本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种点灯测试电路和点灯测试方法。
背景技术：
现有的显示模组包括的多行多列相互独立的公共电极块可以复用为触控电极块，显示模组可以包括第一公共电极线和第二公共电极线，以在对盒点灯测试时实现棋盘格画面检测触控不良。在进行对盒点灯测试时，在显示灰阶画面时，如果传送至第一公共电极线的公共电极电压和传送至第二公共电极线的公共电极电压不相等，会在导致灰阶画面有不同程度的棋盘格残影，从而影响灰阶不良的检出。在现有技术中，通过将第一公共电极线和第二公共电极线与点灯信号源芯片的同一管脚相连的方法来消除公共电极电压差异，然而这样的话在对盒点灯测试时就不能显示棋盘格画面，失去了采用两根公共电极线以检测触控不良的意义。
技术实现要素：
本发明的主要目的在于提供一种点灯测试电路和点灯测试方法，解决现有技术中通过将显示模组包括的第一公共电极线和第二公共电极线与点灯信号源芯片的同一管脚的方法来消除公共电极电压差异，从而在对盒点灯测试时就不能显示棋盘格画面，不能检测触控不良的问题。
为了达到上述目的，本发明提供了一种点灯测试电路，应用于显示模组，所述显示模组包括n条公共电极线；n为大于1的整数；所述点灯测试电路包括：
公共电极线通断单元，分别与通断控制线和所述n条公共电极线连接，用于在所述通断控制线上的通断控制信号的控制下，控制导通或断开每两条所述公共电极线之间的连接；以及，
通断控制单元，与所述通断控制线连接，用于为所述通断控制线提供所述通断控制信号。
实施时，n等于2，所述公共电极线通断单元包括至少一个通断晶体管；
所述通断晶体管的控制极与所述通断控制线连接，所述通断晶体管的第一极与所述显示模组包括的第一公共电极线连接，所述通断晶体管的第二极与所述显示模组包括的第二公共电极线连接；
所述至少一个通断晶体管为n型晶体管，或者，所述至少一个通断晶体管为p型晶体管。
实施时，所述显示模组还包括相互独立的多行多列公共电极块；
所述点灯测试电路还包括：
公共电极电压提供单元，分别与电压控制线、所述多行多列公共电极块、所述第一公共电极线和所述第二公共电极线连接，用于在所述电压控制线的控制下，控制所述公共电极块与所述第一公共电极线或所述第二公共电极线连接；以及，
点灯信号源，分别与所述第一公共电极线和所述第二公共电极线连接，用于为所述第一公共电极线提供第一公共电极电压，为所述第二公共电极线提供第二公共电极电压。
实施时，所述公共电极电压提供单元包括第一电压提供模块和第二电压提供模块，其中，
所述第一电压提供模块分别与所述电压控制线、所述第一公共电极线、奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块连接，用于在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接；
所述第二电压提供模块分别与所述电压控制线、所述第二公共电极线、奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块连接，用于在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接。
实施时，所述第一电压提供模块包括多个第一电压提供晶体管和多个第二电压提供晶体管；
一所述第一电压提供晶体管与一奇数行奇数列公共电极块对应，一所述第二电压提供晶体管与一偶数行偶数列公共电极块对应；
所述第一电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第一电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第一电压提供晶体管的第二极和与该第一电压提供晶体管对应的所述奇数行奇数列公共电极块连接；
所述第二电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第二电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第二电压提供晶体管的第二极和与该第二电压提供晶体管对应的所述偶数行偶数列公共电极块连接；
所述多个第一电压提供晶体管都为n型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为n型晶体管；或者，所述多个第一电压提供晶体管都为p型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为p型晶体管；
实施时，所述第二电压提供模块包括多个第三电压提供晶体管和多个第四电压提供晶体管；
一所述第三电压提供晶体管与一奇数行偶数列公共电极块对应，一所述第四电压提供晶体管与一偶数行奇数列公共电极块对应；
所述第三电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第三电压提供晶体管的第一极与所述第二公共电极线连接，该第三电压提供晶体管的第二极和与该第三电压提供晶体管对应的所述奇数行偶数列公共电极块连接；
所述第四电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第四电压提供晶体管的第一极与所述第二公共电极线连接，该第四电压提供晶体管的第二极和与该第四电压提供晶体管对应的所述偶数行奇数列公共电极块连接；
所述多个第三电压提供晶体管都为n型晶体管，所述多个第四电压提供晶体管都为n型晶体管；或者，所述多个第三电压提供晶体管都为p型晶体管，所述多个第四电压提供晶体管都为p型晶体管。
本发明还提供了一种点灯测试方法，采用上述的点灯测试电路以对显示模组进行点灯测试，所述显示模组包括n条公共电极线；n为大于1的整数；所述点灯测试方法包括：
在对盒点灯测试阶段，在显示灰阶画面时，通断控制单元为通断控制线提供第一通断控制信号，公共电极线通断单元在所述第一通断控制信号的控制下，控制导通每两条所述公共电极线之间的连接。
实施时，n等于2，所述点灯测试方法还包括：
在所述对盒点灯测试阶段，在显示黑白棋盘格画面时，通断控制单元为通断控制线提供第二通断控制信号，公共电极线通断单元在所述第二通断控制信号的控制下，控制断开所述显示模组包括的第一公共电极线和所述显示模组包括的第二公共电极线之间的连接。
实施时，所述显示模组包括相互独立的多行多列公共电极块；所述点灯测试电路包括公共电极电压提供单元和点灯信号源；所述公共电极电压提供单元包括第一电压提供模块和第二电压提供模块；
所述点灯测试方法还包括：
在所述对盒点灯测试阶段，点灯信号源为所述第一公共电极线提供第一公共电极电压，点灯信号源为所述第二公共电极线提供第二公共电极电压；在所述电压控制线的控制下，所述第一电压提供模块控制导通所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，所述第一电压提供模块控制导通所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制导通所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制导通所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接；
在模组点灯测试阶段，所述第一电压提供模块控制断开所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，所述第一电压提供模块控制断开所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制断开所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制断开所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接。
实施时，在所述对盒点灯测试阶段，当显示灰阶画面时，所述第一公共电极电压与所述第二公共电极电压相等；
在所述对盒点灯测试阶段，当显示黑白棋盘格画面时，所述第一公共电极电压与所述第二公共电极电压不相等。
与现有技术相比，本发明所述的点灯测试电路和点灯测试方法能够在cellet(对盒点灯)测试阶段，在显示灰阶画面时，通过公共电极线通断单元在通断控制单元提供的通断控制信号的控制下导通所述显示模组包括的每两条所述公共电极线之间的连接，从而在对盒点灯测试阶段显示灰阶画面时，使得不同的公共电极线上的公共电极电压相等，从而使得显示的灰阶画面准确，不影响灰阶不良检出，并且在对盒点灯测试阶段能够显示棋盘格画面以检测触控不良现象。
附图说明
图1本发明实施例所述的点灯测试电路的结构图；
图2是本发明另一实施例所述的点灯测试电路的电路图；
图3是本发明又一实施例所述的点灯测试电路的结构图；
图4是本发明再一实施例所述的点灯测试电路的结构图；
图5是本发明所述的点灯测试电路的一具体实施例的电路图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例所述的点灯测试电路，应用于显示模组，所述显示模组包括n条公共电极线；n为大于1的整数；如图1所示，所述点灯测试电路包括：
公共电极线通断单元11，分别与通断控制线switch2和所述n条公共电极线(图1中未示出)连接，用于在所述通断控制线switch2上的通断控制信号的控制下，控制导通或断开每两条所述公共电极线之间的连接；以及，
通断控制单元12，与所述通断控制线switch2连接，用于为所述通断控制线switch2提供所述通断控制信号。
本发明实施例所述的点灯测试电路能够在cellet(对盒点灯)测试阶段，在显示灰阶画面时，通过公共电极线通断单元11在通断控制单元12提供的通断控制信号的控制下导通所述显示模组包括的每两条所述公共电极线之间的连接，从而在对盒点灯测试阶段显示灰阶画面时，不同的公共电极线上的公共电极电压相等，从而导致显示的灰阶画面准确，不会影响灰阶不良检出。并且本发明实施例所述的点灯测试电路能够通过公共电极线通断单元11在对盒点灯测试阶段在显示棋盘格画面时控制断开每两条所述公共电极线之间的连接，以检测触控不良。
在实际操作时，n可以等于2，所述显示模组包括第一公共电极线和第二公共电极线，在进行对盒点灯测试时，如果第一公共电极线和第二公共电极线之间不连通，则由于点灯信号源输出到第一公共电极线和第二公共电极线的公共电极电压不同，会在显示灰阶画面时，导致灰阶画面有不同程度的棋盘格残影，从而影响灰阶不良的检出。在本发明实施例中，n不仅可以等于2，也可以为大于2的任意整数。在本发明说明书以下的内容中，以n等于2为例具体说明。
当n等于2时，本发明实施例在对盒点灯测试阶段，在显示灰阶画面时，通过公共电极线通断单元控制第一公共电极线和第二公共电极线之间连通，在显示棋盘格画面时，公共电极线通断单元控制第一公共电极线和第二公共电极线之间不连通，从而可以实现在棋盘格画面下检测触控不良(所述显示模组包括的多行多列公共电极块复用为触控电极块)，又不会在常规点灯时(显示灰阶画面时)出现棋盘格残影。并且本发明实施例所述的点灯测试电路能够通过公共电极线通断单元11在对盒点灯测试阶段在显示棋盘格画面时控制第一公共电极线与第二公共电极线之间不连通，以可以检测触控不良。
具体的，n可以等于2，所述公共电极线通断单元包括至少一个通断晶体管；
所述通断晶体管的控制极与所述通断控制线连接，所述通断晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，所述通断晶体管的第二极与所述第二公共电极线连接；
所述至少一个通断晶体管为n型晶体管，或者，所述至少一个通断晶体管为p型晶体管。
根据一种具体实施方式，n可以等于2，如图2所示，所述显示模组包括第一公共电极线vcom_e和第二公共电极线vcom_o；
所述公共电极线通断单元11包括六个通断晶体管：第一通断晶体管m11、第二通断晶体管m12、第三通断晶体管m13、第四通断晶体管m14、第五通断晶体管m15和第六通断晶体管m16；
m11的栅极与所述通断控制线switch2连接，m11的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m11的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m12的栅极与所述通断控制线switch2连接，m12的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m12的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m13的栅极与所述通断控制线switch2连接，m13的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m13的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m14的栅极与所述通断控制线switch2连接，m14的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m14的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m15的栅极与所述通断控制线switch2连接，m15的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m15的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m16的栅极与所述通断控制线switch2连接，m16的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m16的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m11、m12、m13、m14、m15和m16都为n型晶体管。
在图2所示的实施例中，m11、m12、m13、m14、m15和m16可以都为mos管(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)，但不以此为限。
在实际操作时，所述公共电极线通断单元11可以仅包括一个通断晶体管；在优选情况下，所述公共电极线通断单元11可以包括至少两个通断晶体管，以避免由于存在通断晶体管故障从而导致不能在对盒点灯测试阶段在显示灰阶画面时控制vcom_e和vcom_o之间连通的情况发生。在具体实施时，所述公共电极线通断单元11采用的通断晶体管的个数可以根据实际情况选定。
在具体实施时，所述显示模组还可以包括相互独立的多行多列公共电极块；
在图1所示的点灯测试电路的实施例的基础上，当n等于2时，所述显示模组包括第一公共电极线vcom_e和第二公共电极线vcom_o；
所述公共电极线通断单元11还分别与所述第一公共电极线vcom_e和第二公共电极线vcom_o连接；
如图3所示，所述点灯测试电路还包括：
公共电极电压提供单元13，分别与电压控制线switch1、所述多行多列公共电极块(图3中未示出)、所述第一公共电极线vcom_e和所述第二公共电极线vcom_o连接，用于在所述电压控制线switch1的控制下，控制所述公共电极块与所述第一公共电极线vcom_e或所述第二公共电极线vcom_o连接；以及，
点灯信号源14，分别与所述第一公共电极线vcom_e和所述第二公共电极线vcom_o连接，用于为所述第一公共电极线vcom_e提供第一公共电极电压，为所述第二公共电极线vcom_o提供第二公共电极电压。
在实际操作时，所述公共电极电压提供单元13用于在对盒测试阶段，控制奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块分别与第一公共电极线vcom_e连接，控制奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块分别与第二公共电极线vcom_o连接，通过点灯信号源14向第一公共电极线vcom_e、第二公共电极线vcom_o分别提供相应的公共电极电压，从而控制在棋盘格画面显示阶段在显示模组包括的显示面板上显示棋盘格画面，并可以同时检测出触控不良，也可以控制在对盒测试阶段在显示灰阶画面时为各公共电极块提供相应的公共电极电压。在对盒测试阶段在显示棋盘格画面时，公共电极线通断单元11控制断开vcom_e与vcom_o之间的连接。
在实际操作时，在模组点灯测试阶段，公共电极电压提供单元13控制奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块不与第一公共电极线vcom_e连通，控制奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块不与第二公共电极线vcom_o连通，不由点灯信号源14向各公共电极块提供公共电极电压，而是通过增设的驱动电路芯片向各公共电极块提供公共电极电压。
在具体实施时，在图3所示的点灯测试电路的实施例的基础上，如图4所示，所述公共电极电压提供单元13可以包括第一电压提供模块131和第二电压提供模块132，其中，
所述第一电压提供模块131分别与所述电压控制线switch1、所述第一公共电极线vcom_e、奇数行奇数列公共电极块(图4中未示出)和偶数行偶数列公共电极块(图4中未示出)连接，用于在所述电压控制线switch1的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线vcom_e与所述奇数行奇数列公共电极块(图4中未示出)之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线vcom_e与所述偶数行偶数列公共电极块(图4中未示出)之间的连接；
所述第二电压提供模块132分别与所述电压控制线switch1、所述第二公共电极线vcom_o、奇数行偶数列公共电极块(图4中未示出)和偶数行奇数列公共电极块(图4中未示出)连接，用于在所述电压控制线switch1的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线vcom_o与所述奇数行偶数列公共电极块(图4中未示出)之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线vcom_o与所述偶数行奇数列公共电极块(图4中未示出)之间的连接。
具体的，所述第一电压提供模块可以包括多个第一电压提供晶体管和多个第二电压提供晶体管；
一所述第一电压提供晶体管与一奇数行奇数列公共电极块对应，一所述第二电压提供晶体管与一偶数行偶数列公共电极块对应；
所述第一电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第一电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第一电压提供晶体管的第二极和与该第一电压提供晶体管对应的所述奇数行奇数列公共电极块连接；
所述第二电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第二电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第二电压提供晶体管的第二极和与该第二电压提供晶体管对应的所述偶数行偶数列公共电极块连接；
所述多个第一电压提供晶体管都为n型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为n型晶体管；或者，所述多个第一电压提供晶体管都为p型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为p型晶体管；
具体的，所述第二电压提供模块可以包括多个第三电压提供晶体管和多个第四电压提供晶体管；
一所述第三电压提供晶体管与一奇数行偶数列公共电极块对应，一所述第四电压提供晶体管与一偶数行奇数列公共电极块对应；
所述第三电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第三电压提供晶体管的第一极与所述第二公共电极线连接，该第三电压提供晶体管的第二极和与该第三电压提供晶体管对应的所述奇数行偶数列公共电极块连接；
所述第四电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第四电压提供晶体管的第一极与所述第二公共电极线连接，该第四电压提供晶体管的第二极和与该第四电压提供晶体管对应的所述偶数行奇数列公共电极块连接；
所述多个第三电压提供晶体管都为n型晶体管，所述多个第四电压提供晶体管都为n型晶体管；或者，所述多个第三电压提供晶体管都为p型晶体管，所述多个第四电压提供晶体管都为p型晶体管。
下面通过一具体实施例来说明本发明所述的点灯测试电路。
本发明所述的点灯测试电路的一具体实施例包括，应用于显示模组，如图5所示，所述显示模组包括第一公共电极线vcom_e和第二公共电极线vcom_o；如图5所示，所述点灯测试电路包括公共电极线通断单元11、通断控制单元12、公共电极电压提供单元13和点灯信号源14；
所述通断控制单元12与所述通断控制线switch2连接，用于为所述通断控制线switch2提供通断控制信号；
所述点灯信号源14分别与所述第一公共电极线vcom_e和所述第二公共电极线vcom_o连接，用于为所述第一公共电极线vcom_e提供第一公共电极电压，为所述第二公共电极线vcom_o提供第二公共电极电压；
所述公共电极线通断单元11包括六个通断晶体管：第一通断晶体管m11、第二通断晶体管m12、第三通断晶体管m13、第四通断晶体管m14、第五通断晶体管m15和第六通断晶体管m16；
m11的栅极与所述通断控制线switch2连接，m11的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m11的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m12的栅极与所述通断控制线switch2连接，m12的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m12的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m13的栅极与所述通断控制线switch2连接，m13的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m13的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m14的栅极与所述通断控制线switch2连接，m14的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m14的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m15的栅极与所述通断控制线switch2连接，m15的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m15的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
m16的栅极与所述通断控制线switch2连接，m16的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，m16的源极与所述第二公共电极线vcom_o连接；
所述公共电极电压提供单元13包括多个第一电压提供晶体管、多个第二电压提供晶体管、多个第三电压提供晶体管和多个第四电压提供晶体管；
在图5中，仅示例性的示出了一个第一电压提供晶体管m21、一个第二电压提供晶体管m22、一个第三电压提供晶体管m23、一个第四电压提供晶体管m24；
所述第一电压提供晶体管m21与一奇数行奇数列公共电极块vcoo对应，所述第二电压提供晶体管m22与一偶数行偶数列公共电极块vcee对应；
所述第一电压提供晶体管m21的栅极与所述电压控制线switch1连接，该第一电压提供晶体管m21的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，该第一电压提供晶体管m21的源极和与该第一电压提供晶体管m21对应的所述奇数行奇数列公共电极块vcoo连接；
所述第二电压提供晶体管m22的栅极与所述电压控制线switch1连接，该第二电压提供晶体管m22的漏极与所述第一公共电极线vcom_e连接，该第二电压提供晶体管m22的源极和与该第二电压提供晶体管m22对应的所述偶数行偶数列公共电极块vcee连接；
所述第三电压提供晶体管m23与一奇数行偶数列公共电极块vcoe对应，一所述第四电压提供晶体管m24与一偶数行奇数列公共电极块vceo对应；
所述第三电压提供晶体管m23的栅极与所述电压控制线switch1连接，该第三电压提供晶体管m23的漏极与所述第二公共电极线vcom_o连接，该第三电压提供晶体管m23的源极和与该第三电压提供晶体管m23对应的所述奇数行偶数列公共电极块vcoe连接；
所述第四电压提供晶体管m24的栅极与所述电压控制线switch1连接，该第四电压提供晶体管m24的漏极与所述第二公共电极线vcom_o连接，该第四电压提供晶体管m24的源极和与该第四电压提供晶体管m24对应的所述偶数行奇数列公共电极块vceo连接。
在图5所示的实施例中，所有的晶体管都为n型晶体管，但不以此为限。
本发明如图5所示的点灯测试电路的具体实施例在工作时，在对盒点灯测试阶段，m21、m22、m23和m24常开；在对盒点灯测试阶段，
在显示灰阶画面时，switch2输出高电平，m11、m12、m13、m14、m15和m16都打开，vcom_e和vcom_o之间短接，保证输入到不同的公共电极块的公共电极电压都相同，此时不会出现棋盘格残影；
在显示棋盘格画面时，switch2输出低电平，m11、m12、m13、m14、m15和m16都关断，vcom_e和vcom_o之间不连通，通过点灯信号源14给vcom_e、vcom_o不同的公共电极电压，可以显示棋盘格画面，检测触控不良。
本发明如图5所示的点灯测试电路的具体实施例在工作时，在模组点灯测试阶段，m21、m22、m23和m24常闭，不由点灯信号源14为各公共电极块提供公共电极电压，而是改由增设的驱动电路芯片为各公共电极块提供公共电极电压。
本发明实施例所述的点灯测试方法，采用上述的点灯测试电路以对显示模组进行点灯测试，所述显示模组包括第一公共电极线和第二公共电极线；所述点灯测试方法包括：
在对盒点灯测试阶段，在显示灰阶画面时，通断控制单元为通断控制线提供第一通断控制信号，公共电极线通断单元在所述第一通断控制信号的控制下，控制导通所述第一公共电极线和所述第二公共电极线之间的连接。
本发明实施例所述的点灯测试方法能够在cellet(对盒点灯)测试阶段，在显示灰阶画面时，通过公共电极线通断单元在通断控制单元提供的通断控制信号的控制下导通所述显示模组包括的每两条所述公共电极线之间的连接，从而改善在对盒点灯测试阶段显示灰阶画面时，由于不同的公共电极线上的公共电极电压有差异，从而导致显示的灰阶画面不准确，影响灰阶不良检出。
在实际操作时，n可以等于2，所述显示模组包括第一公共电极线和第二公共电极线，在进行对盒点灯测试时，如果第一公共电极线和第二公共电极线之间不连通，则由于点灯信号源输出到第一公共电极线和第二公共电极线的公共电极电压不同，会在显示灰阶画面时，导致灰阶画面有不同程度的棋盘格残影，从而影响灰阶不良的检出。在本发明实施例中，n不仅可以等于2，也可以为大于2的任意整数。在本发明说明书以下的内容中，以n等于2为例具体说明。
当n等于2时，本发明实施例在对盒点灯测试阶段，在显示灰阶画面时，通过公共电极线通断单元控制第一公共电极线和第二公共电极线之间连通，在显示棋盘格画面时，公共电极线通断单元控制第一公共电极线和第二公共电极线之间不连通，从而可以实现在棋盘格画面下检测触控不良(所述显示模组包括的多行多列公共电极块复用为触控电极块)，又不会在常规点灯时(显示灰阶画面时)出现棋盘格残影。
具体的，所述点灯测试方法还可以包括：
在所述对盒点灯测试阶段，在显示黑白棋盘格画面时，通断控制单元为通断控制线提供第二通断控制信号，公共电极线通断单元在所述第二通断控制信号的控制下，控制断开所述第一公共电极线和所述第二公共电极线之间的连接。
在实际操作时，所述显示模组包括相互独立的多行多列公共电极块；所述点灯测试电路包括公共电极电压提供单元和点灯信号源；所述公共电极电压提供单元包括第一电压提供模块和第二电压提供模块；
所述点灯测试方法还包括：
在所述对盒点灯测试阶段，点灯信号源为所述第一公共电极线提供第一公共电极电压，点灯信号源为所述第二公共电极线提供第二公共电极电压；在所述电压控制线的控制下，所述第一电压提供模块控制导通所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，所述第一电压提供模块控制导通所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制导通所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制导通所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接；
在模组点灯测试阶段，所述第一电压提供模块控制断开所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，所述第一电压提供模块控制断开所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制断开所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，所述第二电压提供模块控制断开所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接。
在实际操作时，所述公共电极电压提供单元在对盒测试阶段，控制奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块分别与第一公共电极线连接，控制奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块分别与第二公共电极线连接，通过点灯信号源向第一公共电极线、第二公共电极线分别提供相应的公共电极电压，从而控制在棋盘格画面显示阶段在显示模组包括的显示面板上显示棋盘格画面，并可以同时检测出触控不良，也可以控制在对盒测试阶段在显示灰阶画面时为各公共电极块提供相应的公共电极电压。在对盒测试阶段在显示棋盘格画面时，公共电极线通断单元控制断开第一公共电极线与第二公共电极线之间的连接，以能够显示棋盘格画面。
在实际操作时，在模组点灯测试阶段，公共电极电压提供单元控制奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块不与第一公共电极线连通，控制奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块不与第二公共电极线连通，不由点灯信号源向各公共电极块提供公共电极电压，而是通过增设的驱动电路芯片向各公共电极块提供公共电极电压。
在实际操作时，在所述对盒点灯测试阶段，当显示灰阶画面时，所述第一公共电极电压与所述第二公共电极电压相等，从而使得全部的公共电极块接入相同的公共电极电压；
在所述对盒点灯测试阶段，当显示黑白棋盘格画面时，所述第一公共电极电压与所述第二公共电极电压不相等，从而能够显示棋盘格画面。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。