一种测试电路板信号装置的制作方法

本申请涉及硬件测试设计领域，特别是涉及一种测试电路板信号装置。

背景技术：

通常，在对电路板的开发过程中，会针对电路板的一些信号进行测试，例如，需要测试电路板的电流值、电压值、电流的波形、电压的波形等信号，以便能够实现对于电路板的信号进行记录和跟踪，从而确定电路板是否满足设计要求。

在现有技术中，通常需要开发人员使用示波器或万用表等测试仪器，对电路板的信号进行测试，然后，手动将测试得到的信号输入至测试系统中，以便测试系统根据这些信号进行测试。

然而，在人工通过测试仪器，手动对电路板进行测试的过程中，容易出现操作失误，导致手动测试得到的信号不准确，并且也会导致测试系统的测试结果不准确，从而导致电路板的信号的测试效率大大降低。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种测试电路板信号装置，以实现提高待测试电路板的测试结果的准确性，从而提高待测试电路板的信号的测试效率。

本申请实施例公开了如下技术方案：

本申请实施例提供了一种测试电路板信号装置，所述装置包括待测试电路板、采集信号单元和信号测试单元；

所述采集信号单元与所述待测试电路板连接，所述采集信号单元用于采集所述待测试电路板的信号，并根据所述信号更新所存储的信号；

所述信号测试单元与所述采集信号单元连接，所述信号测试单元用于读取所述采集信号单元所存储的信号，并根据读取的信号对所述待测试电路板进行测试。

可选的，所述采集信号单元包括寄存器，所述寄存器用于存储所述采集信号单元采集的信号；

所述采集信号单元还用于根据采集的信号更新所述寄存器所存储的信号；

所述信号测试单元还用于读取所述寄存器所存储的信号。

可选的，所述采集信号单元通过多条数据线与所述待测试电路板连接，其中，所述多条数据线中的每一条数据线分别传输一个信号。

可选的，所述采集信号单元还用于根据时钟信号更新所存储的信号。

可选的，所述采集信号单元还用于当采集的信号由低电平跳变为高电平时，更新所存储的信号。

由上述技术方案可以看出，在本申请的技术方案中，测试电路板信号装置，包括待测试电路板、采集信号单元和信号测试单元；所述采集信号单元与所述待测试电路板连接，所述采集信号单元用于采集所述待测试电路板的信号，并根据所述信号更新所存储的信号；所述信号测试单元与所述采集信号单元连接，所述信号测试单元用于读取所述采集信号单元所存储的信号，并根据读取的信号对所述待测试电路板进行测试。可见，在本申请中，由于采集信号单元与待测试电路板直接连接，故采集信号单元可以直接从待测试电路板采集待测试电路板的信号，并保存采集的信号，以便信号测试单元能够直接从采集信号单元直接读取信号，避免了现有技术中人工通过测试仪器手动测试所导致的测试误差，提高了待测试电路板的测试结果的准确性，从而提高了待测试电路板的信号的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种测试电路板信号装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

下面结合附图，详细说明本申请的各种非限制性实施方式。

参见图1，为本申请实施例提供的一种测试电路板信号装置的结构示意图。如图1所示，本实施例提供了一种测试电路板信号装置，所述装置包括待测试电路板101、采集信号单元102和信号测试单元103。需要说明的是，待测试电路板101可以是需要采集信号进行测试的电路板，例如，可以是控制板、单板等。

在该测试电路板信号装置中，采集信号单元102可以与待测试电路板101连接；其中，采集信号单元102可以用于采集待测试电路板101的信号，并根据采集到的信号更新所存储的信号，例如，采集信号单元102可以为复杂可编程逻辑器件(complexprogrammablelogicdevice，cpld)芯片。在一种实现方式中，采集信号单元102可以通过多条数据线与待测试电路板101连接，其中，该多条数据线中的每一条数据线分别传输一个信号，例如，如图1所示，采集信号单元102可以通过n条数据线与待测试电路板101连接，该n条数据线中的每一条数据线分别传输一个信号。

在一种可能的实现方式中，采集信号单元102还可以用于根据时钟信号更新所存储的信号，例如，当采集信号单元102采集的信号由低电平跳变为高电平或者由高电平跳变为低电平时，可以更新所存储的信号。举例来说，假设采集信号单元102存储的信号n为低电平，当采集到信号n为高电平时，将所存储的信号n由低电平更新为高电平；之后，若采集到的信号n为低电平时，将所存储的信号n由高电平更新为低电平。

在该测试电路板信号装置中，信号测试单元103与采集信号单元102连接，信号测试单元103用于读取采集信号单元102所存储的信号，并根据读取的信号对所述待测试电路板进行测试，例如，可以根据读取到的信号对待测试电路板101的信号进行记录和跟踪。举例来说，当采集信号单元102存储的信号发生更新时，信号测试单元103可以读取采集信号单元102所存储的信号。

需要说明的是，在一种实现方式中，采集信号单元102可以包括寄存器104，寄存器104用于存储采集信号单元102采集的信号。在本方式中，采集信号单元102采集到待测试电路板101的信号后，可以将采集的信号存储在寄存器104中，并且，采集信号单元102还可以根据采集的信号更新寄存器104中所存储的信号；相应地，信号测试单元103需要读取信号时，可以读取采集信号单元102中寄存器104所存储的信号。

由上述技术方案可以看出，在本申请的技术方案中，测试电路板信号装置，包括待测试电路板、采集信号单元和信号测试单元；所述采集信号单元与所述待测试电路板连接，所述采集信号单元用于采集所述待测试电路板的信号，并根据所述信号更新所存储的信号；所述信号测试单元与所述采集信号单元连接，所述信号测试单元用于读取所述采集信号单元所存储的信号，并根据读取的信号对所述待测试电路板进行测试。可见，在本申请中，由于采集信号单元与待测试电路板直接连接，故采集信号单元可以直接从待测试电路板采集待测试电路板的信号，并保存采集的信号，以便信号测试单元能够直接从采集信号单元直接读取信号，避免了现有技术中人工通过测试仪器手动测试所导致的测试误差，提高了待测试电路板的测试结果的准确性，从而提高了待测试电路板的信号的测试效率，并且，测试电路板信号装置还可以实时地对待测试电路板进行信号测试。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。以上所描述的设备及系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述，仅为本较佳的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。