一种电芯自动扫码测试装置的制作方法

本发明涉及电芯分选领域，特别涉及一种电芯自动扫码测试装置。

背景技术：

锂电芯是目前国内主要使用的一种电芯，它被广泛运用在笔记本电脑、移动电源、电动自行车、电动摩托车、电动汽车、太阳能储能电源、风能储能电源、基站储能电源等领域中。在将电芯组装成模组的过程中，都需要对电芯进行扫码和测试，但现有技术在对电芯进行扫码和测试的过程中，都需要进行停顿，而无法实现不间断的连续进行扫码和测试，整体效率极低。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题，在于提供一种电芯自动扫码测试装置，通过该装置来实现对电芯的连续不间断扫码和测试，可极大的提高扫码和测试效率。

本发明是这样实现的：一种电芯自动扫码测试装置，包括一电芯进料机构、一电芯扫描枪机构、一扫码转盘机构、一行星轮驱动机构、一衔接机构、一固定座以及一电芯测试机构；

所述电芯进料机构设置在所述固定座的一端，所述扫码转盘机构设置在所述电芯进料机构的前端，且通过所述电芯进料机构将电芯输送给所述扫码转盘机构，并由所述扫码转盘机构带动各个电芯进行公转；所述行星轮驱动机构设置在所述扫码转盘机构的旁侧，且通过所述行星轮驱动机构驱动各个电芯进行自转；所述电芯扫描枪机构设置在所述扫码转盘机构的上方，且通过所述电芯扫描枪机构扫描所述扫码转盘机构上的电芯；

所述衔接机构设置在所述扫码转盘机构的前端，所述电芯测试机构设置在所述衔接机构的前端，且通过所述衔接机构将扫描后的电芯从所述扫码转盘机构输送到所述电芯测试机构中进行测试。

进一步地，所述固定座包括一底座以及一竖直立板，所述竖直立板立设于所述底座上，所述电芯进料机构、扫码转盘机构、衔接机构以及电芯测试机构均设置在所述竖直立板上，并通过所述扫码转盘机构联动所述电芯进料机构、衔接机构以及电芯测试机构运作；所述电芯扫描枪机构和行星轮驱动机构均固定在所述底座上。

进一步地，所述扫码转盘机构包括一主驱动齿轮盘、一驱动电机、一电芯扫码转动盘、一扫码转盘驱动轴以及一第一电芯保护壳体；所述扫码转盘驱动轴的中部通过一第一轴承座固定在所述竖直立板上，所述主驱动齿轮盘固定在所述扫码转盘驱动轴的一端，所述电芯扫码转动盘固定在所述扫码转盘驱动轴的另一端；所述驱动电机固定在所述底座上，且所述驱动电机通过一第一皮带驱动所述扫码转盘驱动轴旋转，并进而通过所述扫码转盘驱动轴带动所述主驱动齿轮盘和电芯扫码转动盘旋转；

所述电芯扫码转动盘的两侧端面上各设置有一第一电芯挡板，且在两所述第一电芯挡板之间形成一第一电芯输送凹槽，所述第一电芯输送凹槽内轴向环设有复数个第一电芯放置槽；所述第一电芯保护壳体套设在所述第一电芯输送凹槽上，该第一电芯保护壳体的外表面通过若干块第一固定块固定在所述竖直立板上；所述第一电芯保护壳体的顶部设置有一扫码开孔，所述第一电芯保护壳体的前端设置有一与所述衔接机构衔接的电芯出口，后端设置有一与所述电芯进料机构衔接的电芯扫码进口；

设在所述电芯扫码转动盘外侧的所述第一电芯挡板在对应每所述第一电芯放置槽的位置处均设置有一行星齿轮机构，且每所述行星齿轮机构均驱动一个电芯进行旋转。

进一步地，每所述行星齿轮机构均包括一行星齿轮、一磁铁块以及一驱动轴；所述驱动轴的中部通过一滚珠轴承固定在外侧的所述第一电芯挡板上；所述磁铁块固定在所述驱动轴的一端，所述行星齿轮固定在所述驱动轴的另一端，且使所述磁铁块位于靠近所述第一电芯放置槽的一端，使所述行星齿轮位于远离所述第一电芯放置槽的一端。

进一步地，所述电芯进料机构包括一支撑架、一电芯进料滚道、一电芯缓冲转盘、一进料驱动轴以及一进料齿轮盘；所述支撑架固定在所述底座上，所述电芯进料滚道倾斜设置在所述支撑架的顶部；所述电芯缓冲转盘设置在所述电芯进料滚道的前端，该电芯缓冲转盘上轴向环设有复数个第二电芯放置槽；所述电芯进料滚道在靠近所述电芯缓冲转盘一端的底部设置有一电芯让位机构；

所述进料驱动轴通过一第二轴承座固定在所述竖直立板上，所述进料齿轮盘固定在所述进料驱动轴的一端，且使所述进料齿轮盘与所述主驱动齿轮盘相啮合，以通过所述主驱动齿轮盘联动所述进料齿轮盘旋转，所述电芯缓冲转盘固定在所述进料驱动轴的另一端，且通过所述进料驱动轴带动所述电芯缓冲转盘进行旋转输送电芯；

所述电芯让位机构包括一让位弹片以及一伸缩杆；所述让位弹片可向下按压的设于所述电芯进料滚道的底部，所述支撑架上设置有一让位通孔；所述伸缩杆的一端与所述让位弹片相连接，另一端穿过所述让位通孔并锁付在所述支撑架上。

进一步地，所述电芯扫描枪机构包括一扫描枪、一立杆、一第一调节杆、一第一调节连接块、一第二调节杆以及一第二调节连接块；所述第一调节连接块的垂直纸面向内端设置有一内抱箍，垂直纸面向外端设置有一外抱箍；所述第二调节连接块的上端设置有一上抱箍，下端设置有一下抱箍；所述立杆竖直立设于所述底座上，且该立杆的顶部通过所述内抱箍抱紧；所述扫描枪固定在所述第二调节杆的一端，且使所述扫描枪处于所述扫码开孔的正上方，所述第二调节杆的另一端通过所述上抱箍抱紧；所述第一调节杆的一端通过所述下抱箍抱紧，另一端通过所述外抱箍抱紧。

进一步地，所述行星轮驱动机构包括一行星齿轮驱动电机、一行星齿轮驱动圆盘、一行星轮固定座以及一行星齿轮驱动轴；所述行星轮固定座固设于所述底座上，所述行星齿轮驱动轴的中部通过一第三轴承座固定在所述行星轮固定座上；所述行星齿轮驱动电机固设于所述底座上，且该行星齿轮驱动电机通过一第二皮带驱动所述行星齿轮驱动轴旋转；所述行星齿轮驱动圆盘固定在所述行星齿轮驱动轴的端部，且使所述行星齿轮驱动圆盘与所述行星齿轮机构相啮合，以通过所述行星齿轮驱动圆盘联动所述行星齿轮机构旋转。

进一步地，所述衔接机构包括一衔接转盘、一转盘保护壳体、一衔接转盘驱动轴以及一衔接转盘驱动齿轮；所述衔接转盘上轴向环设有复数个第三电芯放置槽；所述衔接转盘驱动轴的中部通过一第四轴承座固定在所述竖直立板上；所述衔接转盘驱动齿轮固定在所述衔接转盘驱动轴的一端，且使所述衔接转盘驱动齿轮与所述主驱动齿轮盘相啮合，以通过所述主驱动齿轮盘联动所述衔接转盘驱动齿轮旋转；所述转盘保护壳体的底部固定在所述底座上，所述衔接转盘置于所述转盘保护壳体内，且该衔接转盘与所述衔接转盘驱动轴的另一端固定连接。

进一步地，所述电芯测试机构包括一电芯测试转盘、一测试驱动齿轮盘、一测试盘驱动轴、一探针伸缩机构、一第二电芯保护壳体、一凸轮座、一凸轮块以及一出线滑环；所述测试盘驱动轴的中部通过一第五轴承座固定在所述竖直立板上；所述测试驱动齿轮盘固定在所述测试盘驱动轴的一端，且使所述测试驱动齿轮盘与所述衔接转盘驱动齿轮相啮合，以通过所述衔接转盘驱动齿轮带动所述测试驱动齿轮盘旋转，所述电芯测试转盘固定在所述测试盘驱动轴的另一端；

所述电芯测试转盘在内侧的端面上设置有一第一测试电路板，在外侧的端面上设置有第二电芯挡板，且在所述第一测试电路板与所述第二电芯挡板之间形成一第二电芯输送凹槽，所述第二电芯输送凹槽内轴向环设有复数个第四电芯放置槽，所述第二电芯保护壳体套设在所述第二电芯输送凹槽上，该第二电芯保护壳体的外表面通过若干块第二固定块固定在所述竖直立板上；所述第二电芯保护壳体的前端设置有一电芯出料滚道，后端设置有一与所述衔接机构衔接的电芯测试进口；

所述第二电芯挡板在对应每所述第四电芯放置槽的位置处均设置有一测试通孔，所述第二电芯挡板的外侧设置有一第二测试电路板；所述第二测试电路板上在对应每所述测试通孔的位置处均设置有一探针伸缩机构；所述凸轮座固定在所述底座上，所述凸轮块设置在所述凸轮座上，且通过所述凸轮块按压所述探针伸缩机构以实现电芯的测试；

所述第二测试电路板在对应每所述探针伸缩机构的位置处均设置有一接线端子；所述出线滑环的固定端固定在所述凸轮座上，旋转端与所述接线端子相连接。

进一步地，所述探针伸缩机构包括一万向滚球、一压缩弹簧、一导柱、一直线导轨以及一探针固定块以及一测试探针；所述直线导轨固定在所述第二测试电路板上；所述导柱的一端与所述万向滚球相连接，另一端穿过所述直线导轨与所述探针固定块相连接；所述压缩弹簧的一端与所述万向滚球相连接，另一端与所述直线导轨相连接；所述测试探针固定在所述探针固定块上，且使所述测试探针与所述测试通孔对准。

本发明具有如下优点：1、在对电芯进行扫码时，可在扫描枪的视野范围内，通过自转以及公转的的不停顿状态来实现对电芯的快速扫码操作，并且可通过调整公转和自转的速度来实现将扫码效率提升到最佳状态；2、在完成电芯的扫码操作后，可通过衔接机构将电芯顺畅、不间断的输送给电芯测试机构进行测试，可节省以往需要停顿的时间，以提升扫码和测试效率；3、在对电芯进行测试时，可通过凸轮块自动触发探针伸缩机构对电芯进行测试，可真正实现全自动化测试，有助于大大提高测试的效率。

附图说明

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。

图1是本发明一种电芯自动扫码测试装置的正面的立体图。

图2是本发明一种电芯自动扫码测试装置的背面的立体图。

图3是本发明中电芯进料机构的结构示意图。

图4是本发明中电芯让位机构的结构示意图。

图5是本发明中电芯扫描枪机构的结构示意图。

图6是本发明中扫码转盘机构的整体结构示意图。

图7是本发明中扫码转盘机构(除去第一电芯保护壳体)的侧面结构示意图。

图8是本发明中行星齿轮机构的结构示意图。

图9是本发明中行星轮驱动机构的结构示意图。

图10是本发明中衔接机构的结构示意图。

图11是本发明中电芯测试机构的整体结构示意图。

图12是本发明中电芯测试机构(除去第二电芯保护壳体)的侧面结构示意图。

图13是本发明中电芯测试机构(除去第二电芯保护壳体)的正面结构示意图。

图14是本发明中探针伸缩机构的机构示意图。

附图标记说明：

100-扫码测试装置，1-电芯进料机构，2-电芯扫描枪机构，3-扫码转盘机构，4-行星轮驱动机构，5-衔接机构，6-固定座，7-电芯测试机构，11-支撑架，111-让位通孔，12-电芯进料滚道，13-电芯缓冲转盘，131-第二电芯放置槽，14-进料驱动轴，15-进料齿轮盘，16-电芯让位机构，161-让位弹片，162-伸缩杆，17-第二轴承座，21-扫描枪，22-立杆，23-第一调节杆，24-第一调节连接块，241-内抱箍，242-外抱箍，25-第二调节杆，26-第二调节连接块，261-上抱箍，262-下抱箍，31-主驱动齿轮盘，32-驱动电机，33-电芯扫码转动盘，331-第一电芯挡板，332-第一电芯输送凹槽，333-第一电芯放置槽，34-扫码转盘驱动轴，35-第一电芯保护壳体，351-第一固定块，352-扫码开孔，353-电芯出口，354-电芯扫码进口，36-第一轴承座，37-第一皮带，38-行星齿轮机构，381-行星齿轮，382-磁铁块，383-驱动轴，384-滚珠轴承，41-行星齿轮驱动电机，42-行星齿轮驱动圆盘，43-行星轮固定座，44-行星齿轮驱动轴，45-第三轴承座，46-第二皮带，51-衔接转盘，511-第三电芯放置槽，52-转盘保护壳体，53-衔接转盘驱动轴，54-衔接转盘驱动齿轮，55-第四轴承座，61-底座，62-竖直立板，71-电芯测试转盘，711-第一测试电路板，712-第二电芯挡板，713-第二电芯输送凹槽，714-第四电芯放置槽，715-测试通孔，716-第二测试电路板，717-接线端子，72-测试驱动齿轮盘，73-测试盘驱动轴，74-探针伸缩机构，741-万向滚球，742-压缩弹簧，743-导柱，744-直线导轨，745-探针固定块，746-测试探针，75-第二电芯保护壳体，751-第二固定块，752-电芯出料滚道，76-凸轮座，77-凸轮块，78-出线滑环，79-第五轴承座。

具体实施方式

请参照图1至图14所示，本发明一种电芯自动扫码测试装置100的较佳实施例，所述扫码测试装置100包括一电芯进料机构1、一电芯扫描枪机构2、一扫码转盘机构3、一行星轮驱动机构4、一衔接机构5、一固定座6以及一电芯测试机构7；

所述电芯进料机构1设置在所述固定座6的一端，所述扫码转盘机构3设置在所述电芯进料机构1的前端，且通过所述电芯进料机构1将电芯输送给所述扫码转盘机构3，并由所述扫码转盘机构3带动各个电芯进行公转，以带动各个电芯经过扫码区域；所述行星轮驱动机构4设置在所述扫码转盘机构3的旁侧，且通过所述行星轮驱动机构4驱动各个电芯进行自转，以方便完成对各个电芯的扫码工作；所述电芯扫描枪机构2设置在所述扫码转盘机构3的上方，且通过所述电芯扫描枪机构2扫描所述扫码转盘机构3上的电芯；

所述衔接机构5设置在所述扫码转盘机构3的前端，所述电芯测试机构7设置在所述衔接机构5的前端，且通过所述衔接机构5将扫描后的电芯从所述扫码转盘机构3输送到所述电芯测试机构7中进行测试。

由上可知，本发明扫码测试装置100在对电芯进行扫码时，可在电芯扫描枪机构2的视野范围内，通过自转以及公转的的不停顿状态来实现对电芯的快速扫码(具体可通过调整自转和公转的速度来实现将扫码效率调节到最佳状态)；同时，可通过衔接机构5来实现将扫码后的电芯不间断的输送给电芯测试机构7进行测试；在对电芯进行测试时，电芯测试机构7可触发自动对电芯进行测试，因此，本发明扫码测试装置100可真正实现电芯的全自动化扫码测试，可极大的提高电芯的扫码测试效率。

其中，

请重点参照图1和图2所示，所述固定座6包括一底座61以及一竖直立板62，所述竖直立板62立设于所述底座61上，所述电芯进料机构1、扫码转盘机构3、衔接机构5以及电芯测试机构7均设置在所述竖直立板62上，并通过所述扫码转盘机构3联动所述电芯进料机构1、衔接机构5以及电芯测试机构7运作，即使扫码转盘机构3、电芯进料机构1、衔接机构5以及电芯测试机构7同步运作起来；所述电芯扫描枪机构2和行星轮驱动机构4均固定在所述底座61上。

请重点参照图6和图7所示，所述扫码转盘机构3包括一主驱动齿轮盘31、一驱动电机32、一电芯扫码转动盘33、一扫码转盘驱动轴34以及一第一电芯保护壳体35；所述扫码转盘驱动轴34的中部通过一第一轴承座36(包含座和轴承)固定在所述竖直立板62上，所述主驱动齿轮盘31固定在所述扫码转盘驱动轴34的一端，所述电芯扫码转动盘33固定在所述扫码转盘驱动轴34的另一端；所述驱动电机32固定在所述底座61上，且所述驱动电机32通过一第一皮带37驱动所述扫码转盘驱动轴34旋转，并进而通过所述扫码转盘驱动轴34带动所述主驱动齿轮盘31和电芯扫码转动盘33旋转，此时电芯扫码转动盘33会带动各个电芯进行公转；

所述电芯扫码转动盘33的两侧端面上各设置有一第一电芯挡板331，且在两所述第一电芯挡板331之间形成一第一电芯输送凹槽332，所述第一电芯输送凹槽332内轴向环设有复数个第一电芯放置槽333，在具体实施时，相邻两个第一电芯放置槽333之间的间距都是相等；所述第一电芯保护壳体35套设在所述第一电芯输送凹槽332上，该第一电芯保护壳体35可以保证在电芯扫码转动盘33带动电芯旋转时，电芯不会从第一电芯放置槽333掉落，该第一电芯保护壳体35的外表面通过若干块第一固定块351固定在所述竖直立板62上，这样就可以确保不会影响到电芯扫码转动盘33的正常旋转；所述第一电芯保护壳体35的顶部设置有一扫码开孔352，该扫码开孔352用于电芯扫描枪机构2对电芯的扫码，所述第一电芯保护壳体35的前端设置有一与所述衔接机构5衔接的电芯出口353，该电芯出口353用于将扫码后的电芯从电芯扫码转动盘33输送出去，后端设置有一与所述电芯进料机构1衔接的电芯扫码进口354，该电芯扫码进口354用于将电芯输入到电芯扫码转动盘33中；

设在所述电芯扫码转动盘33外侧的所述第一电芯挡板331在对应每所述第一电芯放置槽333的位置处均设置有一行星齿轮机构38，且每所述行星齿轮机构38均驱动一个电芯进行旋转，即通过行星齿轮机构38驱动各个电芯进行自转。

请重点参照图8所示，每所述行星齿轮机构38均包括一行星齿轮381、一磁铁块382以及一驱动轴383；所述驱动轴383的中部通过一滚珠轴承384固定在外侧的所述第一电芯挡板331上；所述磁铁块382固定在所述驱动轴383的一端，所述行星齿轮381固定在所述驱动轴383的另一端，且使所述磁铁块382位于靠近所述第一电芯放置槽333的一端，使所述行星齿轮381位于远离所述第一电芯放置槽333的一端，这样在工作时，可以利用磁铁块382将电芯吸住，并通过行星齿轮381的转动来带动电芯进行自转。

请重点参照图3所示，所述电芯进料机构1包括一支撑架11、一电芯进料滚道12、一电芯缓冲转盘13、一进料驱动轴14以及一进料齿轮盘15；所述支撑架11固定在所述底座61上，所述电芯进料滚道12倾斜设置在所述支撑架11的顶部，通过将电芯进料滚道12倾斜设置在支撑架11上，可确保电芯可以自动滚下来；所述电芯缓冲转盘13设置在所述电芯进料滚道12的前端，该电芯缓冲转盘13上轴向环设有复数个第二电芯放置槽131，在具体设置时，相邻两个第二电芯放置槽131之间的间距都是相等的；所述电芯进料滚道12在靠近所述电芯缓冲转盘13一端的底部设置有一电芯让位机构16，该电芯让位机构16可以确保各个电芯都可以准确落入到第二电芯放置槽131中；

所述进料驱动轴14通过一第二轴承座17(包括座和轴承)固定在所述竖直立板62上，所述进料齿轮盘15固定在所述进料驱动轴14的一端，且使所述进料齿轮盘15与所述主驱动齿轮盘31相啮合，以通过所述主驱动齿轮盘31联动所述进料齿轮盘15旋转，所述电芯缓冲转盘13固定在所述进料驱动轴14的另一端，且通过所述进料驱动轴14带动所述电芯缓冲转盘13进行旋转输送电芯；

请重点参照图4所示，所述电芯让位机构16包括一让位弹片161以及一伸缩杆162；所述让位弹片161可向下按压的设于所述电芯进料滚道12的底部，所述支撑架11上设置有一让位通孔111；所述伸缩杆162的一端与所述让位弹片161相连接，另一端穿过所述让位通孔111并锁付在所述支撑架11上。在工作过程中，当电芯滚下来没有进入到第二电芯放置槽131时，即电芯落到了电芯进料滚道12与电芯缓冲转盘13之间的位置时，电芯缓冲转盘13在旋转的过程中就会将让位弹片161往下压，从而使电芯可以落入到第二电芯放置槽131中。

请重点参照图5所示，所述电芯扫描枪机构2包括一扫描枪21、一立杆22、一第一调节杆23、一第一调节连接块24、一第二调节杆25以及一第二调节连接块26；所述第一调节连接块24的垂直纸面向内端设置有一内抱箍241，垂直纸面向外端设置有一外抱箍242；所述第二调节连接块26的上端设置有一上抱箍261，下端设置有一下抱箍262；所述立杆22竖直立设于所述底座61上，且该立杆22的顶部通过所述内抱箍241抱紧；所述扫描枪21固定在所述第二调节杆25的一端，且使所述扫描枪21处于所述扫码开孔352的正上方，所述第二调节杆25的另一端通过所述上抱箍261抱紧；所述第一调节杆23的一端通过所述下抱箍262抱紧，另一端通过所述外抱箍242抱紧。在具体工作时，可以通过设置的上抱箍261、下抱箍262、内抱箍241或外抱箍242来调节扫描枪的位置，以确保可以对电芯进行精确的扫码。

请重点参照图9所示，所述行星轮驱动机构4包括一行星齿轮驱动电机41、一行星齿轮驱动圆盘42、一行星轮固定座43以及一行星齿轮驱动轴44；所述行星轮固定座43固设于所述底座61上，所述行星齿轮驱动轴44的中部通过一第三轴承座45(包括座和轴承)固定在所述行星轮固定座43上；所述行星齿轮驱动电机41固设于所述底座61上，且该行星齿轮驱动电机41通过一第二皮带46驱动所述行星齿轮驱动轴44旋转；所述行星齿轮驱动圆盘42固定在所述行星齿轮驱动轴44的端部，且使所述行星齿轮驱动圆盘42与所述行星齿轮机构38相啮合(即与行星齿轮机构38上的各个行星齿轮381相啮合)，以通过所述行星齿轮驱动圆盘42联动所述行星齿轮机构38旋转，进而实现驱动电芯的自转。

请重点参照图10所示，所述衔接机构5包括一衔接转盘51、一转盘保护壳体52、一衔接转盘驱动轴53以及一衔接转盘驱动齿轮54；所述衔接转盘51上轴向环设有复数个第三电芯放置槽511；所述衔接转盘驱动轴53的中部通过一第四轴承座55(包括座和轴承)固定在所述竖直立板62上；所述衔接转盘驱动齿轮54固定在所述衔接转盘驱动轴53的一端，且使所述衔接转盘驱动齿轮54与所述主驱动齿轮盘31相啮合，以通过所述主驱动齿轮盘31联动所述衔接转盘驱动齿轮54旋转，从而实现电芯的不间断输送；所述转盘保护壳体52的底部固定在所述底座61上，所述衔接转盘51置于所述转盘保护壳体52内，且该衔接转盘51与所述衔接转盘驱动轴53的另一端固定连接。

请重点参照图11、12、13所示，所述电芯测试机构7包括一电芯测试转盘71、一测试驱动齿轮盘72、一测试盘驱动轴73、一探针伸缩机构74、一第二电芯保护壳体75、一凸轮座76、一凸轮块77以及一出线滑环78；所述测试盘驱动轴73的中部通过一第五轴承座79(包括座和轴承)固定在所述竖直立板62上；所述测试驱动齿轮盘72固定在所述测试盘驱动轴73的一端，且使所述测试驱动齿轮盘72与所述衔接转盘驱动齿轮54相啮合，以通过所述衔接转盘驱动齿轮54带动所述测试驱动齿轮盘72旋转，所述电芯测试转盘71固定在所述测试盘驱动轴73的另一端；

所述电芯测试转盘71在内侧的端面上设置有一第一测试电路板711，在外侧的端面上设置有第二电芯挡板712，且在所述第一测试电路板711与所述第二电芯挡板712之间形成一第二电芯输送凹槽713，所述第二电芯输送凹槽713内轴向环设有复数个第四电芯放置槽714，所述第二电芯保护壳体75套设在所述第二电芯输送凹槽713上，该第二电芯保护壳体75可以保证在电芯测试转盘71带动电芯旋转时，电芯不会从第四电芯放置槽714掉落，该第二电芯保护壳体75的外表面通过若干块第二固定块751固定在所述竖直立板62上，这样就可以确保不会影响到电芯测试转盘71的正常旋转；所述第二电芯保护壳体75的前端设置有一电芯出料滚道752，该电芯出料滚道752用于将测试完成的电芯输送出来，后端设置有一与所述衔接机构5衔接的电芯测试进口(未图示)，该电芯测试进口用于将电芯送入电芯测试转盘71中；

所述第二电芯挡板712在对应每所述第四电芯放置槽714的位置处均设置有一测试通孔715，所述第二电芯挡板712的外侧设置有一第二测试电路板716；所述第二测试电路板716上在对应每所述测试通孔715的位置处均设置有一探针伸缩机构74；所述凸轮座76固定在所述底座61上，所述凸轮块77设置在所述凸轮座76上，且通过所述凸轮块77按压所述探针伸缩机构74以实现电芯的测试；

所述第二测试电路板716在对应每所述探针伸缩机构74的位置处均设置有一接线端子717；所述出线滑环78的固定端固定在所述凸轮座76上，旋转端与所述接线端子717相连接，在具体实施时，可以先将各个接线端子717的同一电极的端子先串联起来，然后再与出线滑环78相连接。所述出线滑环78的实质相当于是水银滑环，其具体工作原理也与水银滑环相同，它就相当于是一个转接器，其中，出线滑环78的固定端固定在凸轮座76上，可以方便与外部线的连接，出线滑环78的旋转端与接线端子717实现旋转连接。

请重点参照图14所示，所述探针伸缩机构74包括一万向滚球741、一压缩弹簧742、一导柱743、一直线导轨744以及一探针固定块745以及一测试探针746；所述直线导轨744固定在所述第二测试电路板716上；所述导柱743的一端与所述万向滚球741相连接，另一端穿过所述直线导轨744与所述探针固定块745相连接；所述压缩弹簧742的一端与所述万向滚球741相连接，另一端与所述直线导轨744相连接；所述测试探针746固定在所述探针固定块745上，且使所述测试探针746与所述测试通孔715对准。在工作时，当电芯测试转盘71带动探针伸缩机构74经过凸轮块77的位置时，凸轮块77会将万向滚球741往内顶，并进而带动导柱743沿直线导轨744向内伸，此时测试探针746就会穿过测试通孔715与待测试的电芯接触，从而完成对电芯的测试；当探针伸缩机构74离开凸轮块77的位置时，导柱743在压缩弹簧742弹力的作用下会往外回位，并进而带动测试探针746往外缩回到测试通孔715的外部。

本发明的工作原理如下：

来料电芯通过倾斜设置的电芯进料滚道12向下滚入到电芯缓冲转盘13上的第二电芯放置槽131中；同时，启动驱动电机32开始工作，并通过第一皮带37驱动扫码转盘驱动轴34进行旋转，扫码转盘驱动轴34在转动的过程中，会带动主驱动齿轮盘31和电芯扫码转动盘33一起旋转起来，此时，主驱动齿轮盘31会带动与其相啮合的进料齿轮盘15旋转起来，进料齿轮盘15的旋转，又会带动进料驱动轴14和电芯缓冲转盘13旋转起来，从而实现将进入到第二电芯放置槽131中的电芯输送到电芯扫码转动盘33的第一电芯放置槽333中；

当电芯进入到第一电芯放置槽333后，就会跟随电芯扫码转动盘33一起公转起来，电芯公转的速度可通过调节驱动电机32的转速来进行控制；在电芯刚进入公转后，启动行星齿轮驱动电机41开始工作，并通过第二皮带46驱动行星齿轮驱动轴44进行旋转，行星齿轮驱动轴44在旋转的过程中，会带动行星齿轮驱动圆盘42联动各个行星齿轮机构38进行旋转，各个行星齿轮机构38在旋转的过程中，又会通过磁铁块382吸附住电芯且带动电芯进行自转，电芯自转的速度可通过调节行星齿轮驱动电机41的转速来进行控制，这样，当电芯经过顶部的扫码开孔352时，扫描枪21就可以对各个电芯进行准确的扫码；

扫码后的电芯会从电芯出口353出来并进入到衔接转盘51的第三电芯放置槽511中，由于主驱动齿轮盘31在旋转的过程中，会带动与其相啮合的衔接转盘驱动齿轮54一同旋转起来，而衔接转盘驱动齿轮54的旋转，又会带动衔接转盘驱动轴53和衔接转盘51一起旋转起来，从而实现将电芯不间断的输送到电芯测试转盘71的第四电芯放置槽714中；

电芯在进入第四电芯放置槽714后，由于测试驱动齿轮盘72与衔接转盘驱动齿轮54相啮合，因此，衔接转盘驱动齿轮54会带动测试驱动齿轮盘72进行旋转，并进而通过测试驱动齿轮盘72带动电芯进行公转；在测试驱动齿轮盘72旋转的过程中，当电芯测试转盘71上的探针伸缩机构74经过凸轮块77的位置时，凸轮块77会将万向滚球741往内顶，并进而带动导柱743沿直线导轨744向内伸，此时测试探针746就会穿过测试通孔715与待测试的电芯进行接触，以实现对电芯的测试；当探针伸缩机构74离开凸轮块77的位置时，导柱743在压缩弹簧742弹力的作用下会往外回位，并进而带动测试探针746往外缩回到测试通孔715的外部；测试完成的电芯则通过电芯出料滚道752输送出来。

总之，本发明具有如下优点：1、在对电芯进行扫码时，可在扫描枪的视野范围内，通过自转以及公转的的不停顿状态来实现对电芯的快速扫码操作，并且可通过调整公转和自转的速度来实现将扫码效率提升到最佳状态；2、在完成电芯的扫码操作后，可通过衔接机构将电芯顺畅、不间断的输送给电芯测试机构进行测试，可节省以往需要停顿的时间，以提升扫码和测试效率；3、在对电芯进行测试时，可通过凸轮块自动触发探针伸缩机构对电芯进行测试，可真正实现全自动化测试，有助于大大提高测试的效率。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本发明的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本发明的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本发明的权利要求所保护的范围内。