光学检测系统的制作方法

本发明涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种光学检测系统。

背景技术

随着光学检测技术的发展，医药领域越来越多的测试项目通过吸光度检测、荧光检测等光学技术进行检测。由于样品的不同检测项目所使用的检测波长有所不同，为了提高效率，减少样本量采集，多联卡(即将多种检测指标集中在一张卡片上，同时对样品进行多项指标检测的检测产品)的使用越来越广泛。

传统的多联卡检测仪器多通过采用不同发光波长的led进行固定位置排列，对应多联卡每个检测孔位只有一种检测波长，一种仪器往往只能检测一种固定项目组合的多联卡，适用范围窄。

技术实现要素：

基于此，有必要提供一种能够适用于多种检测项目组合的多联卡的光学检测系统。

一种光学检测系统，用于对多联卡进行检测，所述光学检测系统包括卡托、检测光源、转盘、移位驱动器以及第一光敏检测器；

所述卡托用于放置所述多联卡，所述卡托设有多个检测孔，多个所述检测孔分别对应所述多联卡的多个检测区域；

所述检测光源有多个且分别用于发射不同波长的检测光线，多个所述检测光源分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述检测光源转动至检测位；或者，所述检测光源为白光光源，所述检测光源位于检测位，所述光学检测系统还包括多个滤光片，多个所述滤光片分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述滤光片转动至与所述检测位对应，多个所述滤光片分别用于对所述检测光源发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线；

所述移位驱动器用于驱动所述卡托或所述检测光源以使所述检测光线依次通过多个所述检测孔；

所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的透射光或反射光。

在其中一个实施例中，多个所述检测光源在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述检测光源所发射的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长；或者，多个所述滤光片在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述滤光片允许通过的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长。

在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括第一分光棱镜和第二光敏检测器，所述第一分光棱镜设置在所述检测光源与所述卡托之间，所述第一分光棱镜与所述检测位对应以从所述检测光线分出分光光线，所述第二光敏检测器用于检测所述分光光线。

在其中一个实施例中，所述分光光线与所述检测光线垂直。

在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括第二分光棱镜，所述第二分光棱镜用于从所述分光光线分出与所述检测光线同向的光线。

在其中一个实施例中，所述第二分光棱镜有多个，多个所述分光棱镜沿所述分光光线排列。

在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括挡光板，所述挡光板设置在所述转盘与所述卡托之间，所述挡光板上设有第一通光孔，所述第一通光孔与所述检测位对应。

在其中一个实施例中，所述检测光线经过所述检测孔时能够通过所述检测孔小孔成像在所述多联卡上形成光斑。

在其中一个实施例中，所述第一光敏检测器有多个，多个所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的反射光，多个所述第一光敏检测器以所述检测光线呈中心对称分布。

在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括检测器托盘，多个所述第一光敏检测器设置在所述检测器托盘上，所述检测器托盘设有第二通光孔，所述第二通光孔与所述检测位对应。

在其中一个实施例中，所述第一光敏检测器为半积分球，所述第一光敏检测器上设有第三通光孔，所述第三通光孔与所述检测位对应，所述第一光敏检测器设置在所述卡托靠近所述检测光源的一侧。

与现有方案相比，本发明具有以下有益效果：

上述光学检测系统，可由移位驱动器驱动卡托或检测光源以使检测光线依次通过多个检测孔，通过转动转盘选择不同波长的检测光线对多联卡的不同检测区域分别进行光学检测，从而能够适用于多种检测项目组合的多联卡。

附图说明

图1为一实施例的光学检测系统的结构示意图；

图2为另一实施例的光学检测系统的局部结构示意图；

图3为又一实施例的光学检测系统的局部结构示意图；

图4为一实施例的第一光敏检测器的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1所示，本发明一实施例的光学检测系统10，用于对多联卡20进行检测，包括卡托100、检测光源200、转盘300、移位驱动器(图未示)以及第一光敏检测器400。

卡托100用于放置多联卡20，卡托100设有多个检测孔120，多个检测孔120对应多联卡20的多个检测区域。

请参见图1，检测光源200有多个，多个检测光源200分别用于发射不同波长的检测光线，多个检测光源200分布在转盘300上，转盘300能够转动以带动不同的检测光源200转动至检测位，即通过转动转盘300，可切换不同检测光源200沿检测位朝向多联卡20发射检测光线；或者，请参阅图2，检测光源200为白光光源，检测光源200位于检测位，光学检测系统10还包括多个滤光片500，多个滤光片500分布在转盘300上，转盘300能够转动以带动不同的滤光片500转动至与检测位对应，多个滤光片500分别用于对检测光源200发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线。

移位驱动器用于驱动卡托100或检测光源200以使检测光线依次通过多个检测孔120。

第一光敏检测器400用于检测检测光线抵达多联卡20之后的透射光或反射光，将光信号转化为电信号输出。

在其中一个示例中，移位驱动器与卡托100连接以驱动卡托100运动使得多个检测孔120依次与检测位位置对应。

其中，检测光源200可选择但不限于led光源。

在其中一个示例中，光学检测系统10该包括转动驱动器(图未示)，转动驱动器用于驱动转盘300转动。

在多个检测光源200分别用于发射不同波长的检测光线的设置方式中，可以在检测光源200上套设光源套筒600，避免不同波长的检测光线之间的干扰而影响检测准确性。

在其中一个示例中，光学检测系统10还包括挡光板700，挡光板700设置在转盘300与卡托100之间，挡光板700上设有第一通光孔620，第一通光孔620与检测位对应。设置挡光板700，使得仅有与检测位相对应的检测光线通过。

在其中一个示例中，多个检测光源200在转盘300上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个检测光源的波长依次对应多联卡上顺次排列的多个检测区域所需的波长；或者，多个滤光片在转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个滤光片允许通过的检测光线的波长依次对应多联卡上顺次排列的多个检测区域所需的波长。在本示例中，当移位驱动器驱动卡托向前运动一步使得下一个检测孔到达检测位时，转盘转动一步以使与检测区域对应的检测光线抵达检测区域，可降低软件设计难度，并且节约检测时间，并且避免操作时间过长而影响后序检测区域测量结果的准确性。

在其中一个示例中，光学检测系统10还包括第一分光棱镜700和第二光敏检测器800，第一分光棱镜700设置在检测光源200与卡托100之间，第一分光棱镜700与检测位对应以从检测光线分出分光光线，第二光敏检测器800用于检测分光光线。通过第二光敏检测器800监测led的发光强度，可通过校正来保证发光强度的一致性，提高测试稳定性。

进一步，在其中一个示例中，分光光线与检测光线垂直。

再进一步，请结合图3，在其中一个示例中，光学检测系统10还包括第二分光棱镜900，第二分光棱镜900用于从分光光线分出与检测光线同向的光线，从而可实现多通道检测。进一步地，第二分光棱镜900有多个，多个分光棱镜沿分光光线排列。

在其中一个示例中，设计检测孔120的尺寸，使得检测光线经过检测孔120时能够通过小孔成像在多联卡20上形成光斑。

进一步，在其中一个示例中，第一光敏检测器400有多个，多个第一光敏检测器400用于检测检测光线抵达多联卡20之后的反射光，多个第一光敏检测器400以检测光线呈中心对称分布。通过多个对称分布的第一光敏检测器400进行检测，可减少检测误差，提高检测的准确性。在本实施例中，光学检测系统10还包括检测器托盘1000，多个第一光敏检测器400设置在检测器托盘1000上，检测器托盘1000设有第二通光孔1020，第二通光孔1020与检测位对应。

如图4所示，在另一个实施例中，第一光敏检测器400为半积分球，第一光敏检测器400上设有第三通光孔(图未示)，第三通光孔与检测位对应，第一光敏检测器400设置在卡托100靠近检测光源200的一侧。

在其中一个示例中，光学检测系统10还包括固定支架1100，转盘300、挡光板700和检测器托盘1000均设置在固定支架1100上。在本示例中，移位驱动器可以与固定支架1100连接以驱动固定支架1100运动，从而使检测光线依次通过多个检测孔120。

上述光学检测系统10，可由移位驱动器驱动卡托或检测光源以使检测光线依次通过多个检测孔，通过转动转盘300选择不同波长的检测光线对多联卡20的不同检测区域分别进行光学检测，从而能够适用于多种检测项目组合的多联卡。

目前常用的多波长仪器多采用转动光栅的方式来选择不同波长，但转动光栅的方式对于结构的精度要求高，使得光栅及光源成本高，并且使用光源功耗大，需设计散热结构。上述光学检测系统10，结构简单、尺寸小、结构精度要求低、成本低，且器件功耗低、无需附加散热结构。

上述光学检测系统10，可灵活实现多检测孔的快速移动与光源波长转换，节约检测时间，并且避免操作时间过长而影响后序检测区域测量结果的准确性。

上述光学检测系统10，可适用于吸光度、荧光及光激化学发光等检测方案。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。