GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置与流程

本发明涉及平板显示技术领域，具体涉及一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置。

背景技术：

近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。平板显示装置具有完全平面化、轻、薄、省电等特点，因此得到了广泛的应用。

目前，随着平板显示技术的发展，出现了一种将平板显示装置的栅极驱动器通过掩模板镀膜技术直接制作在玻璃基板上的新型技术—GIP(Gate in Panel，门面板)技术。目前，GIP技术是把扫描芯片集成在显示面板上，达到节省扫描芯片，降低材料成本，减少工艺步骤并缩短工艺时间，从而降低面板成本、实现更窄边框的目的。

但是，显示面板在制造过程中存在许多不良，解析的时候就需要测试GIP信号是否正常，然而，随着屏体分辨率越来越高，不可能每一级均用引线引出以供信号测量使用。现有技术中，一般采用引线引出第一级GIP信号以及最后一级GIP信号进行测量。请参考图1，其为现有技术中GIP信号测试电路的结构示意图。如图1所示，栅极驱动电路包括第一级级联结构、第二级级联结构…第n级级联结构(最后一级的级联结构)，所述级联结构通常是移位寄存器。所述栅极驱动电路根据外部电路输入的信号sin，产生多级GIP信号，采用引线引出第1级GIP信号S1以及最后一极的GIP信号Sn，对第一级GIP信号S1以及最后一级GIP信号Sn进行测试，其余级GIP信号均不能进行测试。因此，即使其余各级GIP信号出现异常，也无法进行确认。

基于此，如何解决现有的平板显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，以解决现有技术中显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种具有GIP信号测试电路，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。

可选的，所述第一晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第一晶体管的第二电极连接至所述信号测试线，所述第一晶体管的栅极连接至所述信号测试线。

可选的，所述第二晶体管的第一电极连接至所述信号测试线，所述第二晶体管的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管的栅极连接至相对应的第三晶体管的第二电极。

可选的，所述第三晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第三晶体管的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容的一端，所述电容的另一端连接至相对应的所述GIP信号。

可选的，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极；所述第一晶体管至第三晶体管均为薄膜场效应晶体管。

相应的，本发明还提供一种GIP信号测试方法，采用上述的GIP信号测试电路进行测试,包括:

向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP信号；以及

通过所述GIP信号测试电路输出多级GIP信号的测试信号。

可选的，每一级GIP信号的下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前。

可选的，测试周期包括五个阶段：

在第一时间段，所述时钟信号与某一级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管、第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位；

在第二时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号维持高电位；

在第三时间段，所述GIP信号为低电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管与第三晶体管关闭，所述第二晶体管打开，所述测试信号为低电位；

在第四时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号为低电位；

在第五时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为高电位，所述第一晶体管与第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位。

可选的，所述测试信号的每个低电位对应一级GIP信号。

可选的，本发明还提供一种显示装置，包括：GIP电路、多条扫描线以及上述的GIP信号测试电路；

所述GIP电路通过所述多条扫描线与所述GIP信号测试电路连接，用于向所述GIP信号测试电路提供多级GIP信号，所述GIP信号测试电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。

与现有技术相比，本发明提供的GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，采用新型的GIP信号测试电路，只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。

附图说明

图1为现有技术中GIP信号测试电路的结构示意图。

图2为本发明一实施例提供的GIP信号测试电路的结构示意图。

图3为本发明一实施例提供的多级GIP信号、时钟信号以及测试信号的波形图。

具体实施方式

为使本发明的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本发明的内容做进一步说明。当然本发明并不局限于该具体实施例，本领域的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本发明的保护范围内。

其次，本发明利用示意图进行了详细的表述，在详述本发明实例时，为了便于说明，示意图不依照一般比例局部放大，不应对此作为本发明的限定。

请参考图2所示，其为本发明一实施例提供的GIP信号测试电路的结构示意图。如图2所示，GIP信号测试电路包括：一信号测试线Test Line、一时钟信号线CK、一个第一晶体管T1和多个第二晶体管(T21至T2n)、多个第三晶体管(T31至T3n)、多个电容(C1至Cn)以及多级GIP信号。所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)、电容(C1至Cn)以及GIP信号一一对应。所述第一晶体管T1连接在所述时钟信号线CK与信号测试线Test Line之间；所述信号测试线Test Line通过多个第二晶体管(T21至T2n)、多个第三晶体管(T31至T3n)以及多个电容(C1至Cn)分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。

所述多级GIP信号分别由第一扫描线S1至第n扫描线Sn提供；所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)、电容(C1至Cn)以及GIP信号一一对应是指：所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)以及电容(C1至Cn)的数量相等，且与所述GIP信号的级数也相等，并且，一个第二晶体管对应连接一个第三晶体管、一个电容以及一条扫描线。例如：第一扫描线S1提供第一级GIP信号，第一级GIP信号与所述第二晶体管T21、第三晶体管T31、电容C1相对应，第二扫描线S2提供第二级GIP信号，第二级GIP信号与所述第二晶体管T22、第三晶体管T32、电容C2相对应，以此类推，第n扫描线Sn提供第n级GIP信号，第n级GIP信号与所述第二晶体管T2n、第三晶体管T3n、电容Cn相对应。所述信号测试线Test Line通过第二晶体管T21、第三晶体管T31以及电容C1接收第一级GIP信号，所述信号测试线Test Line通过第二晶体管T22、第三晶体管T32以及电容C2接收第二级GIP信号，以此类推，所述信号测试线Test Line通过第二晶体管T2n、第三晶体管T3n以及电容Cn接收第n级GIP信号，最终根据所述多级GIP信号输出测试信号。

具体的，所述第一晶体管T1的第一电极连接至所述时钟信号线CK，所述第一晶体管T1的第二电极连接至所述信号测试线Test Line，所述第一晶体管T1的栅极连接至所述信号测试线Test Line。

所述第二晶体管(T21至T2n)的第一电极连接至所述信号测试线Test Line，所述第二晶体管(T21至T2n)的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管(T21至T2n)的栅极连接至相对应的第三晶体管(T31至T3n)的第二电极。具体的，所述第二晶体管T21的第一电极连接至所述信号测试线Test Line，所述第二晶体管T21的第二电极连接相对应的所述第一级GIP信号；所述第二晶体管T21的栅极连接至相对应的第三晶体管T31的第二电极；所述第二晶体管T22的第一电极连接至所述信号测试线Test Line，所述第二晶体管T22的第二电极连接相对应的所述第二级GIP信号；所述第二晶体管T22的栅极连接至相对应的第三晶体管T32的第二电极；以此类推，所述第二晶体管T2n的第二电极连接相对应的所述第n级GIP信号；所述第二晶体管T2n的栅极连接至相对应的第三晶体管T3n的第二电极。

所述第三晶体管(T31至T3n)的第一电极连接至所述时钟信号线CK，所述第三晶体管(T31至T3n)的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容(C1至Cn)的一端，所述电容(C1至Cn)的另一端连接至相对应的所述GIP信号。同样的，所述第三晶体管T31的第一电极连接至所述时钟信号线CK，所述第三晶体管T31的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容C1的一端，所述电容C1的另一端连接至相对应的所述第一级GIP信号；所述第三晶体管T32的第一电极连接至所述时钟信号线CK，所述第三晶体管T32的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容C2的一端，所述电容C2的另一端连接至相对应的所述第二级GIP信号；以此类推，所述第三晶体管T3n的第一电极连接至所述时钟信号线CK，所述第三晶体管T3n的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容Cn的一端，所述电容Cn的另一端连接至相对应的所述第n级GIP信号。

在本实施例中，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极。本发明实施例中采用的晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件，优选的，所述第一晶体管T1、第二晶体管(T21至T2n)以及第三晶体管(T31至T3n)均为薄膜场效应晶体管。

本发明所提供的GIP信号测试电路，只需要一条信号测试线Test Line就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时也能够及时发现GIP信号的异常，提高了不良解析的效率。

相应的，本发明还提供一种GIP信号测试方法，采用上述的GIP信号测试电路进行GIP信号测试。请参考图3，其为本发明一实施例提供的多级GIP信号、时钟信号以及测试信号的波形图，如图3所示，所述GIP信号测试方法包括：

步骤一：向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP信号；

步骤二：通过所述GIP信号测试电路输出多级GIP信号的测试信号。

具体的，首先，向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP信号，所述多级GIP信号中每一级GIP信号下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前。在本实施例中，每一级GIP信号下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟T1时间段，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前T3时间。

如图3所示，所述测试周期包括五个阶段，分别为第一时间段T0、第二时间段T1、第三时间段T2、第四时间段T3与第五时间段T4。在第一时间段T0：所述时钟信号与某一级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管、第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位；在第二时间段T1，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号维持高电位；在第三时间段T2，所述GIP信号为低电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管与第三晶体管关闭，所述第二晶体管打开，所述测试信号为低电位；在第四时间段T3，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号为低电位；在第五时间段T4，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为高电位，所述第一晶体管与第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位。

具体的，在第一时间段T0，由第一扫描线S1提供第一级GIP信号，所述时钟信号CK与第一级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管T1、第三晶体管T31打开，所述第二晶体管T21关闭，所述测试信号Test Line为高电位。

在第二时间段T1，所述第一级GIP信号为高电位，所述时钟信号CK为低电位，所述第一晶体管T1、第二晶体T21以及第三晶体管T31均关闭，所述测试信号Test Line维持高电位。

在第三时间段T2，所述GIP信号跳至低电位，所述时钟信号CK为低电位，所述第二晶体管T21由电容C21耦合，所述第二晶体管T21打开，所述第一晶体管T1与第三晶体管T31关闭，所述测试信号Test Line连接至第一级GIP信号跳至低电位。

在第四时间段T3，所述GIP信号跳至高电位，所述时钟信号维持低电位，所述第一晶体管T1、第二晶体T21以及第三晶体管T31均关闭，所述测试信号Test Line维持低电位。

在第五时间段T4，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号CK为高电位，所述第一晶体管T1与第三晶体管T31打开，所述第二晶体管T21关闭，所述测试信号Test Line跳至高电位。

然后再从第一时间段T0进行重复，从图3中可以看出，在第二次重复时，由所述第二扫描线S2提供第二级GIP信号，在第一时间段T0，所述时钟信号CK与第二级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管T1、第三晶体管T32打开，所述第二晶体管T22关闭，所述测试信号Test Line为高电位。在第二时间段T1，所述第二级GIP信号为高电位，所述时钟信号CK为低电位，所述第一晶体管T1、第二晶体T22以及第三晶体管T32均关闭，所述测试信号Test Line维持高电位。在第三时间段T2，所述GIP信号跳至低电位，所述时钟信号CK为低电位，所述第二晶体管T22由电容C22耦合，所述第二晶体管T22打开，所述第一晶体管T1与第三晶体管T32关闭，所述测试信号Test Line连接至第二级GIP信号跳至低电位。在第四时间段T3，所述GIP信号跳至高电位，所述时钟信号维持低电位，所述第一晶体管T1、第二晶体T22以及第三晶体管T32均关闭，所述测试信号Test Line维持低电位。在第五时间段T4，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号CK为高电位，所述第一晶体管T1与第三晶体管T32打开，所述第二晶体管T22关闭，所述测试信号Test Line跳至高电位。

以此重复，直至第n扫描线提供第n级GIP信号，最终得到测试信号Test Line，如图3所示，所述测试信号Test Line的每个低电位对应一级GIP信号。

每一级GIP信号均正常时，通过所述信号测试线Test Line输出的测试信号如图3所示，每一级GIP信号下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟T1时间段，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前T3时间。因此，通过采集所述测试信号线Test Line输出的测试信号能够监控每一级GIP信号。若某一级GIP信号出现异常，所述测试信号线Test Line输出的测试信号就会不同于图3所示的波形。

相应的，本发明还提供一种显示装置，请继续参考图2，所述显示面板包括：GIP电路(图中未示出)、多条扫描线(S1至Sn)和如上所述的GIP信号检测电路；所述GIP电路通过所述多条扫描线(S1至Sn)与所述GIP信号测试电路连接，用于向所述GIP信号测试电路提供多级GIP信号，所述GIP信号测试电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。

具体的，所述显示装置包括显示区域和围绕于所述显示区域的非显示区域(图中未示出)，所述显示区域中设置有多个呈矩阵排布的像素(图中未示出)，所述GIP电路和GIP信号测试电路通常设置于所述显示装置的非显示区域内。其中，所述GIP电路通过所述多条扫描线(S1至Sn)分别提供多级GIP信号，所述GIP信号的每一级GIP信号用于导通一行像素。所述GIP信号测试电路的多个第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管T31至T3n)、电容(C1至Cn)与多条扫描线一一对应并相互连接，所述信号测试线Test Line通过多个第二晶体管(T21至T2n)、多个第三晶体管(T31至T3n)以及多个电容(C1至Cn)分别接收多级GIP信号，并根据所述每一级GIP信号输出测试信号。

传统的显示装置只将第一级和最后一极(第n极)的GIP信号引出进行测试，不但需要两条走线，而且除了第一级和最后一极之外的其余各级GIP信号均无法进行测试，因此无法确保其GIP电路的可靠性。而本发明提供的显示装置中，通过一条信号测试线Test Line就能够检测GIP电路输出的每一级GIP信号。因此，具有上述GIP信号测试电路的显示装置能够确保其GIP电路的可靠性。

其中，所述显示装置可以是液晶显示装置(LCD)、等离子体显示装置(PDP)、有机发光显示装置(OLED)、柔性显示装置或者其他类型的显示装置，具体类型在此不做限制。

综上所述，本发明提供的GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，采用新型的GIP信号测试电路，只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。

上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。