本发明涉及检测技术领域,尤其涉及半导体和平板显示检测技术。
背景技术:
对于柔性显示产业,产品在其弯曲情况下的电学,光学性能测试要求日益苛刻,比如oled发光屏在特定弯折的情况下使用探针台做分析测试,现有的手段多为手动弯折,简单固定,不仅会由于测量条件不精确,导致弯曲参数相关结论误差较大,而且会使得待测样品的关键表面受到刮伤,面临过大应力的缺点,无法满足精密的测试需要。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种柔性显示材料在特定弯曲条件下的性能测试夹具,该夹具可以按具体实验要求使待测样品处于特定的曲率半径和包角,且包角连续可调,同时可以搭配探针台等其他精密电学测量设备做电学分析使用,也可以搭配显微镜等其他光学设备使用,填补了业界的空缺。
技术实现要素:
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案
针对待测样品不同曲率半径的测试要求,定制出多件相同高度,顶部曲率半径不同的目标曲率半径模型(图1中1),以满足测试对于不同曲率半径方面的测试要求;
针对待测样品不同包角的测试要求,使用可精密控制垂直位移的z轴位移装置(图1中2),控制可滚动压棍(图1中3)的下压量,利用样品本身的弹性,对包角做连续调节,满足测试需要;
可滚动压棍与样品接触的部分覆有高摩擦力的绝缘层,在确保样品贴合度的情况下不刮伤样品表面,同时保证电绝缘;
可滚动压棍由轴承(图1中4)保证能自由滚动;
轴承由轴承架(图1中5)固定,为配合不同目标曲率半径模型顶部的宽度,针对每件目标曲率半径模型,都配有一组相应的轴承架;
轴承架和z轴位移装置由转接架(图1中6)组成刚性连接;
z轴位移装置和目标曲率半径模型固定于底板(图1中7)上。
优选的,上述性能测试夹具中,所述轴承使用滚动轴承。
优选的,所述z轴位移装置使用由精密微分头驱动的基于交叉导轨的手动位移台。
优选的,所述转接架设计有安装限位槽,用于保证更换轴承架时安装角度与安装位置正确。
优选的,所述底板上设计有安装限位槽,用于保证更换目标曲率半径模型时安装的角度与位置正确,底板上还有另一安装限位槽,用于保证安装z轴位移装置的安装角度与位置正确。
优选的,目标曲率半径模型表面精抛光处理。
附图说明
图1一种柔性显示材料在特定弯曲条件下的性能测试夹具结构图
1、目标曲率半径模型;2、z轴位移装置;3、可滚动压棍;4、轴承;5、轴承架;6、转接架;7、底板。
具体实施方式
实施例1
该实施例为搭配探针台使用,做不同曲率半径,不同包角情况下面板有效工作区域内单个tft逐点解析;
首先将转接架,z轴位移装置和底板互相固定好,该实施例中,z轴位移装置使用由精密微分头驱动的基于交叉导轨的手动位移台;选定合适的目标曲率半径模型,靠着安装限位槽固定于底板上,选取配套的轴承架,每套轴承架都已经预先装好了轴承和可滚动压棍,将轴承架靠着安装限位槽固定到转接架上,完成测试前的装配;
将z轴位移装置调至较高位置,再手动将样品插到两个可滚动压棍和目标曲率模型顶部之间,大致对准需要测试的部位,根据需要的包角大小计算出压棍需要下压的位移量,使用z轴位移装置精确地将压棍下压到合适位置,完成样品的最初装夹,下压过程中可滚动压棍会随着下压不断滚动避免摩擦刮伤样品;
抬起探针台的显微镜,将装夹了待测样品的柔性显示材料在特定弯曲条件下的性能测试夹具整体放到探针台上,降下显微镜,对焦并观察样品位置是否合适,手动移动样品完成最终装夹的调整;
使用探针台进行面板数据分析,得到测试结果;
继续调整z轴位移装置,改变待测样品包角,使用探针台测出其他多组数据;
测试完成后抬起显微镜,整体取出装夹了待测样品的柔性显示材料在特定弯曲条件下的性能测试夹具,将z轴位移装置调至较高位置,取出待测样品;
拆下目标曲率半径模型以及装配了轴承和可滚动压棍的轴承架后,成套更换其他曲率半径尺寸要求的目标曲率半径模型以及装配了轴承和可滚动压棍的轴承架,即可继续测量其他曲率半径下的数据,完成测试。
实施例2
该实施例为连续调节柔性面板包角测试其弯曲失效极限的分析
首先将转接架,z轴位移装置和底板互相固定好,该实施例中,z轴位移装置使用由精密微分头驱动的基于交叉导轨的手动位移台。选定合适的目标曲率半径模型,靠着安装限位槽固定于底板上,选取配套的轴承架,每套轴承架都已经预先装好了轴承和可滚动压棍,将轴承架靠着安装限位槽固定到转接架上,完成测试前的装配;
将z轴位移装置调至较高位置,再手动将样品插到两个可滚动压棍和目标曲率模型顶部之间,使样品在重力和弹力的作用下自然弯曲,大致对准需要测试的部位,使用z轴位移装置精确地将压棍下压,使之刚好压到样品且不对待测样品施加压力,完成样品的最初装夹;
点亮样品,根据实验要求用相关仪器实时监测柔性面板的发光表现,连续下调z轴位移装置,逐渐增大包角,实时监测相关数据;
继续增大包角,直至数据突变,样品失效,记下下压刻度,算出包角,记录数据;
上调z轴位移装置,取出原先样品并换上同批次其他样品,重复实验测出多组结果,完成测试。
以上公开的仅为本发明的几个具体实施例,但是本发明并非局限于此,
任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。