靠的连接，保证了测试精度，又为多封装形式DC-DC模块测试夹具开发提供了便利。
附图说明
图1为本实用新型实施例的DC-DC模块测试夹具结构左视图。
图2为本实用新型实施例的DC-DC模块测试夹具结构主视图。
图3为本实用新型实施例的DC-DC模块测试夹具结构右视图。
图4为本实用新型实施例的DC-DC模块测试夹具结构后视图。
图5为本实用新型实施例的DC-DC模块测试夹具结构前视图。
图6为通用测试子板结构示意图，图(a)为反视图，图(b)为正视图。
具体实施方式
结合附图，本实用新型的一种DC-DC模块测试夹具，包括测试母夹具1、连接器2、测试子板5和压紧机构7，所述测试母夹具上表面设置用于放置测试子板5的凹槽，所述凹槽内部四周设置有若干个用于与测试子板连接的弹簧针4，所述弹簧针4通过导线连接至连接器2，所述连接器位于测试母夹具1的一侧，用于与电源模块测试系统相连；测试子板5位于凹槽中。
所述测试子板5包括通用PCB板和专用DC-DC锁紧座6，所述通用PCB板底部四周设置有若干个覆铜连接点，用于与对应的弹簧针4连接；所述专用DC-DC测试座6的IC 锁紧座与被测DC-DC模块封装形式相对应。
所述两个覆铜点与被测模块的一个引脚连接。
所述测试母夹具1凹槽内部四角分别设置有四个定位栓3，用于与所述测试子板5 的四角定位孔连接，进行测试子板定位。
所述压紧机构7设置在所述操作台凹槽的四角，通过弹簧提供压力并可旋转，用于对测试子板5进行压紧。
所述夹具整体位于测试箱内，测试箱上设置把手。
所述测试子板为通用PCB板和专用DC-DC测试座的组合，所述通用PCB板底部四周设置有若干个覆铜连接点，与所述弹簧针连接，所述专用DC-DC测试座是根据被测DC-DC 封装形式选配的IC锁紧座，并根据被测DC-DC模块引脚定义在IC锁紧座与通用PCB板上覆铜点之间进行布线，两个所述覆铜点与被测模块的一个引脚连接。
使用时，将测试子板放置在所述凹槽内，旋转压紧机构，压住测试子板的四角，便可实现测试子板与测试母夹具的连接。
本实用新型的DC-DC模块测试夹具适用性广、结构简单、操作方便。
下面结合实施例对本实用新型做进一步详细的描述。
实施例
如图1-图6所示，本实施例提供的一种DC-DC模块测试夹具，包括测试母夹具、连接器、测试子板和压紧机构，所述测试母夹具上表面设置有放置测试子板的凹槽，所述凹槽内部四周设置有若干个用于与测试子板连接的弹簧针，所述弹簧针通过导线连接至所述连接器，所述连接器用于与电源模块测试系统相连；所述凹槽内部四角设置有四个定位栓，与所述测试子板四角定位孔连接，进行测试子板定位；所述测试子板为通用PCB 板和专用DC-DC锁紧座的组合，所述通用PCB板底部四周设置有若干个覆铜连接点，与所述弹簧针连接，所述专用DC-DC测试座是根据被测DC-DC模块封装形式选配的IC锁紧座，并根据被测DC-DC模块引脚定义在IC锁紧座与通用PCB板上覆铜点之间进行布线；所述压紧机构设置在所述操作台凹槽的四角，通过弹簧提供压力并可旋转；使用时，将测试子板放置在所述凹槽内，旋转压紧机构，压住测试子板的四角，便可实现测试子板与测试母夹具的连接。
将被测DC-DC模块安装在IC锁紧座上，被测试DC-DC模块的引脚便通过测试子板、弹簧针、测试母夹具连接器实现了与测试系统的良好，将测试系统的硬件资源作用于被测试模块，完成测试过程。
参考图1-图5，为本实施例的DC-DC模块测试夹具结构示意图。
本实施例中，为了操作的方便，本实用新型实施例所述连接器2放置在所述测试母夹具1的侧面。所述连接器为通用标准连接器，能够通过其连接至各种常用的DC-DC 模块测试系统。
本实施例中，测试子板5通过定位栓3放置在测试母夹具1的凹槽内，凹槽大小与测试子板外尺寸大致相同；测试子板5底部覆铜连接点与凹槽内弹簧针4接触；向下压测试子板，旋转压紧机构7，压住测试子板四角，将测试子板与弹簧针压紧，使测试子板与弹簧针良好接触；将被测DC-DC模块安装在测试座6上，即完成被试DC-DC的固定。测试完成后，取下被试模块，打开压紧机构7，即可取下测试子板。
由上可知，本实施例中，测试母夹具实现了测试系统硬件资源转接功能，将测试系统硬件资源连接至弹簧针4；测试子夹具5的PCB板为通用PCB板，在实际使用时可根据被试DC-DC模块封装形式，配置不同的测试座6，为测试夹具的开发提供了便利。本实用新型采用专用测试座、通用PCB板和弹簧针连接的方式，实现了测试装置稳定、可靠的连接，保证了测试精度。