一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法与流程

文档序号:15460723发布日期:2018-09-18 18:04阅读:233来源:国知局

本发明涉及投射比反射比测量技术领域,特别是涉及一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法。



背景技术:

目前,针对透射比与反射比测量仪的零值校准与精度校准尚缺少一种快速高效的装置与方法,严重影响到产品的出厂品质与用户体验。

现有方法,先准备N(N需大于20)个标定过的不同透射比反射比的玻璃。测定步骤如下:

用待检的透射比与反射比测量仪对标定过的玻璃进行测量,记录测量结果;

通过对比N个实际测量结果值与N个标定值,调整模拟比例放大电路的比率参数;

重复步骤1、2,直到所有实际测量结果值与标定值的误差小于1%;

将实际测量结果值填入检测报告。

以上过程全程手工校准,而且电子元件误差等原因,需要重新进行多次过程1和2的测试校准步骤,对于熟练工人可能只要重复校准二到三次即能完成以上调整过程,但是对于非熟练工人可能要校准十几次才能达到校准值。校准完以后,还要对N个标定过的不同透射比反射比的玻璃进行检测,并填写检测报告,如发现检测值偏离玻璃的实际值大于1%,则进行返修,返修后再重新进行检测校准。

以上方法的误差精度控制在1%以内,完成以上一个成品的检测校准过程平均需要50分钟,想再提高精度需要更多次的重新进行多次过程1和2的测试校准步骤,需要更多的工时用于检测校准,造成成本大幅上升,并且将严重影响到产品出货。



技术实现要素:

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法,用于解决现有技术中需要很多的工时用于检测校准,造成成本大幅上升,并且将严重影响到产品出货的问题。

本发明提供一种透射比反射比测量仪的检测校准方法,包括步骤:S1、移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第一测量数据;S2、移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第二测量数据;S3、移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第三测量数据;S4、获取所述第一测量数据、所述第二测量数据和所述第三测量数据,并计算出与目标值的比率;然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数;S5、逐一移动多个固定标定值的玻璃至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第四测量数据;依次将所述标定值与所述第四测量数据进行比较生成比值数据;将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中,拟合成一条校准曲线;S6、检验校准准确度,结束校准。

于本发明的一实施例中,多个所述固定标定值的玻璃的透射比与反射比在0%~100%范围内等差分布。

于本发明的一实施例中,所述步骤S5中还包括步骤:反复对多个固定标定值的玻璃进行测量,将实际测量值代入所述校准曲线,对所述校准曲线进行实时更新,进而得出测量精度更高的结果值;其中,固定标定值的玻璃的数量越多,拟合曲线越逼近真实线性曲线值,测量结果和调试结果的精度越高。

于本发明的一实施例中,所述步骤S6中还包括步骤:校准后的参数自动逐一测试固定标定值的玻璃,测试结束后出具检测校准报告,所述检测校准报告包含了标定值与实测值以及误差值,判断所述误差值是否在0.2%内;若符合,则结束校准;若不符合,则返回步骤S5继续检测。

本发明还提供了一种透射比反射比测量仪的检测校准装置,包括控制装置、测量仪、数控滑台、内部覆盖超黑吸光膜的盖子、内部覆盖全反射镜面膜的盖子、内部覆盖定向反射晶体膜的盖子和多个固定标定值的玻璃;所述内部覆盖超黑吸光膜的盖子、所述内部覆盖全反射镜面膜的盖子、所述内部覆盖定向反射晶体膜的盖子和多个所述固定标定值的玻璃均匀间隔放置在所述数控滑台上;所述控制装置和所述测量仪相连,所述测量仪的测量端正对所述数控滑台;所述控制装置还用于驱动所述数控滑台,移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第一测量数据;移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第二测量数据;移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第三测量数据;逐一移动多个固定标定值的玻璃至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第四测量数据;依次将所述标定值与所述第四测量数据进行比较生成比值数据;将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中,拟合成一条校准曲线;获取所述第一测量数据、所述第二测量数据和所述第三测量数据,并计算出与目标值的比率;然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数;所述控制装置还用于检验校准准确度,在准确度符合要求的时候结束校准。

于本发明的一实施例中,多个所述固定标定值的玻璃的透射比与反射比在0%~100%范围内等差分布。

于本发明的一实施例中,所述控制装置还用于反复对多个固定标定值的玻璃进行测量,将实际测量值代入所述校准曲线,对所述校准曲线进行实时更新,进而得出测量精度更高的结果值;其中,固定标定值的玻璃的数量越多,拟合曲线越逼近真实线性曲线值,测量结果和调试结果的精度越高。

于本发明的一实施例中,所述控制装置还用于校准后的参数自动逐一测试固定标定值的玻璃,测试结束后出具检测校准报告,所述检测校准报告包含了标定值与实测值以及误差值,并在所述误差值在0.2%内时结束校准;在所述误差值不在0.2%内时返回继续检测。

如上所述,本发明的一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法,具有以下有益效果:

检测误差最小;产品品质可控在确定的误差范围;测试数据全部自动储存在数据库中,可追溯,便于出厂后的清零复原等维护。自动化方式检测,提高检测效率,与检测精度。结合超黑吸光膜、全反射镜面膜、定向反射晶体膜、数字增益放大电路,实现快速调整比率参数,降低了调整的次数与时间。降低人为因素引起的质量问题,提高产能,降低成本。提升产品品质,产品检测精度由1%提升至0.2%。

附图说明

图1显示为本发明中透射比反射比测量仪的检测校准方法的流程方框示意图。

图2显示为本发明中透射比反射比测量仪的检测校准装置的结构示意图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想,遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。

参见图1至图2,须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。

如图1所示,图1显示为本发明中透射比反射比测量仪的检测校准方法的流程方框示意图。

本发明提供了一种透射比反射比测量仪的检测校准方法,包括步骤:

S1、移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第一测量数据;检测内部覆盖超黑吸光膜的盖子的目的是校准测量仪的零透射率值和零反射率值。

S2、移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第二测量数据;检测内部覆盖超全反射镜面膜的盖子的目的是校准测量仪的全反射率值。S3、移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第三测量数据;检测内部定向反射晶体膜的盖子的目的是校准测量仪的全透射率值。

S4、获取所述第一测量数据、所述第二测量数据和所述第三测量数据,并计算出与目标值的比率;然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数;

S5、逐一移动多个固定标定值的玻璃至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第四测量数据;依次将所述标定值与所述第四测量数据进行比较生成比值数据;将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中,拟合成一条校准曲线;

S6、检验校准准确度,结束校准。

在本发明的一实施例中,多个所述固定标定值的玻璃的透射比与反射比在0%~100%范围内等差分布。

在本发明的一实施例中,所述步骤S5中还包括步骤:

反复对多个固定标定值的玻璃进行测量,将实际测量值代入所述校准曲线,对所述校准曲线进行实时更新,进而得出测量精度更高的结果值;

其中,固定标定值的玻璃的数量越多,拟合曲线越逼近真实线性曲线值,测量结果和调试结果的精度越高。

在本发明的一实施例中,所述步骤S6中还包括步骤:

校准后的参数自动逐一测试固定标定值的玻璃,测试结束后出具检测校准报告,所述检测校准报告包含了标定值与实测值以及误差值,判断所述误差值是否在0.2%内;若符合,则结束校准;若不符合,则返回步骤S5继续检测。

如图2所示,图2显示为本发明中透射比反射比测量仪的检测校准装置的结构示意图。本发明还提供了一种透射比反射比测量仪的检测校准装置,包括控制装置、测量仪、数控滑台、内部覆盖超黑吸光膜的盖子、内部覆盖全反射镜面膜的盖子、内部覆盖定向反射晶体膜的盖子和多个固定标定值的玻璃;

所述内部覆盖超黑吸光膜的盖子、所述内部覆盖全反射镜面膜的盖子、所述内部覆盖定向反射晶体膜的盖子和多个所述固定标定值的玻璃均匀间隔放置在所述数控滑台上;所述控制装置和所述测量仪相连,所述测量仪的测量端正对所述数控滑台;

所述控制装置还用于驱动所述数控滑台,移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第一测量数据;移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第二测量数据;移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第三测量数据;逐一移动多个固定标定值的玻璃至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第四测量数据;依次将所述标定值与所述第四测量数据进行比较生成比值数据;将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中,拟合成一条校准曲线;获取所述第一测量数据、所述第二测量数据和所述第三测量数据,并计算出与目标值的比率;然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数;所述控制装置还用于检验校准准确度,在准确度符合要求的时候结束校准。检测内部覆盖超黑吸光膜的盖子的目的是校准测量仪的零透射率值和零反射率值。检测内部覆盖超全反射镜面膜的盖子的目的是校准测量仪的全反射率值。检测内部定向反射晶体膜的盖子的目的是校准测量仪的全透射率值。

在本发明的一实施例中,多个所述固定标定值的玻璃的透射比与反射比在0%~100%范围内等差分布。

在本发明的一实施例中,所述控制装置还用于反复对多个固定标定值的玻璃进行测量,将实际测量值代入所述校准曲线,对所述校准曲线进行实时更新,进而得出测量精度更高的结果值;其中,固定标定值的玻璃的数量越多,拟合曲线越逼近真实线性曲线值,测量结果和调试结果的精度越高。

在本发明的一实施例中,所述控制装置还用于校准后的参数自动逐一测试固定标定值的玻璃,测试结束后出具检测校准报告,所述检测校准报告包含了标定值与实测值以及误差值,并在所述误差值在0.2%内时结束校准;在所述误差值不在0.2%内时返回继续检测。

综上所述,本发明的透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法,检测误差最小;产品品质可控在确定的误差范围;测试数据全部自动储存在数据库中,可追溯,便于出厂后的清零复原等维护。自动化方式检测,提高检测效率,与检测精度。结合超黑吸光膜、全反射镜面膜、定向反射晶体膜、数字增益放大电路,实现快速调整比率参数,降低了调整的次数与时间。降低人为因素引起的质量问题,提高产能,降低成本。提升产品品质,产品检测精度由1%提升至0.2%。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。

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