一种通讯设备的温升测试方法及系统与流程

本发明涉及温升测试技术领域，尤其涉及一种通讯设备的温升测试方法及系统。

背景技术：

通讯设备在使用过程中，各元件会发热，有些元件受温度影响，性能有很大波动，有些元件甚至会失效。因而，通讯设备在制造过程中一般会按比例抽样做温升测试，若该温升测试合格，才可以出厂。

然而，实际中，对于符合温升测试要求的通讯设备，仍会出现元件温度过高影响性能，甚至失效的问题。

有鉴于此，实有必要提供一种新的通讯设备的温升测试方法及系统，以获得准确的测试结果。

技术实现要素：

本发明的发明目的是提供一种通讯设备的温升测试方法及系统，测试结果准确。

为实现上述目的，本发明提供一种通讯设备的温升测试方法，包括：

在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；

对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；

开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；

判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；

对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。

可选地，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。

可选地，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。

可选地，所述加热温度的范围为35～50℃，所述升温时间的范围为10～30分钟，所述保温时间的范围为60～120分钟。

可选地，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。

本发明还提供一种通讯设备的温升测试系统，包括：电流监测电路、老化箱、温度-时间曲线获取模块、剔除模块以及判断模块；其中：

所述电流监测电路包括多个并联的热敏电阻丝，各个热敏电阻丝布置在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件上，所述电流监测电路用于监测各个热敏电阻丝的电流；

所述老化箱具有隔层以及温控模块，所述隔层用于承载搁板以及所述搁板承载的布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备；所述温控模块用于控制加热温度、升温时间以及保温时间，以使所述待测试通讯设备经历升温阶段及保温阶段，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；所述温控模块断电后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；

在所述保温阶段以及自然降温阶段，所述温度-时间曲线获取模块基于所述电流监测电路实时监测的各个热敏电阻丝的电流，得到各个热敏电阻丝的电阻值，基于各个电阻值及热敏电阻丝的阻值-温度曲线，换算所述各个热敏电阻丝的温度，进而得到待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；

所述剔除模块用于判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；

对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，判断待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则判断合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，判断所对应的内部元件温升测试不合格，否则判断合格。

可选地，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。

可选地，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。

可选地，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。

可选地，还包括存储模块，所述存储模块保存有各种通讯设备表面以及内部各种元件的预设升温曲线，以及各种通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度以及内部各种元件正常工作能承受的最高温度。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

1)本发明中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。

2)可选方案中，待测试通讯设备置入老化箱时的搁板，其材质与该待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。例如a)待测试通讯设备为智能音响或路由器，搁板的材质为木制；b)待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，搁板的材质为瓷砖。换言之，升温测试过程中模拟待测试通讯设备在使用过程中的环境，使得升温测试结果对待测试通讯设备的使用更有参考价值。

3)可选方案中，老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。相对于每次对一个待测试通讯设备进行温升测试的方案，本方案一方面能提高测试效率，另一方面各温度-时间曲线可以相互参照，利于快速剔除不符合待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线的温度-时间曲线。

附图说明

图1是本发明一实施例中的通讯设备的温升测试方法的流程图；

图2是本发明一实施例中的通讯设备的温升测试系统的模块图。

为方便理解本发明的具体方案，以下列出本发明中出现的所有附图标记：

温升测试系统1电流监测电路11

老化箱12温度-时间曲线获取模块13

剔除模块14判断模块15

热敏电阻丝11a隔层12a

温控模块12b搁板12c

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

图1是本发明一实施例中的通讯设备的温升测试方法的流程图。

以下分步骤详细介绍上述温升测试方法。参照图1所示，首先，执行步骤s1：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，各个热敏电阻丝并联；将布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封老化箱，置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载。

一个方案中，各个热敏电阻丝相同，即在同一温度下电阻值相同，温度每升高1℃，电阻值增加或减小量也相同。

另一个方案中，各个热敏电阻丝不相同，即在同一温度下电阻值不相同，和/或温度每升高1℃，电阻值增加或减小量不相同。

各个热敏电阻丝并联的好处在于：在各个热敏电阻丝两端加同一电压，通过测试流经各个热敏电阻丝的电流，即可获得各个热敏电阻丝的电阻值。已知电阻值，查该热敏电阻丝的电阻值-温度关系，即可得到热敏电阻丝的温度。若该热敏电阻丝布置在待测试通讯设备的表面，则得到的热敏电阻丝的温度即为待测试通讯设备表面的温度；若该热敏电阻丝布置在内部的待测试元件上，则得到的热敏电阻丝的温度即为内部待测试元件的温度。

本步骤中，搁板的材质与待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。一个方案中，待测试通讯设备为智能音响，使用环境中的预设承载件为桌面，因而搁板的材质选择木制。另一个方案中，待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，使用环境中的预设承载件为地面，因而搁板的材质选择瓷砖。换言之，升温测试过程中模拟待测试通讯设备在使用过程中的环境，使得升温测试结果对待测试通讯设备的使用更有参考价值。需要说明的是，待测试通讯设备为路由器时，其使用环境中的预设承载件可以为桌面，也可以为地面，升温测试过程中选择散热性能差的木制材质作为搁板的材质。

接着，仍参照图1所示，执行步骤s2：对老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，升温时间为老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，保温时间为待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间。

稳定状态是指待测试通讯设备性能最佳状态，一般可以通过待测试通讯设备的说明书获取加热温度至稳定状态所需的时间。

例如对于通讯设备以及电源适配器，加热温度的范围可以为35～50℃，升温时间的范围可以为10～30分钟，保温时间的范围可以为60～120分钟。

本步骤预设加热温度、升温时间以及保温时间时，还可以预设理想湿度。该理想湿度为待测试通讯设备性能最佳状态的湿度，即在升温阶段以及保温阶段不断调整老化箱内的湿度至理想湿度。

之后，仍参照图1所示，执行步骤s3：开启老化箱的电源，待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭老化箱的电源；关闭老化箱的电源后，待测试通讯设备进入自然降温阶段；在保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线。

老化箱的电源开启时，在升温阶段及保温阶段，为使老化箱内热量快速流动，需加速空气对流。关闭老化箱的电源后，老化箱仍处于密封状态，其内没有空气对流。

如步骤s1所述，获知各个热敏电阻丝的电流，即可换算出各个热敏电阻丝的温度，该温度也是待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度。实时监测是以预定频率获得电流，也即每隔预定时间获得电流，按时间轴作图，即可得到待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线。

再之后，仍参照图1所示，执行步骤s4：判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线。

待测试通讯设备表面或内部元件具有预设升温曲线。对于步骤s3中的升温阶段，温度随时间大致直线上升；对于保温阶段，加热与空气对流带走的热量大致均衡，温度随时间大致水平；对于自然降温阶段，由于撤掉空气对流，最初发热大于散热，因而温度会随时间先升后降。预设升温曲线符合上述变化走向。此外，上述变化走向除了温度在自然降温阶段达到一个最高点外，之前处于单一上升趋势，之后处于单一下降趋势。不符合上述变化走向的温度-时间曲线都是应被剔除的温度-时间曲线。

接着，仍参照图1所示，执行步骤s5：对于符合的温度-时间曲线中对于待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度-时间曲线中对于内部元件的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过该曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。

待测试通讯设备表面具有行业规定的正常工作时表面最高温度，例如对于无线路由器的适配器，该温度为50℃；内部元件具有正常工作能承受的最高温度，例如对于电阻，正常工作能承受的最高温度为150℃，对于电感，正常工作能承受的最高温度为115℃。若超过该行业规定的正常工作时表面最高温度或正常工作能承受的最高温度，会对性能有较大影响，待测试通讯设备表面或内部元件温升测试不合格。

基于上述的温升测试方法，本发明还提供一种温升测试系统。图2是本发明一实施例中的通讯设备的温升测试系统的模块图。

参照图2所示，温升测试系统1包括：电流监测电路11、老化箱12、温度-时间曲线获取模块13、剔除模块14以及判断模块15；其中：

电流监测电路11包括多个并联的热敏电阻丝11a，各个热敏电阻丝11a布置在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件上，电流监测电路11用于监测各个热敏电阻丝11a的电流；

老化箱12具有隔层12a以及温控模块12b，隔层12a用于承载搁板12c以及搁板12c承载的布置有热敏电阻丝11a的待测试通讯设备；温控模块12b用于控制加热温度、升温时间以及保温时间，以使待测试通讯设备经历升温阶段及保温阶段，升温时间为老化箱12从室温至加热温度所需的加热时间，保温时间为待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；温控模块12b断电后，待测试通讯设备进入自然降温阶段；

在保温阶段以及自然降温阶段，温度-时间曲线获取模块13基于电流监测电路11实时监测的各个热敏电阻丝11a的电流，得到各个热敏电阻丝11a的电阻值，基于各个电阻值及热敏电阻丝11a的阻值-温度曲线，换算各个热敏电阻丝11a的温度，进而得到待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；

剔除模块14用于判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；

对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断模块15用于判断该曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，判断待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则判断合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，判断模块15用于判断该曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过该曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，判断所对应的内部元件温升测试不合格，否则判断合格。

对于电流监测电路11，一个方案中，各个热敏电阻丝11a相同，即在同一温度下电阻值相同，温度每升高1℃，电阻值增加或减小量也相同；另一个方案中，各个热敏电阻丝11a不相同，即在同一温度下电阻值不相同，和/或温度每升高1℃，电阻值增加或减小量不相同。

图2中示意出两个热敏电阻丝11a，其中实线所示的是布置在待测试通讯设备表面；虚线所示的是布置在内部待测试元件上。其它实施例中，热敏电阻丝11a可以为其它数目。各个热敏电阻丝11a并联的好处以及温度-时间曲线获取模块13的工作原理在于：在各个热敏电阻丝11a两端加同一电压，通过测试流经各个热敏电阻丝11a的电流，即可获得各个热敏电阻丝11a的电阻值。已知电阻值，查该热敏电阻丝11a的电阻值-温度关系，即可得到热敏电阻丝的温度。若该热敏电阻丝11a布置在待测试通讯设备的表面，则得到的热敏电阻丝11a的温度即为待测试通讯设备表面的温度；若该热敏电阻丝11a布置在内部的待测试元件上，则得到的热敏电阻丝11a的温度即为内部待测试元件的温度。

对于老化箱12，搁板12c的材质与待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。一个方案中，待测试通讯设备为智能音响，使用环境中的预设承载件为桌面，因而搁板12c的材质选择木制。另一个方案中，待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，使用环境中的预设承载件为地面，因而搁板12c的材质选择瓷砖。换言之，升温测试过程中模拟待测试通讯设备在使用过程中的环境，使得升温测试结果对待测试通讯设备的使用更有参考价值。需要说明的是，待测试通讯设备为路由器时，其使用环境中的预设承载件可以为桌面，也可以为地面，升温测试过程中选择散热性能差的木制材质作为搁板12c的材质。

对于隔层12a，其材质可以为不锈钢；隔层12a可以具有多个，用于放置多个相同的待测试通讯设备，即多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。一个方案中，也可以省略隔层12a的实物，搁板12c直接挂在老化箱12的壁上。

一个方案中，温升测试系统1还包括存储模块。存储模块保存有各种通讯设备表面以及内部各种元件的预设升温曲线，以及各种通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度以及内部各种元件正常工作能承受的最高温度。

剔除模块14基于温度-时间曲线获取模块13以及存储模块，剔除出温度-时间曲线中不符合所对应待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线的温度-时间曲线。

判断模块15基于温度-时间曲线获取模块13、剔除模块14以及存储模块，判断待测试通讯设备表面以及内部各种元件温升测试是否合格。

温升测试系统1中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。

虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。