液晶屏测试板及电视机的测试装置的制作方法

本发明涉及电视机领域，尤其涉及一种液晶屏测试板及电视机的测试装置。

背景技术：

电视机在模组生产环节中，需要对电视机的TFT液晶屏进行老化测试，以提前发现其TFT液晶屏的显示缺陷以及检测TFT液晶屏的可靠性。现有技术中，对电视机的TFT液晶屏的老化测试方法是通过电视机的机芯板去点亮TFT液晶屏以对其进行老化测试，电视机的机芯板自带TFT液晶屏的W/R/G/B老化画面。现有技术中的该TFT液晶屏的老化测试方法，测试成本较高，占用了机芯板的资源，影响了机芯板的其它功能。并且，不同厂商(如华星光电、三星、LG、群创及友达等)生产的TFT液晶屏的老化测试触发方式及老化测试接口都不尽相同，因此，当需要对不同厂商生产的TFT液晶屏进行老化测试时，则需要很多种线材去搭配相应的老化测试接口，线材种类多且不好管理，测试过程也较复杂。例如，当需要分别对三星、LG、群创、友达及华星光电厂商生产的UD屏(分辨率为3840*2160)进行老化测试时，则需要五种线材去搭配各被测UD屏的老化测试接口。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于提供一种液晶屏测试板，旨在降低TFT液晶屏的老化测试成本以及简化TFT液晶屏的老化测试过程。

为了实现上述目的，本发明提供一种液晶屏测试板，所述液晶屏测试板包括电源输入端、电压转换电路、插针电路、背光控制电路、控制信号输出端及老化测试连接器；其中：

所述电压转换电路，用于将所述电源输入端的电源电压转换为被测TFT液晶屏老化测试用的测试触发电压和被测TFT液晶屏的供电电压；

所述插针电路，用于将所述测试触发电压输出至所述老化测试连接器中的相应引脚；

所述背光控制电路，用于输出控制被测TFT液晶屏亮度的亮度控制信号至所述控制信号输出端，以控制被测TFT液晶屏在老化测试过程中一直处于最亮的状态；

所述老化测试连接器，用于连接被测TFT液晶屏的老化测试接口，将所述供电电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚，以及将所述测试触发电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，对被测TFT液晶屏进行老化测试。

优选地，所述电压转换电路的输入端与所述电源输入端连接，所述电压转换电路的第一输出端与所述插针电路的输入端连接，所述电压转换电路的第二输出端与所述老化测试连接器连接；所述老化测试连接器还与所述插针电路的输出端连接；所述背光控制电路的输入端与所述电压转换电路的第一输出端连接，所述背光控制电路的输出端与所述控制信号输出端连接。

优选地，所述电源输入端包括第一电压输入端和第二电压输入端，所述第一电压输入端和所述第二电压输入端均与所述电压转换电路连接。

优选地，所述第一电压输入端的电压为24V，所述第二电压输入端的电压为12V。

优选地，所述电压转换电路包括第一DC-DC电路、第二DC-DC电路及第三DC-DC电路；其中：

所述第一DC-DC电路，用于将所述第一电压输入端输入的24V电压转换为12V电压；

所述第二DC-DC电路，用于将所述第一DC-DC电路输出的所述12V电压转换为3.3V电压，所述3.3V电压用于提供给被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能；

所述第三DC-DC电路，用于将所述第一电压输入端输入的24V电压和所述第二电压输入端输入的12V电压均转换为5V电压。

优选地，所述液晶屏测试板还包括被测屏供电选择电路，所述被测屏供电选择电路用于对被测TFT液晶屏的供电电压进行选择。

优选地，所述第一DC-DC电路的输入端与所述第一电压输入端连接，所述第一DC-DC电路的输出端与所述第二DC-DC电路的输入端连接；所述第二DC-DC电路的输出端与所述插针电路的输入端连接；所述第三DC-DC电路的第一输入端与所述第一电压输入端连接，所述第三DC-DC电路的第二输入端与所述第二电压输入端连接，所述第三DC-DC电路的输出端与所述被测屏供电选择电路的第一输入端连接；所述被测屏供电选择电路的第二输入端分别与所述第二电压输入端及所述第一DC-DC电路的输出端连接；所述被测屏供电选择电路的输出端与所述老化测试连接器的相应引脚连接。

优选地，所述老化测试连接器包括第一老化测试连接器和第二老化测试连接器，所述第一老化测试连接器及所述第二老化测试连接器均与所述插针电路的输出端连接。

优选地，所述第一老化测试连接器包括一个30引脚的端子，所述第二老化测试连接器包括一个51引脚的端子。

此外，为了实现上述目的，本发明还提供一种电视机的测试装置，所述电视机的测试装置包括如上所述的液晶屏测试板。

本发明提供一种液晶屏测试板，该液晶屏测试板包括电源输入端、电压转换电路、插针电路、背光控制电路、控制信号输出端及老化测试连接器；所述电压转换电路，用于将所述电源输入端的电源电压转换为被测TFT液晶屏老化测试用的测试触发电压和被测TFT液晶屏的供电电压；所述插针电路，用于将所述测试触发电压输出至所述老化测试连接器中的相应引脚；所述背光控制电路，用于输出控制被测TFT液晶屏亮度的亮度控制信号至所述控制信号输出端，以控制被测TFT液晶屏在老化测试过程中一直处于最亮的状态；所述老化测试连接器，用于连接被测TFT液晶屏的老化测试接口，将所述供电电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚，以及将所述测试触发电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，对被测TFT液晶屏进行老化测试。本发明液晶屏测试板降低了TFT液晶屏的老化测试成本，极大地简化了TFT液晶屏的老化测试过程；并且，本发明还能够对不同厂商生产的不同类型的TFT液晶屏进行老化测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明液晶屏测试板第一实施例的电路模块结构示意图；

图2为本发明液晶屏测试板第二实施例的电路模块结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供一种液晶屏测试板，参照图1，图1为本发明液晶屏测试板第一实施例的电路结构示意图，本实施例中，该液晶屏测试板包括电源输入端101、电压转换电路102、插针电路103、老化测试连接器104、背光控制电路105及控制信号输出端106。

具体地，本实施例中，所述电源输入端101，用于为该液晶屏测试板输入测试用的电源电压；

所述电压转换电路102，用于将所述电源输入端101所输入的电源电压转换为被测TFT液晶屏(图未示)老化测试用的测试触发电压和被测TFT液晶屏的供电电压；

所述插针电路103，用于将所述电压转换电路102输出的所述测试触发电压输出至所述老化测试连接器104中的相应引脚；

所述老化测试连接器104，用于连接被测TFT液晶屏的老化测试接口，将所述电压转换电路102输出的所述供电电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚，以及将所述电压转换电路102输出的所述测试触发电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，对被测TFT液晶屏进行老化测试；

所述背光控制电路105，用于输出控制被测TFT液晶屏亮度的亮度控制信号至所述控制信号输出端106，以控制被测TFT液晶屏在老化测试过程中一直处于最亮的状态。

本实施例中，所述电压转换电路102的输入端与所述电源输入端101连接，所述电压转换电路102的第一输出端E与所述插针电路103的输入端连接，所述电压转换电路102的第二输出端F与所述老化测试连接器104连接；所述老化测试连接器104还与所述插针电路103的输出端连接；所述背光控制电路105的输入端与所述电压转换电路102的第一输出端连接，所述背光控制电路105的输出端与所述控制信号输出端106连接。本实施例中，所述电压转换电路102的第一输出端E输出被测TFT液晶屏老化测试用的测试触发电压，所述电压转换电路102的第二输出端F输出被测TFT液晶屏的供电电压。

进一步地，参照图2，基于本发明液晶屏测试板的第一实施例，在本发明液晶屏测试板的第二实施例中，所述电源输入端101包括第一电压输入端A和第二电压输入端B，所述第一电压输入端A的电压为24V，所述第二电压输入端B的电压为12V。当被测TFT液晶屏的供电电压为12V时，可以将所述电源输入端101的所述第二电压输入端B的12V电压可以提供给被测TFT液晶屏(图未示)的老化测试接口中的供电引脚，对被测TFT液晶屏进行供电。

本实施例中，所述电压转换电路102包括第一DC-DC电路1021、第二DC-DC电路1022及第三DC-DC电路1023。

具体地，所述第一DC-DC电路1021，用于将所述第一电压输入端A输入的24V电压转换为12V电压。当被测TFT液晶屏的供电电压为12V时，可以将所述第一DC-DC电路1021输出的该12V电压提供给被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚，对被测TFT液晶屏进行供电。

所述第二DC-DC电路1022，用于将所述第一DC-DC电路1021输出的所述12V电压转换为3.3V电压，所述3.3V电压用于提供给被测TFT液晶屏的老化测试接口的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，对被测TFT液晶屏进行老化测试。即本实施例中，3.3V是被测TFT液晶屏老化测试用的测试触发电压。

所述第三DC-DC电路1023，用于将所述电源输入端101中的所述第一电压输入端A输入的24V电压和所述第二电压输入端B输入的12V电压均转换为5V电压。当被测TFT液晶屏的供电电压为5V时，可以将所述第三DC-DC电路1023输出的该5V电压提供给被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚，对被测TFT液晶屏进行供电。

进一步地，本实施例液晶屏测试板还包括被测屏供电选择电路107，所述被测屏供电选择电路107用于对被测TFT液晶屏的供电电压进行选择，本实施例液晶屏测试板通过所述被测屏供电选择电路107来选择被测TFT液晶屏的供电电压，被测TFT液晶屏的供电电压为12V或5V。具体地，本实施例液晶屏测试板在实际的测试应用中，所述被测屏供电选择电路107为一跳线帽，即通过跳线帽来选来择被测TFT液晶屏的供电电压。

具体地，本实施例中，所述第一DC-DC电路1021的输入端与所述电源输入端101的所述第一电压输入端A连接，所述第一DC-DC电路1021的输出端与所述第二DC-DC电路1022的输入端连接；所述第二DC-DC电路1022的输出端与所述插针电路103的输入端连接；所述第三DC-DC电路1023的第一输入端与所述电源输入端101的所述第一电压输入端A连接，所述第三DC-DC电路1023的第二输入端与所述电源输入端101的所述第二电压输入端B连接，所述第三DC-DC电路1023的输出端与所述被测屏供电选择电路107的第一输入端连接；所述被测屏供电选择电路107的第二输入端分别与所述电源输入端101的所述第二电压输入端B及所述第一DC-DC电路1021的输出端连接；所述被测屏供电选择电路107的输出端与所述老化测试连接器104的相应引脚连接。本实施例中，所述背光控制电路105的输入端与所述第二DC-DC电路1022的输出端连接，即所述背光控制电路105的供电电压为3.3V。

本实施例中，所述老化测试连接器104包括第一老化测试连接器(图未示)和第二老化测试连接器(图未示)，所述第一老化测试连接器及所述第二老化测试连接器均与所述插针电路的输出端连接。本实施例中，所述第一老化测试连接器包括一个30引脚的端子，所述第二老化测试连接器包括一个51引脚的端子。

本实施例液晶屏测试板上的所述老化测试连接器104与被测TFT液晶屏的老化测试接口连接，利用被测TFT液晶屏自身的老化测试功能，本实施例通过触发每款被测TFT液晶屏的老化测试功能，让被测TFT液晶屏自身进行老化测试。参照表1，表1是TFT液晶屏老化测试功能的触发方式统计表，每个厂商生产的TFT液晶屏均包括UD屏(分辨率为3840*2160)、FHD屏(分辨率为1920*1080)和HD屏(分辨率为1366*768)，不同厂商生产的同一款TFT液晶屏，其老化测试功能的触发方式都是不同的。

表1TFT液晶屏老化测试功能的触发方式统计表

如表1所示，华星光电的TFT液晶屏的老化测试触发方式为：HD屏和FHD屏均只需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压；UD屏除了将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压外，还需要将其老化测试接口的第23引脚拉高到3.3v。

三星的TFT液晶屏的老化测试触发方式为：HD屏、FHD屏和UD屏均只需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压。

LG的TFT液晶屏的老化测试触发方式为：HD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第30引脚拉高到3.3v；FHD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第44引脚拉高到3.3v；UD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第23引脚拉高到3.3v。

群创的TFT液晶屏的老化测试触发方式为：HD屏将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第10引脚拉高到3.3v，同时，还需要给其老化测试接口的第10引脚提供LVDS CLOCK信号；FHD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第1引脚拉高到3.3v，同时，还需要给其老化测试接口的第1引脚提供LVDS CLOCK信号；UD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第23引脚拉高到3.3v，同时，若将其老化测试接口的第22引脚拉高到3.3v，则该UD屏的老化画面将暂停。

友达TFT液晶屏的老化测试触发方式为：HD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第27引脚拉高到3.3v；FHD屏需将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其第4引脚拉高到3.3v；UD屏将其老化测试接口接GND和接入12V的供电电压，且需要将其老化测试接口的第23引脚拉高到3.3v。

当本实施例液晶屏测试板需要对表1中的相应TFT液晶屏进行老化测试时，需要将本实施例液晶屏测试板上的所述老化测试连接器104与被测TFT液晶屏的老化测试接口进行连接，根据被测TFT液晶屏的不同，在所述第一老化测试连接器和所述第二老化测试连接器中选择其中一个老化测试连接器与被测TFT液晶屏的老化测试接口进行连接，然后根据表1所示的不同厂商生产的HD屏、FHD屏及UD屏的老化测试功能的触发方式，通过所述插针电路103对不同被测TFT液晶屏的老化测试功能的触发方式进行调试选择。具体地，由于某些被测TFT液晶屏在老化测试时需要用到3.3V的测试触发电压，因此，本实施例通过所述插针电路103将所述第二DC-DC电路1022所输出的3.3V的测试触发电压输出至所述老化测试连接器104的相应引脚，然后通过所述老化测试连接器104将该3.3V的测试触发电压输出至被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚，以触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，对被测TFT液晶屏进行老化测试。

本实施例液晶屏测试板在实际的测试应用中，根据表1所示的不同厂商生产的HD屏、FHD屏及UD屏的老化测试功能的触发方式，在所述插针电路104上通过跳线帽的方式将所述老化测试连接器104的相应引脚拉高到3.3V，同时，通过跳线帽的方式将所述老化测试连接器104的相应引脚连接到12V或5V(根据被测TFT液晶屏的供电电压进行选择)，进而将被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚拉高到3.3V以及将被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚连接到12V或5V，从而触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，实现对被测TFT液晶屏的老化测试。另外，由于被测TFT液晶屏在老化测试过程中，需要控制被测TFT液晶屏的亮度为最亮状态，本实施例液晶屏测试板通过所述背光控制电路105输出控制被测TFT液晶屏亮度的亮度控制信号至所述控制信号输出端106，在实际应用中，所述亮度控制信号从所述控制信号输出端106输出后，经电视机的电源板输出至电视机的背光模组，以控制被测TFT液晶屏在老化测试过程中一直处于最亮的状态。

本实施例液晶屏测试板是根据表1所示的不同厂商生产的HD屏、FHD屏及UD屏的老化测试功能的触发方式，针对每款TFT液晶屏的老化测试功能的触发方式，在所述插针电路104上通过跳线帽的方式将所述老化测试连接器104的相应引脚拉高到3.3V，同时，通过跳线帽的方式将所述老化测试连接器104的相应引脚连接到12V或5V(根据被测TFT液晶屏的供电电压进行选择)，进而将被测TFT液晶屏的老化测试接口中的相应触发引脚拉高到3.3V以及将被测TFT液晶屏的老化测试接口中的供电引脚连接到12V或5V，从而触发被测TFT液晶屏的老化测试功能，实现对被测TFT液晶屏的老化测试。本实施例能够对不同厂商生产的不同类型的TFT液晶屏进行老化测试，例如，能对华星光电、三星、LG、群创及友达公司生产的UD屏、FHD屏及HD屏进行老化测试；并且，本实施例还节省了电视机的生产资源，降低了TFT液晶屏的老化测试成本；同时，本实施例还极大地简化了TFT液晶屏的老化测试过程。

本发明还提供一种电视机的测试装置，该电视机的测试装置包括液晶屏测试板，该液晶屏测试板的结构可参照上述实施例，在此不再赘述。理所应当地，由于本实施例的电视机的测试装置采用了上述液晶屏测试板的技术方案，因此该电视机的测试装置具有上述液晶屏测试板所有的有益效果。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。