电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘与流程

本发明有关于一种检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘，尤指一种对在间歇性旋转流路内被搬送的电子元件进行检测的电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘。

背景技术：

习知电子元件如发光二极管(led)或被动元件等，在产出后通常会进行物理特性的检测，以进行分类与包装；专利号第i447060号「工件搬运装置」已揭露一种电子元件检测装置，具备有平台底座，和旋转自如配置在平台底座上且于外围部设有数个的工件收纳孔的搬运平台，及经由分离供应部连结于搬运平台，可将工件供应至搬运平台的工件收纳孔内的线性进料器；其中，线性进料器、分离供应部、工件收纳孔的上面由平台罩盖覆盖着；此外，于搬运平台的外围部，沿着间歇旋转方向依下述顺序设有第1检查部、第2检查部；工件具有长方体形状并于上面具有发光面的本体以及从本体朝长度方向的前方及后方突出作为电极的引线端子；搬运平台旋转搬运工件到达第1检查部，搬运平台就会停止，此时，于引线端子的正下方位置的平台底座内，设有垂直方向进退自如的探针，利用控制部的作用使探针朝引线端子前进，以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵接在第1检查部罩盖的下面的状态后就停止往上推，对工件的特性进行测定之后，探针就向下退出，并再继续使搬运平台间歇旋转搬运工件至第2检查部。

前述电子元件检测装置仅适用于检测具有平整发光面的电子元件，若电子元件的上面凸设有以透镜(lens)为主的发光部，当电子元件被探针往上推时，电子元件凸设的发光部无法与罩盖的下面贴平，造成电子元件的水平高度会歪斜不正，导致检测值有所偏差，且凸设的发光部亦容易因挤压产生破损；故专利号第i559989号「物品分类装置及其运转方法」另揭露一种电子元件检测装置，包括：零件给料器，对齐并供给led芯片；运送机构，自零件给料器接受led芯片，将其吸附固持并自供给位置通过检查位置朝排出位置运送；检查装置，沿运送机构运送路径设置，以检查位置检查led芯片的电性特性与光学特性；其中，led芯片的水平上表面上凸设有发光部，在检查中led芯片被探针往上推时，led芯片上表面凸设的发光部可移入固定位置的侧导件的镂孔中，使led芯片的上表面抵接在固定位置的侧导件的下表面，如此具有凸设的发光部的电子元件在收纳部内被探针往上推时，可维持在固定的水平高度且凸设的发光部亦不易产生破损。

技术实现要素：

习知第i447060号专利在检测具有凸出发光部的电子元件时，无法得到精确的检测值且电子元件的发光部容易产生破损进而影响检测进行；习知第i559989号专利虽可对具有凸出发光部的电子元件进行检测，但如led发光二极管的电子元件在制造过程中皆会有些许黏胶残留，在检查中电子元件被上推抵接于侧导件时，电子元件容易沾黏于侧导件上，导致电子元件一部分在侧导件的镂孔中，另一部分在运送机构的收纳部内，使电子元件在检查后转送至下一站时，因侧导件是保持在固定位置，而运送机构是相对于侧导件位移，故造成电子元件产生破损进而影响检测进行；故如何有效地对电子元件进行检测成为有待研究的课题。

因此，本发明的目的在于提供一种可有效地对电子元件进行检测的电子元件检测方法。

本发明的另一目的在于提供一种使用本发明目的所提供的电子元件检测方法的电子元件检测装置。

本发明的又一目的在于提供一种可有效地对电子元件进行检测的电子元件检测装置。

本发明的又再一目的在于提供一种使用本发明目的所提供的电子元件检测方法的载盘。

依据本发明目的的电子元件检测方法，包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内，并停留在该待测元件上方的位置；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。

依据本发明另一目的的电子元件检测装置，包括用以执行所述电子元件检测方法的装置。

依据本发明又一目的的电子元件检测装置，包括：一载盘，具有周缘环列布设等间距凹设的数个载槽，其形成间歇性旋转流路以搬送载槽内的待测元件至一检测区域进行检测；一挡抵装置，设于该载盘的旁侧，该挡抵装置设有一挡抵件，在待测元件被搬送经该检测区域时，该挡抵件可选择性地由间歇性旋转流路外移入或移出该载槽。

依据本发明又再一目的的载盘，使用于所述电子元件检测方法，该载盘具有周缘环列布设等间距凹设的数个载槽，该载槽设有一容置区与一位于该容置区上方的收光区，两者间设有一连通口使该容置区与该收光区相互连通，该连通口设有一挡抵部在该容置区与该收光区之间。

本发明实施例的载盘、电子元件检测方法及装置，待测元件在第一载盘的载槽内以挡抵部挡抵在待测元件的本体部内侧的两边角上方；在待测元件被第一载盘以间歇性旋转流路搬送至检测区域时，挡抵装置具有让位口的挡抵件可在不碰触发光部的情况下由间歇性旋转流路外水平地移入载槽内，并停留在待测元件的本体部外侧的两边角上方；在待测元件被探针元件向上顶升时，挡抵件与挡抵部可分别挡抵在本体部的四个边角上，使待测元件维持在与底面保持一间距的固定水平高度上进行检测，能有效地检测待测元件。

附图说明

图1是本发明实施例中电子元件检测装置的立体示意图。

图2是本发明实施例中第一载盘与待测元件的部分立体示意图。

图3是本发明实施例中图2的仰视示意图。

图4是本发明实施例中挡抵装置的立体示意图。

图5是本发明实施例中挡抵装置、第一载盘、光学积分球、探针装置位置关系的示意图。

图6是本发明实施例中挡抵件移入载槽的示意图。

图7是本发明实施例中挡抵件移出载槽的示意图。

图8是本发明实施例中图6的a-a剖面示意图(待测元件受探针元件顶升抵接在挡抵件与挡抵部下方)。

图9是本发明另一实施例中挡抵件移入载槽的示意图。

图10是本发明另一实施例中图9的b-b剖面示意图(待测元件受探针元件顶升抵接在挡抵件下方)。

【符号说明】

a检测台面a1输送槽道

b第一载盘b1载槽

b1’载槽b11容置区

b111负压吸孔b112第一导引部

b12收光区b13连通口

b131挡抵部b132凹入面

b133第二导引部b2限位件

b21槽道b3检测区域

b31积分球b32探针装置

b321探针元件b4共通排出管

c挡抵装置c1驱动模块

c11固定座c12支撑架

c121第一支撑部c122第二支撑部

c123第一弹性件c124第二弹性件

c125嵌孔c126枢孔

c127位置检知器c13电磁元件

c131穿孔c132驱动件

c133受磁件c134缓冲件

c135感应片c136抵推件

c14固定件c2移动模块

c21固定块c211嵌孔

c212止位件c213容槽

c22第三弹性件c23移动块

c231容槽c24挡抵件

c241斜面c242让位口

c242’让位口d第二载盘

d1载槽d2限位件

d3排出通道e连接单元

l中心线w待测元件

w1本体部w2发光部

具体实施方式

请参阅图1，本发明实施例的电子元件检测方法可以如图所示的使用在以led发光二极管为电子元件的电子元件检测装置来作说明，该装置设有包括：

一检测台面a，设有输送槽道a1输送由振动送料机(图未示)整列传送的待测元件w；

一第一载盘b，设于该检测台面a上，并以一第一间歇性旋转流路进行待测元件w搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽b1，环列布设的载槽b1外周设有限位件b2，以防止旋转搬送的待测元件w受离心力抛出；该限位件b2上设有一与载槽b1连通的槽道b21；该第一载盘b形成一顺时针的第一间歇性旋转流路并承收自输送槽道a1输入的待测元件w，该第一间歇性旋转流路依序搬送待测元件w经一检测区域b3与一共通排出管b4；

一挡抵装置c，设于该第一载盘b的旁侧且相邻于该检测区域b3，该挡抵装置c设有一驱动模块c1与一移动模块c2；

一第二载盘d，设于该检测台面a上，并以一第二间歇性旋转流路进行搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽d1，环列布设的载槽d1外周设有限位件d2，以防止旋转搬送的待测元件w受离心力抛出；该第二载盘d形成一顺时针的第二间歇性旋转流路以进行待测元件w搬送，并与该第一载盘b邻近；该第二间歇性旋转流路上的各载槽d1分别各自对应设有排出通道d3；

该第一载盘b、第二载盘d间以一连接单元e形成搬送流路的连接，其可为一通道或以吸附搬送方式传递待测元件w于第一载盘b的载槽b1及第二载盘d的载槽d1间的传送机构；第一载盘b、第二载盘d、连接单元e同设在该水平检测台面a上；第一间歇性旋转流路以该连接单元e为界分成前段与后段，该检测区域b3与挡抵装置c设于第一间歇性旋转流路之前段，该共通排出管b4设于第一间歇性旋转流路之后段，如此可避开第一间歇性旋转流路前段上各种检测区域或装置的干涉；

第一载盘b进行搬送的第一间歇性旋转流路在连接单元e处形成两个相分叉的流路，当待测元件w经检测区域b3进行检测的结果为属于落料频率较高的待测元件w时，该待测元件w被搬送到达该连接单元e处时，将由第一载盘b的第一间歇性旋转流路自水平径向排出，并进入连接单元e，再以水平径向进入第二载盘d的第二间歇性旋转流路的载槽d1被搬送，并依检测结果被排入预设的载槽d1分别各自对应的排出通道d3，以排出第二载盘d的第二间歇性旋转流路；当待测元件w经检测区域b3进行检测的结果为属于落料频率较低的待测元件w时，该待测元件w被搬送到达该连接单元e处时，将续循第一载盘b的第一间歇性旋转流路被搬送越过连接单元e，而到达共通排出管b4，并由共通排出管b4排出第一载盘b的第一间歇性旋转流路。

请参阅图2、3，待测元件w设有一呈立体矩形的本体部w1与一由该本体部w1上方凸设的发光部w2；第一载盘b的载槽b1设有一容置区b11与一位于该容置区b11上方的收光区b12，两者间设有一连通口b13使该容置区b11与该收光区b12可相互连通；待测元件w在载槽b1内以本体部w1在容置区b11且发光部w2在收光区b12的位置关系受第一载盘b搬送，此时待测元件w与载槽b1具有相同之中心线l；容置区b11具有呈矩形的侧边，在容置区b11的内侧设有一负压吸孔b111可吸附待测元件w的本体部w1，容置区b11外侧开口处的两旁侧各设有一第一导引部b112可使本体部w1容易进入容置区b11；收光区b12是由载盘b的上表面由弧形周缘朝载槽b1之中心线l方向向下倾斜至连通口b13所形成，使收光区b12呈上方开口大，下方靠近连通口b13处开口小的束缩状，有助于收集由发光部w2发射的光线；连通口b13设有一挡抵部b131在容置区b11与收光区b12之间，该挡抵部b131是由连通口b13内侧周缘朝中心线l方向延伸，使连通口b13在容置区b11上方形成束缩的颈口；连通口b13的内侧设有一弧形凹入面b132可闪避发光部w2，使挡抵部b131可挡抵在本体部w1内侧两边角上方；连通口b13外侧开口处的两旁侧各设有一第二导引部b133可使发光部w2容易进入收光区b12；第二载盘d的构造与第一载盘b相同，在此不多加赘述。

请参阅图1、4、5，挡抵装置c的驱动模块c1设有包括：

一固定座c11，设于限位件b2上；

一支撑架c12，设于该固定座c11上，该支撑架c12设有一第一支撑部c121与一第二支撑部c122；该第一支撑部c121与固定座c11相连，第一支撑部c121的两端分别设有一第一弹性件c123与一第二弹性件c124，两者皆为金属材质的片状物，其各开设有一镂空的嵌孔c125；该第二支撑部c122与第一支撑部c121垂直，第二支撑部c122上设有一镂空的枢孔c126与一例如近接开关的位置检知器c127；

一电磁元件c13，设于第二支撑部c122上，其上设有镂空的穿孔c131，供一驱动件c132穿经；该驱动件c132为一杆状体，两端分别穿入第一弹性件c123与第二弹性件c124的嵌孔c125，并各以一固定件c14将驱动件c132的两端固定于第一弹性件c123与第二弹性件c124上；驱动件c132一端设有一板状受磁件c133，位于电磁元件c13与第一弹性件c123之间，驱动件c132的另一端在朝向移动模块c2的方向上依序设有一板状缓冲件c134、一感应片c135与一抵推件c136；该缓冲件c134设于固定件c14与第二支撑部c122之间，可防止在驱动件c132位移时固定件c14直接碰触第二支撑部c122；该感应片c135夹设于第二弹性件c124与该抵推件c136之间，可对应接近或远离位置检知器c127以检知驱动件c132的位置；

电磁元件c13可因通电而产生磁力以吸引受磁件c133，受电磁元件c13吸引的受磁件c133可连动驱动件c132朝移动模块c2方向位移，使第一弹性件c123与第二弹性件c124因驱动件c132的位置改变而朝向移动模块c2方向稍为倾斜变形。

请参阅图1、4、5，挡抵装置c的移动模块c2，设有包括：

一固定块c21，设于限位件b2上，该固定块c21上开设有一嵌孔c211，供一杆状止位件c212的一端固设；固定块c21在朝向驱动模块c1的端面上设有一容槽c213，供一例如弹簧的第三弹性件c22的一端容置，且该止位件c212的另一端穿入该第三弹性件c22；

一移动块c23，设有一容槽c231，供第三弹性件c22的另一端容置，使被夹设于固定块c21与移动块c23之间的第三弹性件c22可推动移动块c23贴靠于驱动模块c1的抵推件c136；

一挡抵件c24，设于移动块c23的下方，在待测元件w被搬送至检测区域b3时，该挡抵件c24可经由槽道b21选择性地由第一间歇性旋转流路外移入或移出载槽b1；挡抵件c24呈长条状，一端与移动块c23相连结，另一端设有一由上而下高度递减的斜面c241，并在该斜面c241的末端设有一弧形凹入的让位口c242；挡抵件c24在靠近固定块c21处设有一挡销c243，可防止在拆卸驱动模块c1时，失去抵推件c136反向抵推的移动块c23因第三弹性件c22的推动而连动挡抵件c24射出槽道b21外；

在驱动模块c1的驱动件c132朝移动模块c2方向位移时，其上的抵推件c136抵推移动块c23使第三弹性件c22受到压缩，受抵推的移动块c23连动挡抵件c24具有让位口c242的一端由第一间歇性旋转流路外以以水平方向移入载槽b1内，并停留在待测元件w的本体部w1上方的位置，挡抵件c24的让位口c242可闪避待测元件w的发光部w2(图6)；在电磁元件c13解除对受磁件c133的吸引时，移动块c23因第三弹性件c22的弹性回复力使挡抵件c24具有让位口c242的一端以水平方向移出载槽b1(图7)；其中，在第三弹性件c22弹性疲乏或电磁元件c13的移动行程变大…等特殊情况下，止位件c212可挡止移动块c23，防止移动块c23连动挡抵件c24过度的伸入载槽b1内导致待测元件w破损。

请参阅图5、8，载槽b1内的待测元件w在检测区域b3(图1)内以一光学积分球b31与一探针装置b32进行检测，在检测待测元件w时，挡抵件c24具有让位口c242的一端由第一间歇性旋转流路外移入载槽b1内并停留在待测元件w的本体部w1上方的位置；探针装置b32以数个支探针元件b321向上碰触待测元件w的电极(图未示)并向上顶升待测元件w，使本体部w1抵接在挡抵件c24与挡抵部b131下方，挡抵件c24挡抵在本体部w1朝向载槽b1外侧的两边角上，而挡抵部b131挡抵在本体部w1朝向载槽b1内侧的另外两边角上；在探针元件b321碰触待测元件w的电极使其发光部w2发光后，待测元件w将维持在与底面保持一间距的固定水平高度上以光学积分球b31检测光学特性。

本发明实施例的电子元件检测方法在实施上，包括以下步骤：

一搬送步骤，使第一载盘b以第一间歇性旋转流路搬送载槽b1内的待测元件w途经检测区域b3；

一挡抵步骤，待测元件w停留在检测区域b3时，使挡抵件c24由间歇性旋转流路外移入载槽b1内，并停留在待测元件w的本体部w1上方的位置；

一检测步骤，使数个支探针元件b321向上碰触并顶升待测元件w受挡抵件c24与挡抵部b131挡抵，使待测元件w维持在与底面保持一间距的固定水平高度上进行检测，并在进行检测后使数个支探针元件b321向下移动且挡抵件c24移出载槽b1。

本发明实施例的载盘、电子元件检测方法及装置，待测元件w在第一载盘b的载槽b1内以挡抵部b131挡抵在待测元件w的本体部w1内侧的两边角上方；在待测元件w被第一载盘b以间歇性旋转流路搬送至检测区域b3时，挡抵装置c具有让位口c242的挡抵件c24可在不碰触发光部w2的情况下由间歇性旋转流路外水平地移入载槽b1内，并停留在待测元件w的本体部w1外侧的两边角上方；在待测元件w被探针元件b321向上顶升时，挡抵件c24与挡抵部b131可分别挡抵在本体部w1的四个边角上，使待测元件w维持在与底面保持一间距的固定水平高度上进行检测，能有效地检测待测元件w。

请参阅图9、10，本发明另一实施例的载槽b1’无设有挡抵部b131(图3)，而使具有较宽深的让位口c242’的挡抵件c24’伸入载槽b1’内直接挡抵在本体部w1的两个侧边上。

但是以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。