技术特征：
技术总结
本发明公开了一种激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法。该装置包含模拟光路和检测光路，检测光路和模拟光路均聚焦于样品的测试点上。将样品放置于该装置中后调节所负载激光的功率，可得到不同负载条件下样品的热应力双折射系数。该方法包括以下步骤：将样品置于如上述的装置中，打开模拟光路向样品内测试点聚焦激光至样品发生热应力双折射；步骤S200：打开检测光路向测试点聚焦起偏的探测光，记录从样品离开，并经检偏器检偏的分光光强；步骤S300：按照下式计算得到相位延迟量Φ：(Ip‑Ic)/(Ip+Ic)＝cosΦ其中，Ip和Ic为分光光强。该方法利用起偏‑检偏探测光，探测发生热应力双折射的激光晶体产生的相位延迟量Φ。该方法测量结果准确，避免人工误差。
技术研发人员：吴少凡;徐鸿锋;王帅华;郑熠;黄鑫
受保护的技术使用者：中国科学院福建物质结构研究所
技术研发日：2018.03.13
技术公布日：2018.09.21