技术特征：
技术总结
本发明提供了一种通讯设备的温升测试方法及系统，本发明中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。
技术研发人员：林燕群
受保护的技术使用者：四川斐讯信息技术有限公司
技术研发日：2018.06.12
技术公布日：2019.01.04