技术总结
本发明公开了一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法，该发明利用分色片的分光功能，将带有刻线的分划板与激光光纤端面等距离的固定到分色片两侧，通过光纤将延迟回波发生器组件产生的激光经过平行光管发射至被检设备，同时在平行光管焦面放置光纤输出的信标光源作为指示光，来实现快速测量激光测距系统性能。该装置及方法可用于激光测距系统中的激光发散角、光斑能量以及激光测距系统测距能力的检测，还可用于标定被检设备激光收发的光轴偏差。该发明的装置及方法也适用于各种激光测距系统性能的实时标定，也适用于主被动结合的光电系统收发同轴检测等领域，该系统焦面模块固定、定标方法简单、价格低廉。
技术研发人员：何志平;王天洪;黄庚华;吴金才;舒嵘
受保护的技术使用者：中国科学院上海技术物理研究所
技术研发日：2018.08.20
技术公布日：2018.10.23